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Fターム[2G001DA02]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 検出器関連言及 (3,003) | 配置;方向 (625)

Fターム[2G001DA02]に分類される特許

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【課題】電車線材料の状態を任意の位置で移動しながら簡単に非破壊で高精度に検査することができる電車線材料の非破壊検査装置を提供する。
【解決手段】(A)に示すように、電車線材料C1が検査箇所P1で収容部6内に収容されて、X線照射部14Bが電車線材料C1の検査箇所P1にX線を照射し、この電車線材料C1を透過する透過X線を透過X線測定部16Aが測定する。その後に、電車線材料C1が検査箇所P1で収容部6内から開放されて、収容部6が所定の間隔Δだけ移動する。次に、図(B)に示すように、電車線材料C1が検査箇所P1で収容部6内に収容されて、X線照射部15Bが電車線材料C1の検査箇所P1にX線を照射し、この電車線材料C1を透過する透過X線を透過X線測定部17Aが測定する。その結果、透過X線測定部16A,17Aが出力する透過X線情報が測定結果記録部に記録される。 (もっと読む)


【課題】製造コストの安価な簡単な構造でありながら確実な動作で効果的にX線センサを保護して寿命を改善できるX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置は、搬送手段4の搬送面5の上方にX線源6を有し、搬送面5の下方にセンサ9を有し、照射位置7の手前には、操作部材11と遮蔽部材12からなるシャッタ装置10を備える。ワークWが操作部材に接触しない状態では遮蔽部材がセンサをX線から遮蔽し、ワークが操作部材を押した場合には遮蔽部材が移動してワークを透過したX線がセンサ9に到達する。検査中にX線を常時照射しても、センサに到達するX線は検査に必要な最小限に止まる。センサがX線で過剰に損傷し、寿命の劣化が早まる恐れは少ない。 (もっと読む)


【課題】計量手段を備えていても計量精度の低下等の不具合を防止することのできるX線異物検出装置を提供すること。
【解決手段】搬送空間S内のX線照射領域である検査位置P1に被検査物Wを搬送するためのX線検査用のX線コンベア32と、X線コンベア32に隣接し、被検査物Wを計量する計量手段11を有する被検査物Wを搬送空間S内で搬送するための搬送面が水平な計量コンベア33と、を備え、検査位置P1が搬入口30および搬出口35から見通せないように、搬入口30から搬出口35までの搬送空間Sが屈曲して形成されている。 (もっと読む)


【課題】複層膜厚の測定のために2つの線源を用いなくても、1つの線源と異なるシンチレータの組み合わせにより高精度にエネルギー弁別が行える安価でコンパクトな装置を用いて複層膜厚の同時独立算出を可能にした放射線測定方法を提供する。
【解決手段】同一線源から照射された放射線を複数の材質からなる被測定物に照射して透過させ、透過した透過線量から被測定物の物理量を測定する放射線測定方法において、透過した放射線を少なくとも2種類の検出器により検出し、それぞれの検出器からの出力を検量線を用いて弁別演算を行う工程と、弁別演算した値を用いて各層の坪量を演算する工程を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】冷却フィンなどの異物による影響を受けずに、実装状態(はんだ付けの状態)を確実に検査することができる透視検査装置を提供する。
【解決手段】放射線Xを被検体101に向けて放出する放射線源1と、検体を透過した放射線Xを検出する放射線検出器4と、被検体101への放射線Xの入射角度を変化させる入射角度変更手段9と、放射線検出器4により検出された放射線量の二次元分布を画像化する信号処理手段6と、入射角度変更手段9及び信号処理手段6を制御する制御手段10とを備え、制御手段10は、被検体101に放射線Xが第1の角度で入射したときの透過放射線量に基づく画像と、被検体101に放射線Xが第2の角度で入射したときの透過放射線量に基づく画像とを合成して、被検体101に重なっている異物102によるノイズ画像を除去する。 (もっと読む)


【課題】包材の外形を精度良く推定できるX線検査装置を提供する。
【解決手段】取得部は、基準画像として、輝度毎データから例えばジッパー等の開閉部902の画像を取得する。基準画像とは、X線透過画像において映り易い画像(一の領域の厚さよりも厚い他の領域の画像を含む)である。推定部は、取得部により取得された開閉部902の画像に係る基準データに基づいて、包材903の外形およびシール部904を推定する。判定部は、推定部により推定された包材903の外形に係る外形データに基づいて内容物901の噛み込みを判定する。 (もっと読む)


【課題】各塗工ブロックの同一位置で塗工の厚さを測定し、測定処理装置内で塗工端の開始位置や終了位置や塗工ブロックの左右端を検出することで、塗工サイズを測定する放射線測定装置を提供する。
【解決手段】 放射線源と、この放射線源に対向して配置されたセンサと、前記放射線源と前記センサの間であって、前記センサに近接して搬送されるシートからなり、前記放射線源から前記シートを透過して前記センサに到達する放射線の強度に基づいて前記シートの物理特性を検出する放射線測定装置において、
前記センサとしてラインセンサを用いると共に、前記シートにはシートの長さ方向に間欠的に塗工剤が塗布され、前記ラインセンサは少なくとも前記シートの厚さ、前記塗工剤の塗工端、塗工厚さ、塗工ブロックのいずれか一つを検出するように構成した。 (もっと読む)


【課題】 膜厚の厚みレベルに応じて効率よく、膜厚測定を行うことができる蛍光X線膜厚計及び蛍光X線膜厚測定法を提供することを目的とする。
【解決手段】 試料上の照射ポイントに放射線を照射する放射線源と、試料から放出される蛍光X線及び散乱X線を検出し、蛍光X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器と、信号を分析する分析器と、検出器に視野制限窓およびその位置調節機構と有し、測定する表面層の厚みレベルに応じてX線検出器の検出領域を視野制限窓により調整することを特徴とする蛍光X線膜厚計及び蛍光X線膜厚測定法。 (もっと読む)


【課題】集束イオンビームで形成した観察面に荷電粒子ビームを照射し、観察像を取得し、観察面を保持したまま、さらに透過可能になるように薄片化加工を行うことで、同一観察位置のTEM観察と二次粒子像観察を図ること。
【解決手段】集束イオンビーム3を試料5に照射し観察面を形成し、電子ビーム4を観察面に照射し、観察像を形成し、試料5の観察面と反対側の面を除去し、観察面を含む薄片部5tを形成し、薄片部5tの透過電子像を取得する試料加工観察方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】容易に短時間で被検査物の検査条件を設定および調整することができる物品検査装置を提供すること。
【解決手段】被検査物Wを検査する検査部3と、被検査物Wの属性を特定する属性情報と、被検査物Wの検査に用いる検査部3の検査条件を、属性情報と検査条件とを対応付けて記憶する記憶部7と、記憶部7が記憶する属性情報の中から検査部3に検査させる被検査物Wの属性情報を選択する選択操作を行う表示操作部4と、記憶部7に記憶された検査条件の中から、表示操作部4で選択された属性情報に一致または類似する属性情報に対応付けられた検査条件を仮検査条件として抽出し、抽出された仮検査条件を用いて検査部3に被検査物Wを検査させ、その検査結果に基づいて仮検査条件を更新し、更新された仮検査条件を本検査条件として用いて検査部3に被検査物Wを検査させる制御部8と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】検査対象の部分領域ごとに異なる分解能で検査することが可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線検査装置100は、X線が対象物1に複数の方向から入射するようにX線を出力するX線源10と、各方向から対象物に入射して対象物を透過したX線が届く位置の受像面においてX線を撮像するX線検出器23と、対象物の位置を水平面内で移動させるための検査対象駆動機構110と、X線源10とX線検出器23との間の焦点受像器間距離を保持して、X線源10とX線検出器23とを移動させて倍率を変更し、各位置で撮像したX線の強度分布データに基づき、対象物の再構成画像データを生成する。 (もっと読む)


【課題】高速検査のためのX線検査装置を用いて不良解析検査を実現する。
【解決手段】X線検査装置が実行する処理は、高速撮像を実行するステップ(S315)と、再構成処理を実行して検査画像を作成するステップ(S320)と、自動検査(S325)が合格の場合に検査結果を表示するステップ(S330)と、自動検査が不合格の場合に、撮像条件を切り換えて不良解析用の撮像を実行するステップ(S340)と、不良解析用の再構成処理を実行して画像を作成するステップ(S345)と、不良解析用の画像を出力するステップ(S350)とを含む。 (もっと読む)


【課題】 試料とX線検出器の距離の変化による異物検出についての誤検出を防ぐこと。
【解決手段】 検査対象試料元素にX線を試料に照射するX線管球11と、X線が試料を透過した際の透過X線を検出するX線検出器13と、透過X線の透過像からコントラスト像を得る演算部17と、試料と検出器間の距離を算出するセンサーと、X線検出器の位置を調整する機構を備え、試料とX線検出器間の距離を一定に保ちながらX線透過像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】精度よく基板に塗布されたはんだと部品とのはんだ付け検査を行なうX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置は、予め基板に塗布されたはんだの厚みとして、クリームはんだ印刷におけるマスク厚を取得し、記憶しておく。検査対象の基板のマスク厚から、基板面に平行な断層のうち検査対象とする高さ方向の範囲を設定し、その断層数Nを特定する(S801)。X線検査装置は、各断層について検査ウィンドウ中のはんだの面積Sおよび真円度Tを計測し(S807〜S819)、その最小値がいずれも基準値以上である場合にはその検査ウィンドウのはんだ付けが良好と判定し(S821、S823)、一方でも基準値を下回ったら不良と判定する(S821、S823)。 (もっと読む)


【課題】低コストおよび省スペースで、既に構築された搬送ラインに対してX線検査を追加するX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置100においては、受取部600によりベルトコンベア900から物品Bが受け取られる。次いで、X線検査部700により受取部600から受け取った物品Bの異物検査が行われる。そして、受渡部800によりX線検査部700において検査された物品Bがベルトコンベア900に受け渡される。また、X線漏洩防止カバー910は、X線検査部700から照射されるX線の漏洩を防止する。受取部600および受渡部800は、物品Bの載置部が平面のみからなり、かつ物品Bを載置しつつ搬送する受取テーブル611,受渡テーブル811と、物品Bの移動を補助する案内ガイド板621、補助案内部622,623、案内ガイド板821、補助案内部822,823とを含む。 (もっと読む)


【課題】X線を照射することによるIC等の被検査物の破損を確実に防止することのできるX線検査装置を提供する。
【解決手段】被検査物WへのX線の累積照射量を測定もしくは推定して記録するX線累積照射量記録手段を備えた構成とすることにより、例えば累積照射量があらかじめ設定している限界量に到達した時点で自動的にX線の照射を停止する等によって、検査自体による不良品の発生を防止し、良品に混入することを防止する。 (もっと読む)



【課題】生物試料のX線顕微鏡観察に好適なX線顕微鏡像観察用試料支持部材を提供すること。
【解決手段】試料支持部材(10)は、窒化シリコン膜、カーボン膜、ポリイミド膜などの試料支持膜(11)と、この試料支持膜の一方主面に設けられ荷電粒子の照射を受けて軟X線領域の特性X線を放射するX線放射膜(13)と、試料支持膜(11)の他方主面に設けられた金属膜であって吸着により観察対象試料(1)を固定する試料吸着膜(12)とを備えている。生物試料の構成物質であるタンパク質は金属イオンに吸着し易い性質があるため、試料吸着膜(12)を試料支持部膜(11)の主面の一方に形成してこれに観察試料を吸着させるようにする。このような試料支持部材(10)を用いれば、生物試料を含む溶液を試料吸着膜(12)の上に滴下したり試料支持部材(10)を収容したセル内に注入したりするだけで、観察試料を固定することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】良品における半田形状を安定化させて、良品の場合と不良品の場合とで半田形状の差異を顕著にすることによって、検査精度を向上させる。
【解決手段】ランド22の縁部分がレジスト24に覆われた基板20と、ランド22に半田付けされた電極32を有する電子部品30との半田付け状態を検査するX線検査方法であって、基板20にX線を照射するX線照射ステップと、X線照射ステップにおいて照射し基板20を透過したX線を検出するX線検出ステップと、X線検出ステップにおいて検出したX線に基づいて、半田40の水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成した水平断面画像の半田形状に基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 (もっと読む)


【課題】挿入端子を有する電子部品が実装されたプリント基板に対して、安価に精度良く良否判定を行う。
【解決手段】プリント基板20にX線を照射するX線照射ステップと、X線照射ステップにおいて照射しプリント基板20を透過したX線を検出するX線検出ステップと、X線検出ステップにおいて検出したX線に基づいて、スルーホール21の複数位置での水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成した水平断面画像に基づいて、半田上がり高さを検出する検査ステップと、検査ステップにおいて検出した半田上がり高さに基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 (もっと読む)


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