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Fターム[5F041AA40]の内容

発光ダイオード (162,814) | 目的 (29,379) | その他 (13,445) | 応力、歪の除去、結晶性改善 (1,343)

Fターム[5F041AA40]に分類される特許

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【課題】シリコン基板上に形成したクラックおよび転位が少ない高品位の窒化物半導体素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施態様によれば、下地層と、第1積層中間層と、機能層と、を備えた窒化物半導体素子が提供される。前記下地層は、基板の上に形成されたAlNバッファ層を含む。前記第1積層中間層は、前記下地層の上に設けられた第1AlN中間層と、前記第1AlN中間層の上に設けられた第1AlGaN中間層と、前記第1AlGaN中間層の上に設けられた第1GaN中間層と、を含む。前記機能層は、前記第1積層中間層の上に設けられている。前記第1AlGaN中間層は、前記第1AlN中間層に接する第1ステップ層を含む。前記第1ステップ層におけるAl組成比は、前記第1AlN中間層から前記第1ステップ層に向かう積層方向において、ステップ状に減少している。 (もっと読む)


【課題】高効率の半導体素子、ウェーハ、半導体素子の製造方法及びウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、窒化物半導体を含むn形の第1層と、窒化物半導体を含むp形の第2層と、発光部と、第1積層体と、を含む半導体素子が提供される。発光部は。第1層と第2層との間に設けられる。発光部は、複数の障壁層と、複数の障壁層の間に設けられた井戸層と、を含む。第1積層体は、第1層と発光部との間に設けられる。第1積層体は、AlGaInNを含む複数の第3層と、複数の第3層と交互に積層されGaInNを含む複数の第4層と、を含む。第1積層体は、第1積層体の発光部側の面に設けられた凹部を有する。凹部の少なくとも一部に発光部の一部及び第2層の一部が埋め込まれている。第2層の一部は、埋め込まれた発光部の一部の上にある。 (もっと読む)


【課題】高効率の半導体発光素子、ウェーハ、半導体発光素子の製造方法及びウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、n形の第1層と、p形の第2層と、第1層と第2層との間に設けられた発光部と、第1層と発光部との間に設けられた第1積層構造体と、第1層と第1積層構造体との間に設けられた第2積層構造体と、を含む半導体発光素子が提供される。発光部は、複数の障壁層と、複数の障壁層の間に設けられた井戸層と、を含む。第1積層構造体は、窒化物半導体を含む複数の第3層と、複数の第3層と交互に積層され井戸層の厚さよりも薄いGaInNを含む複数の第4層と、を含む。第2積層構造体は、第3層の組成とは異なる組成を有する窒化物半導体を含む複数の第5層と、複数の第5層と交互に積層され井戸層の厚さよりも薄いGaInNを含む複数の第6層と、を含む。 (もっと読む)


【課題】基板の両面に窒化物半導体層を形成するに際し、基板に被着した堆積物の除去が容易な窒化物半導体積層構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体積層構造体の製造方法では、第1および第2の面11a、11bと第1熱膨張係数α1を有する基板11の第2の面11bに、第1保護膜31を形成する。第1保護膜31が形成された基板11の第1の面11aに、第1熱膨張係数α1と異なる第2熱膨張係数α2を有する第1窒化物半導体層12を形成する。第1窒化物半導体層12に、第2保護膜34を形成する。第1保護膜31を除去し、基板11の第2の面11bを露出させる。露出した基板11の第2の面11bに、第2熱膨張係数α2に略等しい第3熱膨張係数α3を有する第2窒化物半導体層13を形成する。第2保護膜34を除去し、第1窒化物半導体層12を露出させる。 (もっと読む)


【課題】pクラッド層の特性悪化を防止すること。
【解決手段】発光層14上に、800〜950℃でMgドープAlGaInNからなるpクラッド層15を形成した(図2(b))。次に、pクラッド層15上に、pクラッド層15形成時と同じ温度でノンドープGaNからなる厚さ5〜100Åのキャップ層16を形成した(図2(c))。キャップ層16にはMg濃度5×1019/cm3 以下の範囲でMgをドープしてもよい。次に、温度を次工程のpコンタクト層17の成長温度まで昇温した。この昇温時において、キャップ層16が形成されているため、pクラッド層15表面が露出しておらず、Mgの過剰ドープや不純物の混入が抑制される。そのため、pクラッド層15の特性悪化が防止される。次に、キャップ層16上に950〜1100℃でpコンタクト層17を形成した(図2(d))。 (もっと読む)


【課題】転位密度の低減を図ることができる半導体発光素子、及びその製造方法を提供することである。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光素子は、基板と、前記基板の第1の主面の側に設けられた第1の半導体層と、前記第1の半導体層の上に設けられた発光層と、前記発光層の上に設けられた第2の半導体層と、を備えている。そして、前記基板の第1の主面には、頂部に凹部を有する突起部が複数設けられている。 (もっと読む)


【課題】安全性及び信頼性を高めた発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、基板100と、基板のR面上に配置され、岩塩構造(Rock Salt Structure)を有する窒化物を含むバッファー層210と、バッファー層上に配置され、a面に成長した発光構造物120とを備える。バッファー層210は、LaN、ThN、PrN、NdNまたはSmNの少なくとも一つを含んで形成され、基板100と発光構造物120との格子不整合及び熱膨張係数の差を緩和する。 (もっと読む)


【課題】凸パターンを覆うn型窒化物半導体層を良好に形成できながら、外部量子効率を向上させることができる発光素子およびこれを含む発光素子ユニットを提供すること
【解決手段】基板2の表面3に互いに第1ピッチpを空けて離散して配置された複数の凸部19の集合体からなる凸パターン20において、凸部19は、互いに第1ピッチpよりも小さい第2ピッチpを空けて当該凸部19の頂部に離散して形成された複数の微細凸部35の集合体からなる微細凸パターン36と、当該微細凸パターン36を支持するベース部37とを含む。 (もっと読む)


【課題】高温焼成で形成される膜厚の厚いシリカ系樹脂膜におけるクラック耐性の向上を図ることができる技術を提供する。
【解決手段】500℃以上の高温焼成で形成される厚さ2.0μm以上のシリカ系樹脂膜用の組成物の製造方法であって、下記一般式(1)で表される第1アルコキシシランの加水分解反応、および、当該加水分解反応で生成される第1アルコキシシランの加水分解生成物の脱水縮合反応を進行させる第1工程と、第1アルコキシシランの加水分解生成物が残存する第1工程の反応系に下記一般式(2)で表される第2アルコキシシランを混合し、第2アルコキシシランの加水分解反応、および、当該加水分解反応で生成された第2アルコキシシランの加水分解生成物と第1工程の脱水縮合反応生成物と残存する第1アルコキシシランの加水分解生成物との脱水縮合反応を進行させる第2工程と、を含む。(RSi(OR(1)Si(OR(2) (もっと読む)


【課題】NとTeがコドーピングされたZnO系半導体層の新規な製造方法を提供することである。
【解決手段】
ZnO系半導体層の製造方法は、(a)下地層上方に、少なくともZn、O、N、及びTeを供給して、NとTeがコドーピングされたZnO系半導体膜を形成する工程と、(b)ZnO系半導体膜にOラジカルを照射して、ZnO系半導体膜の結晶性を向上させる工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】発光効率及び結晶欠陥が改善された発光素子を提供する。
【解決手段】発光素子は、第1半導体層120、第2半導体層150、及び前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に配置された活性層を有し、活性層と第2半導体層150との間に、活性層での電子と正孔の再結合確率を高め、漏れ電流を防止する電子遮断層の機能をもつ、活性層より相対的に大きいバンドギャップを有する中間層140を備える。発光素子は、活性層の障壁層の構造を変更し、中間層のバンドギャップエネルギーに変化を与えて、活性層の正孔注入効率を改善することによって、発光効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】n型GaN層の格子欠陥が抑制され、発光効率が向上した半導体素子及び半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
サファイア基板11と、サファイア基板11上に配置されたn型GaN層13と、n型GaN層13上に配置されたp型GaN層15とを有する半導体素子10であって、n型GaN層13には電子線が照射されている。Al(1-x)GaxN結晶と電子線との相互作用により、n型GaN層13の格子欠陥が抑制され、半導体素子10の発光効率が向上する。 (もっと読む)


【課題】デバイス化の工程で割れが発生することを抑制することが可能なIII族窒化物エピタキシャル基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明のIII族窒化物エピタキシャル基板10は、Si基板11と、該Si基板11と接する初期層14と、該初期層14上に形成され、Al組成比が0.5超え1以下のAlGaNからなる第1層15A1(15B1)およびAl組成比が0超え0.5以下のAlGaNからなる第2層15A2(15B2)を順次有する積層体を複数組有する超格子積層体15と、を有し、前記第2層のAl組成比が、前記基板から離れるほど漸減することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】本発明は窒化物半導体発光素子に関する。
【解決手段】本発明は、p型窒化物半導体層とn型窒化物半導体層及びその間に形成された活性層を有する発光構造物と、上記p型窒化物半導体層及び上記n型窒化物半導体層にそれぞれ電気的に接続されたp側及びn側電極と、上記p型窒化物半導体層と上記p側電極との間に位置し、上記p型電極とオミックコンタクトされるように第1不純物濃度を有する第1p型窒化物膜と、上記第1不純物濃度より低い第2不純物濃度を有する第2p型窒化物膜を有するコンタクト層とを含む窒化物半導体発光素子を提供する。 (もっと読む)


【課題】低転位であり、クラック発生を抑制できるIII族窒化物半導体層を有する窒化物
半導体エピタキシャル基板及び窒化物半導体デバイスを提供する。
【解決手段】基板上にAlを含むIII族窒化物半導体のバッファ層を介して成長した、C
面を表面とするIII族窒化物半導体層を有する窒化物半導体エピタキシャル基板であって
、前記バッファ層が、その表面にインバージョンドメインを有する。 (もっと読む)


【課題】LEDを構成するIII−V族半導体結晶と線熱膨張率の差が小さく、かつ熱伝導性に優れ、更に製造時に使用される酸及びアルカリ溶液に対する耐薬品性に優れた高出力LED用として好適なLED発光素子用保持基板を提供することである。
【解決手段】 外周部が厚み0.1〜2.0mmのアルミニウムまたはアルミニウム合金で覆われており、両主面に金属含浸セラミックス複合体が露出した基板の両面に、アルミニウムまたはアルミニウム合金が厚み0.05〜2μm形成され、窒素、アルゴン、水素、ヘリウム又は真空雰囲気中で460〜650℃で1分間以上加熱処理した後、全面に厚み0.5〜5μmのNiめっき層および厚み0.05〜2μmの金めっき層を順次形成されたLED発光素子用保持基板を提供する。 (もっと読む)


【課題】発光層の品質を高めるとともに、発光効率を向上させることができる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】サファイア基板1上に、GaNバッファ層2、n型GaN層3、InGaN/GaN中間バッファ層4、MQW活性層5、p型AlGaN層6、p型GaN層7が順に積層されている。InGaN/GaN中間バッファ層4は、複数のInGaN膜と複数のGaN膜とが交互に積層された超格子構造を有し、InGaN膜のIn組成比率はn型GaN層3からMQW活性層5に向かって段階的に増加していくように構成される。 (もっと読む)


【課題】低温でも良好に薄膜形成できるp型ZnO系半導体材料を提供する。
【解決手段】
ZnOとNiOの混合材料をスパッタターゲットとして、スパッタリングすることにより、Zn1-xNiO薄膜を基板上に形成する。Zn1-xNixO(xは、ZnとNiの合計モル数に対するNiモル数の比率である)は、ZnOとNiOとが混合した酸化物であり、xの値は0.65以下に設定してZnOに対する価電子帯トップのオフセット量を1eV以内に抑えることが好ましく、xの値は小さい方が好ましい。一方、電気伝導タイプをp型とし、電気抵抗を低く抑えることを考慮すると、Zn1-XNiXOにおけるXの値は0.13以上であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】任意の基板上に形成でき良好な結晶性を有する窒化物半導体素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、第1層と、機能層と、を備えた窒化物半導体素子が提供される。前記第1層は、非晶質層の上に形成され、窒化アルミニウムを含み、圧縮歪または引張歪を有する。前記機能層は、前記第1層の上に形成され、窒化物半導体を含む。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に形成される、低転位密度で結晶品質が優れた窒化物半導体素子、窒化物半導体ウェーハ及び窒化物半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、下地層と、機能層と、を備えた窒化物半導体層が提供される。下地層は、シリコン基板の上に形成されたAl含有窒化物半導体層の上に形成され、不純物濃度が低く、GaNを含む。機能層は、下地層の上に設けられる。機能層は、下地層の不純物濃度よりも高い不純物濃度を有し第1導電形のGaNを含む第1半導体層を含む。Al含有窒化物半導体層は、多層構造体を含む。多層構造体は、Alを含む窒化物半導体を含む複数の第2層と、複数の第2層の間に設けられ第2層におけるAl組成比よりも低いAl組成比を有する窒化物半導体を含む第1層と、を含む。下地層の厚さは、第1層の厚さよりも厚く、第1半導体層の厚さよりも薄い。 (もっと読む)


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