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Fターム[2G051CA07]の内容

光学的手段による材料の調査の特殊な応用 (70,229) | 受光素子 (8,314) | 特定の配置、方向 (1,447) | 複数使用 (1,129)

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Fターム[2G051CA07]に分類される特許

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【課題】ヒートシールされた軟包装体のシール状態に問題がないかどうかを、中に内容物が何も入っていない状態で、比較的簡単な方法により短時間で判別できるような検査方法を提供する。
【解決手段】ヒートシール部分と、ヒートシールされていない部分で、反射光の拡散特性が異なることを利用して、拡散の少ない収束光2を発するような照明光源1と、複数台のカメラ5〜7を用いて、検査物体3からの反射光4を、カメラで撮影して、ヒートシール部は、多くのカメラで明るく写るのに対し、非ヒートシール部は、少ないカメラでしか明るく見えないことから、ヒートシールされた部分とされていない部分を判別することができる検査方法である。 (もっと読む)


【課題】対象物の表面における光の照射位置に微小な凹凸が形成されている場合でも、この凹凸の影響を排除しつつ、予め規定された高さ以上の異物欠陥が対象物の表面上に存在するか否かを判定する。
【解決手段】表面欠陥検査装置10は、ウェハ26の表面に斜方から光を照射するラインレーザ14と、ウェハ26の表面におけるラインレーザ光28の照射位置P2よりもラインレーザ14側の位置であってウェハ26の表面から予め規定された高さ離間した規定高さ位置P1において反射したラインレーザ光28の反射光を検出するための第一ラインカメラ16と、照射位置P2において反射したラインレーザ光28の反射光を検出するための第二ラインカメラ18と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】ドライフィルムが積層された基板の蛍光イメージと散乱光イメージ、そして反射光イメージをさらに検出して、露光工程で発生する様々な欠陥を容易に検出できるようにしたパターン欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】光を生成して出射する光源11と、光源11から出射される光を基板20にスキャンするスキャンミラー14と、基板20で蛍光された蛍光イメージを検出する蛍光イメージ検出部17と、基板20で散乱された散乱光イメージを検出する散乱光イメージ検出部19と、を含むものである。 (もっと読む)


【課題】 食品を包装するフィルム状の包装袋を有する被検査物の噛み込みやシワに起因するシール不良等をシール部の折れ曲がりの影響を受けることなく、極めて良好に検査できる実用性に秀れた光学検査装置を提供する。
【解決手段】 搬送機構に設けられる間隙部10においてこの搬送機構により搬送される被検査物7に照明光を照射する照明部3と、前記間隙部10の下方から前記被検査物7を撮像する撮像部2と、該撮像部2で撮像した前記被検査物7の撮像データをもとに画像処理を行う画像処理部と、該画像処理部で行った画像処理の結果を表示する表示器8とを備えた光学検査装置1であって、前記照明部は搬送機構の上方に設けるとともに、前記照明部3の発光面9が間隙部10の間隙距離よりも搬送流れ方向に広く設ける。 (もっと読む)


【課題】検査費用のコストダウンを可能とする自走コンベア搬送方式の搬送装置を用いた自動欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】カラーフィルタ基板やタッチパネル基板の欠陥を検査する自動欠陥検査装置であって、基板を搬送する自走コンベアと、搬送された基板表面を照明する照明手段と、照明された基板表面を撮像する撮像手段と、基板上に設けられた特徴点を撮像する特徴点撮像手段と、基板上に設けられた特徴点の設計上の座標値と、特徴点撮像手段によって撮像された特徴点の座標値を比較して、特徴点撮像手段によって得られた座標値を補正する座標補正手段と、撮像手段によって撮像された検査画像を座標補正手段によって得られた座標補正に基づいて画像処理して検査する画像処理手段と、を備えたことを特徴とする自動欠陥検査装置。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の内部に存在するクラック等の欠陥を正確に検出可能とする、シリコン基板の検査装置および検査方法を得ること。
【解決手段】赤外照明手段1とシリコン基板5との間の光路中に設けられ、直線偏光成分4を射出する第1の直線偏光フィルタ3と、シリコン基板5を透過した直線偏光成分4’を撮像する第1の撮像手段9および第2の撮像手段11と、シリコン基板5と第1の撮像手段9との間の光路中に設けられ、シリコン基板5の基板面に平行な方向に偏光方向が設定された第2の直線偏光フィルタ8と、シリコン基板5と第2の撮像手段11との間の光路中に設けられ、基板面に垂直な方向に偏光方向が設定された第3の直線偏光フィルタ10と、第1の撮像手段9から入力された画像データと、第2の撮像手段11から入力された画像データとを比較演算する画像処理手段12と、を有する。 (もっと読む)


【課題】外観検査の欠陥分類において、重要欠陥のピュリティまたはアキュラシーまたはその両方が目標値以上になるように調整するなどのニーズがあるが、教示型の欠陥分類は平均的に分類正解率が高くなるよう条件設定されるため、そのようなニーズに応えられないという問題があった。
【解決手段】特徴量抽出部、欠陥分類部、分類条件設定部を含み、分類条件設定部は、欠陥の特徴量と正解のクラスを対応づけて教示する機能と分類の優先順位を指定する機能を有し、優先順位の高い分類の正解率が高くなるよう条件設定を行う。 (もっと読む)


【課題】トンネル壁面の展開画像を取得するシステムについて、得られた立体視可能な展開画像が現実の壁面の状態を正確に反映できるようにし、その反映の度合いを簡単に判定できるようにする。
【解決手段】システム10は、トンネルを走行する車両11と、車両11に搭載されたビデオカメラ12と、各ビデオカメラ12が撮像した画像データを処理可能な画像処理部13とからなる。画像処理部13は、画像データの各コマ上の第1および第2ラインから短冊形の第1および第2視差画像をサンプリングし、両ラインの中間から短冊形の直視画像をサンプリングする。各画像を横方向に配列してカメラ12ごとに第1および第2視差連続画像、直視連続画像を合成する。各連続画像を縦方向に配列して、第1および第2視差展開画像、直視展開画像を合成する。第1および第2視差展開画像を赤または青の着色画像として出力して立体視可能とする。これとフルカラー画像として出力した直視展開画像を比較可能とする。 (もっと読む)


【課題】検査対象物品の色に応じた最適な検査手段、方法により、誤判定を無くすための技術を提案する。
【解決手段】検査対象となる物品(実施例では瓶2)を撮像するための少なくとも一つの撮像装置11a・11b・11c・11d・11eと、前記物品に対して光を照射するための少なくとも一つの照明装置12と、を有し、前記光が照射された前記物品を前記撮像装置11a・11b・11c・11d・11eにて撮像し、撮像された画像に基づいて前記物品の欠陥を判定するための反射系検査部10を有する、物品の欠陥検査装置1であって、前記照明装置12は、検査対象となる物品(瓶2)に対して照射する光の色を変更できる構成とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は、正確に分類することが可能な検査システムの制御方法を提供する。
【解決手段】単一の物体検出ユニットが積載盤上の被検査物を検出し、その後、検出信号を発生させる手順と、制御ユニットが前記検出信号を受信し、その検出信号に基づき第一制御信号と第二制御信号を発生させる手順と、検査ユニットが前記第一制御信号を受信し、前記第一制御信号に基づいて第一時間において前記被検査物を検査し、その後、検査結果を発生させる手順と、分類ユニットが前記第二制御信号を受信し、前記第二制御信号と前記検査結果に基づいて、第二時間において前記被検査物を所定の箇所に分類する手順とからなる。 (もっと読む)


【課題】ハングアップ及びオーバースペックを抑制しつつ、鋼板製造ラインにおいて鋼板の表面疵の検査を適切に行うことができる鋼板の表面疵検査装置を提供する。
【解決手段】1つの鋼板製造ライン1上に複数の表面疵検査装置を配置し、各配置位置において鋼板2の表面疵を検出する。このとき、上流側に配置した表面疵検査装置で検出した表面疵を含む領域をマスク領域とした連続マスク画像を作成し、下流側に配置した表面疵検査装置では、撮像装置で撮像した鋼板2の表面画像(鋼板連続画像)において上記マスク領域をマスクした後、弁別処理により表面疵を判別する。 (もっと読む)


【課題】半田の撮像画像の欠落を無くすことが可能な印刷半田検査装置を提供することにある。
【解決手段】印刷半田検査装置の撮像素子70は、走査方向の垂線に対してなす角θが0度を超え90度未満となるように傾けられ、その撮像領域の長手方向とスリット照明の長手方向が平行となるように照射し走査したとき、そのときの角度を存在率の低いもしくは存在しない長方形や楕円形等の前記半田の回転角度に設定されている。これにより、照射光の長手方向中心軸と、半田の短手方向中心軸を平行にならないようにし、明るさが落ち込む場所が非常に長くなる現象の発生を防ぎ、また、サチュレーション部の欠落画像の補間を可能となる。 (もっと読む)


【課題】
欠陥の種類を正確に判別することができる欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】
被検査体を撮像して得られる画像データに基づいて欠陥を検査する方法であって、
被検査体に対して複数の種粳の画像データを取り込み、
これら複数の種類の画像データのそれぞれについて欠陥の検出を行い、
1つの欠陥に対して欠陥を検出した画像データの組み合わせに応じて、その欠陥の種類を判別することを特徴とする、欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】搬送中のガラス板を停止させることなく、搬送方向に直交する向きの直交端面及びその近傍を撮像することのできるガラス板の端面撮像装置およびその撮像方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るガラス板の端面撮像装置5は、水平状態でガラス板を所定方向に搬送する搬送手段3と、搬送手段3で搬送されるガラス板2の搬送方向と直交する向きの直交端面4a(4b)及びその近傍を撮像する撮像手段7(7a,7b)と、撮像手段7(7a,7b)を、ガラス板2の搬送方向に対して斜め方向に移動させる移動手段8と、ガラス板2の搬送時、撮像手段7(7a,7b)と直交端面4a(4b)との距離を一定に保ちつつ、撮像手段7(7a,7b)を移動手段8により直交端面4a(4b)に沿って移動可能とする移動制御手段9とを具備している。 (もっと読む)


【課題】レンチキュラシートの微細な欠陥までを検出する。
【解決手段】光源部15は、レンチキュラシート11に対して、直線偏光された照明光をレンチキュラシートの幅方向と平行な線状にして照射する。撮影装置21,22は、照明光の照射方向に対して所定の角度で傾けられた方向から第2偏光板23を介して照明光の照射領域Rを撮影する。第2偏光板23は、その偏光方向が照明光の偏光方向と直交するものとされている。欠陥は、正常部分よりも輝度が高い部分として検出される。 (もっと読む)


【課題】平板ガラスの内部に含まれた異物を、ガラス品質に影響を及ぼす異物と、ガラス品質に影響を及ぼさない異物とに正確に判別する。
【解決手段】平板ガラスの異物検査装置は、平板ガラス1の上部または下部領域に設けられる照明部31と、照明部31と平板ガラス1との間に設けられる第1偏光板11と、照明部31に対して反対方向に取り付けられる第1及び第2カメラ10、20と、第1カメラ10と平板ガラス1との間に設けられ、第1偏光板11の偏光方向と0゜乃至20゜の範囲の偏光方向を有する第2偏光板13と、第2カメラ20と平板ガラス1との間に設けられ、第1偏光板11の偏光方向と70゜乃至90゜の範囲の偏光方向を有する第4偏光板17と、第1及び第2カメラ10、20から獲得した映像を入力し、良品性異物であるか、または不良性異物であるかを判別する処理部50とを備えている。 (もっと読む)


【課題】照明光を短波長化しなくても、確実に繰り返しピッチの微細化に対応できる表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置10は、被検物体20に形成された繰り返しパターンを直線偏光により照明する照明手段13と、前記直線偏光の入射面の前記表面における方向と前記繰り返しパターンの繰り返し方向とのなす角度を0以外の所定値に設定する設定手段11と、繰り返しパターンからの正反射光のうち、前記直線偏光の振動面に垂直な偏光成分を抽出する抽出手段38と、受光手段39から出力される前記正反射光の光強度に基づいて、前記繰り返しパターンの欠陥を検出する検出手段15とを備え、前記設定手段は、前記直線偏光の入射面の前記表面における方向と前記繰り返しパターンの繰り返し方向とのなす角度を、前記表面の正常部分からの光強度と前記表面の欠陥部分からの光強度との差が最大となるように設定する。 (もっと読む)


【課題】搬送時に得られた画像を基準画像として高速処理を単独カメラユニット毎に実現する通常検査処理と、予め製作してある画像を基準画像として複数カメラユニットの画像を合成処理する版検査処理を併用する検査方法を提供する。
【解決手段】表面、又は裏面、又はその両面に印刷が施され、搬送される印刷物の検査方法であって、印刷物表面または/および印刷物裏面に照明を照射する照明段階と、前記印刷物の搬送と同期を取るかまたは所定時間間隔で、前記印刷物を撮像する撮像段階と、前記撮像段階にて得られた前記印刷物の画像データを用いて、前記印刷物に存在する欠陥を判定する画像処理・欠陥判定段階と、を有し、前記画像処理・欠陥判定段階は、搬送時に得られた画像を基準画像として処理を実現する通常検査段階と、予め製作してある画像を基準画像として処理を実現する版検査処理段階と、を有することを特徴とする印刷物の検査方法。 (もっと読む)


【課題】傷部の検出精度を向上させた高温自動探傷装置を提供する。
【解決手段】被検査体2を搬送する搬送工程3と、この搬送工程3の中途部に設け、被検査体2を高周波誘導過熱コイル内に通過させて、被検査体2の表層部に渦電流を流して加熱し、表層部に温度変化を与える加熱工程4と、この加熱工程4により加熱後の表層部を検出装置7で探傷するとともに、検出装置7から取得した画像を画像処理することで表層部の傷部の有無を判定する探傷工程5とを備え、探傷工程5は、加熱工程4の前側に、表層部上のスケールを除去するデスケール装置10および渦電流を流す前の表層部の傷部を探傷する検出装置6を、それぞれ被検査体2の搬送方向順に設置し、被検査体2を、加熱工程4前後の両検出装置6,7から得た、渦電流を流す前後の表層部の画像を解析することにより、表層部の探傷を行う。 (もっと読む)


【課題】部品およびはんだに対する3次元計測結果に基づく検査の結果や検査対象部位の状態を、ユーザが容易に確認できるような表示を行い、検査結果の確認作業を支援する。
【解決手段】基板上の部品およびはんだに、それぞれ異なる手法の3次元計測を実施し、それぞれの計測により得た3次元情報をはんだ付け部毎および種別毎に読出可能に蓄積する。そして、これらの蓄積情報に基づき、はんだ付け部位毎に部品とはんだとの関係を表す画像を生成し、この画像を含む画面を検査結果の確認用の画面として表示する。好ましい確認用画面では、はんだの3次元情報が表す立体形状を部品のはんだへの接合面の近傍位置で切断した場合に得られるはんだの断面を正面として、このはんだの断面と部品との関係を示す画像(YZ図またはXZ図)が表示される。 (もっと読む)


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