説明

容器の印刷物又は貼付ラベルを入力した入力画像と予め登録してあるマスタ画像を照合する画像処理方法

【課題】 流通業界の在庫管理や製造業の品質管理に役立てるように、対象画像データを粗くして相関係数を算出し、さらに候補の場所を細かく相関係数の計算を行っていたが、照合完了までの処理時間が長く、かつ誤差率も小さくなかった。
【解決手段】 入力装置で容器表面をスキャニングして256階調の画像データを取り込み、メモリに展開する。さらに、不要部分を削除したうえで、粗い濃度差分や濃度比較によるマッチング、および粗い2次元変化量の比較によるマッチング等を行って予め登録してあるマスタ画像との照合を迅速に行い、かつ誤差率を低下させる。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、流通業界の在庫管理や製造業の品質管理に利用できる発明に関する。
【背景技術】
【0002】
対象画像データを粗くして相関係数を算出し、さらに、候補の場所を細かく相関係数の計算を行っていた。
【特許文献1】特開平6−160047号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
照合完了までの処理時間を従来技術より早くすること。
【課題を解決するための手段】
【0004】
以下に記す4つの手段で照合処理を実施した。
(1)画像入力→メモリに展開→不要部分の削除→粗い濃度差分のマッチング→相関係数を算出し照合する。
(2)画像入力→メモリに展開→不要部分の削除→粗い濃度比較によるマッチング→相関係数を算出し照合する。
(3)画像入力→メモリに展開→不要部分の削除→粗い2次元変化量の比較によるマッチング→相関係数を算出し照合する。
(4)画像入力→メモリに展開→不要部分の削除→2値化による粗い2次元変化量の比較によるマッチング→相関係数を算出し照合する。
【発明の効果】
【0005】
容器表面の印刷物又は貼付ラベルをスキャンして得た入力画像を予め登録してあるマスタ画像と照合し、照合完了までの処理時間を従来技術よりも早くすると共に照合の誤認率を低くさせて、流通業界の在庫管理や製造業の品質管理に役立てることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0006】
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。 図1は、本発明の照合装置の構成を示すブロック図である。
【0007】
統括制御部3を中心とし、画像データを展開しておくメモリ5、予め登録した画像データ(マスタ画像)を格納しておく外部記憶装置6、結果や情報を表示するCRT4、容器7から画像データ8(入力画像)を取り込むための入力装置1、および画像入力部2から構成される。
【実施例1】
【0008】
(1)容器7を回転させながら、入力装置1で容器表面をスキャンし、濃淡画像データ(256階調)の画像入力部2に取り込む。統括制御部3は、画像入力部2から画像データを読み込みメモリ5に展開する。
(2)メモリ5に展開した入力画像は、図1−1に示すように照合対象外9の部分を含んでいるので、この部分を除去する。照合対象外部分の除去は、図1−1に示す入力画像の1ラインの全画素の濃度値が任意の範囲に収まっている時に、そのラインを不要と判定することでおこなう。また、照合対象部分のラインの濃度は複数個の画素が任意の範囲に収まらないので不要と判定しない。不要と判定したラインを除去することにより、ラベル部分8だけが残った入力画像となる。
【0009】
請求項1に記載の「照合対象外の部分を除去する方法」を、図1−2に示す「入力画像の例」と、図1−3に示す「照合対象外部分の除去処理フローチャート」を用いて説明する。
【0010】
図1−2において、入力画像は横方向40画素(40列)、縦方向23画素(23ライン)によって構成されている。また〔ライン毎の集計結果を格納する集計配列〕は、各ライン毎に濃度値の比較をおこなった結果(カウント値)を格納する集計配列である。
【0011】
次に、照合対象部分(図1−2に示す9)の除去処理方法を、図1−3に示すフローチャートを用いて説明する。
まず、ライン毎の集計結果を格納する集計配列を0でクリアする。(ステップS1)
ラインを示すインデックスpに1をセットする。(ステップS2)
列を示すインデックスqに1をセットする。(ステップS3)
pラインのq画素目の濃度値とpラインのq+1画素目の濃度値の差の絶対値が5以下か判定する。(ステップS4)差の絶対値5は任意である。
(ステップS4)の判定結果がYesのときは(ステップS5)に進み、集計配列のpラインのカウント値を+1し、(ステップS6)へ進む。
(ステップS4)の判定結果がNoのときは(ステップS6)へ進む。
(ステップS6)で列を示すqを+1し、qが横方向の画素数−1以下であれば(ステップS4)へ戻る。qが横方向の画素数−1より大であれば(ステップS8)へ進む。(ステップS7)
(ステップS8)でラインを示すpを+1し、pが縦方向の画素数以下であれば(ステップS4)へ戻る。pが縦方向の画素数より大であれば(ステップS10)へ進む。(ステップS9)
ラインを示すインデックスpに1をセットする。(ステップS10)
集計配列のpラインのカウント値が、横方向の画素数の98%以上か判定する。(ステップS11) なお、この98%は任意である。
判定がYesのときは(ステップS12)へ進む。Noのときは(ステップS13)へ進み、入力画像の1ラインめからp−1ラインめを除去し、(ステップS15)へ進む。(ステップS14)
(ステップS12)でpを+1し、pが縦方向の画素数の1/2より小であれば(ステップS11)へ戻る。pが縦方向の画素数の1/2以上であれば(ステップS15)へ進む。
ラインを示すインデックスpに最下段のライン番号をセットする。(ステップS15)
集計配列のpラインのカウント値が、横方向の画素数の98%以上か判定する。(ステップS16) なお、この98%は任意である。
判定がYesのときは(ステップS17)へ進む。Noのときは(ステップS18)へ進み、入力画像の最下段のラインからp+1ラインめを除去し、終了する。
(ステップS17)でpを−1し、pが縦方向の画素数の1/2より大であれば(ステップS16)へ戻る。pが縦方向の画素数の1/2以下であれば終了する。(ステップS19)
【0012】
(3)次に、請求項2に記載の「濃度差分の比較による照合方法」を、図1−4と図1−5を用いて説明する。
図1−4は「画像データを8画素跳びに抽出した画素からなる縮小画像」である。この実施例では、8画素跳びに抽出したが、画素跳びの数は任意である。図1−4の斜め稿の画素部分が8画素跳びで抽出した場所である。
【0013】
図1−5は、マスタ画像を上述の方法で縮小した〔縮小マスタ画像S〕および入力画像を縮小した〔縮小入力画像D〕である。
【0014】
濃度差分の算出は次のようにおこなう。
縮小マスタ画像S(サイズ縦m、横n画素)と、縮小入力画像D(サイズ縦M、横N画素)の濃度差分をdifとする。
【数1】

(縮小入力画像D(k,l):k=0,1,2,・・・N−n、l=0,1,2,・・・・M−n)
濃度差分の比較による照合方法は、まず、縮小入力画像Dの原点(0,0)から順次、座標をずらしながら縮小マスタ画像Sとの濃度差分を算出していき、濃度差分の変化のピークとなる座標(濃度差分の変化が小→大となる座標)を保存する。座標が(N−n,M−n)まで進んだら、濃度差分の算出は終了する。
(4)次に保存した座標を一つ取り出し、元の入力画像の座標に変換し、その座標を中心にした縦16画素、横16画素の範囲で、マスタ画像と入力画像の相関係数を算出する。なお、この16画素四方の範囲は任意である。相関係数が最大値となった座標と相関係数を、最も一致した候補として保存する。保存してある残りの座標についても同様の処理を行い、最も一致した候補として保存していく。
(5)次に、最も一致した候補の中から、最大の相関係数を求め、その相関係数の座標をマスタ画像と入力画像の一致した位置とする。
【実施例2】
【0015】
(1)画像入力部2から画像データを読み込みメモリ5に展開する。(実施例1と同じ)
(2)メモリ5に展開した入力画像は、照合対象外9の部分を含んでいるので、この部分を除去する。(実施例1と同じ)
(3)次に、請求項3に記載の「濃度分布の比較による照合方法」を、図2−1を用いて説明する。
この実施例では、8画素跳びに画像を抽出したが、画素跳びの数は任意である。(実施例1と同じ)
【0016】
(4)図2−1は、マスタ画像を上述の方法で縮小した〔縮小マスタ画像S〕および入力画像を縮小した〔縮小入力画像D〕と、それぞれの濃度分布である。
縮小入力画像Dの濃度分布の算出は次のように行う。
縮小マスタ画像S(サイズ縦m、横n画素)と縮小入力画像D(サイズ縦M、横N画素)とした場合、縮小入力画像Dの中で、縦m画素、横n画素のエリアの濃度分布を求める。
濃度分布の比較による照合方法は、まず縮小入力画像Dの原点(0,0)から順次、座標をずらしながら濃度分布を求め、縮小マスタ画像Sの濃度分布との差を算出していく。各濃度分布の差が任意に設定した許容範囲(請求項5参照)より小さい値が出現したら、その座標を保存する。座標が(N−n,M−n)まで進んだら、濃度分布の比較は終了する。
【0017】
(5)ここで、特徴量の算出を差分データと前回算出した特徴量から計算して処理時間を短縮する。
請求項4に記載の「差分データ群のみの計算により計算回数を減らす方法」を図2−2を用いて説明する。
前述の縮小入力画像Dで各点の特徴量(濃度分布)を求める時、次エリアの特徴量の算出は次のように行う。
前回の特徴量(濃度分布)をHo、今回求める特徴量(濃度分布)をHn、前回の特徴量(濃度分布)Hoの最前列部分の特徴量(濃度分布)をhf、今回求める特徴量(濃度分布)Hnの最後列部分の特徴量(濃度分布)をhbとすると次のように表せる。
Hn=Ho−hf+hb
図2−2に示したように、前述の縮小入力画像Dの一部から次のエリアの特徴量を算出する。
【0018】
(6)次に照合結果の座標の数(候補数)が一定数以上になる許容範囲を選定する。
請求項5に記載の「候補数が一定数以上になる許容範囲の選定方法」を表1を用いて説明する。
マスタ画像と入力画像の照合処理で検出された座標の数(候補数)が一定数以上となる許容範囲の選定方法は任意の許容範囲での座標群をあらかじめ検出しておき、候補数が一定数以上となる許容範囲を選ぶ。
【表1】

例として、表1に入力画像4種類A,B,C,Dとマスタ画像の照合を行った結果が示してある。例えば候補数が10件以上存在する許容範囲は、表1から入力画像Aの場合、6%、Bは10%、Cは11%、Dは10%となる。この許容範囲内の座標群を保存する。
【0019】
(7)次に保存した座標を一つ取り出し、元の入力画像の座標に変換し、その座標を中心にした縦16画素、横16画素の範囲で、マスタ画像と入力画像の相関係数を算出する。なお、この16画素四方の範囲は任意である。相関係数が最大値となった座標と相関係数を、最も一致した候補として保存する。保存してある残りの座標についても同様の処理を行い、最も一致した候補として保存していく。(実施例1と同じ)
(8)次に、最も一致した候補の中から、最大の相関係数を求め、その相関係数の座標をマスタ画像と入力画像の一致した位置とする。(実施例1と同じ)
【実施例3】
【0020】
(1)画像入力部2から画像データを読み込みメモリ5に展開する。(実施例1と同じ)
(2)メモリ5に展開した入力画像は、照合対象外9の部分を含んでいるので、この部分を除去する。(実施例1と同じ)
(3)次に、請求項6に記載の「2次元濃度変化量の比較による照合方法」を、図3−1、図3−2を用いて説明する。
この実施例では、8画素跳びに画像を抽出したが、画素跳びの数は任意である。(実施例1と同じ)
【0021】
(4)図3−1は「多値画像の2次元濃度変化量の検出方法」である。
画像の2次元濃度変化量の検出方法は以下のように行う。
(a) 図3−1の平均濃度X、平均濃度の1/4を求める。この値が変化点の閾値αとなる。
(b) まず、横方向に隣り合った画素同士の濃度差を求め、この値が閾値αより大きい時にカウントアップして、1ライン内で閾値α以上となった変化点の数を求める。
(c) 同様にして、縦方向についても隣り合った画素同士の濃度差が閾値α以上となる個数を各縦ライン毎にカウントしていく。
(d) (b),(c)で算出した変化点の数が2次元濃度変化量である。
【0022】
(5)図3−2は「2次元濃度変化量の比較による照合方法」であり、図1−5の方法で縮小した〔縮小マスタ画像S〕および入力画像を縮小した〔縮小入力画像D〕と、それぞれの2次元濃度変化量である。
縮小マスタ画像S(サイズ縦m、横n画素)と縮小入力画像D(サイズ縦M、横N画素)とした場合、まず縮小入力画像Dの原点(0,0)から順次、座標をずらしながら2次元濃度変化量を求め、縮小マスタ画像Sの2次元濃度変化量との差を算出していき、各濃度変化量の差が任意に設定した許容範囲(請求項5参照)より小さい値が出現したら、その座標を保存する。座標が(N−n,M−n)まで進んだら、2次元濃度変化量の比較は終了する。
【0023】
(6)ここで特徴量の算出を差分データと前回算出した特徴から計算して処理時間を短縮する。(実施例2と同じ)
(7)照合結果の座標が一定数以上になる許容範囲を選定する。(実施例2と同じ)
(8)次に保存した座標を一つ取り出し、元の入力画像の座標に変換し、その座標を中心にした縦16画素、横16画素の範囲で、マスタ画像と入力画像の相関係数を算出する。なお、この16画素四方の範囲は任意である。相関係数が最大値となった座標と相関係数を、最も一致した候補として保存する。保存してある残りの座標についても同様の処理を行い、最も一致した候補として保存していく。(実施例1と同じ)
(9)次に、最も一致した候補の中から、最大の相関係数を求め、その相関係数の座標をマスタ画像と入力画像の一致した位置とする。(実施例1と同じ)
【実施例4】
【0024】
(1)画像入力部2から画像データを読み込みメモリ5に展開する。(実施例1と同じ)
(2)メモリ5に展開した入力画像は、照合対象外9の部分を含んでいるので、この部分を除去する。(実施例1と同じ)
(3)次に、請求項6に記載の「画像の2値化による2次元濃度変化量の比較による照合方法」を、図4−1、図4−2を用いて説明する。
なお、この実施例では、8画素跳びに画像を抽出したが、画素跳びの数は任意である。(実施例1と同じ)
【0025】
(4)図4−1は「2値画像の2次元濃度変化量の検出方法」である。
画像の2次元濃度変化量の検出方法は以下のように行う。
(a) 画像のヒストグラムから閾値を決定し、画像を2値化する。
(b) 横方向に隣り合った画素の濃度差が0→1または1→0へ変化した数をカウントし、1ライン内の変化点の数を求める。
(c) 同様にして、縦方向についても隣り合った画素の濃度差が0→1または1→0へ変化点を各縦ライン(12ライン)毎にカウントしていく。
(d) (b),(c)で算出した変化点の数が2次元濃度変化量である。
【0026】
(5)2次元濃度変化量による照合を行う。(実施例3と同じ)
(6)ここで特徴量の算出を差分データと前回算出した特徴から計算して処理時間を短縮する。(実施例2と同じ)
(7)照合結果の座標が一定数以上になる許容範囲を選定する。(実施例2と同じ)
(8)次に保存した座標を一つ取り出し、元の入力画像の座標に変換し、その座標を中心にした縦16画素、横16画素の範囲で、マスタ画像と入力画像の相関係数を算出する。なお、この16画素四方の範囲は任意である。相関係数が最大値となった座標と相関係数を、最も一致した候補として保存する。保存してある残りの座標についても同様の処理を行い、最も一致した候補として保存していく。(実施例1と同じ)
(9)次に、最も一致した候補の中から、最大の相関係数を求め、その相関係数の座標をマスタ画像と入力画像の一致した位置とする。(実施例1と同じ)
【図面の簡単な説明】
【0027】
【図1】照合装置の構成を示すブロック図。
【図1−1】入力対象物のスキャニング画像。
【図1−2】入力対象物のスキャニング画像の例。
【図1−3】照合対象外部分の削除処理のフローチャート。
【図1−4】8画素跳びに1画素抽出した画像。
【図1−5】濃度差分の比較による照合方法の説明図。
【図2−1】濃度分布の比較による照合方法の説明図。
【図2−2】差分による特徴量の算出方法の説明図。
【図3−1】多値画像の2次元濃度変化量の検出方法の説明図。
【図3−2】2次元濃度変化量の比較による照合方法の説明図。
【図4−1】2値画像の濃度変化量の検出方法の説明図。
【符号の説明】
【0028】
1 入力装置
2 画像入力部
3 統括制御部
4 CRT
5 メモリ
6 外部記憶装置
7 容器
8 ラベル
9 照合対象外
10 照合対象部
11 縦サイズ分の集計結果を格納する集計配列

【特許請求の範囲】
【請求項1】
ラベルや印刷部のある容器表面をスキャンし、その濃淡画像を入力した時、入力画像のスキャン方向に対して上部と下部に存在するラベルや印刷部を含まない部分を取り除くようにしたことを特徴とする画像処理方法。
【請求項2】
入力画像と予め登録してあるマスタ画像の縮小画像を生成し、その縮小画像同士の濃度差分を求めることにより元の入力画像と予め登録してあるマスタ画像の一致する位置を検出して照合することを特徴とする画像処理方法。
【請求項3】
入力画像と予め登録してあるマスタ画像の濃度分布を求め、濃度分布の一致する位置を検出して照合することを特徴とする画像処理方法。
【請求項4】
入力画像から予め登録してあるマスタ画像サイズの特徴量を移動しながら求める時、差分データ群と前回算出した特徴量を使い、次回の特徴量を算出するときの計算回数を減らすようにしたことを特徴とする画像処理方法。
【請求項5】
入力画像と予め登録してあるマスタ画像を照合して得られた結果群の数となる候補数が一定数以上となる許容範囲を選定することを特徴とした画像処理方法。
【請求項6】
入力画像と予め登録してある多値画像のマスタ画像の2次元濃度変化量を求め、この変化量が一致する位置を検出して照合することを特徴とする画像処理方法。
【請求項7】
入力画像と予め登録してある多値画像のマスタ画像を2値化し2次元濃度変化量を求め、この変化量が一致する位置を検出して照合することを特徴とする画像処理方法。

【図1】
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【図1−1】
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【図1−2】
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【図1−3】
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【図1−4】
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【図1−5】
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【図2−1】
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【図2−2】
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【図3−1】
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【図3−2】
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【図4−1】
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【公開番号】特開2006−185294(P2006−185294A)
【公開日】平成18年7月13日(2006.7.13)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2004−379734(P2004−379734)
【出願日】平成16年12月28日(2004.12.28)
【出願人】(000210964)中央電子株式会社 (81)
【Fターム(参考)】