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Fターム[5F045AF12]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 被成膜面の組成、基板の特徴、ダミー基板、マスク (7,328) | 基板の形状、構造、大きさ、厚み等 (845) | 基板表面の状態(面粗さ、ステップ等) (699)

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【課題】半導体素子を提供する。
【解決手段】3次元構造の表面形態を持ち、非極性窒化物半導体で形成された第1非平坦非極性窒化物半導体層;第1非平坦非極性窒化物半導体層の表面の少なくとも一部上に形成されたものであって、複数の固体粒子で形成された第1構造物層;第1非平坦非極性窒化物半導体層及び第1構造物層上に形成された第1非極性窒化物半導体層;を含む半導体素子。 (もっと読む)


【課題】工程増を最小限とした簡便な手法で、素子形成領域における化合物半導体と同時に、しかもその結晶性を損なうことなく確実な素子分離を実現し、信頼性の高い化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】Si基板1上の素子分離領域に初期層3を選択的に形成し、初期層3上を含むSi基板1上の全面に化合物半導体の積層構造4を形成して、積層構造4は、素子分離領域では初期層3と共に素子分離構造4Bとなり、素子形成領域ではソース電極5、ドレイン電極6及びゲート電極7が形成される素子形成層4Aとなる。 (もっと読む)


【課題】第一n型半導体層のドーパント濃度に起因する結晶性の低下が生じにくく、かつ、高い出力の得られるIII族窒化物半導体発光素子およびその製造方法を提供する。
【解決手段】第一有機金属化学気相成長装置において、基板上に第一n型半導体層を形成する第一工程と、第二有機金属化学気相成長装置において、前記第一n型半導体層上に、前記第一n型半導体層のドーパント濃度よりも高いドーパント濃度を有する前記第一n型半導体層の再成長層、第二n型半導体層、発光層およびp型半導体層を順次積層する第二工程と、を有することを特徴とするIII族窒化物半導体発光素子の製造方法を採用する。 (もっと読む)


【課題】 結晶性を向上させることが可能な発光素子の製造方法および発光素子を提供する。
【解決手段】 本発明の発光素子1の製造方法は、窒化アルミニウムからなる多結晶基板2(2a)を酸素雰囲気中で加熱して多結晶基板2(2a)の表面を酸化させることによって、多結晶基板2(2a)の表面に酸窒化アルミニウムからなる酸化領域を形成する工程と、多結晶基板2(2a)を窒化アルミニウムの融点よりも低い温度であって酸窒化アルミニウムの融点よりも高い温度で加熱して酸化領域を溶解した後、多結晶基板2(2a)を酸窒化アルミ二ウムの融点よりも低い温度に冷却することによって、溶解した酸化領域を固化して緩衝層3を形成する工程と、緩衝層3上に窒化アルミニウムを含む光半導体層4を成長させる工程とを有している。これにより、緩衝層3上に成長させる光半導体層4の結晶性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、エピタキシャル層を成長させることに用いるベース及びその使用方法に関する。
【解決手段】本発明のベースにおいては、基板及びカーボンナノチューブ層を含む。前記基板は、結晶面を含み、前記カーボンナノチューブ層が、複数のカーボンナノチューブを含み、前記基板の結晶面に配置される。前記カーボンナノチューブ層に、複数の空隙が形成されている。前記基板の結晶面の一部が前記カーボンナノチューブ層の複数の空隙によって露出される。しようとするエピタキシャル層を前記基板の該一部の結晶面から前記カーボンナノチューブ層の複数の空隙を通じて成長させる。 (もっと読む)


【課題】貫通らせん転位が少ない、もしくは存在しない炭化珪素単結晶層を製造することができる炭化珪素単結晶の製造方法、当該製造方法で製造された炭化珪素単結晶ウェハ、当該炭化珪素単結晶ウェハを用いた炭化珪素半導体素子の製造方法、当該製造方法で製造された炭化珪素半導体素子を提供する。
【解決手段】結晶成長面5からの傾斜面6の角度が40度以上90度以下であり頂面3Tを有する六角錐状の凸部3を有する種基板2の表面に炭化珪素単結晶層4を成長させることで、種基板2の貫通らせん転位を、炭化珪素単結晶層4で基底面内欠陥9に変換すると共に、貫通らせん転位を凸部3の頂面3Tに制限する。 (もっと読む)


【課題】単純な単結晶シリコン基板を出発基板として窒化ガリウム膜を形成することができ、反りやクラックが抑制された半導体基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板10は、単結晶シリコン基板11と、前記単結晶シリコン基板11の最表面を除く表層領域に形成された転位層12と、前記単結晶シリコン基板11の前記最表面に形成されたバッファ層13と、前記バッファ層13の表面に形成された窒化ガリウム層14とを備えている。転位層12は、窒化ガリウム層14が形成された単結晶シリコン基板14の表層領域に転位が発生し且つ単結晶シリコン基板11の最表面には転位が発生しない条件下でイオン注入することにより形成される。イオン注入では、ドーズ量が5E+14atoms/cm以上5E+17atoms/cm以下のアルゴンイオンを注入する。 (もっと読む)


【課題】反り量を低減できる窒化物半導体の積層体及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】実施形態によれば、窒化物半導体の積層体は、主面に凸部を有する基板と、前記基板の前記主面上に直接設けられて前記凸部を覆う単結晶層と、前記単結晶層上に設けられた窒化物半導体層と、を備えている。前記基板は窒化物半導体を含まない。前記単結晶層はクラックを内在している。 (もっと読む)


【課題】表面の平坦化が図られたGaN基板及びその製造方法、並びに窒化物半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るGaN基板28は、GaN単結晶からなる基板14と、基板14上にエピタキシャル成長された、AlGaN(0<x≦1)からなる中間層24と、中間層24上にエピタキシャル成長された、GaNからなる上層26とを備えることを特徴とする。中間層24はAlGaNからなり、このAlGaNは、汚染物質が付着している領域を含む主面14aの全域に成長する。そのため、中間層24は基板14上に正常に成長しており、その成長面24aは平坦である。このように中間層24の成長面24aが平坦であるため、中間層24上にエピタキシャル成長される上層26の成長面26aも平坦となっている。 (もっと読む)


【課題】厚膜層の成長過程で厚膜層にヒビやクラックが発生することを抑制可能な窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】基材2上に窒化物半導体からなる下地層を設けて下地基板3を形成し、下地基板3の下地層上に金属膜を形成した後、水素ガスまたは水素含有化合物ガスを含む雰囲気中で下地基板3を熱処理することで、下地層中に空隙を形成すると共に金属膜に微細孔を形成し、その微細孔を形成した金属膜上に窒化物半導体を成長させて厚膜層5を形成した後、厚膜層5を下地基板3から剥離して窒化物半導体基板1を得る窒化物半導体基板の製造方法において、基材2として、窒化物半導体基板1の径よりも大きい径のものを用い、下地基板3の中央部で厚膜層5を成長させる。 (もっと読む)


【課題】SiC半導体自立基板上に形成される電子デバイスの耐電圧、オン抵抗、素子寿命等のばらつきを抑えて歩留まりを向上させることが可能なSiC半導体自立基板及びSiC半導体電子デバイスを提供する。
【解決手段】SiC半導体自立基板を構成するSiC半導体結晶3は六方晶系であり、SiC半導体結晶3の格子定数のばらつきを、SiC半導体自立基板の主面内のa軸方向の格子定数の標準偏差をa軸方向の格子定数の平均値で除した値とするとき、格子定数のばらつきが±55ppm以下である。 (もっと読む)


【課題】III 族窒化物半導体発光素子の光取り出し効率を向上させること。
【解決手段】実施例1のIII 族窒化物半導体発光素子は、凹凸形状が形成されたサファイア基板10と、サファイア基板10の凹凸形状側表面上に、バッファ層を介して順に積層された、III 族窒化物半導体からなるn型層、発光層、p型層と、を有している。凹凸形状は、サファイア基板10表面上にx軸方向をストライプ方向とする第1のストライプ形状100が形成され、その上にx軸方向と直交するy軸方向をストライプ方向とする第2のストライプ形状101が重ねて形成された形状である。このような凹凸形状とすることで、従来のIII 族窒化物半導体発光素子よりも光取り出し効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】炭素を含む膜を選択成長させること。
【解決手段】主面上にトレンチとポストが形成された基板13上に、選択的に炭素を有した膜を、プラズマCVD法により堆積する選択成膜方法である。基板を設置する反応室11において、第1電力により、膜の原料ガスのプラズマを生成し、反応室と連通し、区画された補助空間21において、第2電力により、基板に対してエッチング性を有するガスのプラズマを生成して、反応室に、イオン及びラジカルを供給する。反応室において、基板の主面に垂直方向に電界を発生させるバイアス電圧を制御して、基板のポストの上面、トレンチの側面及び底面に至るイオン量を制御する。第1電力、第2電力、バイアス電圧を制御することにより、基板の前記ポストの上面、トレンチの側面及び底面のうちの選択された1つの面、又は、2つの面に対して、膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】サファイア基板へスパッタ法によりバッファ層を形成し、その後MOCVD法によりIII族窒化物系化合物半導体層を形成するIII族窒化物系化合物半導体素子の製造方法において、III族窒化物系化合物半導体層に異常成長部が発生することを抑制する。
【解決手段】バッファ層の形成されたサファイア基板をスパッタ装置から取り出してバッファ層表面の電荷を中和し、その後そのサファイア基板をMOCVD装置にセットしてIII族窒化物系化合物半導体層を形成する。バッファ層表面の電荷を中和するのにはイオナイザーを用いることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明の実施形態は、ドライエッチングされた基板の表面に、良好な結晶性を有する窒化物半導体を形成することができる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態は、ドライエッチングにより処理された基板の表面をハロゲン元素を含む雰囲気中で熱処理し、前記熱処理した前記基板の前記表面に窒化物半導体層を形成することを特徴とする半導体素子の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】半導体基材の基板の表面に繰り返し凹凸パターンを形成するためのエッチングマスクをレジスト膜の露光現像により形成する際、レジスト膜に対する繰り返し露光による隣接する露光領域の隣接する部分での過剰露光による現像パターンの歪みを防止する。
【解決手段】半導体基材を製造する方法において、半導体基材の表面に凹凸部を形成するためのエッチングマスクをレジスト膜のフォトリソグラフィ処理により形成する際、転写用マスク100として、あらかじめ露光ショットの重なる領域付近にある凹凸パターンであるドット状遮光部104の寸法を補正した転写用マスクを使用する。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物半導体で構成される基板を生産する際の歩留まりを改善することを課題とする。
【解決手段】基板の表面から裏面まで貫通する貫通孔20を有するIII族窒化物半導体(AlGa1−x−yInN(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1))で構成される基板30と、貫通孔20の内部に充填され、貫通孔20を塞ぐ、組成一様のIII族窒化物半導体で構成される充填材40と、を有するIII族窒化物半導体基板10を提供する。 (もっと読む)


【課題】絶縁膜と微結晶シリコン膜との密着性を向上させた微結晶シリコン膜の作製方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜55上に、後のプラズマ酸化等により完全に酸化される高さ(例えば0nmより大きく5nm以下)の微結晶シリコン粒、または後のプラズマ酸化等により完全に酸化される膜厚(例えば0nmより大きく5nm以下)の微結晶シリコン膜もしくはアモルファスシリコン膜を形成し、前記微結晶シリコン粒または前記微結晶シリコン膜もしくはアモルファスシリコン膜に酸素を含むプラズマ処理またはプラズマ酸化を施すことにより、前記絶縁膜上に酸化シリコン粒57aまたは酸化シリコン膜を形成し、前記酸化シリコン粒または前記酸化シリコン膜の上に微結晶シリコン膜59を形成する微結晶シリコン膜の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】発光素子に、面内非均一な組成の量子井戸を有する自己組織化された量子ドットアクティベーション層を形成する発光素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】発光素子は、N型層と、P型層と、前記N型層と前記P型層の間に挟まれたアクティベーション層と、前記N型層と前記P型層の間に挟まれたアクティベーション層を受け入れる第1面を有する基板と、を含む。前記アクティベーション層は、少なくとも一つのインジウム含有量子井戸層を含んでおり、前記インジウム含有量子井戸層のインジウムの組成は、前記アクティベーション層を成長させる成長面において変動している。前記基板には、中実部と多孔質部が設けられ、前記多孔質部は、前記インジウム含有量子井戸層のエピタキシャル成長のとき、温度を前記成長面に沿って変動させて、前記インジウム含有量子井戸層のインジウムの組成を変動させるように構成された孔を含む。 (もっと読む)


【課題】立方晶炭化ケイ素と格子定数が異なるシリコン基板上に、結晶欠陥が少なくかつ高品質の立方晶炭化ケイ素膜を有する立方晶炭化ケイ素膜付き基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の立方晶炭化ケイ素膜付き基板1は、シリコン基板2の表面2aに立方晶炭化ケイ素膜3が形成され、このシリコン基板2の立方晶炭化ケイ素膜3との界面近傍に、シリコン基板2の表面2aから内部に向かって漸次縮小する略四角錐状の空孔4が多数形成されている。 (もっと読む)


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