説明

Fターム[2G051AB04]の内容

Fターム[2G051AB04]に分類される特許

21 - 40 / 104


【課題】フレキシブルコンテナの検査において、ピンホール等の欠陥部の発見率を高め、フレキシブルコンテナの再利用品を使用した場合において、屋外保管時における水濡れ防止等を図ることを課題とする。
【解決手段】フレキシブルコンテナの全体形状を保った状態で、該フレキシブルコンテナに発光ダイオードの光を照射し、該フレキシブルコンテナの欠陥部を透過する光を検出することにより欠陥部を検知することを特徴とするフレキシブルコンテナの検査方法。 (もっと読む)


【課題】ピンホール検出器に被検出体が存在している様態で、短時間で精度の良い検出感度の校正が可能なピンホール検出器を提供することを目的としている。
【解決手段】走行する被検出板100ピンホール検出器であって、検出部1は、被検出板の幅方向に並置され、ピンホールの通過光を検出する複数の光電変換ユニット11と、予め設定された径の校正ピンホールが存在する校正サンプルを固定し、校正ピンホールを通過させる所定のパルス光を発光する校正光源部12cと、校正光源部を被検出板の幅方向に移動させ、予め設定された位置に停止させる校正光源駆動部12aとを備える校正サンプル設定部12とを備え、校正光源部を幅方向に移動し予め設定された複数の校正位置で停止させ、パルス光を発光させ、複数の光電変換ユニットの幅方向の検出感度の校正を行う。 (もっと読む)


【課題】欠陥内の輝度変化が大きく二値化によって分断される可能性が高い場合でも、同一の欠陥とみなせる欠陥候補領域を連結することにより欠陥を精度よく検出する。
【解決手段】モノクロのラインセンサカメラにより木材の表面を撮像した濃淡画像が画像処理装置4に入力される。濃淡画像を二値化した二値画像を用いて欠陥候補抽出手段12により欠陥候補領域が抽出される。さらに、ピース32ごとに設定されるしきい値を用いて二値化した二値画像を用いて欠陥候補再抽出手段15により欠陥候補領域が再抽出される。欠陥判定手段16は、再抽出された欠陥候補領域について欠陥を判定する。欠陥判定手段16により欠陥と判定されなかった欠陥候補領域は、連結評価手段17により連結可能か否かが評価され、連結可能である欠陥候補領域は連結され、再判定手段19により欠陥か否かが再判定される。 (もっと読む)


【課題】良否判定装置で不良と判定された表面処理鋼板が振り分け機の故障や動作不良により良品パイラーに混入したことを検知することのできる表面処理鋼板の振り分け方法を提供する。
【解決手段】鋼帯Sを所定の長さに剪断して得られた表面処理鋼板SPの良否を判定する良否判定装置18の判定結果に基づいて表面処理鋼板SPを良品パイラー20と不良品パイラー21に振り分ける振り分け機19の振り分け実績を良否判定装置18の判定結果と照合して、良否判定装置18で不良と判定された表面処理鋼板SPが振り分け機19の故障や動作不良により良品パイラー20に混入したか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】 鏡面の曲面を有する対象物に対する、欠陥検出の支障となる照明の映り込みを抑制し、確実な欠陥検出を可能とする画像検査装置を提供する。
【解決手段】 エリアカメラ本体1を覆うように面状照明装置3a、3bを配置し、面状照明装置3a、3bの前面に拡散板4を設け、検査対象物に照明を映り込ませ、欠陥を浮き出させることを特徴とするカメラユニットを、垂直多関節ロボットの先端に取り付け、検査対象物とカメラユニットの位置関係を、常に一定に保持することで、鏡面の曲面を有する検査対象物の表面に存在する欠陥を検出する。 (もっと読む)


【課題】エッチングや印刷のムラによりメッシュ幅の太さの変化に影響されずに正確な欠陥抽出を行うことが可能なメッシュ検査装置を提供する。
【解決手段】メッシュ検査装置1の処理部3は、ラインセンサ5からメッシュシート10のメッシュが画像に写る分解能で画像を入力し、前処理として光源である白色LED照明7によるシェーディングの補正を行い、前処理した画像を平滑化し、欠陥を誤検出しない程度に画像をぼかす。平滑化した画像内でしきい値により欠陥を抽出し、抽出した欠陥の重心を中心に例えば128×128画素を平滑化前の画像からトリミングする。トリミングした画像のFFT画像でメッシュの空間周波数に相当する領域を0に置き換えてメッシュ周波数を除去した後、IFFT処理を施し、得られた画像から欠陥の輝度、形状、面積の判定を行い、結果を出力する。 (もっと読む)


【課題】検査工程で要する時間を短くすることができる袋体検査装置及び袋体の製造方法を提供する。
【解決手段】袋体装着部31の先端部に手袋11を開口部41側から被せてセットし、袋体装着部31の先端部を、開口部41を介して手袋11内に配置する。セット状態において、エアポンプ83からのエアを袋体装着部31を介して手袋11内に供給して当該手袋11を膨らませるとともに、袋体装着部31の電球63よって手袋11の内側から光を当てる。立体形状に膨らまされた手袋11は、その内側から光が当てられ、表出される光の強弱によってピンホールや薄肉部を検出する。 (もっと読む)


【課題】シート状透明体の欠陥検査方法において、凹凸を主とした形状欠陥を確実に検出する光学的検査方法を提供する。
【解決手段】シート状透明体の欠陥検査方法であって、検査対象のシート状透明体を光学反射体上に配置する工程、光学反射体上に配置されたシート状透明体に光を照射する工程、光が照射されたシート状透明体からの反射光を受光して反射像を得る工程、該反射像より欠陥を検出する工程、を有する。前記光学反射体の可視域における平均反射率が60%以上である。 (もっと読む)


【課題】長尺でロール状の多孔質電極基材の連続移送時において、多種類の外観欠陥を高精度で且つ効率的に自動的に連続検査が可能な外観欠陥の自動検査方法とその検査結果及び欠陥位置を直ちに確定できる多孔質電極基材の巻体を提供する。
【解決手段】多孔質電極基材(1) の表面に検査光を照射し、その透過光、正反射光及び散乱光を撮像し、それらの撮像データを画像処理部(4) にて解析し、その欠陥の種類、存在位置を記録媒体に記録しつつ連続して巻き取る。巻き取られた巻体に、前記外観欠陥自動検査による検査結果を記録した記録媒体が添付される。 (もっと読む)


【課題】カラーフィルタの欠陥、特に、白抜けの検出能力を向上させて検査することのできるカラーフィルタの外観検査方法、外観検査装置を提供する。
【解決手段】1)透過検査用の光源として、赤色、緑色、青色の光を選択的に照射できる光源を用い、2)赤色の着色画素を検査する際には、緑色及び青色の光をカラーフィルタに照射し、得られた撮像データを比較処理することにより欠陥の有無を判定し、3)緑色の着色画素を検査する際には、青色及び赤色の光をカラーフィルタに照射し、得られた撮像データを比較処理することにより欠陥の有無を判定し、4)青色の着色画素を検査する際には、赤色及び緑色の光をカラーフィルタに照射し、得られた撮像データを比較処理することにより欠陥の有無を判定すること。 (もっと読む)


【課題】位相差膜起因の欠陥を正確に検出することができ、不良な基板が下流工程に流されることを防ぐこと。
【解決手段】本発明のカラーフィルタ基板の検査装置は、位相差膜を有するカラーフィルタ基板3において位相差膜起因の欠陥を検出する検査装置であって、カラーフィルタ基板3の両側に、カラーフィルタ基板3と平行かつ互いに対向する位置に配置された第1の偏光フィルタ4及び第2の偏光フィルタ2と、第1の偏光フィルタ4の外側に配置された透過照明光源5と、第2の偏光フィルタの外側に配置された撮像手段であるイメージセンサ1と、イメージセンサ1が取得した画像データに対して画像処理部6で所定の画像処理を行い、欠陥を検出する画像処理手段と、を有する。 (もっと読む)


【課題】銀メッキが施されたリードフレーム及びリードフレーム封止体の外観不良を確実で簡易に検出可能であるとともに、リードフレーム及びリードフレーム封止体の検査を兼用可能な外観検査装置を提供する。
【解決手段】所定位置に配置された被検査体に向けて青色の光を照射する青色照明部と、被検査体に対して青色照明部と同じ側に配置され、被検査体の画像を撮像する撮像部と、被検査体に対して青色照明部と同じ側に配置され、被検査体に向けて赤色の光を照射する赤色照明部と、被検査体を挟んで撮像部と対向する位置に配置され、撮像部に向けて光を照射する第3の照明部と、被検査体の画像に基づいて2値化画像を生成するとともに、2値化画像に基づいて被検査体における不良の有無を判定する画像処理手段とを備え、青色照明部、赤色照明部及び第3の照明部の点灯を切換えつつ撮像部が被検査体の画像を撮像する。 (もっと読む)


【課題】連続製造ライン10の運転を停止しなくても、検出装置100の故障を発見できる、金属帯の穴明き検出装置の検査方法、金属帯の穴明き・エッジ・欠陥検出装置の検査方法、金属帯の穴明き検出装置、金属帯の穴明き・エッジ・欠陥検出装置、ならびに、それらを用いた金属帯の製造方法を提供する。
【解決手段】金属帯Sの全幅にわたり投光する投光部1から金属帯Sの全幅にわたり投光しつつ、金属帯Sを挟んで投光部1と反対側に配置された受光部2にて金属帯Sを監視するとともに、金属帯S又は受光部2に向け穴明き部分を模擬したスポット光を照射し、該スポット光を穴明き部分として検出できた場合は、検出装置100が正常と判定し、該スポット光を穴明き部分として検出できなかった場合は、検出装置100が異常と判定する。 (もっと読む)


【課題】 検査対象のスクリーン製版におけるピンホールなどの欠陥を容易に検出することができるスクリーン製版の検査装置の提供。
【解決手段】 スクリーン製版の検査装置は、被着パターンを形成する樹脂層が網状基材に設けられたスクリーン製版の検査装置であって、検査対象スクリーン製版が垂直面内において移動自在に移動する移動機構と、検査対象スクリーン製版が前記移動機構により移動するよう、垂立状態で保持する可動保持機構と、この可動保持機構に保持された検査対象スクリーン製版に光源よりの光を集光して照射する光照射機構と、検査対象スクリーン製版の少なくとも一部の領域を透過した光による像を拡大して投影する拡大投影機構とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】基材からの反射光を検出してその結果に基づいて基材の欠陥検査をおこなうにあたり、構成が簡易であると共にコスト的に有利でありながら、欠陥検査の精度を著しく向上することができる基材の欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】欠陥検査装置は、基材1へ向けて光を照射する光源2、基材1からの反射光を検出する検出手段3、並びに前記検出手段3の視野内で非測定領域5を遮蔽すると共に光源2から照射された光を検出手段3へ向けて反射する反射手段6を備える。非測定領域5について検出手段3で検出される光の輝度が反射手段6による反射光によって大きくなって、欠陥の誤検出が抑制される。非測定領域5以外については反射手段6からの反射光の影響を受けず、正確な欠陥検出をおこなうことができるようになる。 (もっと読む)


【課題】マスクブランクの製造過程で発生する欠陥を容易かつ確実に検出することができるマスクブランク用基板の製造方法、およびマスクブランクの製造方法を提供すること。
【解決手段】マスクブランクの製造工程では、検査対象品に検査光を照射した際の反射光を光電変換装置59で受光して電気信号に変換し、電気信号を検査対象品表面における位置情報と対応付けてデータ記憶部に記憶する信号取得工程を行う。次に、第1基準値以上の欠陥の有無を判定して検査対象品の良品判定を行う第1判定工程を行い、良品と判定された検査対象品に対して、第1基準値よりも小さい第2基準値以上の微小欠陥の有無を判定する第2判定工程を行う。最後に、検出された微小欠陥同士の距離関係や位置関係から近接する微小欠陥集合体の有無を判定し、微小欠陥集合体として判定されたものが第1基準値以上であるかを基準に検査対象品の良品判定を行う第3判定工程を行う。 (もっと読む)


【課題】検査部のテープ部分に所定の張力を付与することができ、またかかるテープ部分への振動の伝達を確実に阻止し、撮像性能を向上させる。
【解決手段】透過光式検査部Dにテープ1の厚さ方向に湾曲させる第1の張力付与装置43と、テープの長手方向に張力を付与する第2の張力付与装置44を配設する。第1の張力付与装置43は、テープ1の下面を支持する一対の支持ローラ46、47と、テープ1を支持ローラ46、47に押し付ける一対の押圧ローラ48、49とで構成されている。第2の張力付与装置44は、テープ1の側縁部をそれぞれ保持する一対のクランプ装置60、61と、クランプ装置60、61をテープ1の長手方向に移動させてテープ1に張力を付与するシリンダ64を備えている。さらに、一対の吸着手段66によってテープ1の下面を吸着保持する。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコンウェハであっても欠陥を適切かつ明確に検出することができるシリコンウェハ欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】被検体7に赤外レーザー光線を照射する赤外レーザー光源1と、被検体7を透過した赤外レーザー光線を受光する開口部4を有し、その内部で赤外レーザー光を拡散させる中空の受光ユニット2と、受光ユニット2の空間部2bに検出部を露出し、被検体7を透過した赤外レーザー光の光量を検出する赤外光検出センサー3とを備え、赤外光検出センサー3は、被検体7を透過し、開口部4を通じて受光ユニット2内に入射され、受光ユニット2の内部で拡散された赤外レーザー光の光量を検出することで、検出結果を画像に変換した際に、多結晶シリコンウェハの結晶の粒界7aの明暗模様が著しく軽減され、欠陥を明確に検出することができる。 (もっと読む)


【課題】積層体の内部に存在する欠陥を、金属層を積層した後の積層体において、その外部から欠陥の形態及び位置の情報を精度良く把握するという、欠陥の検出方法を提供する。
【解決手段】本発明の積層体における欠陥位置特定方法は、基材フィルム上に金属層を形成した際に前記金属層上で表示可能な欠陥検出用マークを形成する工程と、前記欠陥検出用マークを基準点として前記基材フィルムにおける欠陥の位置を示す欠陥マップを作成する工程と、前記基材フィルムと前記金属層とを積層してなる積層体の前記金属層上に表示された前記欠陥検出用マークを前記欠陥マップの基準点として前記積層体における欠陥の位置を特定する工程と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】撮像対象物の表面欠陥検査とピンホール検査を1つの検査ユニットで実現することができる照明装置と検査装置を提供する。
【解決手段】撮像対象物3を載置し得る表面を有する所定長さの透明な円筒ローラー2又は円柱ローラー8と、該円筒ローラー2又は円柱ローラー8の撮像対象物3を載置する側とは直径方向反対側において該円筒ローラー2又は円柱ローラー8に近接配置された光源装置4とを備えている。 (もっと読む)


21 - 40 / 104