【課題】放射化分析や質量分析の適用が困難な試料に対して、正確に原子核の分析を行う。
【解決手段】この原子核分析装置１０は、γ線源１１、放射線検出器１５、γ線モニタ用検出器１６、パーソナルコンピュータ（分析部）１７を具備する。この分析方法においては、被測定試料原子核４０にγ線１２が照射されることによって、被測定試料３１中の原子核４０に（γ、ｎ）反応を生じさせ、この際に発生する中性子４１のエネルギー（スペクトル）を放射線検出器１５によって測定することによって、原子核４０の核種を特定する。ここで、γ線１２のエネルギーを調整することによって特定の反応（（γ、ｎ）反応）のみを選択的に生じさせることができる。 （もっと読む）

【課題】経済的かつ簡便な方法で高い加工速度または処理量での検査の精度の向上を可能にする。
【解決手段】
本発明は、生産機械用の、とりわけ、一つ以上の列から成る製品（５）のフローを有する充填装置７または充填密封装置１３を備えた瓶詰設備１用の検査装置に関し、該検査装置は生産機械の内部に、有利には瓶詰設備１の内部に、充填装置７ないし充填密封装置１３の直後にまたは分離装置２３の前方に配置されており、その結果該製品５は、該製品５の分離２３または梱包２５の前に検査される。さらに本発明は、生産機械用の、とりわけ、瓶詰設備１用の検査方法に関し、該検査方法では、源１７およびセンサ１９から成る検査装置が、製品の動きＢと垂直または斜めのいくつかの製品５を走査する。 （もっと読む）

本発明は、ハドロンビームの線量測定モニタリング用のデバイスに関する。本デバイスは、ガス充填ギャップによって互いに分離されたｎ＋１個の平行な検出器プレートの組又は積層体によって得られたｎ個の連続的なイオン化チャンバｉを備える。各検出器プレートは、バイアス電圧側面を備えたバイアス電圧部分から絶縁された収集側面を備えた収集部分を有し、収集側面が次の検出器プレートのバイアス電圧側面と向き合うように又はその逆になるように配置される。各検出器プレートは、ｍ個の物質層Ｌ_ｋを備える。これら検出器プレートの結果物のアセンブリは、複数のイオン化チャンバセルを形成する。各検出器プレートを構成する各層Ｌ_ｋの厚さｌ_ｋ及び物質の選択並びにイオン化チャンバセルｉのギャップは、各イオン化チャンバセルｉに対して本願明細書で定義される（式２）を満たすように選択されることを特徴とする。
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【課題】放射線源と検出器を平行移動することで検査対象の様々な角度からの透過データを取得し、このデータを再構成することで検査対象の断層像を得る検査装置では、放射線源と検出器の各検出素子とを結ぶ線分の幾何配置をあらかじめ正確に認識しなければ画像再構成ができない。さらに、検査中の装置で振動が生じた場合、画像再構成の情報がデータ取得ごとに異なり、誤差が生じる。
【解決手段】放射線源と検出器を有する検査装置において、前記放射線源と検出器間に校正用ファントムを設置し、被検体の透過データを取得するのと同期して該校正用ファントム内に有する細線の透過像を得る。この細線の透過像を用いて、データ取得時の放射線源の位置と、放射線源と検出器間の距離を導出する。この幾何配置から透過経路の補正データを算出し、これを用いて画像再構成を実施することを特徴とする撮像データ補正方法、および検査装置。 （もっと読む）

【課題】狭隘な場所に設置し得る小形の放射線検出部であっても充分広い領域の検査情報を得ることができ、しかも前記検査情報を感度が異なる複数種類のものとすることができる放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 検査対象物１００を挟んでＸ線照射部１１の反対側に配置され、検査対象物１００を透過した放射線を受けることにより検査対象物１００を撮像するＸ線検出装置２０であって、放射線を検出する相対的に高感度と相対的に低感度の少なくとも２種類で検査対象物１００の所定の領域の一部をそれぞれ撮像するＸ線検出部２１Ａ，２１Ｂと、Ｘ線検出部２１Ａ，２１Ｂを水平方向、垂直方向、又は水平方向及び垂直方向に移動させてＸ線検出部２１Ａ，２１Ｂが前記領域の全部を撮像するように走査させる走査手段と、Ｘ線検出部２１Ａ，２１Ｂによる前記走査の結果、得る複数の領域の画像を同一感度の画像毎に合成して検出対象物１００の前記領域の全部の画像を合成する画像合成部４０とを有する。 （もっと読む）

【課題】蛋白単分子等の微小標的粒子にＸ線ビームを照射するＸ線分析装置において、コンテナレス法やコンテナ法では解決が難しかった種々の技術的課題を一挙に解決する。
【解決手段】保持基板１に保持されている標的粒子Ｐの位置形状測定を行うプローブ式測定手段２と、前記プローブ式測定手段２のプローブ２ａを、標的粒子Ｐの測定が可能な位置である測定位置と、前記Ｘ線照射機構による標的粒子へのＸ線ビームの照射に干渉しない位置である退避位置との間で移動可能に保持する移動機構３と、前記保持基板１及びＸ線照射機構の相対位置を調整する位置調整機構５とを設け、前記プローブ式測定手段２で位置が特定された標的粒子Ｐに対し、前記保持基板１及びＸ線照射機構の相対位置を調整してＸ線ビームを照射できるように構成した。 （もっと読む）

【課題】 ２段の放射線検出器で取得される画像間でのずれを低減することが可能なデュアルエナジータイプの放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 放射線入射方向に対して上流側に位置して低エネルギ範囲の放射線を検出する第１放射線検出器と、下流側に位置して高エネルギ範囲の放射線を検出する第２放射線検出器とによって、放射線検出装置を構成する。また、このような構成において、第１放射線検出器での撮像素子１２における画素１３の画素幅ｐ１と、第２放射線検出器での撮像素子２２における画素２３の画素幅ｐ２とを、撮像素子間の距離Δｄを考慮して異なる幅に設定するとともに、第１、第２撮像素子１２、２２での複数の画素をそれぞれ複数の画素単位に区分し、第２撮像素子２２における画素単位幅ｗ２を、第１撮像素子１２における画素単位幅ｗ１よりも大きく設定する。 （もっと読む）

【課題】多重逆ファンビームｘ線回折イメージング（ＭＩＦＢ ＸＤＩ）システムのための多焦点ｘ線源（ＭＦＸＳ）を提供すること。
【解決手段】ＭＦＸＳは、ｙ軸と同一の直線上にＭＦＸＳの長さに沿って形成された複数の焦点（Ｎ）を含む。ＭＦＸＳは、複数の１次ビームを生成するように構成され、隣接するコヒーレントｘ線散乱検出器間の間隔Ｐが、次式：


上式で、Ｗ_sが前記複数の焦点の横方向範囲、Ｕがｙ軸から前記検査区域の頂部表面までの距離、Ｖが前記頂部表面から座標Ｘ＝Ｌにおける線までの距離、
を満たす場合に、１次ビームが検査区域内に位置決めされた対象物の断面を通って伝播するときに、少なくともＭ個のコヒーレントｘ線散乱検出器が１次ビームからのコヒーレント散乱光線を検出するように構成される。 （もっと読む）

物体の画像を生成して表示するための装置および方法は、線源および、線源との間に走査範囲を定義するために間隔を置かれて、物体を通って伝えられて入射する放射を検出できる、少なくとも２つ（好ましくは３つ以上）の一連の線形検出器；線形検出器に沿って互いにある角度で連続した経路において、走査範囲を通って物体を相対的に移動させる手段；少なくとも、第１の線形検出器の出力から第１の画像、第２の線形検出器の出力から第２の画像、および第３の画像を各連続した経路のために生成する画像生成装置；第１、第２、第３の画像を連続して表示し、したがって、画像間に単眼の移動視差を表示するのに適した画像ディスプレイ；が使用される。各画像は、走査方向に対して垂直な方向においてビーム拡散に起因する歪みを減らすような方法で、表示の前に処理される。画像間の単眼の移動視差は、観察者の目に見える三次元キューを生成するのに用いられる。 （もっと読む）

【課題】水分の存在の判定に用いる情報のデータベースを予め作成する必要がない水分検出方法を提供する。
【解決手段】単一エネルギーを有するパルス状の高速中性子１７が、中性子発生管２から、配管１２を取り囲む保温材１３に照射される。高速中性子１７が保温材１３内の水１５及び配管１２内の液体１６で減速されて熱中性子１８になる。高速中性子１７の照射方向と逆方向に進む熱中性子１８を^３Ｈｅ比例計数管３で検出する。スケーラー１０は、熱中性子の検出信号を用いて設定された時間毎の計数値を算出する。データ処理装置１１は、これらの計数値を用いて、各時間幅での熱中性子の強度を求める。この強度がピークになる時間を基に熱中性子の飛行距離を求め、この飛行距離、及び^３Ｈｅ比例計数管３と配管１２の外面との距離に基づいて、保温材１３内の水分の有無を判定する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線検出器を冷却するペルチエ素子の放熱面からの放熱の異常を、大きなコスト増加をもたらすことなく検知する。
【解決手段】温度制御が開始されてから時間ｔ１が経過した時点において、ペルチエ素子への印加電圧とペルチエ素子の駆動電流との関係からペルチエ素子の異常を検知する（Ｓ１〜Ｓ８）。その後、時間ｔ２が経過した時点で、ｔ１→ｔ２までの期間中の温度低下量（温度差）ΔＴを求め、ΔＴから冷却速度Θを計算する（Ｓ９〜Ｓ１２）。そして、冷却速度Θが最高使用温度条件の下で予め求めておいた閾値Θ１未満であれば（Ｓ１３でＮｏ）、放熱の異常であると判断して異常報知を行う（Ｓ１５）。 （もっと読む）

【課題】冊子状の被検査物の内部に綴じ部材が隠れている場合であっても綴じ状態の良否を判別することができるＸ線検査装置を提供すること。
【解決手段】被検査物Ｗの綴じ部材Ｓの正常状態を含む綴じ部材情報を予め設定する設定入力手段１５と、Ｘ線検出器１０から出力される濃度データから、被検査物Ｗの外形を抽出する外形抽出手段１７と、Ｘ線検出器１０から出力される濃度データから、被検査物Ｗの綴じ部材Ｓを抽出する綴じ部材抽出手段１８と、外形抽出手段１７が抽出した被検査物Ｗの外形の中に綴じ部材抽出手段１８が抽出した綴じ部材Ｓを重ね合わせ、綴じ部材抽出手段１８が抽出した綴じ部材Ｓの状態と、綴じ部材情報に含まれる綴じ部材Ｓの正常状態とを比較して、被検査物Ｗの綴じ状態の良否を判別する判別手段２０とを備えた。 （もっと読む）

【課題】基板の検査に際し、被検査部位の種類等に応じた検査ができ、かつ、検査時間を短縮できる、検査方法、検査装置および検査用プログラムを提供する。
【解決手段】Ｘ線源２からＸ線が出力され、検査対象である基板を透過したＸ線が、ＦＰＤ（フラットパネルディテクタ）において、Ｘ線透視画像として撮影される。Ｘ線ＣＴによる再構成データの生成のための撮影は、トモシンセシスによる再構成データ生成のための撮影と同様に、Ｘ線源２の光軸Ｌを軸とした仮想円３００上の位置３０１〜３０８で行なわれる。そして、Ｘ線ＣＴによる再構成データの生成の際には、位置３０２〜３０８のそれぞれで得られたＸ線透視画像が、位置３０２Ａ〜３０８Ａで撮影されたかのように、仮想円３００上の回転位置に応じて、各Ｘ線透視画像の中心を軸とし、アフィン変換を用いて、各画像が回転するようデータを変換された後、フィルタ処理を施される。 （もっと読む）

【課題】本発明はＸ線分光装置に関し、広い波長範囲でＸ線の分光を再現性よく得ることができるＸ線分光装置を提供することを目的としている。
【解決手段】 試料１１から発生した特性Ｘ線１３を受ける互いにほぼ９０°の角度で配置された２つの分光素子１，２と、該２つの分光素子からの分散光を同時に受けて電気信号に変換する位置敏感検出器１５と、該位置敏感検出器の出力を記憶するメモリと、該メモリに記憶されたデータを読み出して所定の画像処理を行なう画像処理部と、該画像処理部の出力を受けて分光情報を表示する表示部と、を有して構成される。 （もっと読む）

【課題】簡易な構造で、微小異物の検出を確実に行うことができるＸ線検査装置を提供することである。
【解決手段】Ｘ線検査装置１００は、物品にＸ線Ｓ１を照射し、シンチレータ３００による光変換をフォトダイオードアレイ（ＰＤＡと略記する）４００で検出することにより物品６００内の微小異物６１０を検出することができ、シンチレータ３００のＸ線照射側にスリット部材５００を積層したものである。特に、本発明の実施の形態に関するＸ線検査装置１００では、シンチレータ３００のＸ線照射側にスリット部材５００が積層され、Ｘ線検査装置１００ａでは、さらに防水部材７００が積層される。 （もっと読む）

【課題】自動的に対象物の検査に適した面を抽出できるＸ線検査装置、Ｘ線検査方法およびＸ線検査プログラムを提供する。
【解決手段】Ｘ線検査装置１００は、検査対象１にＸ線を照射するＸ線源１０と、検査対象１を透過したＸ線を検出するＸ線検出器２３と、Ｘ線検出器２３を移動するＸ線検出器駆動部２２と、検査対象１を移動する検査対象駆動機構１１０と、演算部７０とを備える。演算部７０は、Ｘ線源１０、Ｘ線検出器２３などを制御し、検査対象１を複数の方向から撮像し、撮像結果に基づいて、検査対象１の複数の断層画像を生成する。演算部７０は、断層画像のうち、高輝度領域の割合が高い断層画像を特定し、特定された断層画像から、検査対象１の形状特性に応じた所定の距離だけ離れた断層画像を用いて、検査対象１を検査する。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線フラットパネル検出器を用いたＸ線検査装置において、クラスタ状の欠陥についても補完処理を行い、しかも、その補完処理により擬似的な像が生じても、オペレータによる良／不良判定に誤りが生じることを防止することができ、ひいては長期にわたってＸ線フラットパネル検出器を使用することのできるＸ線検査装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線フラットパネル検出器２の欠陥画素を抽出し、その欠陥画素の出力データを周囲の画素の出力データを用いて補完して表示器に表示する欠陥画素補完手段１３，１５を備えるとともに、その欠陥画素補完手段による補完の対象となった画素を、表示器１３の画面上で報知する補完対象画素報知手段を設けることで、欠陥画素の位置情報と、補完後の像の変化から、検査に影響を与えるか否かをユーザが判断できるようにする。 （もっと読む）

本発明は、逆ジオメトリＣＴによりスペクトルＸ線撮像装置を実現する検査装置及び対応する方法に関する。提案される検査装置は、複数の位置でＸ線を放射する複数のＸ線源を有するＸ線源ユニットと、Ｘ線源のうちの１つ以上から放射されたＸ線を、Ｘ線源ユニットとＸ線検出ユニットとの間の検査領域の貫通後に検出し、検出信号を生成するＸ線検出ユニットと、生成された検出信号を処理する処理ユニットと、少なくとも２つの異なるエネルギースペクトルで順次、単独あるいはグループでＸ線を放射するようにＸ線源を制御する制御ユニットであり、特定のＸ線源又はＸ線源のグループが異なるエネルギースペクトルでＸ線を放射するように切り換えられる時間間隔中に、特定のＸ線源又はＸ線源のグループがオフに切り換えられ、且つ１つ以上のその他のＸ線源又はＸ線源のグループが順次オンに切り換えられてＸ線を放射するように制御する制御ユニットとを有する。
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【課題】Ｘ線透過量に基づいて生成する透過画像から仕切り部材の位置を正確に検知するとともに、検査性能の低下を防止する。
【解決手段】被検査物Ｗを搬送方向Ｙに搬送するベルトコンベア５と、ベルトコンベア５の搬送面５ａに近接して設けられ、搬送面５ａを搬送方向Ｙと直交する方向Ｚに分割して複数の検査レーン１４を形成する仕切り部材１１と、検査レーン１４に搬送されている被検査物ＷにＸ線を照射するＸ線発生器２１と、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出するＸ線検出器２２とを備え、Ｘ線透過量に基づいて透過画像を生成し、この透過画像から被検査物Ｗの品質を検査するＸ線検査装置１において、仕切り部材１１を、搬送手段５の搬送方向Ｙに延在する略板状のＸ線易透過部１２と、Ｘ線易透過部１２の搬送手段５の搬送面５ａに近接する底部に設けられているＸ線難透過部１３とから構成した。 （もっと読む）

検出器出力データ内の個々の信号を分離する方法および装置であって、方法は、検出器出力データをデジタル系列として取得するかまたは表現すること、データ内に存在する信号の信号形態を取得するかまたは確定すること、数学的変換に従って信号形態を変換することによって変換済み信号形態を形成すること、数学的変換に従ってデジタル系列を変換することによって、変換済み信号を含む変換済み系列を形成すること、少なくとも変換済み系列および変換済み信号形態の関数を評価し、それにより、関数出力を提供すること、関数出力のモデルに基づいて関数出力の少なくとも１つのパラメータを確定すること、および、関数出力の少なくとも１つの確定されたパラメータから信号のパラメータを確定することを含む、方法および装置。方法は、関数出力をモデル化することによってモデルを形成することを含んでもよい。
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