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Fターム[2G051AB06]の内容

Fターム[2G051AB06]に分類される特許

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【課題】線条体に対して高速で被膜層を形成しつつ、その被膜層における気泡を円滑に検出することが可能な線条体の気泡検出装置、線条体の被膜形成装置及び被膜形成方法を提供する。
【解決手段】光ファイバ1に着色樹脂を塗布する塗布ダイス13と、塗布ダイス13によって塗布された着色樹脂を硬化させる硬化装置14と、被膜液が硬化されて被膜層が形成された光ファイバ1が通される暗室22と、暗室22内を通る光ファイバ1に閃光を間欠的に照射するストロボ23と、暗室22内を通る光ファイバ1をストロボ23の閃光の照射と同期して撮影する撮影装置24と、撮影装置24によって撮影された画像に基づいて被膜層における気泡を検出する制御装置(画像処理部)61とを有する。 (もっと読む)


【課題】ウェーハの画像から適切に欠陥を検出することができるようにする。
【解決手段】画像中のウェーハWの検査対象の領域内の各画素について、所定の直線方向に並ぶ複数の画素中の当該画素を含む所定の範囲内の複数の画素の輝度を平均した移動平均輝度を算出し、各画素における移動平均輝度と、各画素の輝度との差分値を算出し、各画素についての差分値と、閾値とを比較することにより、各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定し、欠陥候補画素に基づいて、ウェーハにおける欠陥を検査する画像処理部6bを有するように構成する。 (もっと読む)


【課題】欠陥検査に適したウェーハの画像を効率よく取得できるようにする。
【解決手段】受光部2により撮像された検査対象のウェーハWの画像の平均輝度が欠陥検出可能範囲内にあるか否かを判定し、ウェーハWの画像の平均輝度が欠陥検出可能範囲内にないと判定した場合に、ウェーハWを撮像する際の露光時間を変更して、受光部2によりウェーハWの画像を再度取得させる制御処理部6aと、ウェーハWの画像の平均輝度が欠陥検出可能範囲内にあると判定された場合に、当該ウェーハWの画像に基づいて欠陥検査を行う画像処理部6bとを有するように構成する。 (もっと読む)


【課題】セパレートフィルム付き偏光板の欠陥を検査する際に、簡便な装置構成にて、問題とならないセパレートフィルムに起因する欠陥を検出せず、偏光板本体および粘着剤層に起因する欠陥のみを精度よく検出できる欠陥検査方法・検査装置も開発。
【解決手段】偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、光源からの透過光が直接カメラに入射しないようにカメラの受光方向と光源の位置を調整する。 (もっと読む)


【課題】
片面(A面)にエンボス又は鏡面、もう一方の面(B面)にピラミッド、プリズム、レンチキュラーのようなレンズ形状(微細凹凸形状)が賦型された熱可塑性樹脂プラスチックを連続成型する際、熱可塑性樹脂シート中の熱可塑性樹脂の炭化物、ホコリ、虫、等の異物や、気泡、傷、賦型不良等の欠陥を精度よく検出する方法が望まれている。
【解決手段】
本発明は前記目的を達成するための第1の実施形態として、片面(A面)にエンボス又は鏡面、もう一方の面(A面)に凹凸パターンが賦型された熱可塑性樹脂シートを連続成型する際、B面から散乱光を照射しA面上部位置で透過光をCCDカメラを使い検知することにより欠陥を検出する熱可塑性樹脂シートの欠陥検査方法を提供する。 (もっと読む)


【目的】 透光性物品における光学的な不均一性の有無を正確に検査できる透光性物品の
検査方法を提供する。
【構成】 透光性物品に200nm以下の波長を有する検査光を導入した場合に、該透光
性物品内部で前記検査光が伝播する光路に前記局所又は局部的に光学特性が変化する部位
がある場合にこの部位から発せられる光であって前記検査光の波長よりも長い光を感知す
ることにより、前記透光性物品における光学的な不均一性の有無を検査する。 (もっと読む)


【課題】カメラのパン・チルト機構を有効に活用した簡素な構成で、節をもつ鉄塔内部の観察を円滑に行うことができる自走可能な吊下式カメラ装置を提供する。
【解決手段】ローテーション可動部13の先端側に設けられた少なくとも1つの自走用突起部(ゴム足)16がフランジ2の面上に接している懸吊状態で、ローテーション可動部13を回転させると、フランジ面に接しているゴム足16の摩擦により、ローテーション可動部13がフランジ面上でゴム足16を代えながらフランジ面上を移動し(走行し)、これに伴いカメラ10がフランジ面上で自走する。 (もっと読む)


【課題】炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。
【解決手段】本発明では、微分干渉光学系を含む走査装置を用いて、炭化珪素基板の表面又はエピタキシャル層の表面を走査する。炭化珪素基板からの反射光はリニアイメージセンサ(23)により受光され、その出力信号は信号処理装置(11)に供給する。信号処理装置は、炭化珪素基板表面の微分干渉画像を形成する2次元画像生成手段(32)を有する。基板表面の微分干渉画像は欠陥検出手段(34)に供給されて欠陥が検出される。検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段(36)に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第1の分類手段(50)と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第2の分類手段(51)とを有する。 (もっと読む)


【課題】 透明シートを表裏反転させて検査しなくても、欠陥を見逃してしまう頻度を低下することができる透明シートの目視検査方法を提供する。
【解決手段】 マット加工および艶消し加工の少なくともいずれか1つの加工が施された検査板2に対して、所定の間隔をあけて対向するように透明シート10を配置する。透明シート10の検査板2と対向する表面とは反対側の表面に、光源9から光を照射する。そして、透明シート10から反射する光を目視で観察して、透明シート10の欠陥を検査する。 (もっと読む)


【課題】被検査体に発生する多様な種類の欠陥を検出可能な欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】被検査体の上面を略水平方向に向けた状態で前記被検査体を支持するとともに、被検査体をその底面から加熱する加熱台と、加熱台を略水平方向に搬送する搬送路と、搬送路の上方に設けられ、加熱台の搬送中に被検査体の上面に接触して被検査体を冷却する冷却体と、冷却体の直近位置であって、搬送する方向の下流側直近位置の斜め上方に配置され、下流側直近位置に搬送される上面に向けて赤外線を照射する赤外線照射部と、下流側直近位置の上方であって、赤外線照射部からの赤外線が上面で反射されてなる反射成分のうち、正反射成分が入射しない高さに配置され、上面から放出される赤外線を検出する赤外線検出部とを備え、赤外線検出部が加熱及び冷却された上面から放出される赤外線の放射成分及び乱反射成分を検出する。 (もっと読む)




【課題】積層材料の剥離進行情報を取得する。
【解決手段】積層材料Aの層a〜c間に複数の光ファイバセンサ2aを一次元状あるいは二次元状に配置し、各光ファイバセンサ2aの検出状態に基づいて剥離の進行状態を示す情報を取得する。 (もっと読む)


【課題】電解質基材に混入した金属粉異物を色により識別して高い信頼性で検出できる検査装置等を提供すること。
【解決手段】検査装置は、電解質基材が所定形状で積層されて所定幅寸法で切断された長尺のアルミ箔をロール状に巻き取ったシートの電解質基材に混入した金属粉異物を加熱する電磁誘導加熱器と、電磁誘導加熱器の働きで昇温されて変色した金属粉異物を撮像する画像認識用カメラとを備える。 (もっと読む)


【課題】偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を、液晶パネルを駆動させない状態で、漏れなく検出できる方法を提供する。
【解決手段】偏光板を貼合した液晶パネルに、液晶パネルを駆動させない状態で、一方の面から光を照射し、他方の面からの透過光を検出し、信号処理して偏光板を貼合した液晶パネルの欠陥を検査する方法において、(1)可視光を照射して検査すると共に(2)近赤外線を照射して検査することを特徴とし、この方法によって漏れなく欠陥を検出することができる。 (もっと読む)


【課題】側部照射・側部受光式の非破壊検査をする際に、計測誤差を生じさせることのない受け皿11を提供する。
【解決手段】本願発明に係る農産物載置用の受け皿11は、側周壁21と底壁22とを有して上向きに開口した平面視円形の受け皿本体12を備える。前記受け皿本体12の前記側周壁21には、相対向する一対の切り欠き部24を形成する。前記側周壁24の上縁部には、一対の可撓性ヒレ片14を前記受け皿本体12の中央に向けて片持梁状に取り付ける。前記両切り欠き部24が直列に並ぶ方向から見て、農産物Aが載置されたときの前記可撓性ヒレ片14と前記切り欠き部24とで囲まれる隙間を塞ぐ遮光部材100を有する。 (もっと読む)


【課題】面照明と液晶パネル、撮像手段及び異物除去手段等の効果的な使用により、レンズに付着した異物を欠陥として判定することを防止しつつ、レンズ自体の欠陥を高精度に検査できると共に、構成簡易にして安価に形成可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】面照明と、該面照明と検査対象レンズとの間に配置されて透光部と遮光部を所定のパターンに設定可能な液晶パネルと、面照明から照射され液晶パネルを透過した光により検査対象レンズを撮像する撮像手段と、検査対象レンズに所定圧のエアを吹き付けて該レンズに付着した異物を除去可能な異物除去手段と、面照明、液晶パネル、撮像手段及び異物除去手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。また、前記制御手段は、異物除去手段の作動前後の撮像データを比較することにより、異物の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】ガラス壜の壜口部に存在し得る重要な欠陥を安定した精度で確実に検出する。
【解決手段】本発明の検査方法では、ガラス壜Bの壜口部B1に向けて光源16から赤外光を照射し、そこで反射した赤外光を撮像手段(17)に取り込んで壜口部B1を撮像する。そして、撮像された画像に基づいて、壜口部B1の欠陥の有無を判定する。上記光源16から照射される赤外光のピーク波長は、800〜900nmの範囲内の値であることが好ましく、より好ましくは、820〜850nmの範囲内である。 (もっと読む)


【課題】手動式と自動式と併用した有精卵自動検卵装置を提供する。
【解決手段】第1次検査部でライトアップしたのち該画像処理にて検卵の良否判定を行なった後に不良品を自動的に取り出しかつ卵内血管の発育状態及び活力の確認をして複数卵の発育状態の比較と離れた位置での画像判定を無人化し、第2次検査部で画面表示を手動操作しながら各画面を目視して最終検卵する。また有精卵検査装置において検査用ホイルと照明部と画像撮像部と処理部とを備える。 (もっと読む)


【課題】導体パターンを優れた精度で検査できる配線回路基板の検査方法および製造方法を提供する。
【解決手段】ベース絶縁層22を用意し、次いで、ベース絶縁層22の上に、導体パターン23を形成し、その後、ベース絶縁層22の上に、導体パターン23を被覆するように、未硬化樹脂層27を積層する。その後、入射検査光7を、未硬化樹脂層27の表面に照射し、その後、照射した入射検査光7の反射検査光11を検知することにより、導体パターン23を検査する。その後、未硬化樹脂層27を硬化させることにより、カバー絶縁層24を形成し、配線回路基板10を製造する。 (もっと読む)


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