【課題】被火害コンクリート構造物の熱劣化範囲を容易に精度よく判定できるコンクリート構造物の熱劣化範囲検出方法及び装置を提供する。
【解決手段】火災に晒されうるコンクリート構造物１の表面２に複数の窪み孔１０を形成し、火災前に各窪み孔１０内にコンクリート劣化温度で不可逆的に変質する化学物質２０又は２２を深さ方向に塗布又は充填したうえで各窪み孔１０を塞ぎ、火災後に各窪み孔１０内の化学物質２０又は２２の非変質部分までの深さを検出する。好ましくは、化学物質２０を窪み孔１０の内面に深さ方向に塗布されてコンクリート劣化温度で不可逆的に変色する感温指示薬２０とするか、或いはコンクリート劣化温度で不可逆的に劣化する感温接着剤２２とする。更に好ましくは、中空筒体１０の開口１１に熱伝導率がコンクリートと同程度又はそれ以下の蓋部材１２を設ける。 （もっと読む）

【課題】従来の鏡面冷却式露点計と比較して、装置全体の大幅な小型化を可能とする鏡面冷却式露点計を提供する。
【解決手段】ＬＥＤ１２・ＰＤ１３・ミラー７の間に、ＬＥＤ１２から照射された光をミラー７に伝送し、ミラー表面７Ａに照射した光の反射光を受光してＰＤ１４に伝送する光ファイバ１４を配置し、更にミラー７に対して光を照射する光ファイバ１４の端面を、光ファイバ１４を経由して伝送された伝送光を反射してミラー表面７Ａに至らせる傾斜状の反射面とし、この反射面によって伝送光の進行角度を変更する。これによって、例えば、直交するように伝送光が入射されるミラー７の反射面を、光ファイバ１４と平行に位置させることができる。そして、光ファイバ１４を斜めに配置することで２方向にスペース上の制約が生じていた従来の鏡面冷却式露点計と比較して、装置全体の大幅な小型化が可能となる。 （もっと読む）

【課題】レンズ機能付光ファイバを用いて装置の低価格を図り、各種の試料に適用することができ、特に試料厚さの変化に対して充分に対応することが出来るようにする。
【解決手段】所定強度の加熱用レーザ光を照射し、レンズ機能付きの光ファイバを備えた照射手段と、加熱用レーザ光の試料の面上の照射軸を一定にしてスポットサイズを任意に調整可能として、前記光ファイバを試料から上下動させ、試料の面を加熱する単位面積当りの加熱量を制御するようにした光ファイバ位置調整手段と、加熱量が制御されたレーザ光の照射によって放射された赤外線を検知する赤外線検出器とを備える。 （もっと読む）

【課題】ライニング層の浮き部を精度良く検出する方法を提供すること。
【解決手段】剥離状態のライニング層に起因して発生する、ライニングタンク内表面または外表面への熱伝達速度の不均等による表面温度分布を、赤外線サーモグラフィを用いて測定することにより、該ライニング層の浮き部を検出することを特徴とするライニングタンクの非破壊検査方法。 （もっと読む）

【解決手段】ビルディングのサーモグラフィック画像を使用して、ビルディングの熱またはエネルギー損失を決定する方法であって、画像は、予め決められた角度、好ましくは、ビルディングに直角な方向から撮影され、画像の複数の領域における温度を決定するために画像を自動的に解析し、予め決められた温度以上の画像の領域に対応する場所の実際のサイズを決定し、熱およびエネルギーの損失、または、そのいずれかを決定するために、その場所のサイズを使用することを特徴とするビルディングの熱またはエネルギー損失を決定する方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】４００℃を超える温度範囲における黒鉛をはじめとする炭素材料やセラミックなどの熱膨張率を、簡易にかつ精度良く測定するとともに、電気伝導率も同時に測定する。
【解決手段】４００℃を超える温度範囲における熱膨張率を測定する方法であって、測定部１ａが円柱形状を有する試料１を準備する工程と、試料１に直流電流を通電して測定部の温度が４００℃を超える温度範囲になるように加熱し、測定部の温度を上昇させる工程と、温度上昇の際の測定部１ａの径方向の端縁１ｂの移動量を測定して熱膨張率を求める工程とを備えることを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】より正確に微小な異物の有無を検出することができる端面検査方法および端面検査装置を提供する。
【解決手段】端面検査装置１は、光ファイバ９０の端面９１を検査する装置であって、プローブ光用光源１１、プローブ光用光源１２、放射光検出センサ１３、観察用光源２１、観察用撮像部２２、解析部３０、レンズ４１〜４４、および、光フィルタ５１，５２を備える。プローブ光用光源１１またはプローブ光用光源１２から出力されたプローブ光は、端面９１を通過して光ファイバ９０に対して入射または出射するように端面９１に照射される。この端面９１へのプローブ光の照射に伴って発生する放射光の強度または分布が放射光検出センサ１３により検出される。これにより端面９１の温度変化が検出され、その温度変化検出結果に基づいて端面９１が解析部３０により検査される。 （もっと読む）

【目的】遮熱塗膜を、いかなる場所においても迅速に、かつ需要者に対して直感的に判り易く展示することができる評価装置を開発すること。
【構成】遮熱塗膜の遮熱効果を直感的に表示できる装置であって、遮熱塗料を塗装した塗装板の塗装塗膜上に、示温シールが貼付されてなることを特徴とする遮熱塗膜評価装置。遮熱塗膜を塗装した塗装板の、塗装塗膜の裏面上に示温シールが貼付されてなることを特徴とする遮熱塗膜評価装置。遮熱塗膜を形成するための遮熱塗料用の、商品カタログ、塗り色見本帳、塗装仕様書、技術資料の少なくともいずれかを兼ねていることを特徴とする遮熱塗膜評価装置。 （もっと読む）

【課題】基材に塗装を施す場合、この基材の表面に凹凸が形成されている場合であっても塗装不良の有無を正確に検知することができる塗装不良検査方法を提供する。
【解決手段】塗装前の基材１における塗料２が塗布されるべき面の温度を測定する。塗装後の基材１における塗料２が塗布された面の温度を測定する。この各測定結果に基づいて基材１表面の塗装前後の温度差を導出する。この導出された基材１表面の温度差に基づいて塗装不良の有無を判定する。これにより、基材１に塗料２を塗布した後、塗料２中の溶剤が揮発する際に奪われる気化熱に起因する基材１表面の温度低下に基づいて基材１の塗装不良の有無を検出することができる。 （もっと読む）

【課題】熱物性評価の測定において，試料のうら面が光を透過させない状態であっても，その試料の微小な測定部位（おもて面）について，加熱光の照射による温度変化を高精度で測定することができること。
【解決手段】所定周期で断続するパルス光からなる基幹光Ｂ０を加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２とに分岐させ，加熱光Ｂ１を第１の周波数Ｆ１で強度変調し，検出光Ｂ２を第１の周波数Ｆ１とは異なる第２の周波数Ｆ２で強度変調し，光路長調節機構８により加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２との間で測定部位２０ａにおけるパルス光到達の時間差Δｔｐを生じさせ，測定部位２０ａに反射させた検出光Ｂ２’を光検出器１４により受光してその受光強度を検出し，その検出信号における周波数（Ｆ１＋Ｆ２）又は｜Ｆ１−Ｆ２｜の周波数成分を検波器１５により検出する。 （もっと読む）

【課題】多層型パワーモジュールなどの多層型電子部品モジュールについて、各接合部の熱伝導性の良否を適切に判断することができる多層型電子部品モジュールの接合部検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の接合部検査方法は、第２部材の第１タイミング温度Ｔ２₁から初期温度Ｔ２₀を差し引いた温度差ΔＴ２に基づいて、第１接合部の熱伝導性の良否を判定する第１判定段階（ステップＳ９〜ＳＢ）と、電子部品の第２タイミング温度ＴＤ₂から初期温度ＴＤ₀を差し引いた温度差ΔＴＤと温度差ΔＴ２との差分値ΔＴＥ、または、第２タイミング電気特性値ＶＤ₂に対応する電子部品の温度から初期電気特性値ＶＤ₀に対応する電子部品の温度を差し引いた温度差ΔＴＶと温度差ΔＴ２との差分値ΔＴＦに基づいて、第２接合部の熱伝導性の良否を判定する第２判定段階（ステップＳＣ〜ＳＥ）とを備える。 （もっと読む）

【課題】焼結機械部品のクラック検出方法において、容易かつ確実にクラックを検出することのできる方法を提供する。
【解決手段】プーリ１の内輪部２または外輪部３のいずれか一方を加熱して、プーリ１に温度勾配を設ける。その後、温度分布可視化手段により温度分布を観察する。腕部４にクラックが発生していないと、高温の加熱側から腕部４を通過して低温の非加熱側へ熱が移動し、一定の時間が経過すると温度分布が均一になるが、腕部４にクラックが発生しているとクラックで熱の移動が遮断され、時間が経過しても加熱側と非加熱側との温度勾配が変化しない。 （もっと読む）

【課題】、種々の微小金属接合部の良否を検査できる微小金属接合部の検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】微小金属同士を接合するための微小金属接合部の検査方法であって、前記微小金属同士の接合部に加熱エネルギーを照射すること、前記加熱エネルギーによる接合部の加熱点から放射される赤外線を受光して前記加熱エネルギーの照射前後における前記加熱点の温度変化量を計測すること、前記加熱点の加熱量と前記温度変化量との関係から前記加熱点の接合面積係数を算出すること、前記算出された接合面積係数を前記と同じ方法で求めた基準モデル品の接合面積係数と比較すること、前記比較によって得た接合面積係数の差の大小によって前記接合部の良否を判定すること、から成る。 （もっと読む）

【課題】膜厚を考慮した解析モデルを組み込んだ表面加熱・表面測温型の薄膜熱拡散率測定装置を構築する。
【解決手段】基板１をレーザパルス光などの加熱パルス光３を用いることにより、基板１上に成膜された薄膜２の表面を瞬間的に加熱すると表面温度が瞬間的に上昇する。その後、熱は、薄膜２の内部へ拡散し基板１内へと浸透し、薄膜２の表面温度は減衰する。測温パルス光４(P2)は、加熱パルス光３(P3)と同じ領域に照射される(4a)。その反射光(4b)の光強度は、薄膜２の表面温度に依存してわずかに変化する。この反射光の強度を検知器５により検知し、薄膜２表面の温度変化を検出する。検知器５は、反射光の強度を測定する光強度センサ５ａと、光強度センサ５ａからの信号に基づいて実際の温度とその変化を求め、記録する情報処理装置５ｂとを備えている。情報処理装置は、膜厚を考慮した解析モデルから、薄膜の熱拡散率を算出する演算部が組み込まれている。 （もっと読む）

【課題】被測定物の将来温度の挙動を推定する際に、温度計測データの存在する期間に限定されることなく、温度計測データの存在しない部分においても高精度に求めることができるようにする。
【解決手段】時間経過に伴って厚み及び温度が変化する被測定物の厚みを、既知の情報の厚みを基準に計算上増減させて、当該増減させた複数の厚みに対する熱履歴を計算するとともに、前記被測定物の表面に設定した解析エリアを複数に分割した各領域の温度を計測し、そのうちの、１つの領域についての温度を所定の時間だけ計測し、前記計測した計測値に基づいて前記被測定物の厚みを特定し、前記特定された厚みにおける前記被測定物の将来温度を推定する。 （もっと読む）

【課題】熱レンズ分光法を適用した物質検出装置のコンパクト化を図るとともに、この物質検出装置を用いて単純な操作で高速検出を行うための検出方法を提供する。
【解決手段】試料Ｓ中の物質を検出する物質検出装置１００において、所定位置に固定された試料台６と、励起光を、対物レンズ５ａを介して、試料台６上の試料Ｓ中に入射する励起光源２と、検出光を、対物レンズ５ａを介して、励起光が試料Ｓ中に照射されることにより形成される熱レンズに入射する検出光源２と、対物レンズ５ａを水平方向及び鉛直方向に移動させる駆動部５ｂと、を備え、熱レンズによる検出光の拡散を測定することにより物質を検出するよう構成し、対物レンズ５ａを、光ピックアップ用対物レンズとするとともに、試料Ｓ中における励起光及び検出光の焦点位置が一致しないように構成された２焦点レンズとした。 （もっと読む）

【課題】加熱用パルス光を用いて、薄膜の熱物性値を測定することができる薄膜熱物性測定装置を提供する。
【解決手段】薄膜熱物性測定装置において、薄膜を加熱する加熱用パルスレーザと、前記加熱用パルス光を導く光ファイバと、前記加熱用パルス光の発光時刻を計測する手段と、該薄膜の温度変化を検出する連続光の測温用レーザと、前記測温用レーザ光の反射光を検出する手段と、前記測温用レーザ光の反射光の強度を測定する手段と、加熱用パルス光の発光時刻からの経過時間の関数として反射光の強度を記録する手段と、記録された該測温用レーザの反射光の強度の時間変化に基づいて熱物性値を算出する手段を備え、また、前記記録手段が、記録開始するまでの最短時間がｔｓで、光速をｃとすると、前記加熱用パルス光の計測手段までの距離Ｌ１に対して、前記入射端から前記薄膜を照射する出射端までの距離Ｌ２は、ｃ×ｔ_ｓ/ｎ以上長いことを特徴とする。 （もっと読む）

目標材料の内部構造を調べるための検査システムを提供する。この検査システムは、超音波検査システムとサーモグラフィ検査システムを組合わせる。このサーモグラフィ検査システムを超音波検査システムに取付け、レーザ超音波検査と両立する距離で目標材料のサーモグラフィ検査ができるように修正する。この目標材料上で深部赤外線（ＩＲ）イメージングを使って定量的情報を得る。このＩＲイメージングおよびレーザ超音波の結果を組合わせて複雑な形状の複合材の３次元投影法で投影する。このサーモグラフィの結果がレーザ・超音波結果を補足して、特に目標材料が薄い複合部品であるときに、より完全でより信頼性のある、目標材料の内部構造についての情報をもたらす。
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【課題】温度調節機能付き鏡の更なる小型化を可能とする技術を提供
【解決手段】温度調節機能付き鏡２は、測温素子２１と、熱電素子２２と、熱電素子２２に通電するための温調電極２３，非温調電極２４と、基板２０を備える。基板２０は、その裏面に凹部２０ａが形成されたダイヤフラム構造を有している。また測温素子２１は、温度によってその抵抗値が変化する白金抵抗体である。そして測温素子２１は、基板２０の主面上において、凹部２０ａが形成されて基板の厚みが薄くなっているダイヤフラム領域に薄膜形成される。また熱電素子２２は、ペルチェ効果を利用した熱移動により加熱または冷却を行う素子であり、基板２０の主面上において測温素子２１の周囲を取り囲むように薄膜形成される。また温調電極２３は、測温素子２１の周囲を取り囲むように形成された熱電素子２２の内周部に形成されるとともに、非温調電極２４は熱電素子２２の外周部に形成される。 （もっと読む）

【課題】薄膜状試料が小さく、電圧測定を行う端子の距離が小さい場合に、十分な温度勾配を付与して、薄膜状試料のゼーベック特性を安定かつ正確に測定することのできる薄膜状試料の測定方法を提供する。
【解決手段】表面に複数の電極を露出させた基板上に、少なくとも一対の前記電極に接するように薄膜状試料を配置し、前記一対の電極の一方の電極側を加熱し、当該加熱により他方の電極側に伝導する熱を熱伝導媒体により吸収しながら、前記一対の電極の電極間を通電することで、前記薄膜状試料の特性を測定することを特徴とする薄膜状試料の測定方法である。 （もっと読む）