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Fターム[4K030EA01]の内容

CVD (106,390) | 原料ガスの処理 (4,687) | ガス発生、供給 (850)

Fターム[4K030EA01]に分類される特許

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【課題】III−V族化合物の膜の堆積のために使用される固体有機金属化合物前駆体を連続して均一に供給するガス送達システムを提供する
【解決手段】方法は、固体前駆体化合物を収容する送達装置102にキャリアガスの第1の流れ202を移送することを含む。キャリアガスの第1の流れ202は20℃以上の温度である。この方法は、送達装置102の下流の位置にキャリアガスの第2の流れ204を移送することをさらに含む。第1の流れ202および第2の流れ204は一緒にされて第3の流れ206を形成し、この第3の流れ206における固体前駆体化合物の蒸気の露点は周囲温度より低い。第1の流れ202のフロー方向、第2の流れ204のフロー方向および第3の流れ206のフロー方向は一方向性であり、かつ互いに対向していない。 (もっと読む)


【課題】混合ガスを系外に排出することなく全て使用することで、ランニングコストを低く抑え、さらに排出配管やバッファタンクを設置するためのイニシャルコストの発生もなくした、ガス分岐装置およびガス分岐方法を提供する。
【解決手段】複数種のガスを混合して混合ガスとするガス混合部70と、混合ガスを複数箇所に供給するための複数の分岐配管76を有する分岐部71と、複数の分岐配管76のうちの一つの分岐配管76aに設けられた背圧制御弁77と、一つの分岐配管76a以外の分岐配管76b、76c、76dに設けられたマスフローコントローラ79と、背圧制御弁77の上流側に設けられた圧力計75と、背圧制御弁77の下流側に設けられた流量計78と、を備えるガス分岐装置43である。 (もっと読む)


【課題】固体前駆体の蒸気濃度が均一でかつ充分に高い濃度のままである、固体前駆体の蒸気を送達するための改良された送達装置および方法を提供する。
【解決手段】方法は、固体前駆体化合物を収容する送達装置102にキャリアガスの第1の流れ202を移送することを含む。キャリアガスの第1の流れは20℃以上の温度である。この方法は、送達装置の下流の位置にキャリアガスの第2の流れ204を移送することをさらに含む。第1の流れおよび第2の流れは一緒にされて第3の流れ206を形成し、この第3の流れにおける固体前駆体化合物の蒸気の露点は周囲温度より低い。第1の流れのフロー方向、第2の流れのフロー方向および第3の流れのフロー方向は一方向性であり、かつ互いに対向していない。 (もっと読む)


【課題】キャリアガスの供給側と処理容器側との差圧を小さくすることによりパーティクルの発生を抑制することが可能なガス供給装置である。
【解決手段】原料貯留槽68内の原料ガスをキャリアガスを用いて処理容器4へ供給する原料ガス供給系を有するガス供給装置60において、原料貯留槽内へキャリアガスを導入するキャリアガス通路78と、原料貯留槽と処理容器とを連結してキャリアガスと原料ガスを流す原料ガス通路70と、原料ガス通路に接続されて圧力調整ガスを供給する圧力調整ガス通路92と、圧力調整ガスの処理容器への供給を始めると同時にキャリアガスにより原料貯留槽から原料ガスを処理容器内へ供給することを始める第1の工程を開始し、その後、圧力調整ガスの供給を停止する第2の工程を行うように開閉弁を制御する弁制御部114とを備える。 (もっと読む)


【課題】ZnO基板上へZnO系半導体結晶を1000℃よりも高い高温で成長可能なホモエピタキシャル結晶装置および半導体装置を提供する。
【解決手段】ZnO基板40上に亜鉛含有ガスと酸素含有ガスを混合した反応ガスを導入して、ZnO基板40上にZnO系半導体層46を結晶成長する工程を有し、亜鉛含有ガスの分圧は、1×10-4気圧以下、結晶成長温度は1000℃以上、VI族元素とII族元素の供給比VI/IIは1以上〜100以下であるホモエピタキシャル結晶装置および半導体装置。 (もっと読む)


【課題】パーティクルの発生及び拡散を抑制して反応室を開放する反応室開放方法、及び気相成長装置を提供する。
【解決手段】反応室101へガスを導入して昇圧し、反応室101と作業室102の圧力差が所定値以下になるときに排出弁112bと均圧弁107bを開き、反応室101からガスを排気しながら均圧路107aを介して反応室101と作業室102を連通し、反応室101と作業室102の圧力を等しくしてから反応室101を開放する。 (もっと読む)


【課題】パルス化された質量流量の前駆気体(precursor gases)を半導体処理チャンバの中へ搬送するシステム及び方法を提供する。
【解決手段】搬送チャンバ12と、チャンバ12の中への質量流量を制御する第1の弁14と、チャンバ12からの質量流量を制御する第2の弁とを含み、実際に、プロセス・チャンバの中へ流れ込む物質の量(質量)を測定する。チャンバ12内部の圧力の測定値を提供する圧力トランスデューサ18と、チャンバ12の表面上又は内部の温度の測定値を提供する温度センサ20とを有する。入力装置22は、所望の質量流量を受け取り、コンピュータ・コントローラ24が、圧力トランスデューサ18と温度センサ20と弁14及び16と入力装置22とに接続され、出力装置26は、コントローラ24に接続されており、システム10によって搬送される質量に関する指示。 (もっと読む)


【課題】混合ガス内の原料濃度を正確に調整し、プロセスチャンバへ安定して供給し、原料の残量管理を容易にする原料の気化供給装置を提供する。
【解決手段】原料4を貯留したソースタンク5と、キャリアガス供給源1からのキャリアガスGをソースタンク5の内部上方空間5aへ供給する流路Lと、コントロール弁CVの開度調整により内部上方空間5aの圧力を制御する自動圧力調整装置15と、原料4より生成した原料蒸気と前記キャリアガスとの混合体である混合ガスGをプロセスチャンバ11へ供給する流路Lと、コントロール弁CVの開度調整によりプロセスチャンバ11へ供給する混合ガスGの流量を自動調整する流量制御装置19と、流路L及び流路Lを設定温度に加熱する恒温加熱部とから成り、内部上方空間5aを所望の圧力に制御しつつプロセスチャンバ11へ混合ガスGを供給する構成としたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 材料の利用効率を向上させるとともに、安定して均一な膜厚の成膜が可能な成膜装置及び成膜方法を提供する。
【解決手段】 成膜原料を流し、基板上に成膜する成膜装置であって、前記基板に対して略垂直方向に前記成膜原料を流す第1成膜部と、前記第1成膜部において前記略垂直方向に流された前記成膜原料を、前記基板に対して略平行方向に流して成膜する第2成膜部と、前記基板を移動させる移動部と、前記基板を加熱する加熱部とを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】構成が簡単なプラズマ成膜方法及び装置、より具体的には、危険な原料ガスを用いる必要がなく、高速に成膜が可能なプラズマ成膜方法及びプラズマ成膜装置を提供することを目的とする。
【解決手段】誘導結合型プラズマトーチユニットTにおいて、螺旋形の導体棒3が、シリコンを表面にコーティングした石英管4の内部に配置され、その周囲に真鍮ブロック5が配置されている。筒状チャンバ内にガスを供給しつつ、導体棒3に高周波電力を供給して、筒状チャンバ内にプラズマを発生させ、基材2に照射することで解決できる。 (もっと読む)


【課題】溶媒中に溶解している低揮発性固体ALD前躯体の使用を可能にする溶液安定化技術及びデリバリ技術と特定のALD操作モードとの新規な組み合わせを提供する。
【解決手段】THFなどの溶媒中に溶解している広範囲の低揮発性固体ALD前駆体を用いる。不安定な溶質は溶液中で安定化されてもよく、溶液の全量が室温でデリバリされてもよい。溶液が気化された後、気相前駆体溶液及び反応溶液は交互に堆積室内にパルス状に供給し、所定厚のALD膜を成長をする。 (もっと読む)


【課題】珪素水素化物ガスを使用する装置に不純物が混入していない珪素水素化物ガスを確実に供給することができる珪素水素化物ガスの供給方法を提供する。
【解決手段】珪素水素化物ガス使用装置に供給する珪素水素化物ガス、例えばモノシラン中の酸素含有化合物、例えばジシロキサンの濃度を測定し、測定した酸素含有化合物の濃度があらかじめ設定された濃度を下回ったときに珪素水素化物ガス使用装置への珪素水素化物ガスを開始する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で固体原料を補充できる基板処理装置および簡単に固体原料を補充できる固体原料補充方法を提供する。
【解決手段】固体原料容器300と、固体原料容器と処理室201との間の配管232bと、固体原料容器と接続された配管380であって、補充用の固体原料を保持する原料補充容器350が取り付けられる取付部を備える配管380と、配管380と真空排気手段246との間に接続された配管259と、配管380に接続され、パージガスを導入するための配管284と、配管259の途中に接続されたバルブ268と、配管284の途中に接続されたバルブ269と、を備え、原料補充容器から固体原料容器へ固体原料を補充するために原料補充容器が取付部に取り付けられた際に、配管内380を真空引きし、その後配管380内にパージガスを導入する。 (もっと読む)


【課題】液体原料を気化させる噴射ノズル部の先端のキャリアガス出口の閉塞を抑制することが可能な気化装置を提供する。
【解決手段】液体原料60をキャリアガスにより気化させて原料ガスを形成する気化装置12において、気化室94が形成された気化容器96と、中央に液体原料を噴射する液体原料用ノズル122を有し、液体原料用ノズルの外周に同心状にキャリアガスを噴射するキャリアガス用ノズル124を有して原料ガスを形成する噴射ノズル部64と、噴射ノズル部より液体原料の噴射方向に沿ってその開き角度が鋭角で広がって行き気化室に向けて開放されたガス拡散抑制領域130を形成するガス拡散抑制ブロック100と、原料ガス出口84とを備える。これにより液体原料を気化させる噴射ノズル部の先端のキャリアガス出口の閉塞を抑制する。 (もっと読む)


【課題】
ライン数を抑え簡素な装置構成により界面急峻性の優れた薄膜の形成が可能な気相成長装置を提供する。
【解決手段】
気相成長装置は、反応炉に接続された材料ガス供給ラインと、べントラインと、材料ガス供給ラインに第1バルブを介して接続され且つべントラインに第2バルブを介して接続された配管を有する少なくとも1以上の材料ガス供給源と、材料ガス供給ラインに第3バルブを介して接続され且つべントラインに第4バルブを介して接続された第1流量調整ラインと、材料ガス供給ラインに第5バルブを介して接続され且つべントラインに第6バルブを介して接続された第2流量調整ラインと、第3バルブと第6バルブが開いた状態となる場合は、第4バルブと第5バルブが閉じた状態とし、第3バルブと第6バルブが閉じた状態となる場合は、第4バルブと第5バルブが開いた状態とする制御部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて品質特性がより高いSi薄膜をより低コストで形成する薄膜形成装置及び方法を提供する。
【解決手段】薄膜形成装置は、原料ガスと希釈ガスとクリプトンガスの流量を調整することにより得られる第1のガスを成膜空間に供給する工程と、前記第1のガスが供給された前記成膜空間において、電極板に高周波電力を供給してプラズマを生成するとともに、前記載置台にバイアス電圧を印加することにより、前記基板に処理を施す工程と、前記原料ガスと前記希釈ガスの流量を調整することにより得られる第2のガスを前記成膜空間に供給する工程と、前記第2のガスが供給された前記成膜空間において、前記電極板に高周波電力を供給してプラズマを生成することにより、前記基板に薄膜を形成する工程と、を行う。前記第1のガスにおける前記原料ガスと前記希釈ガスの合計流量に対する前記原料ガスの流量の比は、前記第2のガスの前記比に比べて小さい。 (もっと読む)


【課題】 簡便な手法・構成で、固体材料ガスを安定した濃度で供給し、固体材料の残量を簡便に精度よく検知することができること。
【解決手段】 キャリアガスCにより所定量の昇華・供給が可能な固体材料Sを処理対象とし、キャリアガスCの供給部1と、キャリアガスCの分散手段2と、分散手段2を収容し、供給されたキャリアガスCを分散させる分散室3と、固体材料Sが充填される充填層4と、充填層4から供出される固体材料ガスGを合流させる供出室5と、固体材料ガスGの供出部6と、分散室3と充填層4を仕切る第1メッシュ部7と、充填層4と供出室5を仕切る第2メッシュ部8と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】気相成長時に原料ガス流量は大きく変化した場合においても、基板上において、膜質劣化のない膜体を高い再現性の下に作製することが可能な整流板を有する気相成長装置及び気相成長方法を提供する。
【解決手段】実施形態の気相成長装置は、複数のガス導入部、及びこれら複数のガス導入部の下方に位置するガス反応部を含む反応管と、前記反応管の、前記ガス反応部の内部に表面が露出し、前記表面に基板を載置及び固定するためのサセプタとを具える。また、前記反応管の、前記複数のガス導入部及び前記ガス反応部間に設けられた整流板と、前記反応管の、前記複数のガス導入部それぞれに接続されてなる複数のガス導入菅と、前記反応管の外部において、前記複数のガス導入管それぞれに供給すべきガスを切り替えるための切替装置と、を具える。 (もっと読む)


【課題】従来よりも高い精度でSiHガスなどのガスの濃度を測定することができる薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】基板上に薄膜を形成する薄膜形成装置であって、レーザ光照射窓を備える成膜容器と、薄膜の原料である原料ガスを成膜容器に供給する原料ガス供給部と、原料ガスに希ガスを添加する希ガス添加部と、成膜容器の内部にプラズマを発生させるプラズマ発生部と、レーザ光照射窓から成膜容器の内部にレーザ光を照射するレーザ光照射部と、レーザ光照射部から照射されたレーザ光による、成膜容器の内部の空間の応答を検出する検出部と、検出部が検出した結果に基づいて、原料ガス供給部が供給する原料ガスの流量を制御する制御部と、を備えることを特徴とする薄膜形成装置。 (もっと読む)


【課題】プロセスガスを負圧で供給することにより、半導体製造装置の稼働に要する電力以外に必要となる用役電力を低減できるガス減圧供給装置を提供する。
【解決手段】大気圧よりも低いプロセス圧力にてプロセスが行われるチャンバへガスを供給するガス減圧供給装置が提供される。このガス減圧供給装置は、一次圧を減圧し、大気圧よりも低くプロセス圧力よりも高い圧力に二次圧を調整する圧力調整器;圧力調整器の二次側配管内の圧力を測定する圧力測定器;二次側配管に設けられる第1の開閉バルブ;第1の開閉バルブを開閉する開閉バルブ制御器;圧力測定器により測定される二次側配管内の圧力を第1の設定圧力と比較する圧力比較器;及び二次側配管内の圧力が第1の設定圧力以下であると圧力比較器により判定された場合に、第1の開閉バルブを閉止する閉止信号を開閉バルブ制御器へ出力する制御部を備える。 (もっと読む)


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