【課題】短時間で干渉性のＸ線を試料に位置合わせ可能な試料分析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線光軸と試料１との位置合わせ時、分光器１１により、干渉性のＸ線または干渉性のＸ線の光軸と一致させた光軸を有するＸ線から、試料測定時よりも長い波長のＸ線を抽出して照射し、分析対象の試料１へのＸ線の照射位置に開口部１４ｈを有し照射位置外に照射されるＸ線を吸収するＸ線吸収層１４ｃが形成された試料保持部１４により、照射位置外に照射されるＸ線を吸収し、検出器１５により、試料保持部１４に保持される試料１に照射したＸ線の透過Ｘ線強度を検出する。 （もっと読む）

【課題】中性子、特に熱中性子を用いて被検体の透過画像を得る際に、前記透過画像のノイズの原因となる中性子散乱線を除去する。
【解決手段】第１の熱中性子質量減衰係数を有する複数のスペーサー、及び前記第１の熱中性子質量減衰係数に対して１００倍以上の大きさの第２の熱中性子質量減衰係数を有する前記複数の中性子吸収体と、前記複数のスペーサー及び前記複数の中性子吸収体と上下方向において挟持するための一対のカバー材とを具え、前記複数のスペーサー及び前記複数の中性子吸収体は、１次元的にそれぞれ交互に配列して中性子グリッドを構成し、この中性子グリッドを用いて中性子散乱線を吸収除去する。 （もっと読む）

【課題】コンテナ内にある少なくとも一つの問題となる物体の画像を生成する方法及びシステムである。
【解決手段】本発明の方法は、コンテナの走査から三次元容積走査データを受信することと、該三次元容積走査データからコンテナの三次元表示を再構築することと、三次元表現を検査して、このコンテナ内にある少なくとも一つの問題となる物体を検出することとを含む。また、本発明の方法は、三次元容積走査データ及び三次元表現のうちの一つから二次元画像を再投影することと、少なくとも一つの問題となる物体の位置に対応する、二次元画像における第一の複数の画像要素を識別することとを含む。さらに、本発明の方法は、強調表示された第一の複数の画像要素を伴って二次元画像を出力することを含む。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の端部付近に小さな異物が混入している場合においても、該異物を検出可能なＸ線検査装置を得る。
【解決手段】搬送コンベア１０によってＹ軸方向へ搬送されている検査対象物１に対してＸ線を照射するＸ線源１１、１２と、Ｘ線源１１、１２のそれぞれに対応し、Ｘ線源１１、１２から検査対象物１に照射され透過したＸ線を検出するＸ線検出器１３、１４とを備えている。Ｘ線源１１は、図１のＺ軸方向であって検査対象物１の上方から、検査対象物１の幅方向の一端部を中心として扇状にＸ線を照射できるように配設されている。Ｘ線源１２は、図１のＺ軸方向であって検査対象物１の上方から、検査対象物１の幅方向の他端部を中心として扇状にＸ線を照射できるように配設されている。 （もっと読む）

【課題】液体に含まれた検査対象試料の観察又は検査を良好に行うことのできる試料検査において、装置のメインテナンスの向上を可能にする検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】検査装置は、第１の面３２ａに液状試料２０が保持される膜３２と、膜３２の第２の面３２ｂに接する雰囲気を減圧する真空室１１と、真空室１１に接続され膜３２を介して試料２０に一次線７を照射する一次線照射手段１と、真空室１１内において、膜３２と一次線照射手段１との間の空間を部分的に仕切るシャッター４とを備え、一次線７の照射により試料２０から発生する二次線である反射電子６１をシャッター４に照射させることによって、三次的信号である二次電子６２を発生させ、二次電子６２を信号検出手段１４により検出する。本装置は、真空室１１内の圧力を検知する真空計１５を備える。 （もっと読む）

【課題】質量数の大きな元素から小さな元素まで分析でき、各元素の分析において十分な分析性能が得られる散乱イオン分析装置及び散乱イオン分析方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、分析可能な各元素に対応するビーム軸方向における試料台１４からアパーチャ１６までの第１の距離Ｌ１とアパーチャ１６からイオン検出器２０までの第２の距離Ｌ２とアパーチャ１６の開口１６ａの大きさφａとを予め取得しておき、この取得しておいた情報から分析の対象とする元素の種類に基づいて試料Ｓを分析するときの第１の距離Ｌ１と第２の距離Ｌ２とアパーチャ１６の開口１６ａの大きさφａとを決定し、この決定に基づいて試料台１４とアパーチャ１６とイオン検出器２０とのうちの少なくとも２つをビーム軸に沿って移動させると共にアパーチャ１６の開口１６ａの大きさを変更することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】従来の消滅ガンマ線のエネルギー分布又は陽電子寿命分布を測定して得られる画像では、試料表面の安定した情報が得られない問題や、ノイズが入ってしまうという問題があるので、高性能の画像を取得することを目的とする。
【解決手段】陽電子ビームを測定対象物に走査して照射し、放出される消滅ガンマ線又は散乱粒子を検出して分析画像を作成するとともに、消滅ガンマ線の検出数をコントラストとする画像を作成して、これらの画像の組み合わせから新しい分析画像を作成することにより、高性能な画像を得る。 （もっと読む）

【課題】強磁場中に配置されるマイクロチャンネルプレートでの二次電子増幅率の減少を抑制して散乱イオンの測定精度の低下を抑制できる散乱イオン分析装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明に係る散乱イオン分析装置は、磁場形成手段１８と散乱イオン検出器２０とアパーチャ１６とを備え、散乱イオン検出器は、マイクロチャンネルプレート（ＭＣＰ）２２と二次電子の位置を検出する位置検出手段３０とバイアス電圧を印加するためのバイアス電源３２とを有し、ＭＣＰ２２では、磁場Ｂ方向に対し、微細貫通孔２６に入射する散乱イオンの入射方向が傾いているのと同じ側に微細貫通孔２６の中心軸２６ｂが傾き、且つ散乱イオンの入射方向の傾きよりも中心軸２６ｂの傾きが小さくなるように当該微細貫通孔２６が形成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】放射線源と検出器を平行移動することで検査対象の様々な角度からの透過データを取得し、このデータを再構成することで検査対象の断層像を得る検査装置では、放射線源と検出器の各検出素子とを結ぶ線分の幾何配置をあらかじめ正確に認識しなければ画像再構成ができない。さらに、検査中の装置で振動が生じた場合、画像再構成の情報がデータ取得ごとに異なり、誤差が生じる。
【解決手段】放射線源と検出器を有する検査装置において、前記放射線源と検出器間に校正用ファントムを設置し、被検体の透過データを取得するのと同期して該校正用ファントム内に有する細線の透過像を得る。この細線の透過像を用いて、データ取得時の放射線源の位置と、放射線源と検出器間の距離を導出する。この幾何配置から透過経路の補正データを算出し、これを用いて画像再構成を実施することを特徴とする撮像データ補正方法、および検査装置。 （もっと読む）

【課題】放射性廃棄物中に含まれる放射性核種の特定、その位置及び充填量（充填状態）を単一の検査装置を用い、単一のプロセスで行う。
【解決手段】被検体１８が内包する放射線源１８Ａが発生する放射線１８Ｂによって標準試料１２の第１の透過画像を得、次に、Ｘ線源１１から照射されるＸ線１９によって、標準試料１２の第２の透過画像を得る。第１の透過画像及び第２の透過画像の大きさに関する相対比と、Ｘ線源１１、放射線源１８Ａ、標準試料１２及び受像器１３の相対的位置関係に基づく幾何学的関係とから、放射線源１８Ａの位置を特定する。放射線源１８Ａによる標準試料１２の第１の吸収特性に対し、Ｘ線１９の強度を変化させることによって、標準試料１２の、第１の吸収特性と合致する第２の吸収特性を得、この際のＸ線１９の強度に基づいて、放射線源１８Ａの種類を同定する。 （もっと読む）

【課題】狭隘な場所に設置し得る小形の放射線検出部であっても充分広い領域の検査情報を得ることができ、しかも前記検査情報を感度が異なる複数種類のものとすることができる放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 検査対象物１００を挟んでＸ線照射部１１の反対側に配置され、検査対象物１００を透過した放射線を受けることにより検査対象物１００を撮像するＸ線検出装置２０であって、放射線を検出する相対的に高感度と相対的に低感度の少なくとも２種類で検査対象物１００の所定の領域の一部をそれぞれ撮像するＸ線検出部２１Ａ，２１Ｂと、Ｘ線検出部２１Ａ，２１Ｂを水平方向、垂直方向、又は水平方向及び垂直方向に移動させてＸ線検出部２１Ａ，２１Ｂが前記領域の全部を撮像するように走査させる走査手段と、Ｘ線検出部２１Ａ，２１Ｂによる前記走査の結果、得る複数の領域の画像を同一感度の画像毎に合成して検出対象物１００の前記領域の全部の画像を合成する画像合成部４０とを有する。 （もっと読む）

【課題】蛋白単分子等の微小標的粒子にＸ線ビームを照射するＸ線分析装置において、コンテナレス法やコンテナ法では解決が難しかった種々の技術的課題を一挙に解決する。
【解決手段】保持基板１に保持されている標的粒子Ｐの位置形状測定を行うプローブ式測定手段２と、前記プローブ式測定手段２のプローブ２ａを、標的粒子Ｐの測定が可能な位置である測定位置と、前記Ｘ線照射機構による標的粒子へのＸ線ビームの照射に干渉しない位置である退避位置との間で移動可能に保持する移動機構３と、前記保持基板１及びＸ線照射機構の相対位置を調整する位置調整機構５とを設け、前記プローブ式測定手段２で位置が特定された標的粒子Ｐに対し、前記保持基板１及びＸ線照射機構の相対位置を調整してＸ線ビームを照射できるように構成した。 （もっと読む）

【課題】 ２段の放射線検出器で取得される画像間でのずれを低減することが可能なデュアルエナジータイプの放射線検出装置を提供する。
【解決手段】 放射線入射方向に対して上流側に位置して低エネルギ範囲の放射線を検出する第１放射線検出器と、下流側に位置して高エネルギ範囲の放射線を検出する第２放射線検出器とによって、放射線検出装置を構成する。また、このような構成において、第１放射線検出器での撮像素子１２における画素１３の画素幅ｐ１と、第２放射線検出器での撮像素子２２における画素２３の画素幅ｐ２とを、撮像素子間の距離Δｄを考慮して異なる幅に設定するとともに、第１、第２撮像素子１２、２２での複数の画素をそれぞれ複数の画素単位に区分し、第２撮像素子２２における画素単位幅ｗ２を、第１撮像素子１２における画素単位幅ｗ１よりも大きく設定する。 （もっと読む）

【課題】多重逆ファンビームｘ線回折イメージング（ＭＩＦＢ ＸＤＩ）システムのための多焦点ｘ線源（ＭＦＸＳ）を提供すること。
【解決手段】ＭＦＸＳは、ｙ軸と同一の直線上にＭＦＸＳの長さに沿って形成された複数の焦点（Ｎ）を含む。ＭＦＸＳは、複数の１次ビームを生成するように構成され、隣接するコヒーレントｘ線散乱検出器間の間隔Ｐが、次式：


上式で、Ｗ_sが前記複数の焦点の横方向範囲、Ｕがｙ軸から前記検査区域の頂部表面までの距離、Ｖが前記頂部表面から座標Ｘ＝Ｌにおける線までの距離、
を満たす場合に、１次ビームが検査区域内に位置決めされた対象物の断面を通って伝播するときに、少なくともＭ個のコヒーレントｘ線散乱検出器が１次ビームからのコヒーレント散乱光線を検出するように構成される。 （もっと読む）

【課題】撮影倍率を変更しても都度較正を行なうことなく寸法精度のよい断面像を得る。
【解決手段】撮影距離ＦＣＤと検出距離ＦＤＤを設定するシフト機構（撮影距離設定手段、検出距離設定手段）７と、第一の撮影距離ＦＣＤを設定してスキャンして得た既知の大きさの第一の基準体の第一の断面像上の大きさと、第二の撮影距離ＦＣＤを設定してスキャンして得た第一の基準体の断面像上の大きさとから、ＦＣＤ及びＦＤＤの誤差を求め較正する較正計算手段を有する。 （もっと読む）

物体の画像を生成して表示するための装置および方法は、線源および、線源との間に走査範囲を定義するために間隔を置かれて、物体を通って伝えられて入射する放射を検出できる、少なくとも２つ（好ましくは３つ以上）の一連の線形検出器；線形検出器に沿って互いにある角度で連続した経路において、走査範囲を通って物体を相対的に移動させる手段；少なくとも、第１の線形検出器の出力から第１の画像、第２の線形検出器の出力から第２の画像、および第３の画像を各連続した経路のために生成する画像生成装置；第１、第２、第３の画像を連続して表示し、したがって、画像間に単眼の移動視差を表示するのに適した画像ディスプレイ；が使用される。各画像は、走査方向に対して垂直な方向においてビーム拡散に起因する歪みを減らすような方法で、表示の前に処理される。画像間の単眼の移動視差は、観察者の目に見える三次元キューを生成するのに用いられる。 （もっと読む）

【課題】物体を検査するための方法およびシステムを提供すること。
【解決手段】バッグおよびパッケージに対するＸ線イメージング検査システム。透過イメージングが、扇形ビームおよびセグメント型検出器を使用して実行され、一方、散乱イメージングが、走査ペンシルビームで実行され、両方のビームは同時にアクティブである。ビーム間のクロストークは、シールド、散乱検出器設計、配置および向きの組み合わせによって低減され、イメージ処理は、透過ビームから散乱されて散乱検出器の中に入る測定された放射線を差し引き、クロストークを低減する。 （もっと読む）

従来、位相情報を格子干渉計で検出された他の寄与から区別するために、位相ステッピング法が考えられてきた。これは複数のＸ線投影像の取得を伴う。これに対して、本発明は、位相ステッピングを要さずに位相コントラスト信号を抽出する、格子干渉計に基づいた革新的な高感度Ｘ線トモグラフィ位相コントラストイメージング方法を提供する。既存の位相ステッピング法と比べて、「逆投影」と呼ばれるこの新しい方法の主な利点は、画質を劣化させることなく、投与線量が著しく低減されることである。この新しい技術は、生物検体のイメージングと生体内研究に不可欠であり、将来の高速かつ低線量の位相コントラストイメージング法の前提条件をなす。
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【課題】コヒーレント性を有するＸ線を、結晶性のある測定試料に照射することによって得られるスペックル状の回折光を用いて、該測定試料の結晶の不均一構造の分布を、容易に得ることができる方法を提供する。
【解決手段】コヒーレントなＸ線光を２分岐し、一方を、結晶性を有する測定試料に照射して得られたスペックル状の回折光と、他方のＸ線光を単結晶の参照結晶に照射して得られた回折光とを、二次元の検出器上で干渉させてホログラムパターンを取得し、このホログラムパターンに対してフーリエ変換を行って、該測定試料の結晶性の不均一性などの結晶構造に関する空間分布情報を得るようにする。こうすることで、スペックル状の回折光から直接、オーバーサンプリング法を用いた演算処理に比べ、容易に上記情報を得ることができる。 （もっと読む）

材料内容についての情報を得るために、物体を走査する２つのステップ方法は、相互間で走査ゾーンを規定するために間隔を置いた放射線ソース及び放射線検出器システムを提供する。第１の走査ステップでは、物体はソース及び検出器システムに対して動かされ、走査ゾーンを通過させることで、物体及びその内容物との相互作用の後、前記検出器システムで入射放射線に関する強度情報が収集される。物体を、走査ゾーンを通して動かしながら、物体における異常な構造及び／又は物体の均質性の欠如を識別するために、強度の変化が利用される。それに続く第２の走査ステップでは、走査ゾーンにおいて、物体が定位置に位置決めされ、透過された入射強度に関連する適切な関数関係に対して分析され、集められた強度情報を収集し、材料内容の表示を提供するためにその分析の結果を適切なデータのライブラリと比較する。 （もっと読む）