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Fターム[5F031JA04]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 検出 (10,411) | 手段(センサ) (4,555) | 光センサ (2,240) | エリアセンサ、カメラ (579)

Fターム[5F031JA04]に分類される特許

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【課題】露光ユニット全体を小型化することができ、また、タクトタイムの短縮を図ることができ、且つ高精度に異物を検出することが可能なプリアライメント装置及びプリアライメント方法を提供する。
【解決手段】プリアライメント装置20は、精密温調プレート22に載置された基板Wの温度を調整する基板温調機構、精密温調プレート22に載置された基板の異物を検出する異物検出機構34を有することで、プリアライメント装置20と基板温調機構と異物検出機構が単一の装置となり、また、搬送用ロボットの数も削減でき、露光ユニット全体を小型化することができる。また、温度の調整が行われている基板にプリアライメント、異物検出を行うことで、タクトタイムの短縮を図ることができる。また、複数のカメラ30のY方向一方側に配置された複数の第1の光源31Aは、隣接する第1の光源31A同士の両端部をY方向から見てオーバーラップさせた状態で、X方向に沿って千鳥状に配置されるので、精度良く異物を検出することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、斜めに設けたカメラが被写体を撮像しても、全体に鮮明な画像を取得することが可能な半導体製造装置に使用するカメラを提供することにある。
【解決手段】本発明の半導体製造装置に使用するカメラは、板状の被写体の上面を光軸が斜めになるように撮像する半導体製造装置に使用するカメラであって、前記被写体と前記カメラの光路間に直角三角形プリズム状の光学ガラスを設け、前記カメラの視野内の見かけ上の光路を等価にした。 (もっと読む)


【課題】物体の位置の測定に有利な技術を提供する。
【解決手段】第1ヘッド112a、112c又は第2ヘッド113aで第1物体に対する第2物体の相対的な位置を測定する第1測定部110と、第1物体に対する第2物体の相対的な位置を求める処理を行う処理部と、を有し、処理部は、第1ヘッド112a、112c及び第2ヘッド113aのうち一方のヘッドで以前に検出された回折格子111a、111b上の位置を他方のヘッドの視野の中心に位置決めした状態で一方のヘッドで以前に検出された回折格子上の位置とは別の位置を一方のヘッドで検出する処理を、一方のヘッドが回折格子の全面を検出するまで繰り返して回折格子の変形量を求める第1処理と、回折格子の変形量に基づいて、第1ヘッド112a、112c又は第2ヘッド113aで測定された第1物体に対する第2物体の相対的な位置を補正する第2処理と、を行う。 (もっと読む)


【課題】基板搬送装置のバキューム機構に用いられるパッドからの基板のずれを検出可能な基板搬送方法を提供する。
【解決手段】この基板搬送方法では、複数の載置部のうちの一の載置部の基板を保持部で受け取って保持し、保持部に保持される基板を一の載置部から搬出し、保持部に保持される基板の保持部に対する位置(第1の位置)を検出し、保持部に保持される基板を他の載置部に臨む場所まで搬送し、その場所において、保持部に保持される基板の保持部に対する位置(第2の位置)を検出し、第1の位置及び第2の位置に基づいて、搬送前後において生じた、基板の保持部に対する位置ずれ量を算出し、算出された位置ずれ量が所定の範囲に入るか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】マスクをプリアライメントする際に、マスクとマスクが接する面との間の摩擦によってマスクが損傷するのを防止することが可能な露光装置を提供する。
【解決手段】基板Wに対してマスクMを介して露光用光ELを照射し、基板WにマスクMのパターンPを露光する近接スキャン露光装置1は、マスクチェンジャー120のマスクトレー部121は、マスクMの下面にエアを供給して、マスクMを浮上させるエア供給機構125と、浮上したマスクMの端面と当接して、マスクMを位置決めするマスク用位置決めピン196と、浮上したマスクMの端面をマスク用位置決めピン196に向けて押圧する押圧機構198と、を有する。 (もっと読む)


【課題】コンパクトな構成でワークを汚すことなく搬送することができるワーク搬送装置及びワーク加工装置を提供する。
【解決手段】移動可能な第1アーム60には、ウェーハ把持機構72と、第1吸着保持機構74とが備えられる。また、移動可能な第2アーム66には、トレイ76と位置決め機構78と、第2吸着保持機構80とが備えられる。カセットCに格納されたウェーハWは、縁部をウェーハ把持機構72に把持されてカセットCから引き出され、トレイ76の上に載置される。トレイ76に載置されたウェーハWは、位置決め機構78によって位置決めされた後、第1吸着保持機構74によって吸着保持されて、ワークテーブル30に搬送される。加工後、ウェーハWは第2吸着保持機構80に吸着保持されて、ワークテーブル30から回収され、ワーク洗浄装置56に搬送される。 (もっと読む)


【課題】吸着ノズルで吸着するダイの位置を判定するダイ位置判定システムにおいて、生産能率向上とダイの歩留まり向上とを両立させる。
【解決手段】ウエハパレット22の上面の2箇所に基準位置マーク41を設けると共に、予め、基準位置マーク41の位置を基準とするウエハパレット22の座標系で作成されたダイ配列位置情報を記憶手段に記憶しておく。ダイピックアップ装置の所定位置にセットされたウエハパレット22上の2つの基準位置マーク41をカメラで撮像して、その撮像画像を処理してダイピックアップ装置の機械座標系における2つの基準位置マーク41の位置を認識して、ダイピックアップ装置の機械座標系に対するウエハパレット22の座標系の位置ずれ量を演算し、その位置ずれ量で前記ダイ配列位置情報を補正することでダイピックアップ装置の機械座標系における各ダイ21の配列位置を求める。 (もっと読む)


【課題】ウエハの冷却による反りを検出し、ウエハの落下または破損を未然に防ぐことができるロードロックモジュール、該ロードロックモジュールを備えるウエハ加工処理システム、該ウエハ加工処理システムで行われるウエハの加工処理方法を提供する。
【解決手段】ウエハ10を冷却する冷却部12を備えるロードロックモジュール1において、前記冷却部12の冷却によって前記ウエハ10に生じる反りを検出する検出部を備えることを特徴とするロードロックモジュール1を提供する。 (もっと読む)


【課題】ウエハの温度を精度良く制御する方法を提供する。
【解決手段】ウエハの裏面膜の種類の測定結果を取得する取得ステップと、チャンバ内に投入されるパワーと裏面膜の種類とウエハの温度とを対応付けて記憶した第1のデータベース330から、前記測定結果であるウエハの裏面膜の種類と、前記ウエハを処理するために投入されるパワーとに対応したウエハの温度を選択する選択ステップと、前記選択されたウエハの温度に基づき、前記ウエハの温度を調整する調整ステップと、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】回転動作を停止させることなく回転動作中にワークの中心位置を回転軸の中心に合わせることが可能な位置合わせ装置を提供する。
【解決手段】ワークWを載せる載置台21と、載置台21の下側に配置され且つ載置台21を平面上で直交する2方向に移動させるXYステージ22と、XYステージ22を駆動させるX軸駆動部6,Y軸駆動部7と、XYステージ22を下方から回転可能に支持しXYステージ22の原点に一致する回転軸と、回転軸を回転駆動させる回転軸駆動部8と、ワークWのエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段3とを備え、制御部4によって、回転軸を回転駆動させながらエッジ位置情報及び回転角度情報に基づきワークWの中心位置を回転軸の中心に一致させるために要するXYステージ22の移動量を算出し、移動量に基づいてX軸駆動部6又はY軸駆動部7の少なくとも何れか一方を作動させるようにした。 (もっと読む)


【課題】検査室内においてプローブカードのプローブの針先を検出することなくプローブカードと半導体ウエハの位置合わせを行うことができ、また、ダミーウエハを用いる必要がなく、迅速にプローブと半導体ウエハの位置合わせを行うことができるプローブカード検出装置を提供する。
【解決手段】プローブカード検出装置30は、プローブカード19またはプローブ補正カード33を所定位置に位置決めして着脱可能に装着される支持体31Aを有するプローブ検出室31と、プローブ検出室31内に移動可能に設けられ且つプローブ19Aの針先またはターゲット33Aを検出する第1、第2のカメラ32A、32Bと、を備え、第1、第2のカメラ32A、32Bで検出される、2つのプローブ19Aの針先の水平位置と2つのターゲット33Aの水平位置との差を、プローブ19Aと半導体ウエハの電極パッドのアライメントを行うために用いられる補正値δとして検出する。 (もっと読む)


【課題】露光不良の発生を抑制できる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置は、液体を介して露光光で基板を露光する。露光装置は、露光光が射出される射出面を有する光学部材と、基板を保持する第1保持部15と、第1保持部15の周囲の少なくとも一部に配置され、射出面が対向可能なスケール部材Tと、を有し、所定面内を移動可能な基板ステージ2Pと、所定面内を移動するスケール部材Tの表面が対向可能な位置に配置され、スケール部材Tの表面の異物を除去可能な除去部材を有する除去装置と、を備える。 (もっと読む)


【課題】確実にダイを剥離できるダイボンダを提供すること,または前記ダイボンダを用い、信頼性の高いダイボンドまたはピックアップ方法を提供する。
【解決手段】ダイシングフィルム16に貼り付けられた複数のダイ(半導体チップ)4dのうち剥離対象のダイ4を突上げて前記ダイシングフィルムから剥離する際に、前記ダイの周辺部のうちの所定部における前記ダイシングフィルムを突上げて剥離起点51aを形成し、その後、前記所定部以外の部分の前記ダイシングフィルムを突上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ウエハ検査装置の設置スペースを削減することができると共に設置コストを低減することができるウエハ検査装置を提供する。
【解決手段】本発明のウエハ検査装置10は、ウエハを一枚ずつ搬送するように第1の搬送領域S2に設けられた第1のウエハ搬送機構12と、第1の搬送領域の端部にあるアライメント領域S3内でウエハ保持体15を介して第1のウエハ搬送機構12によって搬送されるウエハWを検査位置にアライメントするアライメント機構14と、第1の搬送領域S2及びアライメント領域S3に沿う第2の搬送領域S4内でウエハ保持体15を介してウエハWを搬送する第2のウエハ搬送機構16と、第2の搬送領域に沿う検査領域S5に配列され且つウエハ保持体15を介して第2のウエハ搬送機構16によって搬送されるウエハWの電気的特性検査を行う複数の検査室17と、を備え、検査室17ではアライメント後のウエハの電気的特性検査を行う。 (もっと読む)


【課題】歩留まりを低下させず、認識精度が向上するチップソータを提供する。
【解決手段】本発明のチップソータは、第1のカメラがウェハのパターン面を撮像して第1の画像を取得し、第2のカメラがチップの裏面を撮像して第2の画像を取得し、認識処理部が前記第1の画像に基づいてウェハ認識し、また、前記第2の画像に基づいてチップのX、Y、θ軸位置測定認識およびチップ欠け認識を行い、制御部は、前記認識処理部から出力された認識結果に基づいて前記駆動系を制御する、 (もっと読む)


【課題】従来技術によるティーチング方法では、位置を調整して、プロセスチャンバーを真空状態にして、位置のずれを顕微鏡で確認して、プロセスチャンバーを大気状態に戻して、また位置を調整する、という繰り返しを行うので、長い時間を必要とする上、気圧の変化を伴う作業は効率が悪い。さらに、顕微鏡を用いた作業者の目視による検査は、誤差が比較的大きい。
【解決手段】顕微鏡の代わりにCCDカメラ31を用い、ヒーターの基準位置に相当する第1の画像マーカーAを用い、シャドウリング18の中心位置の代わりに相当するアダプターリング調整治具17に設けられた第2の画像マーカーBを用いる。これら2つの画像マーカーAおよびBをCCDカメラ31にて測定し、アダプターリング調整治具17の位置を調整する。 (もっと読む)


【課題】処理時間を短縮しスループットを向上するする。
【解決手段】複数の処理室C,Eが個別に仕切りバルブ3を介して連結された搬送室Tを介して処理室Cから処理室Eへ基板Sを移動させる搬送手段12を有する基板処理装置CTにおいて、搬送手段のロボットアーム12aを同一平面内の旋回動作及び伸縮動作させ、旋回方向に沿って配置された複数の処理室間で前記基板を搬送する際に、搬送手段の一連の動作および前記仕切りバルブの開閉動作を1つのコマンドで実行するとともに、複数の処理室における仕切りバルブが同時に開いた状態を有してなる。 (もっと読む)


【課題】スループットを低下させることなく、時間のロス無しに基板のアライメントを可能とした基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明の基板処理装置は、基板2を出し入れする仕込/取出室3と、前記基板に対して所定の真空処理を行う処理室と、前記仕込/取出室と前記処理室との間における前記基板の受け渡しを行う搬送室と、を備えた基板処理装置であって、前記仕込/取出室は、真空排気可能なチャンバ11と、前記チャンバ内に配され、前記基板が載置される支持部12と、前記支持部上に載置された前記基板の位置ずれ量を検出する測定部と、前記測定部によって検出された前記基板の位置ずれ量に応じて、前記基板の位置を修正するアライメント部と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する際の実装時間を短縮することができる電子部品実装装置及び電子部品実装方法を提供する。
【解決手段】電子部品実装装置は、ウエハ全体の画像から、それぞれのダイの位置情報を取得する。また、それぞれのダイの良否情報を取得する。さらに、それぞれのダイの位置情報と良否情報から、良品のダイの位置情報を取得する。そして、取得した良品のダイの位置情報に基づいて、ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する。そのため、従来のように、それぞれのダイを撮像する必要がない。従って、ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する際の実装時間を短縮することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、2種類の半導体素子を1個のワークに装着する半導体素子装着装置において、1種類の半導体素子のみを装着する場合においても、より生産効率の高い半導体素子装着装置を提供することである。
【解決手段】本発明は、各ワークを所定間隔毎に設けられた複数の送り爪で係止し凹状の搬送路を間欠送りし、前記所定間隔で規定される所定のピッチで前記送り爪を往復動作させて搬送し、最大N個(2≦Nの整数)の前記ワークを同時に前記送り爪にそれぞれ1個ずつ係止できるように前記搬送路に供給し、最大N個の前記ワークにそれぞれ半導体素子を装着することを特徴とする。 (もっと読む)


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