説明

半導体装置

【課題】マイクロ波帯及びミリ波帯において用いられる高出力且つ高利得な電力増幅器を得られるようにする。
【解決手段】マイクロストリップ線路109上には、入力整合回路102の中央部へ入力端子110から入力される高周波信号の高周波信号の伝送方向に沿って、スリット116及びスリット117が形成され、スリット117の長さより上記中央部の隣接位置のスリット116の長さが長く設定される。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、マイクロ波帯及びミリ波帯において用いられる半導体装置に関し、特に高出力電力増幅器に関する。
【背景技術】
【0002】
近年の通信の高速大容量化に伴い、通信分野等のアプリケーションにおいて用いられる電力増幅器の動作周波数の高周波化及び高出力化が求められている。電力増幅器のキーデバイスとして半導体素子であるトランジスタの高性能化が精力的に行われている。
【0003】
マイクロ波帯及びミリ波帯において用いられる電力増幅器は、電界効果型トランジスタ(Field Effect Transistor:FET)等のトランジスタとトランジスタの入出力インピーダンスに整合させるための整合回路とを設ける構成が用いられる。一般には、トランジスタチップの構造は線状のフィンガが多数、くし状に並べられる。高出力化のために、FETのフィンガを増やしたり、いくつかのフィンガをユニットとしてマルチセル化にすることにより総ゲート幅を大きくすることが一般に行われる。
【0004】
ミリ波帯では、このようにトランジスタのサイズを大きくしていくとミリ波帯波長に比べて無視できなくなり、分布定数素子として扱う必要がある。その目安は、通常、波長の20分の1以上となる場合である。
【0005】
高出力化のために素子寸法がこの基準よりも大きくなる場合には、トランジスタの入出力部に高周波信号の位相を合わせるための回路構成を適用する必要がある。この手段としては、入力部に高周波信号を分配してトランジスタに給電する分配機能を有する回路及びトランジスタの出力信号の合成機能を有する回路を設けることが行われる。
【0006】
一般には、図5に示すような構成で用いられる。これは非特許文献1及び特許文献1に記載されている。入出力整合回路として、マイクロストリップ線路から成る2段のインピーダンス変成器を用いた場合である。
【0007】
このマイクロ波電力増幅器は、FET1並びにFET1の入出力部にそれぞれ設けた入力整合回路5及び出力整合回路8からなる。入力整合回路5とFET1との間及び出力整合回路8とFET1との間は金属細線9により電気的に接続されている。
【0008】
入力整合回路5はアルミナ等の誘電体基板3の上に形成されたマイクロストリップ線路2からなり、マイクロストリップ線路2の一端には入力端子4が接続されている。また、マイクロストリップ線路2の長さ及び特性インピーダンスはFET1の入力インピーダンスと入力端子4に接続される電源インピーダンスとを整合させるような値に設定する。通常、その長さは、所望周波数帯で4分の1波長に、特性インピーダンスはFET1の入力インピーダンスと電源インピーダンスとの相乗平均値に選ばれる。
【0009】
このように入力整合回路5は、FET1の入力インピーダンスと電源インピーダンスとを整合させるように働き、長さが4分の1波長のマイクロストリップ線路2からなる1段のインピーダンス変成器となっている。一方、出力整合回路8は誘電体基板3の上に形成されたマイクロストリップ線路6からなり、マイクロストリップ線路6の一端には出力端子7が接続されている。この出力整合回路8は、FET1の出力インピーダンスと出力端子7に接続される負荷インピーダンスとを整合させるために設けられている。マイクロストリップ線路6の長さ及び特性インピーダンスはそれぞれ4分の1波長及びFET1の出力インピーダンスと負荷インピーダンスとの相乗平均値に選ばれる。
【0010】
従って、出力整合回路8についても入力整合回路5と同様に、長さが4分の1波長のマイクロストリップ線路6からなる一段のインピーダンス変成器となっている。
【0011】
マイクロ波電力増幅器の入力端子4から入射したマイクロ波信号は入力整合回路5を通り、FET1に給電される。給電されたマイクロ波信号はFET1で増幅され、出力整合回路8を介して出力端子7に出力される。このように所望の出力電力が得られるゲート幅のFET1を用い、FET1の入力インピーダンスと電源インピーダンス及びFET1の出力インピーダンスと負荷インピーダンスとを整合させる入力整合回路5及び出力整合回路8をFET1の入出力部にそれぞれ設けることにより構成される。
【0012】
FET1のチップサイズが波長に比べて無視できなくなると、図6(特許文献2の図16)に記載されているようにFET1の入力整合回路を通過してFET1の各部を通り、FET1から出力される高周波信号に位相差及び振幅差が生じて、合成効率が低下するため、高出力化及び高利得化の妨げとなる。
【0013】
このトランジスタFET1に対する高周波信号の位相差及び振幅差を抑制する手段が特許文献2及び3に記載されている。
【0014】
図7(特許文献2の図1)において、入力整合回路3のマイクロストリップ線路7において信号の伝播方向に沿って不等間隔で設けられた複数のスリット11、12が高周波信号の位相差及び振幅差を抑制する機能を果たす。スリットは、一般には特許文献3で述べられているように等間隔に設けられる。高周波信号の伝播方向に沿って設けられたスリットには、通常、シート形状の抵抗が装荷されているため、FETセル間のアイソレーションが向上し、発振が抑圧される効果がある。
【0015】
また、図8(特許文献1の図1)において、マイクロストリップ線路2、6の上にそれぞれスリット10、11を並列でなく設けている点が図7に示された構成と異なる。マイクロストリップ線路2の上のスリット10はマイクロストリップ線路2の幅を2分割するようにマイクロストリップ線路2のほぼ中央部の入力端子4側に、また、スリット11はマイクロストリップ線路2の両端から線路幅の約4分の1のFET1側にマイクロ波の伝播方向に沿ってそれぞれ設けられている。これにより、マイクロストリップ線路の上において入力端子から出力端子に至るFETの各部を通るマイクロ波信号の経路長を等しくできる。
【非特許文献1】池田幸夫 他著「C帯高出力・高効率GaAsFET増幅器」信学技報、MW88-52(1988), pp.1-5
【特許文献1】特開平7−307626号公報
【特許文献2】特開2008−022235号公報
【特許文献3】特開2001−185966号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0016】
しかしながら、従来の半導体装置の入出力整合回路の上のスリットの配置では、トランジスタの各セルに給電される高周波信号の振幅及び位相に依然として差が生じており、高出力及び高利得動作に支障が生じていた。
【0017】
本発明は、前記従来の問題に鑑み、その目的は、半導体装置として、トランジスタの各セルに給電される高周波信号の振幅差及び位相差を極力低減できる入出力整合回路上のスリット配置を行い、高出力及び高利得動作可能な電力増幅器を得られるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【0018】
上記の目的を達成するために、本発明に係る半導体装置は、下記に示す特徴を備える。
【0019】
本発明に係る半導体装置は、入力整合回路、出力整合回路及び半導体素子からなる高出力電力増幅器において、入力整合回路及び出力整合回路のうちの少なくとも一方は、誘電体基板又は半導体基板の上に伝送線路を用いて形成されており、入力整合回路の前記半導体素子側には、複数本のスリットを設けられており、入力整合回路の中央部へ入力される高周波信号の高周波信号の伝送方向に沿って、中央部の隣接位置に配置されたスリットの長さが中央部に配置されるスリットの長さよりも長いことを特徴とする。
【0020】
本発明に係る半導体装置によると、トランジスタの各セルに給電される高周波信号の振幅差及び位相差を極力低減でき、マイクロ波帯及びミリ波帯の電力増幅器の高出力化及び高利得化を図ることができる。
【0021】
本発明に係る半導体装置において、入力整合回路及び出力整合回路に用いられる伝送線路は、マイクロストリップ線路及びコプレーナ線路のうちの少なくとも一方であることが好ましい。
【0022】
本発明に係る半導体装置において、スリット内には、抵抗体が形成されていることが好ましい。
【0023】
このようにすると、トランジスタの各セルに給電される高周波信号の振幅差及び位相差を極力低減でき、発振等の不安定動作を抑制できるため、マイクロ波帯及びミリ波帯の電力増幅器の高出力化及び高利得化を図ることができる。
【発明の効果】
【0024】
本発明に係る半導体装置によると、マイクロ波帯及びミリ波帯の電力増幅器として高出力化及び高利得化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0025】
本発明の一実施形態に係る半導体装置について、図面を参照しながら説明する。
【0026】
図1は本発明の一実施形態に係る半導体装置の平面図を示している。入出力整合回路として、マイクロストリップ線路からなる1段のインピーダンス変成器を用いた場合である。
【0027】
このマイクロ波電力増幅器は、FET101並びにFET101の入出力部にそれぞれ設けた入力整合回路102及び出力整合回路103からなる。入力整合回路102とFET101との間及び出力整合回路103とFET101のゲートパッド104及びドレインパッド105との間は金ワイヤ107により電気的に接続されている。ソースはバイアホール106を介して裏面電極に設けられている。
【0028】
入力整合回路102はアルミナ等の誘電体基板108の上に形成されたマイクロストリップ線路109からなり、マイクロストリップ線路109の一端には入力端子110が接続され1段のインピーダンス変成器となっている。また、マイクロストリップ線路109の長さ及び特性インピーダンスはFET101の入力インピーダンスと入力端子110に接続されるソースインピーダンスとを整合させるような値に設定される。通常、その長さは、所望周波数帯で4分の1波長に、特性インピーダンスはFET101の入力インピーダンスとの電源インピーダンスとの相乗平均値に選ばれる。
【0029】
一方、出力整合回路103は誘電体基板112の上に形成されたマイクロストリップ線路113及びマイクロストリップ線路113の一端に接続されたマイクロストリップ線路114が接続され、そして一端に出力端子115が接続され、二段のインピーダンス変成器となっている。マイクロストリップ線路113、114の長さ及び特性インピーダンスはそれぞれ4分の1波長及びFET101の出力インピーダンスと負荷インピーダンスとの相乗平均値に選ばれる。出力整合回路103は、長さが4分の1波長のマイクロストリップ線路からなる一段のインピーダンス変成器であってもよい。
【0030】
マイクロ波電力増幅器の入力端子110から入射したマイクロ波信号は入力整合回路102を通り、FET101に給電される。給電されたマイクロ波信号はFET101で増幅され、出力整合回路103を介して出力端子115に出力される。
【0031】
ここで、マイクロストリップ線路109の上には、入力整合回路102の中央部へ入力端子110から入力される高周波信号の伝送方向に沿って、スリット116、スリット117及びスリット118が形成されている。入力整合回路102の中央部に配置されるスリット117の長さより上記中央部の隣接位置のスリット116の長さが長く設定される。スリット118の長さは、スリット116の長さとスリット117の長さとの間に設定可能であるが、スリット117の長さに近い方が好ましい。FET101は、シリコン基板上に形成された窒化ガリウム(GaN)系のヘテロ接合トランジスタである。単位フィンガ長75μmであり6本のゲート幅450μmが基本セル119となり、この基本セル119をユニットとして6個並列に接続され、総ゲート幅2700μmとなっている。FET101の長手方向の寸法は約1.5mmである。特に、準ミリ波(10GHz〜30GHz)周波数帯及びミリ波周波数帯において動作する電力増幅器では、トランジスタのフィンガサイズ及びフィンガの並び方向が、4分の1波長の電気長に対して、無視できなくなる。
【0032】
ここで誘電体基板108及び誘電体基板112の誘電率は10であり、誘電体基板108及び誘電体基板112の上の周波数25GHzにおける4分の1波長は約1.0mmである。FET101の中央部と端との距離は約0.75mmであり、上記約1.5mmに比べて、無視できなくなっている。
【0033】
上記スリット116及びスリット117のように、長さを選択することにより、FET101の各基本セル119へ給電される高周波信号の振幅差及び位相差を極力低減でき、マイクロ波帯及びミリ波帯の電力増幅器の高出力化及び高利得化を図ることができる。スリット118については、スリット116及びスリット117の長さの間に設定しておく。
【0034】
図2は、入力端子110から入力される高周波信号の各基本セルにおける振幅偏差及び位相偏差をシミュレーションした結果であり、本発明の効果を示している。
【0035】
図2(a)は、スリット形状がすべてほぼ同じである、従来の等長スリット形状を有する入力整合回路の平面図を示しており、図2(b)は、上記の本発明のスリット形状を有する入力整合回路の平面図を示している。
【0036】
図2(c)及び(d)は、図2(a)及び(b)における入力端子をポート1として、各スリット間の位置にFET01の端から、ポート2、ポート3及びポート4を接続して、Sパラメータの中で順方向利得パラメータS21、S31及びS41をシミュレーションした結果である。
【0037】
図2(c)はポート4に対するポート2の振幅偏差及び位相偏差を示し、図2(d)はポート4に対するポート3の振幅偏差及び位相偏差を示している。横軸は周波数である。振幅偏差及び位相偏差はポート4に出力される高周波信号の振幅及び位相を基準にポート2及びポート3に出力される高周波信号の振幅偏差及び位相偏差として与えられる。mag(S21/S41)及びmag(S31/S41)は振幅偏差であり、magは振幅計算のための関数である。phase(S21/S41)及びphase(S31/S41)は位相偏差であり、phaseは位相計算のための関数である。
【0038】
振幅偏差について、周波数27GHzの場合、図2(c)において、等長スリット形状では1.25に対して、本発明は0.85であり、図2(d)において、等長スリット形状では1.65に対して、本発明は0.95である。数値が1に近いほど、偏差が少ないことを示し、本発明の振幅偏差が少ないことを示している。
【0039】
位相偏差について、周波数27GHzの場合、図2(c)では、等長スリット形状では22.5に対して、本発明は9.5であり、図2(d)において、等長スリット形状では−40に対して、本発明は−12である。数値が0に近いほど、偏差が少ないことを示し、本発明の振幅偏差が少ないことを示している。振幅偏差及び位相偏差の両方において、本発明の構成の有効性が示されている。
【0040】
入力整合回路に形成されるスリットの長さとその配置との関係については、図3に示される入力整合回路に形成されているスリットの長さと位置との関係でも説明できる。図3では、入力整合回路の中央部へ入力端子110から入力される高周波信号の伝送方向に沿って形成されるスリット122、スリット123及びスリット124において、スリット122がその隣接位置にあるスリット123の長さよりも長く形成されている。スリット123の長さは、スリット122の長さとスリット124の長さとの間に設定される。この場合、本発明のスリットの構成に比べて、高周波信号の伝送に伴う振幅偏差及び位相偏差が大きくなってしまう。
【0041】
本発明のスリットは入力整合回路102に対して適用しているが、出力整合回路103に対しては、FET101のドレインパッド105から出力整合回路103を伝送して出力端子115に出力される高周波信号の振幅偏差及び位相偏差を抑制することができる。
【0042】
図4は、FET101の基本セルを二つ接続しており、総ゲート幅5400μm、FET101の長手方向の寸法は約3.0mmである。上記入力整合回路102及び出力整合回路103に分配合成回路を適用して、入力端子120及び出力端子121において50Ω整合としている。入力端子120及び出力端子121において振幅偏差及び位相偏差を少なくすることが可能となる。
【0043】
入力整合回路102、出力整合回路103に用いられる伝送線路は、マイクロストリップ線路の他に、コプレーナ線路であってもよい。
【0044】
スリット内に抵抗体を形成することにより、発振等の不安定動作を抑制できる効果が得られるため、マイクロ波帯及びミリ波帯の電力増幅器の高出力化及び高利得化を図ることができる。
【産業上の利用可能性】
【0045】
本発明は、マイクロ波帯及びミリ波帯において用いられる半導体装置に関し、特に高出力且つ高利得な電力増幅器として利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【0046】
【図1】本発明の一実施形態に係る半導体装置の平面図である。
【図2】(a)は従来の半導体装置の等長スリット形状を有する入力整合回路の平面図である。(b)は本発明の一実施形態に係る半導体装置のスリット形状を有する入力整合回路の平面図である。(c)は図2(a)及び(b)におけるポート4に対するポート2の振幅偏差及び位相偏差を測定した結果のグラフである。(d)は図2(a)及び(b)におけるポート4に対するポート3の振幅偏差及び位相偏差を測定した結果のグラフである。
【図3】本発明の一実施形態に係る半導体装置のスリット形状を有する入力整合回路の平面図である。
【図4】本発明の一実施形態に係る半導体装置の平面図である。
【図5】従来の第1の半導体装置の斜視図である。
【図6】(a)〜(c)は従来の第1の半導体装置の斜視図である。
【図7】従来の第2の半導体装置の平面図である。
【図8】従来の第3の半導体装置の斜視図である。
【符号の説明】
【0047】
101 FET
102 入力整合回路
103 出力整合回路
104 ゲートパッド
105 ドレインパッド
106 バイアホール
107 金ワイヤ
108 誘電体基板
109 マイクロストリップ線路
110 入力端子
112 誘電体基板
113 マイクロストリップ線路
114 マイクロストリップ線路
115 出力端子
116 スリット
117 スリット
118 スリット
119 基本セル
120 入力端子
121 出力端子
122 スリット
123 スリット
124 スリット

【特許請求の範囲】
【請求項1】
入力整合回路、出力整合回路及び半導体素子からなる高出力電力増幅器において、
前記入力整合回路及び出力整合回路のうちの少なくとも一方は、誘電体基板又は半導体基板の上に伝送線路を用いて形成されており、
前記入力整合回路の前記半導体素子側には、複数本のスリットが設けられており、
前記入力整合回路の中央部へ入力される高周波信号の高周波信号の伝送方向に沿って、前記中央部の隣接位置に配置された前記スリットの長さが前記中央部に配置されるスリットの長さよりも長いことを特徴とする半導体装置。
【請求項2】
前記入力整合回路及び出力整合回路に用いられる前記伝送線路は、マイクロストリップ線路及びコプレーナ線路のうちの少なくとも一方であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
【請求項3】
前記スリット内には、抵抗体が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【図7】
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【図8】
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【公開番号】特開2010−219654(P2010−219654A)
【公開日】平成22年9月30日(2010.9.30)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−61385(P2009−61385)
【出願日】平成21年3月13日(2009.3.13)
【国等の委託研究の成果に係る記載事項】(出願人による申告)国等の委託研究の成果に係る特許出願(平成20年度、総務省、「電波資源拡大のための研究開発」委託研究、産業技術力強化法第19条の適用を受ける特許出願)
【出願人】(000005821)パナソニック株式会社 (73,050)
【Fターム(参考)】