説明

サニャック干渉型センサ

【課題】一方の発光・受光系の光源などが故障しても、もう一方の発光・受光系に切り換えてセンシングが行えるサニャック干渉型センサを提供する。
【解決手段】センシングファイバループ10に対し、検出用の光を発光すると共に、センシングファイバループ10からの戻り光を受光する二系統の第1,2の発光・受光系( 光源1,5、受光器2,6、光カプラ3,7、偏光子4,8を有する)を設ける。偏光子4及び偏光子8と、センシングファイバループ10の両端部との間を偏波保持光カプラで分岐・結合する。偏光子4、偏光子8からの直線偏光の偏光方位を、偏波保持光カプラ9の直交するX,Y偏光軸に、それぞれ一致させて接続する。信号処理部13のスイッチ16により、光源1及び受光器2と、光源5及び受光器6との接続を選択的に切り換えることで、一方の発光・受光系の光源などに不良・故障が生じても、もう一方の発光・受光系に切り換えてセンシングを続行できる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、サニャック干渉系を用いて角速度・振動・電流などを検出するサニャック干渉型センサに関し、特に、一方の発光・受光系の光源などが故障しても、もう一方の発光・受光系に切り換えてセンシングが行えるサニャック干渉型センサに関する。
【背景技術】
【0002】
光ファイバをループ状にしたセンシングファイバを用い、センシングファイバに2つの光を逆方向に周回させた後、それら2つの光の干渉光の強度から、角速度・振動・変位・電流・圧力などを検出するサニャック干渉型センサが知られている。
【0003】
サニャック干渉型センサとして、サニャック効果を利用して角速度を検出する光ジャイロ(例えば、非特許文献1参照)、振動によって生じる光ファイバの長さ・屈折率の変化を干渉光の強度変化として振動を検出する振動センサ(例えば、非特許文献2参照)、電流によって生じる磁場からファラデー効果を利用して電流値を検出する電流センサ(例えば、非特許文献3参照)などが提案され実用化されている。
【0004】
図2(A)には、従来の光ジャイロを示す。この光ジャイロは、光源21より出射し、第1の光カプラ22、偏光子23、第2の光カプラ24を順次伝搬して、第2の光カプラ24で分岐された2つの光を、位相変調器25を含む光ファイバコイル26に左・右回り(時計回りcw、反時計回りccw)に入射し、それらの戻り光を第2の光カプラ24で結合し、結合された干渉光を偏光子23、第1の光カプラ22を介して受光器27で受光する。受光器27で受光され光電変換された電気信号は、信号処理ユニット28に入力され、入力された電気信号の強度から光ファイバコイル26設置部の角速度が検出される。
【0005】
図2(B)には、従来の振動センサを示す。この振動センサは、光源21より出射し、光カプラ29で分岐された2つの光を、振動を検出したい箇所・部位に配設された光ファイバループ30の両端部から左・右回り(時計回りcw、反時計回りccw)に入射し、それらの戻り光を光カプラ24で結合し、結合された干渉光を受光器27で光電変換するものである。
【0006】
図2(C)には、従来の電流センサを示す。この電流センサは、光源21より出射し、第1の光カプラ22、偏光子23、第2の光カプラ24を順次伝搬して、第2の光カプラ24で分岐された2つの光(直線偏光)を、位相変調器25,1/4波長素子32,32,ダミーファイバ33を有し且つ電流が流れる導体34の周囲に巻回された光ファイバループ31に左・右回り(時計回りcw、反時計回りccw)に入射し、1/4波長素子32,32によって同回りの円偏光にして伝搬させた後、両円偏光を再び直線偏光に変換した戻り光を第2の光カプラ24で結合し、結合された干渉光を偏光子23、第1の光カプラ22を介して受光器27で光電変換するものである。
【0007】
【非特許文献1】梶岡 博, 熊谷 達也, 於保 茂、“干渉型光ファイバジャイロ”、OPTRONICS、No.5、pp.127-135、1990
【非特許文献2】戸倉 武ほか、“光ファイバリング干渉型振動センサによる振動位置の同定”、フジクラ技報、第103号、pp.18-21、2002
【非特許文献3】林屋 均、“直流用光ファイバ電流センサの開発”、鉄道と電気技術、VOL.16、No.1、pp.45-48、2005
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
上述したように、従来の各種のサニャック干渉型センサは、いずれも光源が1つで構成されており、光源が破損・故障すると、センサ動作が停止してしまう。
【0009】
光ファイバ型のサニャック干渉型センサの構成部品において、光源の寿命が最も短い。光源の寿命は、供給電流と使用環境で変わり、環境温度が10℃増加すると、寿命は約1/2に低下する。光源が破損すると、センサ動作が停止するため、センサを組み込んだシステムに障害を与えてしまう。しかし、センサ動作状態において光源の寿命を推定することは困難である。このため、システム障害を防ぐには、定期的に、安全を見込んで早めにセンサを交換する必要があった。
【0010】
本発明は、上記課題を解決し、一つのセンシングファイバループに対して二系統の発光・受光系を有し、一方の発光・受光系の光源などが故障しても、もう一方の発光・受光系に切り換えてセンシングが行えるサニャック干渉型センサを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0011】
第1の発明は、 第1の光源及び第1の受光器と第1の偏光子との間で光を分岐・結合する第1の光カプラと、第2の光源及び第2の受光器と第2の偏光子との間で光を分岐・結合する第2の光カプラと、前記第1の偏光子及び前記第2の偏光子と位相変調器を含むセンシングファイバループの両端部との間で光を分岐・結合する偏波保持光カプラと、前記第1の光源、前記第2の光源を駆動する駆動電流を出力すると共に、前記第1の受光器、前記第2の受光器で受光され光電変換された電気信号が入力される信号処理部とを備え、前記信号処理部は、前記第1の光源及び前記第1の受光器と前記第2の光源及び前記第2の受光器との接続を選択的に切り換える切換手段を有し、前記偏波保持光カプラには、前記第1の偏光子からの直線偏光と前記第2の偏光子からの直線偏光とが、前記偏波保持光カプラの前記第1,第2の偏光子側の2つのポートのうち、一方の前記ポートのX偏光軸に偏光方位が一致するように接続されると共に、他方の前記ポートのX偏光軸と直交するY偏光軸に偏光方位が一致するように接続されていることを特徴とするサニャック干渉型センサである。
【0012】
第2の発明は、第1の発明において、前記信号処理部は、前記第1又は第2の光源の不良を、前記第1又は第2の光源の出力モニタ用フォトダイオードの出力、前記第1又は第2の受光器からの電気信号、或いは前記第1又は第2の光源を駆動する駆動電流から判定して、前記切換手段の切換制御を行うことを特徴とするサニャック干渉型センサである。
【0013】
第3の発明は、第1または第2の発明において、前記第1及び第2の光カプラ、前記第1及び第2の偏光子、前記位相変調器、前記偏波保持光カプラ、前記センシングファイバループ及びこれらの光学素子を接続する接続用光ファイバを、偏波保持光ファイバを用いた光ファイバ型素子又は偏波保持光ファイバで構成したことを特徴とするサニャック干渉型センサである。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、次のような効果が得られる。
1つのセンシングファイバループに対して、検出用の光を発光し、戻り信号光(検出光)を受光する発光・受光系( 光源、受光器、偏光子、光カプラを有する)を二系統、切換可能に設けているので、一方の発光・受光系の光源などに不良・故障が生じても、もう一方の発光・受光系に切り換えてセンシングを続行できる。しかも、偏波保持光カプラの直交するX,Y偏光軸に、それぞれの発光・受光系の偏光方位を合わせて接続しているため、一方の発光・受光系の光源から出射した光は、他方の発光・受光系の受光器や光源に入射することはないので、受光器や光源を劣化させたり、また、2つの光源の出射光が仮に誤って同時に出射されても相互に干渉することはなく、信頼性が高い。
【発明を実施するための最良の形態】
【0015】
以下に、本発明に係るサニャック干渉型センサを、光ジャイロに適用した一実施形態を説明する。
【0016】
図1に示すように、この光ジャイロは、光ファイバコイル11を有するセンシングファイバループ10と、このセンシングファイバループ10に接続される二系統の第1及び第2の発光・受光系と、信号処理部13とを備えている。第1の発光・受光系は、第1の光源1、第1の受光器2、第1の光カプラ3及び第1の偏光子4を有し、第2の発光・受光系は、第2の光源5、第2の受光器6、第2の光カプラ7及び第2の偏光子8を有する。
【0017】
第1,第2の光カプラ(方向性結合器)3,7は、1×2入出射ポートを有する光ファイバカプラである(2×2入出射ポートを有する光ファイバカプラを用いても、もちろんよい)。第1の光カプラ3は、第1の光源1及び第1の受光器2と、第1の偏光子4との間を接続して伝搬光を分岐・結合し、また、第2の光カプラ7は、第2の光源5及び第2の受光器6と、第2の偏光子8との間を接続して伝搬光を分岐・結合する。この実施形態の第1,第2の偏光子4,8は、光ファイバの曲げ損失を利用した光ファイバ型の偏光子である。
【0018】
第1の偏光子4及び第2の偏光子8と、センシングファイバループ10の両端部との間は、2×2入出射ポートを有する光ファイバ型の偏波保持光カプラ9を介して接続され、伝搬光が分岐・結合される。偏波保持光カプラ9には、その第1,第2の偏光子4,8側の2つのポートのうち、一方のポートのX偏光軸に、例えば、第1の偏光子4からの直線偏光の偏光方位が一致するように接続されると共に、他方の前記ポートのX偏光軸と直交するY偏光軸に、もう一方の第2の偏光子8からの直線偏光の偏光方位が一致するように接続(90度接続)されている。
【0019】
また、偏波保持光カプラ9に接続されたセンシングファイバループ10の一端部側には、位相変調器12が設けられている。この位相変調器12は、圧電性セラミックス(PZT)にセンシングファイバループ10の一部を構成する光ファイバを巻き付けたもので、PZTを振動させることによって光ファイバを伸縮させ、光ファイバの伝搬光に位相変調を加えるものである。位相変調器12のPZTには、信号処理部13から所定の変調周波数で電圧が印加されるようになっている。
【0020】
信号処理部13は、第1の光源1、第2の光源5を駆動する駆動電流を出力する光源駆動回路14と、第1の受光器2、第2の受光器6で受光されて光電変換された電気信号を増幅する信号増幅回路15とを有する。また、信号処理部13の光源駆動回路14の出力端と信号増幅回路15の入力端には、第1の光源1及び第1の受光器2と、第2の光源5及び第2の受光器6との電気的な接続を選択的に切り換える切換手段としてのスイッチ16が設けられている。この実施形態では、第1の光源1及び第2の光源5は、レーザーダイオード(LD)であり、第1の受光器2及び第2の受光器6は、フォトダイオード(PD)である。なお、第1の光源1及び第2の光源として、スーパールミネッセンスダイオード(SLD)を用いるようにしてもよい。
【0021】
本実施形態のサニャック干渉型の光学系は、全て光ファイバを用いて構成されている。また、第1,第2の光カプラ3,7、第1,第2の偏光子4,8、偏波保持光カプラ9、光ファイバコイル11と位相変調器12を有するセンシングファイバループ10、及びこれらの光学素子(第1及び第2の光源1,5、第1及び第2の受光器2,6を含む)間を接続する接続用光ファイバ(図中、符号は省略)は、いずれも偏波保持光ファイバを用いた光ファイバ型素子又は偏波保持光ファイバで構成するのが好ましい。
【0022】
一方の発光・受光系、例えば第1の発光・受光系を用いてセンシングする時には、図1に示すように、スイッチ16により、第1の光源1と光源駆動回路14とを接続し、且つ第1の受光器2と信号増幅回路15とを接続して、光源駆動回路14から第1の光源1に駆動電流を出力すると共に、第1の受光器2で受光され光電変換された電気信号を信号増幅回路15に入力する。
【0023】
第1の光源1より出射した光は、第1の光カプラ3を介して第1の偏光子4に入射し、第1の偏光子4で直線偏光にされる。この直線偏光は、その偏光方位が偏波保持光カプラ9のX偏光軸の方向に合わせて入射され、X偏光軸方向の偏光方位の直線偏光が偏波保持光カプラ9で2つに分岐され、センシングファイバループ10の両端側にそれぞれ入射する。センシングファイバループ10の両端側から入射した2つの光は、光ファイバコイル11を右回り(時計回り)CWの方向、左回り(反時計回り)CCWの方向にそれぞれ周回し、且つ位相変調器12でそれぞれ位相変調されて、偏波保持光カプラ9に戻される。
【0024】
この2つの戻り光(直線偏光)は偏波保持光カプラ9で分岐・結合され、偏波保持光カプラ9で左・右回りの光が結合された干渉光が、第1,第2の偏光子4,8へとそれぞれ送られる。偏波保持光カプラ9に戻された上記左・右回りの直線偏光の偏光方位は、センシングファイバループ10への入射時と同じ偏波保持光カプラ9のX偏光軸の方向にある。従って、偏波保持光カプラ9から第1の偏光子4に送られた直線偏光は、第1の偏光子4を透過し、第1の光カプラ3で分岐されて、第1の受光器2で受光される。第1の受光器2で受光され光電変換された電気信号は、信号処理部13の信号増幅回路15に入力されて増幅され、増幅された電気信号の強度から光ファイバコイル11のコイル軸回りの角速度が検出される。
【0025】
一方、偏波保持光カプラ9から第2の偏光子8に送られた直線偏光の偏光方位は、第2の偏光子8の透過偏光方向(偏波保持光カプラ9のY偏光軸の方向)とは直交する方向にあるので、第2の偏光子8で遮断され、第2の受光器6や第2の光源5には入射しない。このように、一方の発光・受光系から出射され、センシングファイバループ10を周回した後の戻り光が、他方の発光・受光系の受光器や光源に入射することはないので、戻り光によって不使用中の受光器などが劣化されることがない。また、二系統の発光・受光系の光源1,5から誤って同時に出射光が出射されても、相互に干渉したりすることはない。
【0026】
信号処理部13は、第1又は第2の光源1,5の出力低下・破損を、第1又は第2の光源1,5の出力モニタ用フォトダイオード(図示せず)の出力、第1又は第2の受光器2,6からの電気信号、或いは第1又は第2の光源1,5を駆動する駆動電流から判定して、スイッチ16の切換制御を行う。従って、センサ動作中の光源が出力低下・破損の時には、スイッチ16により、もう一方の発光・受光系に自動的に切り換えられ、もう一方の発光・受光系の光源(バックアップ光源となる)からセンシングファイバループ10に光が出射され、センサ動作が行われる。このため、光源破損等による動作停止トラブルがなくなり、センサを組み込んだシステムに障害を与えることがない。
【0027】
また、光源出力低下・破損情報や発光・受光系の切換情報は、外部のシステムに送信されるようになっている。従って、光源出力低下・破損や光源切換をシステム側で把握できるので、従来のように定期的に安全を見込んで早めにセンサを交換する必要はなく、システムの休止時、メンテナンス時など適当な時に光源などの交換が可能である。
【0028】
また、2つの光源1,5を交互に(或いは同時に)駆動させて、受光器2,6からの出力データを比較する手段・仕組みを設ければ、二系統の発光・受光系を有するセンサの状態(正常/異常)を確認・監視することができる。
【0029】
上記実施形態のセンサでは、光カプラ、偏光子、偏波保持光カプラ、位相変調器は、光ファイバ型のものを用いたが、光導波路型の光カプラ、偏光子、偏波保持光カプラ、位相変調器等を用いてセンサを構成してもよい。
【0030】
上記実施形態のサニャック干渉型センサでは、光ジャイロに適用した例を示したが、振動センサ、電流センサなどにも適用できる。
【0031】
振動センサに適用する場合には、 上記実施形態の位相変調器12を有するセンシングファイバループ10を、図2(B)の光ファイバループ30のように、振動を検出したい箇所・部位(侵入検知のために、フェンスなど)に配設すればよい。振動センサでは、センシングファイバループ10のループ全長の中央部分では、左・右回りの光が同時刻に通過するため、振動による位相差が少なく、振動を検出しにくい。そこで、センシングファイバループ10の中央部分は、コイル状に巻いたりして振動検出が不要な場所に設置するのがよい。更に、振動センサでは、角速度を検知する必要がないので、センシングファイバループ10の中央部分のコイルを、一側を右巻き、他側を左巻きにし、左・右巻きの両光ファイバループがそれぞれ囲む面積を等しくするのがよい。
【0032】
また、電流センサに適用する場合には、従来の図2(C)に示すように、上記実施形態の偏波保持光カプラ9に接続されたセンシングファイバループ10の両端部側に、1/4波長素子をそれぞれ設けると共に、センシングファイバループ10を電流検知したい導体の周囲に巻回する。また、従来の図2(C)と同様に、遅延用光ファイバ(ダミーファイバ)をセンシングファイバループ10に設けて検出感度を向上させるようにしてもよい。更に、センシングファイバループ10を、円偏光を安定に伝搬できるスパンファイバ(ねじりファイバ)で構成するのが好ましい。
【0033】
上記実施形態のサニャック干渉型センサでは、オープンループ方式の干渉系について記述したが、位相変調条件をフィードバック制御するクローズドループ方式の干渉系にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【0034】
【図1】本発明に係るサニャック干渉型センサを、光ジャイロに適用した一実施形態を示す構成図である。
【図2】従来のサニャック干渉型センサであって、(A)は光ジャイロに、(B)は振動センサに、(C)は電流センサにそれぞれ適用した例を示す構成図である。
【符号の説明】
【0035】
1 第1の光源
2 第1の受光器
3 第1の光カプラ
4 第1の偏光子
5 第2の光源
6 第2の受光器
7 第2の光カプラ
8 第2の偏光子
9 偏波保持光カプラ
10 センシングファイバループ
11 光ファイバコイル
12 位相変調器
13 信号処理部
14 光源駆動回路
15 信号増幅回路
16 スイッチ

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の光源及び第1の受光器と、第1の偏光子との間で光を分岐・結合する第1の光カプラと、
第2の光源及び第2の受光器と、第2の偏光子との間で光を分岐・結合する第2の光カプラと、
前記第1の偏光子及び前記第2の偏光子と、位相変調器を含むセンシングファイバループの両端部との間で光を分岐・結合する偏波保持光カプラと、
前記第1の光源、前記第2の光源を駆動する駆動電流を出力すると共に、前記第1の受光器、前記第2の受光器で受光され光電変換された電気信号が入力される信号処理部とを備え、
前記信号処理部は、前記第1の光源及び前記第1の受光器と、前記第2の光源及び前記第2の受光器との接続を選択的に切り換える切換手段を有し、
前記偏波保持光カプラには、前記第1の偏光子からの直線偏光と前記第2の偏光子からの直線偏光とが、前記偏波保持光カプラの前記第1,第2の偏光子側の2つのポートのうち、一方の前記ポートのX偏光軸に偏光方位が一致するように接続されると共に、他方の前記ポートのX偏光軸と直交するY偏光軸に偏光方位が一致するように接続されていることを特徴とするサニャック干渉型センサ。
【請求項2】
前記信号処理部は、前記第1又は第2の光源の不良を、前記第1又は第2の光源の出力モニタ用フォトダイオードの出力、前記第1又は第2の受光器からの電気信号、或いは前記第1又は第2の光源を駆動する駆動電流から判定して、前記切換手段の切換制御を行うことを特徴とする請求項1に記載のサニャック干渉型センサ。
【請求項3】
前記第1及び第2の光カプラ、前記第1及び第2の偏光子、前記位相変調器、前記偏波保持光カプラ、前記センシングファイバループ及びこれらの光学素子を接続する接続用光ファイバを、偏波保持光ファイバを用いた光ファイバ型素子又は偏波保持光ファイバで構成したことを特徴とする請求項1又は2に記載のサニャック干渉型センサ。

【図1】
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【図2】
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【公開番号】特開2007−205940(P2007−205940A)
【公開日】平成19年8月16日(2007.8.16)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−26198(P2006−26198)
【出願日】平成18年2月2日(2006.2.2)
【出願人】(000005120)日立電線株式会社 (3,358)
【Fターム(参考)】