【課題】コンタクト抵抗を低減しつつ、イオン注入したｐ⁺層の消失を低減できる炭化珪素半導体装置の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】本発明にかかる炭化珪素半導体装置の製造方法は、（ａ）炭化珪素半導体基体表面にマスクとしての酸化膜マスク層２１、酸化膜マスク層２２を形成し、室温でイオン注入する工程と、（ｂ）イオン注入を行った炭化珪素半導体基体表面を活性化アニールする工程と、（ｃ）活性化アニール後の炭化珪素半導体基体表面を、ドライエッチングする工程と、（ｄ）ドライエッチング後の炭化珪素半導体基体表面を犠牲酸化し、犠牲酸化膜５を形成する工程と、（ｅ）犠牲酸化膜５を濃度１０％以下の希フッ酸で５分以内のエッチングにより除去する工程と、（ｆ）炭化珪素半導体基体裏面にオーミック電極６を、炭化珪素半導体基体表面の所定領域にショットキー電極７をそれぞれ形成する工程とを備える。 （もっと読む）

【課題】本実施形態は、ゲートパターン加工時のアスペクト比を低減することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本実施形態の半導体装置の製造方法は、基板上に、ゲート絶縁膜と下部ゲート電極と電極間絶縁膜と上部ゲート電極とハードマスクとを順次形成し、選択トランジスタの形成予定領域に、ハードマスクと上部ゲート電極と電極間絶縁膜とを貫き、下部ゲート電極まで達する溝を形成し、溝の中に選択的に下部ゲート電極の結晶構造から影響を受けつつ結晶成長させることにより、特定の結晶配向を優先的に持つ結晶構造を有し、且つ、下部ゲート電極と上部ゲート電極とを電気的に接続する接続層を形成する。 （もっと読む）

【課題】製造過程でエピタキシャル層の表面部に形成されるエッチピットに起因するリーク電流を抑えること。
【解決手段】ダイオードの製造方法は、エピタキシャル層の表面にキャップ層を形成するキャップ層形成工程（Ｓ３）と、キャップ層が形成されている状態でドーパントを活性化させるアニール工程（Ｓ４）と、キャップ層を除去するキャップ層除去工程（Ｓ５）と、エッチング技術を利用してエピタキシャル層の表面を洗浄する洗浄工程（Ｓ６）と、エピタキシャル層の表面部に形成されているエッチピットの底部を平滑化させる底部平滑化工程(Ｓ７)と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】微細化を達成するとともに、ゲート電極等の信頼性を確保する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】Ｎ型ＭＩＳトランジスタ及びＰ型ＭＩＳトランジスタのそれぞれのゲート形成領域において、Ｎ型ＭＩＳトランジスタのゲート形成領域の凹部内に形成されたゲート絶縁膜Ｆ０上に第１の金属含有膜Ｆ１を、Ｐ型ＭＩＳトランジスタのゲート形成領域の凹部内に形成されたゲート絶縁膜Ｆ０上に第３の金属含有膜Ｆ３を形成し、第１の金属含有膜Ｆ１上及び第３の金属含有膜Ｆ３上に第２の金属含有膜Ｆ２を形成し、Ｎ型ＭＩＳトランジスタのゲート絶縁膜Ｆ０に接する第１の金属含有膜Ｆ１の仕事関数がＰ型ＭＩＳトランジスタのゲート絶縁膜Ｆ０に接する第３の金属含有膜Ｆ３の仕事関数よりも小さい。 （もっと読む）

【課題】炭化珪素半導体層に設けられたリセス底部の不純物領域を含む終端構造の形成において、リセスの底端部に発生したノッチを除去あるいは緩やかな形状にする。
【解決手段】ガードリング６の形成領域のＳｉＣドリフト層２にリセス７を形成したとき、リセス７の底端部に尖ったノッチ１１が現れる。リセス７の形成後、リセス７の内部を含むＳｉＣドリフト層２の表面を熱酸化して酸化層１２を形成し、当該酸化層１２をエッチングにより除去すると、ノッチ１１は緩やかな形状になる。 （もっと読む）

【課題】簡単な工程でニッケル含有シリサイドを形成する。
【解決手段】シリコン基板を用いた場合であって、ゲート絶縁膜、ゲート電極、ゲート電極側面のサイドウォールを形成し、不純物イオンをドープしてソース領域及びドレイン領域を形成し、表面酸化膜を除去し、シリコン基板を４５０℃以上に加熱しながら、ニッケル含有膜を１０ｎｍ〜１００ｎｍの膜厚で形成することにより、ソース領域、ドレイン領域、及びゲート電極上にニッケル含有シリサイドを形成することができる。その後、未反応のニッケルを除去する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の製造コストを低減させ、信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体ウエハＳＷを支持するステージ５３と、半導体ウエハＳＷに対向するターゲット５４と、半導体ウエハＳＷとターゲット５４との間に配置されたコリメータ６１と、半導体ウエハＳＷとターゲット５４との間の空間とコリメータ６１とを囲むロアーシールド６２及びダークスペースシールド６３とを備える成膜装置を用い、スパッタリング法によって半導体ウエハＳＷにＮｉ−Ｐｔ合金膜を形成する。この際、ロアーシールド６２およびダークスペースシールド６３の内面のうち、コリメータ６１の下面６１ｂより上に位置する領域にＡｌ膜７１を予め形成しておくが、コリメータ６１の下面６１ｂより下に位置する領域にはＡｌ膜７１を形成しない。ロアーシールド６２及びダークスペースシールド６３を取り外して洗浄する際に、アルカリ溶液によってＡｌ膜７１を溶解する。 （もっと読む）

【課題】ｎ型Ｇｅ上に形成されるコンタクトの接触抵抗を低減する。
【解決手段】第１ドーパントレベルのｎ型ドーパントがドープされたゲルマニウム領域（１０）を上部に有する半導体基板を得る工程と、ｎ型ドープされたゲルマニウム領域（１０）を覆う界面シリコン層（１１）を形成する工程であって、界面シリコン層（１１）は第２ドーピングレベルのｎ型ドーパントでドープされて臨界膜厚より大きな膜厚を有し、これにより界面シリコン層（１１）は少なくとも部分的に緩和される工程と、界面シリコン層（１１）を覆うように、１×１０^−２Ωｃｍより小さい電気抵抗率を有する材料の層（１２、１３）を形成する工程とを含む方法。本発明はまた、対応する半導体デバイスを提供する。 （もっと読む）

【課題】Ｓｉ基板上に形成されたＳｉＯ_２膜を除去するラジカルクリーニング方法であって、ラジカルクリーニングを行う際に生成する残留生成物も除去することができるラジカルクリーニング方法を提供する。
【解決手段】プラズマによりＨラジカル生成用ガスを分解してＨラジカルを生成させ、このＨラジカルとＮＦ_３ガスを反応させてＮ、Ｆ及びＨからなるラジカルを生成するＮＦＨラジカル生成工程と、真空槽内で、Ｓｉ基板上に形成されたＳｉＯ_２膜に前記Ｎ、Ｆ及びＨからなるラジカルを照射することにより前記ＳｉＯ_２膜を除去するエッチング工程と、真空槽内で、前記エッチング工程で前記Ｓｉ基板上に生成した残留生成物にマイクロ波を照射することにより、前記残留生成物を加熱して蒸発させて除去する残留生成物除去工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】 埋め込み工程におけるスループットを向上でき、埋め込み工程が多用される半導体集積回路装置であっても、優れた生産能力を発揮することが可能な成膜装置を提供すること。
【解決手段】 アミノシラン系ガスを供給する供給機構１２２、及びアミノ基を含まないシラン系ガスを供給する供給機構１２１を備え、アミノシラン系ガスを供給して前記導電体に達する開孔を有した絶縁膜の表面、及び前記開孔の底の表面にシード層を形成する処理、及びアミノ基を含まないシラン系ガスを供給してシード層上にシリコン膜を形成する処理を、一つの処理室内１０１において順次実行する。 （もっと読む）

【課題】半導体デバイスを提供する。
【解決手段】理論的な金属：酸素化学量論比を有する高kゲート誘電体、前記高ｋゲート誘電体の上部に設置された、Mを遷移金属として、組成がM_xAl_yで表されるアルミナイドを含むNMOS金属ゲート電極、および前記高ｋゲート誘電体の上部に設置された、アルミナイドを含まないPMOS金属ゲート電極、を有するCMOS半導体デバイス。 （もっと読む）

【課題】サリサイドプロセスにより金属シリサイド層を形成した半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】部分反応方式のサリサイドプロセスによりゲート電極８ａ、８ｂ、ｎ^＋型半導体領域９ｂおよびｐ^＋型半導体領域１０ｂの表面に金属シリサイド層４１を形成する。金属シリサイド層４１を形成する際の第１の熱処理では、熱伝導型アニール装置を用いて半導体ウエハを熱処理し、第２の熱処理では、マイクロ波アニール装置を用いて半導体ウエハを熱処理することにより、第２の熱処理を低温化し、金属シリサイド層４１の異常成長を防ぐ。これにより金属シリサイド層４１の接合リーク電流を低減する。 （もっと読む）

【課題】 Ｎｉを含む膜の下地依存性による表面モフォロジ劣化を解決し、薄膜領域で連続膜を形成することができる半導体装置の製造方法、基板処理方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】 処理容器内に基板を収容する工程と、処理容器内にニッケルと不純物とを含む原料を供給する工程と、処理容器内に不活性ガスを供給する工程と、を１サイクルとしてこのサイクルを所定回数行うことにより、基板上に所定膜厚のニッケルを含む膜を形成する工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】金属半導体化合物電極の界面抵抗を低減する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施の形態によればｎ型半導体上に硫黄を含有する硫黄含有膜を堆積し、硫黄含有膜上に第１の金属を含有する第１の金属膜を堆積し、熱処理によりｎ型半導体と第１の金属膜を反応させて金属半導体化合物膜を形成するとともに、ｎ型半導体と金属半導体化合物膜との界面に硫黄を導入することを特徴とする半導体装置の製造方法である。 （もっと読む）

【課題】従来のＣＭＰを伴うダマシン法を用いた配線や電極の形成は、製造工程が煩雑であり高コスト化している。表示装置等の大型基板に配線形成を行うには平坦性等の高精度が要求されて好適せず、また研磨による配線材料の除去・廃棄量が多いという課題がある。
【解決手段】配線の形成方法及び配線を有する表示装置の形成方法は、基板上若しくは回路素子上に設けられた第１の金属拡散防止膜上に、金属シード層をＣＶＤ法により形成し、フォトレジストマスクを用いて選択的に無電解メッキ法、又は電解メッキ法により、金属配線層を形成し、金属シード層及び第１の金属拡散防止膜の不要領域除去と、金属シード層及び金属配線層及び第１の金属拡散防止膜の側面を含む表面を覆うように無電解メッキ法による第２の金属拡散防止膜の選択的な形成とにより配線及び電極を形成する。 （もっと読む）

【課題】製造工程を簡略化することの可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板１１上に、ダミーゲート電極及びダミーコンタクトプラグの側面を覆う層間絶縁膜１６を形成後、ダミーゲート電極、ダミーコンタクトプラグを選択的に除去して、ゲート電極形成用溝１７及びコンタクト孔１８を同時に形成し、次いで、ゲート電極形成用溝１７内、コンタクト孔１８内、及び層間絶縁膜１６の上面を覆う高誘電率絶縁膜４２を成膜し、次いで、斜めイオン注入法により、ゲート電極形成用溝１７の下部１７Ａに形成された高誘電率絶縁膜４２にイオン注入しないように、高誘電率絶縁膜４２を介して、半導体基板に不純物拡散領域１５を形成し、次いで、イオン注入された高誘電率絶縁膜４２を選択的に除去することで、ゲート電極形成用溝の下部にゲート絶縁膜を形成し、かつコンタクト孔から不純物拡散領域１５の上面を露出させる。 （もっと読む）

【課題】簡易な方法で、所定の形状のタンタルと炭素との固相拡散接合を可能とし更に、タンタルと炭素の固相拡散接合を行う場所以外のタンタル表面に炭化物を形成する方法を提供する。
【解決手段】タンタル若しくはタンタル合金をチューブ状の形状に加工し、チューブの中に炭素粉末を圧入し、その後、チューブをコイル形状に加工した後に真空熱処理炉内に設置し、タンタル若しくはタンタル合金表面に形成されている自然酸化膜であるＴａ₂Ｏ₅を除去した後、タンタル若しくはタンタル合金チューブ内面と前記炭素粉末ＰＩＴを固相拡散結合で分子接合させるとともに、前記真空熱処理炉内に炭素源を導入してタンタル若しくはタンタル合金チューブの外表面に炭素を侵入させてＴａＣを形成する。 （もっと読む）

【課題】基板に形成される第１の膜と第２の膜との重なり量を精度良く算出する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板の第１の領域及び第２の領域に第１の膜を形成する工程と、第２の領域の第１の膜の幅を測定する工程と、基板の第２の領域及び第３の領域に第２の膜を形成する工程と、第２の領域の第２の膜の幅及び第２の領域の第１の膜と第２の膜との距離を測定する工程と、第２の領域における第１の膜の幅の測定値、第２の膜の幅の測定値、第１の膜と第２の膜との距離の測定値及び第１の膜と第２の膜とに関する設計値に基づいて、第１の領域における第１の膜と第３の領域における第２の膜との重なり量を算出する工程と、を備える。 （もっと読む）

【課題】半導体装置においてショートを生じることを防ぐことができる、半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体基板と、半導体基板に所定の間隔で設けられた一対の不純物拡散領域と、半導体基板上に形成されたゲート絶縁膜と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極と、ゲート電極の両側面及び前記ゲート絶縁膜の両側面を覆う、絶縁性の一対のサイドウォールスペーサーと、ゲート電極の上面に形成されたシリサイド金属膜と、を備える。サイドウォールスペーサーは、上下に積み重ねられた下部サイドウォールスペーサーと上部サイドウォールスペーサーとを有する。 （もっと読む）

【解決課題】 複数の微細な貫通孔が存在するシリコン基板において、半導体プロセスに依らない簡素な技術により平坦部のみならず貫通孔内部にも密着性が良好な金属膜を成膜して、高密度実装用途に好適なシリコン基板を提供する。
【解決手段】 めっき前処理によりシリコン基板の平坦部と貫通孔内部の清浄シリコン表面を現出させ、ニッケル置換めっき・無電解銅めっき（Ｓ４）を順に行うことにより、シリコン基板の全ての貫通孔の内壁全面ならびに主面の全面もしくは一部の面を直接被覆し、密着性に優れ良好な導電性を示す膜を有するめっき層付シリコン基板を作製することができる。 （もっと読む）