説明

ベンゾオキサゾール樹脂前駆体、ポリベンゾオキサゾール樹脂、樹脂膜および半導体装置

【課題】ポリベンゾオキサゾール樹脂とした場合に耐熱性に優れるベンゾオキサゾール樹脂前駆体、耐熱性および低誘電率であるポリベンゾオキサゾール樹脂、樹脂膜およびそれを用いた半導体装置を提供する。
【解決手段】少なくともダイヤモンドイド構造をいずれか一方に有する、ビスアミノフェノール化合物とジカルボン酸化合物とを反応して得られる第1の繰り返し単位を含むことを特徴とするベンゾオキサゾール樹脂前駆体。さらに、ダイヤモンドイド構造を有しないビスアミノフェノール化合物と、ダイヤモンドイド構造を有しないジカルボン酸化合物とを反応して得られる第2の繰り返し単位を含むベンゾオキサゾール樹脂前駆体。前記ベンゾオキサゾール樹脂前駆体を脱水閉環反応して得られるポリベンゾオキサゾール樹脂。前記ベンゾオキサゾール樹脂前駆体またはポリベンゾオキサゾール樹脂で構成される樹脂膜。


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【特許請求の範囲】
【請求項1】
下記式(10)に表される繰り返し単位を有することを特徴とするベンゾオキサゾール樹脂前駆体。
【化1】

[式(10)中のRおよびRはそれぞれ独立に水素原子または有機基、mは2〜1,000の間の整数;Xは:下記式(2−1)および式(2−2)
【化2】

【化3】

(式(2−1)および式(2−2)中のAdmは、ダイヤモンドイド構造の最小単位であるアダマンチル基を示し、pは1以上12以下であり、iは1以上12以下である。)および下記式(3)
【化4】

(式(3)中のAdmは、ダイヤモンドイド構造の最小単位であるアダマンチル基を示し、pは1以上12以下である;Xは、エチニル基またはプロパギルエーテル基;Zは、−O−、−SO−、−CH−、−C(CH−、−C(CF−、または芳香族基;Arは3価以上の芳香族基;rは0または1;qは1〜4の整数;)で表される化合物の中から選ばれる基;
式(10)中のYは:下記式(11−1)および式(11−2)
【化5】

【化6】

下記式(12−1)および下記式(12−2)
【化7】

【化8】

(式(11−1)、式(11−2)、式(12−1)および式(12−2)中のAdmは、ダイヤモンドイド構造の最小単位であるアダマンチル基を示し、pは1以上12以下であり、iは1以上12以下である。)
で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。]
【請求項2】
下記式(13)で表される繰り返し単位を有することを特徴とするベンゾオキサゾール樹脂前駆体。
【化9】

[式(13)中のRおよびRは、それぞれ独立に水素原子または有機基、nは2〜1,000の間の整数;Xは:下記式(14)
【化10】

(式(14)中のXは、エチニル基またはプロパギルエーテル基;Zは、−O−、−SO−、−CH−、−C(CH−、−C(CF−、または芳香族基;Arは3価以上の芳香族基;Rは水素、または、有機基;rは0または1;qは1〜4の整数;)、下記式(15)
【化11】

(式(15)中のXは:下記式(16)
【化12】

で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。)
で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基;
式(13)中のYは:下記式(11−1)および式(11−2)
【化13】

【化14】

下記式(12−1)および下記式(12−2)
【化15】

【化16】

(式(11−1)、式(11−2)、式(12−1)および式(12−2)中のAdmは、ダイヤモンドイド構造の最小単位であるアダマンチル基を示し、pは1以上12以下であり、iは1以上12以下である。)
で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。]
【請求項3】
さらに、上記式(10)で表される繰り返し単位を有する請求項2に記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体。
【請求項4】
さらに、下記式(17)で表される繰り返し単位を有するものである請求項1〜3のいずれかに記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体。
【化17】

[式(17)中のRおよびRは、それぞれ独立に水素原子または有機基、nは2〜1,000の間の整数;Xは:下記式(14)
【化18】

(式(14)中のXは、エチニル基またはプロパギルエーテル基;Zは、−O−、−SO−、−CH−、−C(CH−、−C(CF−、または芳香族基;Arは3価以上の芳香族基;Rは水素、または、有機基;rは0または1;qは1〜4の整数;)、下記式(15)
【化19】

(式(15)中のXは:下記式(16)
【化20】

で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。)
で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基;
式(17)中のYは:下記式(4)
【化21】

(式(4)中のWは:式(5)
【化22】

で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。)
下記式(6−1)、下記式(6−2)
【化23】

【化24】

下記式(7−1)、下記式(7−2)
【化25】

【化26】

(式(7−1)、式(7−2)中のRは;有機基を示す。)
下記式(8)
【化27】

および下記式(9)
【化28】

で表されるものの中から選ばれる少なくとも1種の基を示す。]
【請求項5】
請求項1〜4のいずれかに記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体を脱水閉環反応して得られることを特徴とするポリベンゾオキサゾール樹脂。
【請求項6】
上記式(10)で表される繰り返し単位を有するベンゾオキサゾール樹脂前駆体または上記式(13)で表される繰り返し単位を有するベンゾオキサゾール樹脂前駆体を必須成分とし、該式(10)で表される繰り返し単位を有するベンゾオキサゾール樹脂前駆体、該式(13)で表される繰り返し単位を有するベンゾオキサゾール樹脂前駆体および上記式(17)で表される繰り返し単位を有するベンゾオキサゾール樹脂前駆体から選ばれる2種以上を含むベンゾオキサゾール樹脂前駆体組成物。
【請求項7】
請求項1〜4のいずれかに記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体、請求項5に記載のポリベンゾオキサゾール樹脂または請求項6に記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体組成物と、これらを溶解若しくは分散させることが可能な有機溶媒を含むことを特徴とするワニス。
【請求項8】
請求項1〜4のいずれかに記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体、請求項5に記載のポリベンゾオキサゾール樹脂または請求項6に記載のベンゾオキサゾール樹脂前駆体組成物で構成されることを特徴とする樹脂膜。
【請求項9】
前記樹脂膜は、平均孔径10nm以下の微細孔を有するものである請求項8に記載の樹脂膜。
【請求項10】
前記樹脂膜は、半導体用層間絶縁膜、半導体用保護膜およびエッチング保護膜の中から選ばれるものの一つである請求項8または請求項9に記載の樹脂膜。
【請求項11】
請求項8〜10のいずれかに記載の樹脂膜を有することを特徴とする半導体装置。

【図1】
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【公開番号】特開2010−168591(P2010−168591A)
【公開日】平成22年8月5日(2010.8.5)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−99216(P2010−99216)
【出願日】平成22年4月22日(2010.4.22)
【分割の表示】特願2005−58093(P2005−58093)の分割
【原出願日】平成17年3月2日(2005.3.2)
【出願人】(000002141)住友ベークライト株式会社 (2,927)
【Fターム(参考)】