【課題】分子程度の大きさの液化分子の凝縮を容易に検出することができる結露検出装置、結露促進装置および結露検出方法を提供する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る結露検出装置は、光源と、結露促進部１２と、受光部と、液体凝縮解析部と、を有する。結露促進部１２は、基板４１と、基板４１の上面に形成され所定の金属に表面の少なくとも一部を覆われた周期構造４２と、所定の金属により構成され周期構造４２の周期より小さい直径を有し周期構造４２の表面に付着した複数の金属微粒子４３と、を有し、所定の金属の周期構造の表面プラズモン共鳴および複数の金属微粒子の表面プラズモン共鳴により光源が照射した光の一部をプラズモン吸収する。受光部は、結露促進部による反射光を受光する。液体凝縮解析部は、受光部により受光された反射光にもとづいて結露促進部１２の上面の液体の凝縮を解析する。 （もっと読む）

【課題】長い距離にわたるコンクリート壁面などのコンクリート構造物の診断を、安価にしかも短時間で行うことが可能な画像データ処理システムを提供する。
【解決手段】移動式架台１０に搭載された可視画像撮影用カメラ６０と赤外線カメラ７０と、最初の可視画像データ及び赤外線画像データに撮影された対象物上の基準点に基づいて、前記複数の可視画像データ及び赤外線画像データの位置関係を求め、前記最初の可視画像データ及び赤外線画像データに対して、あおり補正を施した上で、２番目以降の規格化可視画像データ及び規格化赤外線画像データを、前記位置関係に基づいて重畳し２番目以降の重畳データとし、前記最初の重畳データと前記２番目以降の重畳データとを連結することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】溶銑予備処理における脱硫処理直後に迅速かつ確実に脱硫不良を判定することができる、脱硫不良判定方法を提供することを課題とする。
【解決手段】脱硫処理直後の溶銑鍋中にある溶銑の浴面を赤外線カメラで撮影し、撮影した画像の画像処理を行うことにより、前記溶銑の脱硫具合の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】鏡面の汚れや検出系の劣化を知ることができるようにする。
【解決手段】第１の熱電冷却素子（鏡面冷却用のペルチェ）への供給電流の制御を中断し、露点計測を休止する。所定時間の経過を待つことによって、鏡面に結露が生じていない状態を作り出し、この時の鏡面からの反射光の光量（受光量）Ｒｐｖを求め、この求めた受光量Ｒｐｖが予め定められている受光量基準範囲から外れていた場合、アラーム表示を行う。 （もっと読む）

【課題】応答性を犠牲にすることなく、簡単かつ小型な構成で、低露点の測定を可能とする。
【解決手段】熱伝導体１７（センサボディ１３、冷却ブロック１５、冷却板１６）の一端に鏡面冷却用の熱電冷却素子（第１の熱電冷却素子）２を取り付ける。熱伝導体１７の他端に補助冷却器として冷却能力の大きい熱電冷却素子（第２の熱電冷却素子）１８を取り付ける。第１の熱電冷却素子２への供給電流の制御はメインコントローラ２４で行い、第２の熱電冷却素子１８への供給電流の制御はサブコントローラ２５で行う。 （もっと読む）

【課題】メインコントローラ側での制御状況と関連付けたサブクーラの動作制限を行う。
【解決手段】熱伝導体１７（センサボディ１３、冷却ブロック１５、冷却板１６）の一端に鏡面冷却用の熱電冷却素子（第１の熱電冷却素子）２を取り付ける。熱伝導体１７の他端に補助冷却器として冷却能力の大きい熱電冷却素子（第２の熱電冷却素子）１８を取り付ける。第１の熱電冷却素子２への供給電流の制御はメインコントローラ２４で行い、第２の熱電冷却素子１８への供給電流の制御はサブコントローラ２５で行う。この構成において、サブクーラ制御ＯＮ／ＯＦＦスイッチ２９からのＯＮ／ＯＦＦの指令は、メインコントローラ２４を経由してサブコントローラ２５へ与える。メインコントローラ２４は、各種の異常診断を行い、異常と判断した場合、サブコントローラ２５の起動を阻止したり、サブコントローラ２５の動作を停止させたりする。 （もっと読む）

【課題】メインコントローラとサブコントローラの価格と性能をバランスさせ、製品コストを安くする。
【解決手段】熱伝導体１７（センサボディ１３、冷却ブロック１５、冷却板１６）の一端に鏡面冷却用の熱電冷却素子（第１の熱電冷却素子）２を取り付ける。熱伝導体１７の他端に補助冷却器として冷却能力の大きい熱電冷却素子（第２の熱電冷却素子）１８を取り付ける。第１の熱電冷却素子２への供給電流の制御はメインコントローラ２４で行い、第２の熱電冷却素子１８への供給電流の制御はサブコントローラ２５で行う。この構成において、メインコントローラ２４は高性能・高価格のコントローラとし、サブコントローラ２５は低性能・低価格のコントローラとする。具体的には、メインコントローラ２４は、サブコントローラ２５よりもＡ／Ｄ変換精度が高く、制御周期が短いものとする。 （もっと読む）

【課題】ユーザが鏡面上の状態を把握することなく、露点を検知する場合と霜点を検知する場合とで、自動的に適切な制御パラメータへの切り替えが行われるようにする。
【解決手段】鏡面温度が−５℃以上であれば、高露点領域用の制御パラメータを選択して、第１の熱電冷却素子（鏡面冷却用のペルチェ）への供給電流の制御を行う。鏡面温度が−５℃を下回っていれば、低露点領域用の制御パラメータを選択して、第１の熱電冷却素子（鏡面冷却用のペルチェ）への供給電流の制御を行う。高露点領域用の制御パラメータにおける比例ゲインは、低露点領域用の制御パラメータにおける比例ゲインよりも高くし、高露点領域用の制御パラメータにおける積分時間は、低露点領域用の制御パラメータにおける積分時間よりも短くする。 （もっと読む）

【課題】被測定物に対し電流を流して検査する検査装置を被測定物の製造ラインに投入する場合において、被測定物の検査のための待ち時間の大幅な短縮を図り、全体としての検査時間（タクトタイム）を短縮することを可能とする検査装置用の給電装置を提供する。
【解決手段】被測定物２００に電流を流すことで検査を行う検査装置において使用する給電装置を、検査装置側に給電手段を設け、被測定物側に集電手段を設けることにより、被測定物２００が検査装置に搬入される際に、給電手段と集電手段を電気的に接続させる構成とした。 （もっと読む）

【課題】短時間での検査が可能な、ハニカムフィルタの欠陥を検査する方法、及び、ハニカムフィルタの欠陥の検査装置を提供する。
【解決手段】一端面１００ｂから他端面１００ｔに向かう複数の流路１１０を形成する隔壁１１２、及び、複数の流路１１０のいずれか一端を閉鎖する封口部１１４を有するハニカムフィルタ１００の一端面１００ｂにガスを供給する工程と、ハニカムフィルタ１００の他端面１００ｔから排出されるガスを、他端面１００ｔと対向するように配置され、かつ、加熱された、ガス受け部材１０に供給する工程と、ガス受け部材１０の温度分布を測定する工程と、を備えるハニカムフィルタの欠陥の検査方法である。 （もっと読む）

【課題】温度較正のための煩雑な工程を必要とせず、コストを抑えることができる。
【解決手段】基板１１上に、相変化物質１４と、相変化物質１４を加熱する発熱部１３とが並列配置されている。更に、相変化物質１４に光を発光部１６から光導波路１５を介して照射し、相変化物質１４を透過した光を光導波路１５を介して受光部１７によって受光する。そして、発熱部１３による加熱を行い、相転移温度時の受光部１７によって変換出力された電気信号の変化を検出することで、相変化物質の相転移が起きたことを検出する。これにより、相転移を検出した時の発熱部１３の温度に基づいて素子自身で温度較正を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】導電性を有する異物の検出に要するコストの低減を図りつつ、極く小さな異物であっても確実に検出する。
【解決手段】非導電性材料で形成された樹脂フィルム２０にマイクロ波Ｗｍを照射して樹脂フィルム２０に含まれている導電性を有する異物Ｘを選択的に発熱させる発熱処理を実行するマイクロ波照射部３と、樹脂フィルム２０を撮像して樹脂フィルム２０における各部の温度を検出するサーモカメラ４と、マイクロ波照射部３による発熱処理およびサーモカメラによる樹脂フィルム２０の撮像（樹脂フィルム２０における各部の温度の検出）を制御すると共に、サーモカメラ４の撮像結果を温度検出結果として分析して、発熱処理によって発熱した発熱部位に異物Ｘが存在すると検出する処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】高温域において、簡易にかつ精度良く熱間変位量を測定することができる熱間変位測定装置及び熱間変位測定方法を得る。
【解決手段】試料１０が設置される測定室１と、試料１０を加熱する加熱手段と、試料１０の測定部における温度を測定するための温度測定手段と、試料１０の測定部を拡大して投射する投射レンズ２２と、投射レンズ２２により拡大された試料１０の測定部の像における両端部１０ａ及び１０ｂのそれぞれを撮像する一対の撮像手段２３及び２４とを備えることを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】試料温度分布の不均一性や電磁干渉ノイズの問題を解消して任意の温度における比熱容量と半球全放射率の測定値の確度・信頼性を向上させる。
【解決手段】導電性試料に通電して急速加熱し、該試料を目標温度Ｔ_ｍを超えて任意の温度に到達させ、目標温度Ｔ_ｍにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流Ｉ、試料の電圧降下Ｖの測定データから次の関係式によりＸとＹを算出するステップ、


試料に流す電流を変えることで加熱速度を離散的に変えて上記のステップを繰り返すことにより複数組のＸとＹを算出するステップ、該複数のＸとＹの値に対して、近似的に導出したＸとＹの１次式の傾きと切片の値から比熱容量ｃ_ｐ及び半球全放射率ε_ｔを算出するステップを含む。 （もっと読む）

【課題】被測定物に成膜された金属膜の光浸透深さが不明であっても、当該被測定物についての熱物性を精度よく解析・評価できる熱物性解析方法、この方法を用いた熱物性解析装置、及びこの装置に用いられるプログラムを提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、被測定物１１上に膜厚の異なる第１金属膜１２ａと第２金属膜１２ｂとを成膜し、第１及び第２金属膜１２ａ，１２ｂに加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２とをそれぞれ照射し、反射した検出光Ｂ２ａの第１反射光強度変化と第２反射光強度変化とをそれぞれ検出し、第１及び第２反射光強度変化の比較から求めた特定の時刻ｔ１に基づき第１反射光強度変化に対して所定の規格化を行い、解析モデルに基づく演算結果が前記規格化された第１反射光強度変化と所定範囲で一致するような解析モデルを探索し、これに基づき被測定物１１の熱物性値を決定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】露点を正確に計測可能な露点計測システムを提供する。
【解決手段】励起光を発する発光体２と、励起光を照射される蛍光体１と、蛍光体１の蛍光を受光し、蛍光強度及び蛍光寿命の値を測定する蛍光測定器４と、蛍光寿命及び蛍光体の雰囲気温度の関係を保存する関係記憶部４０１と、蛍光寿命及び蛍光体の雰囲気温度の関係と、蛍光寿命の測定値と、に基づき、蛍光体１の雰囲気温度の値を算出する温度算出部３０１と、蛍光強度の測定値が低下から上昇に転じた際の蛍光体１の雰囲気温度を露点として特定する露点特定部３０２と、を備える露点計測システムを提供する。 （もっと読む）

【課題】固体試料中の成分の活性化エネルギーの値を得ることを容易にする。
【解決手段】昇温脱離分析装置は、固体試料２０２を昇温する昇温手段となる赤外線ランプ２０３と、赤外線ランプ２０３に流す電流値を制御して固体試料２０２の温度を制御する温度コントローラ２０７とを備える。昇温中の固体試料２０２の温度を、時間を変数とする第一の関数とし、ある正数を基数とし第一の関数の逆数を指数とする第二の関数が時間により積分可能であって、かつ第二の関数の原始関数が初等関数となるように、第一の関数を与える。 （もっと読む）

【課題】表面に黒化膜を形成することなく、金属／セラミックス接合基板の熱特性の面内分布を測定することを可能とする。
【解決手段】出力１００Ｗ以上、パルス長１０〜５００ミリ秒の高出力レーザーパルスを被検体の一つの主面全体にあたるように照射することで生じた、過渡的な温度の時間変化の面分布をサンプリングレート０．０１秒以下の高速赤外線カメラにより計測することで、金属／セラミックス接合基板の熱特性の面分布を測定する。 （もっと読む）

【課題】非破壊で物品内部のマイクロクラックやボイド、異物混入、接合状態等の内部構造を評価することができる、シリコンウエハや金属接合構造物等の物品の内部構造観察方法及び観察装置を提供することを課題とする。
【解決手段】観察対象物品の表面の多点をスポット的に加熱する加熱用レーザー１と、加熱点より放射される微少量の赤外線から、放射率を補正して高速に温度測定を行う２波長赤外放射温度計２と、２波長赤外放射温度計２による測定結果をレーザーの吸収率に関して補正し、その補正後の温度変移を等時間間隔での平面画像として構築する熱画像構築部４と、物品を測定位置に位置決めし且つ移動させるための移動手段とを含んで構成される。 （もっと読む）

【課題】樹脂成形品を金型から取り出した後の変形不良の原因となる収縮を生じる樹脂成形品表面上の領域を容易に特定する方法を提供し、特定された領域の収縮挙動に基づいて好適な成形条件を決定し、変形不良を抑制する方法を提供する。
【解決手段】金型から取り出した後の樹脂成形品表面の変位量の分布に基づいて収縮率の分布を導出する工程と、前記収縮率の分布に基づいて、周囲より収縮率の大きい領域を、変形不良の原因となる収縮を生じる領域として特定する工程と、を備える方法で、変形不良の原因となる位置を特定する。 （もっと読む）