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Fターム[5F157CF72]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 構成要素の配置 (451)

Fターム[5F157CF72]に分類される特許

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【課題】ナノバブル水(ゼータ高電位水)の生成に適用される気体溶解液生成装置を提供する。
【解決手段】気体溶解液生成装置は、気体と液体とを混合する気液混合部101と、この気体を含む液体が流入し、この液体中に含まれる気体をマイクロバブルに変換するマイクロバブル生成部104と、このマイクロバブルを含む液体が流入し、この液体中に含まれるマイクロバブルをナノバブルに変換するナノバブル生成部105と、このナノバブルを含む液体を、気液混合部、マイクロバブル生成部、及びナノバブル生成部を介して循環させることで、この液体中の気体溶解濃度を高める循環機構201とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板の上面側からガスを供給するとともに基板の下面側から処理液を供給し、供給された処理液により基板の下面を処理する液処理装置において、トッププレートの位置を精度良く位置決めすることができる液処理装置及び液処理方法を提供する。
【解決手段】基板Wの上面側からガスを供給するとともに基板Wの下面側から処理液を供給し、供給された処理液により基板Wの下面を処理する液処理装置22において、上面に開口105を有する処理容器100と、処理容器100内に設けられ、基板Wの周縁部WEを支持する支持部70、72と、昇降可能に設けられ、下降した状態で開口105を塞ぐ天板部110と、天板部110が下降する際に、処理容器100に対する天板部110の相対位置を所定の位置に位置決めする位置決め機構130とを有する。 (もっと読む)


【課題】保持したワークに加工や処理を施した際に、摩擦による静電気発生が抑えられてワークに電荷が溜まりにくく帯電量を小さくし、静電破壊を抑制する。
【解決手段】ワーク1を支持する支持面421に負圧を伝達する多孔質体からなる吸着部42と、絶縁性を有する部材で形成された枠体41とを有するワーク支持部40と、ワーク支持部40を回転可能に支持する回転支持部50と、回転支持部50とワーク支持部40との間に形成された軽量化空間43と、吸着部42と負圧を発生させる負圧源80とを連通させる吸引経路70Aとを有し、吸引経路70Aは軽量化空間43と連通しない構成とする。ワーク支持部40を厚くして絶縁距離を大きくして帯電を抑えることができ、軽量化空間43を有することから重量増を招かない。 (もっと読む)


【課題】装置の大型化および複雑化や消費電力の増大などを回避しつつ検査等の処理に要求される環境を得る。
【解決手段】FPD検査装置1は、ワークWを搬送する搬送ステージ14〜16と、搬送ステージ14〜16上を移動するワークWに検査ラインL15(処理部)で検査する検査ユニット10と、搬送ステージ14〜16と検査ユニット10とを収容する搬送部外装17および19ならびに検査部外装18と、外装(17〜19)内にクリーンエアを送出するFFU101と、FFU101から送出されたクリーンエアを検査ユニット10に導く風洞Cと、を備える。 (もっと読む)


【課題】異種金属が露出した基板表面の洗浄において卑金属の溶解を防止する。。
【解決手段】基板保持台26に保持された基板24表面の周縁部の上方にノズル21を配置し、カーボン電極23Aを通じて電圧発生装置29により電圧を印加された薬液213をノズル21から基板24表面の周縁部に供給する。次に、薬液213をノズル21から供給しながら、基板24表面の中央部の上方にノズル21を移動させた後、薬液213をノズル21から基板24表面の中央部に供給する。 (もっと読む)


【課題】パターン倒れや汚染の発生を抑えつつ被処理基板を乾燥することの可能な基板処理装置等を提供する。
【解決手段】載置部42には、パターンの形成された面を上面として、当該上面が液体により濡れた状態で被処理基板Wが横向きに載置され、基板搬送機構41は、載置台42からこの被処理基板Wを受け取って、液槽32内の液体中に浸漬するにあたり、前記パターンの形成領域の上端が当該液体に接触した時点において、このパターン形成領域の上端の板面に液体が残るように当該被処理基板Wを縦向きの状態に変換してから液体に浸漬する。処理容器31では、この液槽32を内部に格納した状態で、当該液槽32内の液体を超臨界状態の流体に置換することにより、被処理基板Wを乾燥する処理が行われる。 (もっと読む)


【課題】異物除去の効率を向上できる超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄装置1は、超音波を発する振動子11と、紫外線を通過する材料により形成され、振動子11が発する超音波を、異物と化学反応する機能水3によって覆われた基板表面2aに対して、基板表面2aに対向するように配置されたホーン底部13から伝達するホーン部12と、ホーン部12の内部に配置され、UV光を発光するUV光源20とを備える。 (もっと読む)


【課題】ノズルを移動しながら基板を処理することができ、かつ、密閉チャンバの内部空間の狭空間化を図ることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】密閉チャンバ2は、密閉された内部空間を区画する隔壁9を有している。密閉チャンバの内部空間でウエハWが保持される。密閉チャンバ2には、移動ノズルとしての形態を有する処理液ノズル4が設けられている。処理液ノズル4を支持するノズルアーム15は、隔壁9に形成された通過孔14を介して密閉チャンバ2の内外に跨って延びている。このノズルアーム15は、密閉チャンバ2外に配置された直線駆動機構36によって駆動されるようになっている。隔壁9とノズルアーム15の外表面との間は、第3シール構造によってシールされるようになっている。 (もっと読む)


【課題】パーティクルの排出を制御できるバルブを提供すること。
【解決手段】バルブ11は、流入口15、排出口16、および吐出口17を含む。排出口16は、第1流路18、20によって流入口15に接続されている。吐出口17は、第2流路19によって第1流路18、20に接続されている。第2流路19は、流入口15と排出口16との間に設けられた接続位置CP1において第1流路18、20に接続されている。第2流路19は、第1弁体25が第1アクチュエータ24によって移動されることにより開閉される。また、絞り部37は、接続位置CP1よりも排出口16側において第1流路18、20に設けられている。絞り部37は、吐出口17および第2流路19の流路面積よりも小さい流路面積を有している。 (もっと読む)


【課題】基板の清浄度を高めることができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】第1処理室8および第2処理室9は、それぞれ、第1処理空間S1および第2処理空間S2を区画している。第2処理空間S2は、第1処理空間S1内に設けられ、第1処理空間S1に通じている。スピンチャック10に保持された基板Wは、チャック昇降機構36によって第1処理空間S1または第2処理空間S2に配置される。処理液供給機構12は、第2処理空間S2で基板Wに処理液を供給する。第1処理空間S1および第2処理空間S2の気圧は、排気機構23およびFFU24によって、第1処理空間S1の気圧が第1処理空間S1の外の気圧よりも高く、第2処理空間S2の気圧が第1処理空間S1の気圧よりも低くなるように制御されている。 (もっと読む)


【課題】ティーチング作業を軽減することができるとともに、より正確なティーチングを実現することができる基板処理装置のためのティーチング方法を提供すること。
【解決手段】透明シート30がノズル3に取り付けられる。このとき、透明シートの基準線上にノズル3が位置する。スピンベース6の上面には、模様シート50が貼着される。スピンベース6が鉛直軸線まわりに回転される。スピンベース6の上面16に、回転中心BCを中心とする同心円パターン52が表れる。回転中のスピンベース6の上面16の上方を、ノズル3および透明シート30が軌道に沿って移動する。透明シート30の縞パターンが同心円パターン52に重なると、線対称のモアレパターンが表れる。カメラによって撮像された画像に含まれるモアレパターンの対称軸が基準線に一致した時、ステッピングモータの回転量が取得される。 (もっと読む)


【課題】エピタキシャル成長前の表面処理(エッチング処理、洗浄処理、乾燥処理)において、半導体ウェハの表面パーティクル数が増大するのを効果的に抑制し、表面パーティクル数が少ない半導体ウェハを実現できる技術を提供する。
【解決手段】ウェハカセットを、当該ウェハカセットの前面を構成する前方支持体と、前方支持体に対向配置され、当該ウェハカセットの背面を構成する後方支持体と、収容される半導体ウェハを下方に案内する上溝部を有し、前方支持体と後方支持体を上部で連結する上側部フレームと、上溝部に対応して設けられ、収容される半導体ウェハを支持する下溝部を有し、前方支持体と後方支持体を下部で連結する下側部フレームとを備えた構成とする。上側部フレームと下側部フレームの間が開口し、側部周縁が開放された状態で半導体ウェハを収容可能となっている。 (もっと読む)


【課題】基板上面の周縁部における処理幅を精密に制御することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】ウエハWはスピンチャックにより水平姿勢で保持されている。スピンチャックに保持されたウエハWの下面の中央部には、下ノズル6からの処理液が供給される。下下ノズル6は、ウエハWの下面から間隔G1を隔てて対向する上面52を有している。上面52には、処理液吐出口6aが形成されている。ウエハWを回転させつつ、処理液吐出口6aから処理液を吐出すると、その吐出された処理液によって、ウエハWの下面と下ノズル6の上面52との間の空間53が液密状態にされる。ウエハWの下面に接液する処理液は、ウエハWの回転による遠心力を受けて回転半径外方側へと広がり、ウエハWの周端面102から上面に回り込む。 (もっと読む)


【課題】パターンの間隙内部に入り込んだ液体を凝固させることでパターンを構造的に補強した状態で基板表面を物理洗浄する基板処理方法および装置において、パーティクル等の除去効率をさらに高める。
【解決手段】 基板保持手段11に保持され、所定のパターンFPが形成され液体としてのDIWが付着した基板Wの表面Wfに対し、第一処理液供給手段25から第一処理液としてのHFE液を供給し、パターンFPの間隙内部にDIWを残留させながら液体を基板表面から除去するとともに処理液の液膜を形成する。その後、凝固手段31から基板裏面Wbに凍結用の窒素ガスを吐出して、パターンFPの間隙内部に残留させたDIWを凝固させ、パターンFPの間隙内部に凝固体を形成する。その状態で、第一処理液であるHFE液の液膜の上に第二処理液としてのDIWの液膜を形成し、DIWの液膜に対し超音波洗浄手段17により超音波振動を付与して洗浄を行う。 (もっと読む)


【課題】高純度な処理液を基板に供給することができる処理液供給装置および処理液供給方法を提供する。
【解決手段】処理液供給装置3は、鉛直方向に沿って配置され、下端部の径が小さくなるように形成された円筒状の処理液容器8を備える。処理液容器8の内部には処理液が貯留され、下端部は処理液が吐出される処理液吐出口12となっている。処理液容器8の上部には、配管13が接続されており、配管13を介して負圧源としての真空装置(図示せず)が接続され、配管13には処理液容器8内に気体(たとえば大気)を導入するための気体導入配管14が分岐接続されている。処理液容器8に貯留された処理液は、処理液容器8に気体を導入することによって重力落下により基板Wに吐出され、処理液容器8への気体の導入を停止することによって処理液の吐出が停止される。 (もっと読む)


【課題】基板の表面や裏面を均一に処理することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】洗浄液CLを循環させるとともに洗浄液CLにDIWの液滴LDを供給して凝固させて新たな氷粒IGを生成し、洗浄液CL中に混合させている。したがって、氷粒IG同士が結合するのを抑制しながら洗浄液CL中に氷粒IGを均一に分散させることができる。そして、この洗浄液CLにより基板の表面や裏面を洗浄しているため、洗浄液CLの氷粒IGが基板に対して均一に作用して基板の表面や裏面を均一に処理することができる。 (もっと読む)


【課題】薬液処理後の基板を水洗処理する場合に、純水の使用量を節減するとともに排液量を少なくすることができ、また処理時間を短縮し、さらに装置全体の省スペース化と製造コストの低減化が達成できる基板洗浄処理装置を提供する。
【解決手段】薬液処理後の基板Wに対し水洗処理を行う水洗処理室10が、基板搬送方向において置換水洗領域201、水洗領域202および直水洗領域203にこの順に画定され、置換水領域201内に、入口ノズル16と、高圧ノズル18と、強制排出ノズル100と、エアーノズル22と、がそれぞれ配設される。置換水洗領域201内へ基板Wが搬入される前に入口ノズル16、高圧ノズル18および強制排出ノズル100からの洗浄水の吐出を開始し、置換水洗領域201内から基板Wが搬出された後に入口ノズル16、高圧ノズル18および強制排出ノズル100からの洗浄水の吐出を停止するように制御する。 (もっと読む)


【課題】フォトレジストを除去するための溶液を均一に混合して定量を基板に提供する。
【解決手段】薬液供給ユニットは本体、第1供給管、第2供給管、及び回転防止部材を含む。本体は薬液を受け入れる円形断面を有する内部空間及び内部空間と連結されて薬液を下方に吐き出す吐出口を有する。第1供給管は本体の側面に備わって内部空間と接線形態で連結され、第1薬液が内部空間に沿って回転するように第1薬液を内部空間に供給する。第2供給管は本体を貫通して本体の中心側と隣接する端部を有し、第1薬液と混合するように第2薬液を内部空間に供給する。回転防止部材は吐出口に配置し、第1薬液と第2薬液の混合薬液が回転しながら吐き出すことを防ぐために混合薬液の回転を減少させる。 (もっと読む)


【課題】薬液の溶存酸素を低減して基板の処理効率を向上させるとともに信頼性を向上させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明による基板処理装置1は、基板Wを処理する処理部10と、薬液を貯留する薬液貯留容器20と、薬液貯留容器20から処理部10に薬液を供給する薬液供給駆動部23と、薬液貯留容器20に貯留され薬液を循環する循環ライン30と、循環ライン30に設けられた混合体生成部31とを備えている。混合体生成部31には、不活性ガス供給源40により不活性ガスが供給されるようになっている。混合体生成部31は、薬液貯留容器20から供給される薬液と、不活性ガス供給源40から供給される不活性ガスとを混合して気液混合体を生成するようになっている。 (もっと読む)


【課題】半導体基板からの剥離物(例えば、レジストや金属膜)等が周囲の飛散防止カバーに付着するのを効果的に防止する半導体基板の処理装置を提案する。
【解決手段】半導体基板11を保持する基板保持部材12と、これの回転駆動手段14と、半導体基板11に処理流体を噴射するノズル15と、基板保持部材12の周囲に設けられた飛散防止カバー16とを有する半導体基板の処理装置10において、飛散防止カバー16の内側上部に、シャワーヘッダー17を設け、飛散防止カバー16の下方には、不要物30を回収する取り外し式のメッシュ籠29を備えている。 (もっと読む)


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