【課題】高分解能且つ高速に試料の画像生成を行う。
【解決手段】顕微鏡装置は、試料Ｓを励起させる励起光ＥＬと試料Ｓの励起を抑制する抑制光ＲＬとを同軸となるようにして射出する光源と、試料Ｓに励起光ＥＬを照射したときに蛍光した戻り光ＢＬを検出するカメラ６と、試料Ｓの焦点の範囲内の光を通過させるピンホール３１を複数配列したピンホールディスク２３と、ピンホール３１と同じパターンで配列され、ピンホール３１に励起光ＥＬおよび抑制光ＲＬを集光させる複数のレンズ３０を配列したレンズディスク２２と、ピンホールディスク２３とレンズディスク２２とを一体的に回転させる回転ドラムと、レンズ３０に形成され、抑制光ＲＬの位相を調整する位相調整部と、を備えたことを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】培地の劣化の程度を客観的に判定することができる培養細胞観察用顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】照明手段は培地に照明光を照射する。検出手段は前記照明手段からの前記照明光に基づく前記培地の透過光または前記照明光に基づく前記培地からの反射光を検出する。算出手段は前記検出手段により検出された前記透過光または前記反射光に基づいて、複数の波長帯域の光についての前記培地の透過光強度または前記培地からの反射光強度の比を算出する。 （もっと読む）

【課題】 観察対象物を構成する各材料を視覚的に区別できる光学顕微鏡観察用試料の製造方法を提供することを課題としている。
【解決手段】 光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法であって、複数種の構成材料を含む前記観察対象物の少なくとも１種の材料が変質する温度で前記観察対象物を加熱する加熱工程を実施することにより、前記観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法等を提供する。 （もっと読む）

【課題】共焦点及び線共焦点顕微鏡の利点と、システムの単純さ及び経済性とを併せもつ顕微鏡を提供する。
【解決手段】対応する蛍光又は蛍光染色又は標識された標的にアライメントされた異なる励起波長で動作する１以上の、さらに好ましくは２以上の光源（好ましくはレーザー）を備える。各標的からの蛍光発光は、バンドパス光学フィルタを用いて濾波され、放射データは、１以上の撮像デバイス、好ましくは２以上の撮像デバイスで集められる。 （もっと読む）

【課題】凹凸のある表面形状を有する試料に対しても、試料へのダメージや輝度の飽和を防止しつつ、試料の深い位置においても明るい蛍光画像を取得することができるレーザ顕微鏡を提供する。
【解決手段】レーザ光を出射するレーザ光源１１と、レーザ光を標本Ａに集光する対物レンズ１５と、対物レンズ１５の光軸に直交する方向にレーザ光を走査させるスキャナ１４と、レーザ光の標本Ａ内における集光位置の深さを調節するＺコントローラ１６と、標本Ａからの蛍光を検出する検出器１７と、レーザ光源１１からのレーザ光の強度を調節するＡＯＴＦ１２と、これらを制御するコントロールユニット１９とを備え、標本Ａの断面画像を標本Ａの表面から深さ方向に順次取得するとともに、過去に取得した標本Ａの断面画像における蛍光の強度分布に基づいて、次に取得する標本Ａの断面画像におけるレーザ光の強度分布を調節するレーザ顕微鏡１を採用する。 （もっと読む）

【課題】レーザの進行方向に垂直な面内での強度分布のばらつきを抑え、対象面を一様にかつ十分明るく照明することのできるレーザ照明装置を実現する。
【解決手段】レーザ光源からのレーザ６の光路に設置された、光拡散状態を変動可能な少なくとも１つの光拡散手段３と、少なくとも１つの光拡大抑制手段１００とを有し、光拡散手段３は、光をランダムに拡散ないしは散乱する手段であり、光拡大抑制手段１００は、拡散ないしは散乱されたことによりその光束径が拡大し位相が乱され全体の直進性が失われたレーザ光を、位相は乱れたままで直進性のみを回復させる手段であり、レーザ光源からのレーザ光６を光拡散手段３を通過させ、光拡大抑制手段から拡散されかつ拡大しない光６−２として、出射させて、対象を照射する光を生成するレーザ照明装置。 （もっと読む）

【課題】細胞内で起こる高速現象を測定する装置を提供する。
【解決手段】ヒルベルト位相顕微鏡を使用し、透光性物体に関連した高解像度位相情報から、一フレーム毎の形状、体積のようなパラメータを得、ミリ秒の時間スケールで取得した多数の画像をもとに、ダイナミックな変動をナノメートルオーダーの分解能で定量化する。 （もっと読む）

【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット１２０、対物レンズ１１５、スキャナユニット１１４、ピンホールアレイ１１３、光学的分離器１１２、光量検出器１１６、および位置検出システム１１７を有する。光源ユニット１２０は光パルスを複数の出射点から順番に繰返し出射する。対物レンズ１５は光パルスを試料上に結像させる。スキャナユニット１１４は対物レンズにより結像された光パルスを試料に走査させる。ピンホールアレイ１１３は試料に反射された反射光および蛍光の少なくとも一方の結像位置にピンホールが形成される。光学的分離器１１２は反射光および蛍光の少なくとも一方を偏向させることにより透過光の光路から分離する。光量検出器１１６は反射光または蛍光の光量を検出する。位置検出システム１１７は照射光の照射位置を検出する。 （もっと読む）

【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット、第１の走査手段１１４ａ、第１の光制限体１１５ａ、および光量検出器１１８を有する。光源ユニットは試料に照射する照射光を第１、第２の出射点から出射する。第１の走査手段１１４ａは照射光の偏向方向を変える。第１の光制限体１１５ａは照射光を通過させる複数の孔部１１５ａｓを有する。光量検出器１１８は試料への照射により生じる信号光の受光量を検出する。第１の走査手段１１４ａは走査点を照射光の偏向方向を変えることにより第１の走査方向に沿って移動可能である。複数の孔部１１５ａｓは、第１の走査手段１１４ａによる偏向方向の連続的な変化に応じて、第１、第２の出射点から出射された照射光が異なる時期に孔部１１５ａｓを通過するように、配置される （もっと読む）

【課題】標本の形状等に関わらず、効率的に３Ｄイメージングを行うことができる顕微鏡を提供する。
【解決手段】対物レンズの光軸に直交する方向における標本の観察範囲を複数の領域に分割する領域分割部３１と、複数の領域について電動ステージの位置と標本の表面位置とを対応付けて記憶する表面位置記憶部３２と、表面位置記憶部３２に記憶された複数の領域についての電動ステージの位置および標本の表面位置から標本の表面形状を推定する表面形状推定部３４と、表面形状推定部３４により推定された標本の表面形状から任意の電動ステージの位置における標本の表面位置を決定するＺスキャン条件決定部３５と、対物レンズの光軸方向において、Ｚスキャン条件決定部３５により決定された標本の表面位置を基準とする所定範囲にわたって標本からの光を検出する光検出部とを備えるレーザ顕微鏡を採用する。 （もっと読む）

【課題】簡単な光学調整および演算処理で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、干渉性を有し、試料Ｓを励起させる励起光ＥＬを発振するランプ光源２と、試料Ｓに励起光ＥＬを照射したときに蛍光した戻り光ＲＬを検出する撮像素子１２と、励起光ＥＬを平行光として試料Ｓに入射させる対物レンズ８と、対物レンズ８から直接的に入射する励起光ＥＬと干渉させるための反射光を発生させる反射面９ａを対物レンズ８の焦点Ｆの範囲内に配置して、反射面９ａに試料Ｓを搭載した試料搭載部９と、を備えている。励起光ＥＬにおいて直接光と反射光とを干渉させて定在波を発生させており、戻り光ＲＬについても直接光と反射光とを干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】装置を大型化させることなく、長さが異なる対物レンズを簡易に切り替える。
【解決手段】少なくとも１つの通常型対物レンズ１を回転軸回りに回転させて、標本Ｓに照射する照明光の光軸Ｐ上の光路に通常型対物レンズ１を選択的に配置可能に支持するレボルバ１５を備え、レボルバ１５の周方向のいずれかの位置に、光軸Ｐに一致する位置に配置された状態で、通常型対物レンズ１より長さが長いスティック型対物レンズ２を標本Ｓとは反対側から貫通状態に取り付け可能な貫通孔が設けられている顕微鏡装置１００を提供する。 （もっと読む）

【課題】ユーザが容易に対物レンズを取り外してしまうことを防止して、安全性を向上することができる対物レンズロック装置を提供する。
【解決手段】雄ネジ部を有する対物レンズ１１と、前記雄ネジ部に嵌合するネジ穴１５を少なくとも１つ有し、前記対物レンズ１１が固定されるレボルバ１３と、前記レボルバ１３に固定された対物レンズ１１の軸線回りの回転を防止する回転防止部材２０とを備える対物レンズロック装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】結果の研究およびコンピュータ解析のために、対象物を染色し、対象物を準備する方法を提供することにある。
【解決手段】・対象物を非蛍光体により染色し、
・生成プロセスで、前記非蛍光体の分子を、励起されると蛍光することのできる分子に修正し、
・励起プロセスで、前記修正された分子を励起し、これにより蛍光させ、
・記録プロセスで、
−前記染色された対象物をフレームごとに検出装置によって光学的にキャプチャし、
−前記フレーム中に蛍光する分子を少なくとも１つの検出装置によって、回折に依存する大きさを有するスポットとして記録し、
−前記記録されたフレームを記憶媒体に記憶し、
・前記生成プロセス、前記励起プロセス、および前記記録プロセスを周期的に繰り返すナノスコピー方法。 （もっと読む）

【課題】簡単な光学調整で高解像度の試料の画像を得ると共に、光軸方向に自由度を持たせた観察を行うことを目的とする。
【解決手段】本発明の顕微鏡装置１は、干渉性を有し、試料Ｓを励起させるレーザ光Ｌを発振するレーザ光源２と、試料Ｓにレーザ光Ｌを照射したときに蛍光した戻り光Ｒを検出する検出部１４と、レーザ光Ｌの焦点Ｆの範囲内に定在波を発生させるようにレーザ光Ｌを反射させる反射面１０ａに試料Ｓを搭載した試料搭載部１０と、を備えている。直接的に試料Ｓに焦点Ｆを結ぶレーザ光Ｌと反射面１０ａで反射したレーザ光Ｌとを干渉させて定在波を発生させている。また、戻り光においても干渉させている。これにより、分解能を高くすることができ、高解像度の画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】高い分解能の測定を行うことができる光学顕微鏡、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源１０と、光ビームを集光して、試料２２に入射させる対物レンズ２１と、試料２２上における光ビームのスポット位置を走査するＹ走査装置１３と、試料２２に入射された光ビームのうち、異なる波長となって試料２２から対物レンズ２１側に出射する出射光と光源１０から前記試料に入射する光ビームとを分離するビームスプリッタ１７と、ビームスプリッタ１７により分離された出射光を波長に応じて空間的に分散させる分光器３１と、分光器３１で分散された出射光を検出する検出器３２と、分光器３１の入射側に配置され、出射光を分光器３１側に通過させる複数のピンホール４２が配列されたピンホールアレイ３０を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】レーザ走査顕微鏡およびその動作方法を提供する。
【解決手段】少なくとも２つの検出チャネルを備えるレーザ走査顕微鏡およびその動作方法であって、該レーザ走査顕微鏡は、５０：５０の分割比とは異なる分割比で試料光を分割する少なくとも１つのビームスプリッタ（ＳＴ）、および検出チャネルでの分割比が５０：５０の場合には増幅率が異なって調整された検出器（ＤＥ）のうちの少なくとも一方を有し、または光分割比が同じ場合には少なくとも１つの検出チャネルに光減衰器を有する。 （もっと読む）

【課題】さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 （もっと読む）

【課題】カム表面を観察することのできる、広視野レーザ顕微鏡を用いた新規のカム表面の観察方法を提供する。
【解決手段】テレセントリックｆθレンズ８の焦点面近傍に近接配置したカム表面10からの反射光をテレセントリックｆθレンズ８により平行光束に変換し、走査ミラー７で反射させた後に、結像レンズ11によって集光してテレセントリックｆθレンズ８の焦点面と共役の位置に設置したピンホール12ａを通過させ、ピンホール12ａを通過した反射光の光量を受光素子13で計測する。カム表面10を有するカムシャフト９をその軸ｚを中心に回転させるとともに、レーザ光に対してカム表面10が常に垂直になり、かつ、レーザ光の焦点が常にカム表面10に位置するように、カムシャフト９を移動させながら観察する。 （もっと読む）

【課題】その配置が簡素であり、各誘導ビーム経路用の光学素子の数を削減することができるような試料照射装置を提供する。
【解決手段】本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。照射ビーム経路における配置を簡素にし、光学素子を削減するために、少なくとも１つの光学素子（７）が照射ビーム経路（２，４）の少なくとも一方に配置され、光学素子（７）が光を変性するようになっている。 （もっと読む）