【課題】簡易な構成でありながら、より高い波長分解能を有する光スペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】被測定光Ｐ１を放出する光源１と、非線形光学結晶２と、波長選択フィルタ３と、分光器４と、制御部５とを順に備える。非線形光学結晶２は、光源１から入射する被測定光Ｐ１に対して自発的パラメトリック下方変換を生じさせ、変換光Ｐ２を射出する。変換光Ｐ２においては、被測定光Ｐ１におけるわずかな波長の変化が大きく拡大されて表れる。そのため、分析器４によって、比較的高精度な変換光Ｐ２のスペクトルが得られる。被測定光Ｐ１の波長と、変換光Ｐ２の波長との関係を調べることにより、制御部５における換算によって、変換光Ｐ２のスペクトルから被測定光Ｐ１のスペクトルが求められる。このようにして得た被測定光Ｐ１のスペクトルは、分光器４によって直接測定したものよりも高精度なものである。 （もっと読む）

【課題】分光装置の光源がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、分光手段の校正を行うことで、測定用の光源と校正用の光源を併用可能にし、測定用の光源とは別に校正用の光源を用意しなくても校正作業を行うことができるようにした分光装置の校正方法を提供する。
【解決手段】分光手段２の校正を行う校正方法であって、分光装置に備えられた測定用と校正用を兼ねた１つの光源１がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、前記光について測光を行い、前記測光した結果に基づいて、前記分光手段２の校正を行なうようにした。 （もっと読む）

【課題】小型化が可能で且つ複雑な光軸合わせが不要な光検出器及びスペクトル検出器を提供すること。
【解決手段】本発明の光検出器は、基板と、前記基板上に形成され、複数の凸部を有する半導体とを有する光検出器であって、前記複数の凸部に入射した光のうち前記複数の凸部を透過する光を検出する。本発明によれば、回折格子やプリズム等の光学部品を用いなくとも、特定のピーク波長を有する光を検出することができ、複雑な光学系の光軸調整不要な小型の光検出器を実現することができる。 （もっと読む）

【課題】太陽などの光を利用して発電する光電池の開発研究や使用時において、簡便に光電池の分光感度スペクトルとともに、同時に光電池の電流電圧特性を測定する評価装置を提案する。
【解決手段】一つの白色光源３の周囲に２つの集光ミラー１，２を配置し、集光された光の一方は分光器４に導入され単色光に変換されたのち出射され、もう一方の光は擬似太陽光スペクトルフィルタ５を通じて出射され、これら二つの光は二分岐ファイバ８，９を通じて重畳されて被測定光電池１０１を照射することができる光電池の分光感度測定装置および電流−電圧特性測定装置、で分光感度測定および電流電圧特性測定を測定する。 （もっと読む）

【課題】低雑音で高感度な分光システムを提供する。
【解決手段】分光システムは、周波数固定光源１と、基準信号発生器２と、光信号１０１を多モード光１０４に変調する光変調器３と、モード光１０３Ａとモード光１０３Ｂを取り出す分波器４と、周波数可変光源５と、光信号２０１を分波する光スプリッタ６と、光ビート信号３０１Ａを生成する光カップラ７と、光ビート信号３０１Ｂを生成する光カップラ８と、光ビート信号３０１Ａを電磁波４０１Ａに変換するフォトミキサ９と、光ビート信号３０１Ｂを電磁波４０１Ｂに変換するフォトミキサ１０と、検体Ｓを経た電磁波４０１Ａ’を電磁波４０２に変換するミキサ１２と、電磁波４０２を増幅する増幅器１３と、基準信号１０２の中心周波数ｆ_ＲＥと周波数帯域幅ｆｗを有する電磁波のみを通過させるように設定されたバンドパスフィルタ１４と、通過した電磁波４０２Ａの電力を検出する電力検出器１５を含む。 （もっと読む）

【課題】入射光ファイバがシングルモードファイバ、マルチモードファイバの何れであっても、光損失が少なく、分解能や測定レベル確度の性能を悪化させない。
【解決手段】第１コア３０ａと第２コア３０ｂを有し、第２コア３０ｂのコア径が第１コア３０ａのコア径よりも小さく、且つ第２コア３０ｂのコア中心が第１コア３０ａのコア中心と同軸上に配置されるデュアルコア光ファイバからなる内部光ファイバ３０が、被測定光を入射する外部光ファイバ１０が接続される光コネクタ２０と分光手段４０におけるコリメータ４１との間に接続される。そして、外部光ファイバ１０からの被測定光を内部光ファイバ３０を介して分光手段４０に入射する。 （もっと読む）

【課題】固有のＣＣＤ空間的分解能を保有でき、ＣＣＤアレイ直線ジオメトリーに合致する分解能を有し、歪みのない所望のスペクトルを光学的にイメージすることができる分光計を提供する。
【解決手段】高分解能の収差補正同心分光計１１０は、非平行の複数の溝を有する凸面回折格子１００を含む。この凸面格子１００の複数の溝がフィールド収差を補正する。凸面回折格子１００の使用により本発明の分光計１１０を著しく分解能が向上した高精度スペクトルイメージングのものにすることが可能になる。平行でない複数の溝をもつ前記凸面回折格子１００を使用することにより、分光計１１０は、多用途に適した機能のものになる。 （もっと読む）

【課題】 試料から軟Ｘ線分光装置に向う軟Ｘ線をできるだけ多く回折格子に入射させて、検出される軟Ｘ線の強度を高めた軟Ｘ線分光装置を提供する。
【解決手段】 入射する軟Ｘ線を回折する回折格子と、回折格子によって回折された軟Ｘ線を検出する検出器とを備える軟Ｘ線分光装置おいて、回折格子に入射する軟Ｘ線の中心光線を挟み、回折格子に垂直で中心光線を含む平面に平行かつ中心光線に垂直な方向の曲率が０の一対のミラーを備えて、回折格子の傍らに向って進む軟Ｘ線を、ミラーによって反射して回折格子に入射させる。 （もっと読む）

【課題】測定所要時間を延ばすことなく信号のノイズを低減し、吸光度等の計算値の精度を向上させる。
【解決手段】被測定試料の透過光による試料側測定信号及び参照試料の透過光による参照側測定信号については、セクタ鏡の回転に伴う１サイクル中に得られるデータのみを積算し平均値を算出する。一方、光検出器に光を入射しない暗信号については、複数サイクルに跨って得られるデータを積算し平均値を算出する。暗信号は時間経過に伴う変化が緩慢であるため、複数サイクルに亘る積算を実行しても信号の鈍り等の問題が生じない。３サイクルに亘る暗信号データの積算を行うとノイズは従来の１／√３に下がるため、１サイクルの時間、即ち測定所要時間が従来と同じでも暗信号を除去した測定信号のＳＮ比を改善することができる。 （もっと読む）

【課題】温度変化が起こったとしても分散特性の変化が十分に小さく、温度補償されている分光器とそのような分光器を使用した光学機器を提供する。
【解決手段】光が出射する出射部と、出射部の光出射側に配置された分散素子と、分散素子による分散光が入射する入射部と、出射部と入射部との間に配置され、分散光の入射部への入射角度が使用温度範囲内の温度変化に対してほぼ一定になるような温度補償素子と、を備える。また、光学機器は、このような温度補償されている分光器を有している。 （もっと読む）

【課題】 分光器内で発生する迷光の影響を低減することが可能な分光測定装置、測定方法、及び測定プログラムを提供する。
【解決手段】 試料Ｓが内部に配置される積分球２０と、試料Ｓからの被測定光を分光して波長スペクトルを取得する分光分析装置３０と、データ解析装置５０とを備えて分光測定装置１Ａを構成する。解析装置５０は、波長スペクトルにおいて励起光に対応する第１対象領域、及び試料Ｓからの発光に対応する第２対象領域を設定する対象領域設定部と、試料Ｓの発光量子収率を求める試料情報解析部とを有し、リファレンス測定及びサンプル測定の結果から発光量子収率の測定値Φ_０を求めるとともに、リファレンス測定での迷光に関する係数β、γを用い、Φ＝βΦ_０＋γによって迷光の影響を低減した発光量子収率の解析値Φを求める。 （もっと読む）

【課題】ノイズの出方が波長によって異なる場合であってもノイズが適切に除去される分光データ処理装置を提供する。
【解決手段】分光データVからのノイズの除去にあたっては、一の光の強弱に関する値V(i)に着目し、閾値THL,THUによって決まる範囲THL〜THUから、差値V(i)-T(i)が外れるか否かを判定する。続いて、外れると判定した場合は、光の強弱に関する値V(i)にノイズが重畳しているとみなして、光の強弱に関する値V(i)を基準値T(i)により近い値V'(i)に置換する。この処理を光の強弱に関する値V(1),V(2),…,V(m)の全部に対して行うことにより、ノイズを除去した分光データV'が得られる。閾値THL,THUは、波長区分W(1),W(2),…,W(n)ごとに独立している。 （もっと読む）

【課題】分光データの出力先又は分光データの出力先との通信手段への負荷を減少する分光測定装置を提供する。
【解決手段】分光測定装置からの分光データの出力にあたっては、繰り返し生成した複数の分光データVを分光測定装置の側で一時的に記憶する。そして、分光データVに特徴的変化が生じたことを検出すると、特徴的変化が生じた分光データV[p]、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]、分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]の全部又は一部を出力する。 （もっと読む）

【課題】測定対象光源（被試験光）の入射角度が変化しても高精度に被試験光の色度、照度などを高精度に測定することが可能な測光装置を提供する。
【解決手段】拡散光学系としての積分球２を備え、測定対象光源１００の特性を測定する測光装置１において、積分球２は、測定対象光源１００からの光が入射する入射部開口２２と、積分球２の内壁面２１で拡散された拡散光が光検出部３へと出射する検出部開口２３とを有し、光検出部３は、検出部開口２３に近接して、積分球２からの拡散光を分光する入射角依存性を有した分光手段３１と、分光手段３１に隣接して、分光手段３１により分光された光が入射する光電変換素子列３２とを備え、入射部開口２２には、拡散透過板４を設置する。 （もっと読む）

【課題】非線形ラマン散乱光測定装置において、被検体を構成する複数種類の分子を分析する際の測定速度を高める。
【解決手段】光走査部１０により、ポンプ光Ｌｐと被検体１を分析するための互いに異なる波長を持つ空間的に分離された複数の光成分Ｓｐ（ｋ）を有するストークス光Ｌｓとを被検体１上へ走査して、空間的に分離された各光成分Ｓｐ（ｋ）それぞれを被検体１の各検出位置Ｒ（ｉ，ｊ）へポンプ光Ｌｐと同時に照射する。スペクトル測定部６０により、その照射を受けた各検出位置Ｒ（ｉ，ｊ）それぞれから各光成分Ｓｐ（ｋ）の照射毎に発せられた非線形ラマン散乱光Ｌｃ（ｉ，ｊ、ｋ）それぞれのスペクトルを得る。 （もっと読む）

【課題】全ポートの波長情報を瞬時に特定してモニタすることができ、構造が簡単で小型の波長モニタ装置を提供する。
【解決手段】波長モニタ装置１０は、共通ポート(COM port)および入出力ポート（１^stport〜９^thport）と、各ポートからの入射光をコリメート光にするコリメータ１１〜２０と、回折格子２１と、回折格子２１で分光された光を集光する集光レンズ２２と、使用帯域の波長（λ１〜λ４５）の光を透過する波長選択特性を有するフィルタ２４と、フィルタ２４をそれぞれ透過した光を受ける二次元ＣＣＤアレイ２５と、を備える。二次元ＣＣＤアレイ２５の出力信号に基づき、各ポートからどのような波長の光が入射されたかを、複数の画素の列番号と行番号からなるアドレスにより瞬時に特定してモニタすることができる。 （もっと読む）

ハイパースペクトルおよびマルチスペクトル撮像のための装置および方法について述べる。具体的には、画像マッピング分光計システム、使用方法、および製造方法を示す。概して、画像マッピング分光計は、画像マッピングフィールドユニットと、スペクトル分離ユニットと、選択的撮像素子とを含む。画像マッピング分光計を、光学試料のスペクトル撮像に使用してもよい。ある実施例では、画像マッピング分光計の画像マッピングフィールドユニットを、表面成形ダイヤモンドツールを用いて製造できる。
（もっと読む）

【課題】一つの波長に対して収集される有効な試料側信号データ及び参照側信号データの数を増やすことにより、測定値のＳ／Ｎを改善する。
【解決手段】波長走査を伴う測定に際し、波長を変更するために回折格子３が機械的に駆動されている期間に、シャッタ６を閉じて検出器１７に入射する光を遮蔽する。そして、その間に暗信号データを収集する。駆動された回折格子３の振動が静定して波長が安定した状態でシャッタ６を開くと、回転セクタ鏡８の回転に伴い、被測定試料１３を透過した試料側光束Ｌｓと参照試料１２を透過した参照側光束Ｌｒとが交互に検出器１７に到達するから、試料側信号データと参照側信号データとを交互に収集する。試料１２、１３に適切な光が照射されている状態では試料側信号データと参照側信号データのみが収集されるので、有効なデータ数が増えて測定値のＳ／Ｎが改善される。 （もっと読む）

【課題】各チャネルの信号光の強度だけでなく、信号光の波長およびノイズ光の強度についても監視が可能な光波長多重信号監視装置および方法を提供する。
【解決手段】Ｍ本の入力導波路とＮ本の出力導波路を備えるアレイ導波路回折格子（ＡＷＧ）において、出力導波路は、各透過波長がΔλ間隔になるように配置されており、入力導波路は、各透過波長がΔλ＋ｕ間隔になるように配置される。このとき、ｊ番目（ｊ＝１，２，・・・，Ｍ）番目の入力導波路から、ｉ＋Ｍ−ｊ番目（ｉ＝１，２，・・・，Ｎ−Ｍ＋１）の出力導波路への透過波長は、順次ｕずつシフトする。この特性を利用し、ＡＷＧの入力導波路を切り替えながら所定の出力導波路へ出力される光強度を検出すれば、所定の透過バンド幅を透過する光強度を、順次透過中心波長をシフトしながら検出することになる。これにより、各チャネルの信号光の強度だけでなく、光強度スペクトルを測定することができる。 （もっと読む）

分光計の検出器の温度値を求めるための分光法の構造及び方法。オプトエレクトロニクス検出器における温度変動を補償するために、サーマル温度センサによって検出器温度を検出することが知られている。検出器と温度センサの間の有限距離に基づき、温度検出の精度が限定される。本発明により、検出器温度を高い精度と少ないコストで判定可能にすることが意図される。入射光をスペクトル分解する手段、及び分割された光のスペクトル領域をスペクトル分解検出するための光検出器に加えて、当該スペクトル領域の部分領域を検出するための第２の光検出器が参照検出器として設けられ、参照検出器の感度は実質的に温度非依存性である。これら両方の検出器の信号の比率は、参照検出器の感度の温度非依存性に基づき、第１の検出器の相対的な温度を表す高度に正確な目安となり、少ないコストで求めることができる。

（もっと読む）