微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置
【課題】ムラのない観察画像を得ることが可能な微細パターン修正装置を提供する。
【解決手段】この微細パターン修正装置では、ガラス定盤9を、各々が水平方向に移動可能に設けられた2枚の副ガラス定盤10,11に分割する。観察位置Pの下に副ガラス定盤11のリフタピン孔22がある場合は、副ガラス定盤11を移動させてそのリフタピン孔22を観察位置Pから離間させる。したがって、リフタピン孔22などに起因する観察画像のムラを無くすことができる。
【解決手段】この微細パターン修正装置では、ガラス定盤9を、各々が水平方向に移動可能に設けられた2枚の副ガラス定盤10,11に分割する。観察位置Pの下に副ガラス定盤11のリフタピン孔22がある場合は、副ガラス定盤11を移動させてそのリフタピン孔22を観察位置Pから離間させる。したがって、リフタピン孔22などに起因する観察画像のムラを無くすことができる。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は微細パターンを透過光によって観察する微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置に関し、特にLCD(液晶ディスプレイ)用カラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を観察するための微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、LCD(液晶ディスプレイ)の大型化、高精細化に伴い画素数も増大し、LCDを無欠陥で製造することは困難となり、欠陥の発生確率も増加してきている。このような状況下において歩留まり向上のために、LCDのカラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を修正する微細パターン修正装置が生産ラインに不可欠となってきている。
【0003】
図11(a)〜(c)は、LCDのカラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を示す図である。図11(a)〜(c)において、カラーフィルタは、透明基板と、その表面に形成されたブラックマトリクス50と呼ばれる格子状のパターンと、複数組のR(赤色)画素51、G(緑色)画素52、およびB(青色)画素53とを含む。カラーフィルタの製造工程においては、図11(a)に示すように画素やブラックマトリクス50の色が抜けてしまった白欠陥54や、図11(b)に示すように隣の画素と色が混色したり、ブラックマトリクス50が画素にはみ出してしまった黒欠陥55や、図11(c)に示すように画素に異物が付着した異物欠陥56などが発生する。
【0004】
白欠陥54を修正する方法としては、インク塗布機構により、白欠陥54が存在する画素と同色のインクを塗布針の先端部に付着させ、塗布針の先端部に付着したインクを白欠陥54に塗布して修正する方法がある(たとえば特許文献1参照)。また、黒欠陥55や異物欠陥56を修正する方法としては、欠陥部分をレーザカットして矩形の白欠陥54を形成した後、インク塗布機構により、塗布針の先端部に付着したインクをその白欠陥54に塗布して修正する方法がある(たとえば特許文献2参照)。
【0005】
LDCのカラーフィルタの白欠陥54を修正する場合、白欠陥54がカラーフィルタのどの色部分に発生しているのかを観察する必要がある。また、白欠陥54に修正インクを塗布して修正した後にも、修正状態を確認するためにその部分を観察する必要がある。カラーフィルタの色を観察する場合、落射照明光観察ではカラーフィルタの色状態を観察することはできないので、透過照明光観察をする必要がある。従来は、カラーフィルタが形成された被修正対象ガラス基板をガラス定盤に搭載し、ガラス定盤の下方から透過照明光を照射し、ガラス定盤の上方からカラーフィルタの色状態を確認していた。
【0006】
また、最近の液晶基板の大型化は目覚しく、製造工程におけるガラス基板サイズは、現状製造ラインのガラス基板サイズ(第5世代)で1000×1500mm、次期の第6世代では1500×1800mm、第7世代では1700×2000mmになると言われている。このようなガラス基板の大型化に伴い、微細パターン修正装置も大型化が必須となるが、単純に装置サイズを大きくすることは、クリーンルーム内での占有面積の関係で許されないため、装置構成を変更して装置サイズを極力小さくすることが必要となっている。これに伴い、ガラス基板が静止し、レーザ装置や観察光学系を搭載したヘッド部が移動するガントリー方式の装置が主流となってきている。
【0007】
ガントリー方式で透過照明光観察を実現するためには、ガラス定盤の下方に配置した透過照明光源をガラス定盤の上方に配置した観察光学系と同期して移動させる機構が必要となる。したがって、ガラス定盤の下に支持部材を配置することができず、ガラス定盤を周辺部でしか支持できないので、ガラス定盤の撓みや、ガラス定盤の破損を招く可能性が高くなる。
【0008】
そこで、ガラス定盤の裏面側に反射膜を形成し、ガラス定盤の表面側から照明光を出射し、反射膜で反射した光を用いて透過照明光観察を行なう方法が提案された(たとえば特許文献3参照)。この方法では、ガラス定盤が照明光を透過させる必要がないので、ガラス定盤の裏面全体を金属製架台で支持することが可能となり、ガラス定盤が撓んだり破損する可能性は低くなる。
【特許文献1】特開平9−236933号公報
【特許文献2】特開平9−262520号公報
【特許文献3】特開2006−38825号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
また、このような微細パターン修正装置では、省人化、修正の効率化を目的として修正の自動化が求められ、画像処理による欠陥の認識、修正後の状態観察が必要とされている。
【0010】
しかし、従来の透過照明観察方法では、観察画像にムラが発生する場合があった。すなわち、ガラス定盤には、被修正対象ガラス基板をロボットハンドから修正装置に受け取る時に使用する複数のリフタピンを通すための複数のリフタピン孔が形成されている。また、被修正対象ガラス基板をガラス定盤に吸着固定するための複数の溝や孔も形成されている。これらの孔や溝の影響で、観察位置によっては画像に若干のムラが発生する。このムラは、作業者がモニタを見て欠陥の有無などを判断する場合には許容されるレベルであるが、画像処理によって判断する場合には許容レベルを超えており、誤動作を招くという問題があった。
【0011】
それゆえに、この発明の主たる目的は、ムラのない観察画像を得ることが可能な微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0012】
この発明に係る微細パターン観察装置は、透明基板上に形成され、少なくとも部分的に光を透過させる微細パターンを観察する微細パターン観察装置であって、微細パターンを観察するための観察光学系と、透明基板に照明光を出射する光源と、透明基板を水平に支持する透明定盤とを備え、透明定盤は、各々が水平方向に移動可能に設けられた複数の副透明定盤に分割されていることを特徴とする。
【0013】
好ましくは、各副透明定盤には複数の孔が設けられており、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を水平方向に移動させ、その副透明定盤の孔を観察位置から離間させる駆動手段を備える。
【0014】
また好ましくは、駆動手段は、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を他の副透明定盤に対して相対的に下降させ、その副透明定盤と透明基板の間に隙間を開ける。
【0015】
また好ましくは、複数の副透明定盤のうちの選択されていない少なくとも1つの副透明定盤の複数の孔を介して透明基板を吸着し、その副透明定盤に透明基板を固定する真空吸着手段を備える。
【0016】
また好ましくは、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤の複数の孔を介して透明基板に気体を噴射し、その副透明定盤と透明基板の間に隙間を開ける気体噴射手段を備える。
【0017】
また好ましくは、各副透明定盤の裏面側に設けられ、光源から出射された照明光を反射させて微細パターンに照射する反射部材を備え、光源は副透明定盤の表面側から照明光を出射し、観察光学系は副透明定盤の表面側から微細パターンの透過照明光観察を行なう。
【0018】
また好ましくは、光源は副透明定盤の一方側から照明光を出射し、観察光学系は副透明定盤の他方側から微細パターンの透過照明光観察を行なう。
【0019】
また、この発明に係る微細パターン修正装置は、上記微細パターン観察装置と、微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0020】
この発明に係る微細パターン観察装置および微細パターン修正装置では、透明定盤は複数の副透明定盤に分割され、各副透明定盤は水平方向に移動可能に設けられている。したがって、観察位置の下方に副透明定盤のリフタピン孔などがある場合は、その副透明定盤を移動させることにより、リフタピン孔などを観察位置から離間させることができる。よって、ムラのない観察画像を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0021】
図1は、この発明の一実施の形態による微細パターン修正装置の全体構成を示す斜視図である。図1において、この微細パターン修正装置では、レーザ装置1、観察光学系2、リング照明器3、およびインク塗布機構4がZ軸テーブル5に固定されていて、Z軸テーブル5はZ軸方向(上下方向)に移動可能に設けられている。Z軸テーブル5はX軸テーブル6上においてX軸方向(横方向)に移動可能に設けられている。X軸テーブル6は、Y軸テーブル7上においてY軸方向(横方向)に移動可能に設けられている。
【0022】
X軸テーブル6の下方には、被修正対象ガラス基板8を搭載するガラス定盤9が設けられている。ガラス定盤9は、各々がY軸方向に移動可能に設けられた2枚の副ガラス定盤10,11に分割されている。
【0023】
レーザ装置1は、被修正対象ガラス基板8上のカラーフィルタの白欠陥、黒欠陥、および異物欠陥にレーザ光を照射して矩形の白欠陥に変換したり、塗布した修正インクのうちの不要な部分にレーザ光を照射して除去する。観察光学系2は、欠陥部分を撮像し、撮像した画像をテレビモニタ(図示せず)に表示する。リング照明器3は、被修正対象ガラス基板8およびガラス定盤9に光を照射する。インク塗布機構4は、被修正対象ガラス基板8上のカラーフィルタの白欠陥に修正インクを塗布する。塗布した修正インクは、紫外線照明(図示せず)またはハロゲンランプ照明(図示せず)により光硬化または熱硬化される。
【0024】
レーザ装置1、観察光学系2、リング照明器3、およびインク塗布機構4はZ軸テーブル5に取付けられているので、被修正対象ガラス基板8の上に任意の高さに位置させることができ、かつZ軸テーブル5はX軸テーブル6およびY軸テーブル7上に載置されているため、被修正対象ガラス基板8に対してX軸方向およびY軸方向に任意の位置に移動できる。その他に、各機構を制御するための制御用コンピュータ(図示せず)と、装置全体を制御するためのホストコンピュータ(図示せず)とが設けられている。
【0025】
次に、このパターン修正装置の動作について説明する。X軸テーブル6およびY軸テーブル7をそれぞれX軸方向およびY軸方向に移動させ、かつZ軸テーブル5をZ軸方向に移動させ、観察光学系2によって被修正対象ガラス基板8上を撮像する。ホストコンピュータは、撮像した画像に基づいて、フィルタ欠陥の有無を判断する。また、撮像した画像はモニタに表示され、作業者は目視によってフィルタ欠陥の有無を判断する。
【0026】
フィルタ欠陥の存在を判別した場合は、欠陥部にレーザ光を照射して矩形の白欠陥に変換し、その白欠陥にインク塗布機構4によって修正インクを塗布し、硬化させる。硬化したインクによって不要部が生じた場合は、レーザ装置1から不要部にレーザ光を照射し、レーザ光の熱エネルギーで昇華または飛散させる。
【0027】
図2は、被修正対象ガラス基板8の透過照明光観察を行なう方法を示す図である。図2において、この微細パターン修正装置では、副ガラス定盤10,11の裏面に反射膜12を形成するとともに、ハロゲンランプ光を光ファイバにより導光し、その光の出射端であるリング照明器3を観察光学系2の対物レンズ13の周囲に配置している。リング照明器3から出射されたリング状の光は、対物レンズ13の光軸の1点に集束するようにされている。リング照明器3から出射されたリング状の光は、被修正対象ガラス基板8の被観察部の周辺領域および副ガラス定盤10または11を透過して反射膜12で反射され、副ガラス定盤10または11および被修正対象ガラス基板8の被観察部を透過して対物レンズ13に入射される。これにより、透過照明光観察が実現される。
【0028】
また、図3に示すように、副ガラス定盤10,11の各々には、被修正対象ガラス基板8を吸着して固定したり、エアを噴出して被修正対象ガラス基板8を浮上させるための溝14および小孔15が形成されている。溝14は、副ガラス定盤10,11の表面に所定のピッチで複数設けられている。孔15は、各溝14の底に形成され、溝14の長さ方向に所定のピッチで複数設けられている。図3では、対物レンズ13が副ガラス定盤10または11の小孔14の真上に位置した状態が示されている。この微細パターン観察装置では、副ガラス定盤10,11の各々の支持を裏面全体で行なうことが可能なため、副ガラス定盤10,11をそれぞれY軸テーブル16,17に搭載することができる。
【0029】
Y軸テーブル16,17には、副ガラス定盤10,11の小孔15に対応する位置に排気孔が形成されている。排気孔の上側開口部の周囲にはリング状の凹部が形成され、その凹部にリング状のゴムパッキン18が嵌め込まれている。複数の小孔15に対応する複数の排気孔は、Y軸テーブル16または17内で連通している。複数の排気孔のうちの1つの排気孔の下側開口部にはエア継手19が接合され、エア継手19はエアホース20の一方端に接続されている。エアホース20の他方端は、電磁バルブによって真空ポンプ(図示せず)またはエア供給装置(図示せず)に選択的に接続される。
【0030】
このような場合においても、エア継手19をX軸テーブル16または17に取り付けることができるため、副ガラス定盤10,11の裏面の反射膜12は、小孔15の部分のみが抜けるだけであり、リング照明器3から出射された光は、小孔15の周囲で反射され、透過照明光観察に十分な光量を確保することができる。ただし、画像には小孔15と溝14による若干のムラが発生する。このムラは、作業者が目視で観察する分には問題ないが、画像処理を行なう場合に誤動作の原因となる。
【0031】
また、図4に示すように、副ガラス定盤10,11には、被修正対象ガラス基板8を搬入排出する際にリフトアップするためのリフトアップ機構のリフタピン21を通すためのリフタピン孔22が形成されている。リフタピン21およびリフタピン孔22は、所定のピッチで複数設けられている。図4では、対物レンズ13がリフタピン孔22の真上に位置した状態が示されている。この微細パターン修正装置では、副ガラス定盤10,11の裏面に反射膜12を設けているが、リフタピン孔22の部分には反射膜12を形成することができない。そのため、リング照明器3から出射された光を十分反射することができない。そこで、リフタピン21の内部にLED照明光源23を配置し、リフタピン21の先端部から上方に向けて光を照射する。これにより、透過照明光観察に十分な光量を得ることができる。ただし、画像にはリフタピン孔22による若干のムラが発生する。このムラは、作業者が目視で観察する分には問題ないが、画像処理を行なう場合に誤動作の原因となる。
【0032】
そこで、この微細パターン修正装置では、図5(a)に示すように、ガラス定盤9を2つの副ガラス定盤10,11に分割する。副ガラス定盤10,11の各々は、図中Y方向に移動可能に設けられている。副ガラス定盤11の図中の上端部および左端部と副ガラス定盤10の図中の左端部とに合計3つの切欠部24が形成され、各切欠部24の中心に位置決めピン25が立設されている。被修正対象ガラス基板8は、その上辺と左辺が3本の位置決めピン25に当接されて副ガラス定盤10,11に搭載され、吸着固定される。
【0033】
被修正対象ガラス基板10の左上の角と右下の角にはアライメントマークM1,M2がそれぞれ設けられている。観察光学系2によって2つのマークM1,M2を撮像し、その撮像結果に基づいてX軸テーブル6およびY軸テーブル7の座標系を補正する。これにより、前段の検査装置からの欠陥の位置データに基づいて、観察光学系2などを欠陥の位置に移動させることが可能となる。
【0034】
図5(a)に示すように、観察光学系2の焦点である観察位置Pがリフタピン孔22の上端部にある場合は画像ムラが発生するので、図5(b)に示すように、副ガラス定盤11のみを図中の下方向に移動させてリフタピン孔22を観察位置Pから離間させる。これにより、画像ムラをなくすことができる。
【0035】
図6(a)〜(e)は、副ガラス定盤10,11を移動させる方法を例示する図である。図6(a)に示すように、副ガラス定盤10,11はそれぞれY軸テーブル16,17に搭載されている。Y軸テーブル16,17は、ホストコンピュータからの制御信号に従って、レール26に沿ってY方向に移動する。図5(b)に示したように、副ガラス定盤11を副ガラス定盤10の方に近付ける場合は、図6(b)に示すように、Y軸テーブル17をY軸テーブル16の方に移動させる。このとき、図6(c)に示すように、副ガラス定盤10の小孔15を介して被修正対象ガラス基板8を真空吸着し、被修正ガラス基板8を副ガラス定盤10に固定しておく。これにより、被修正対象ガラス基板8の位置は変化せず、被修正対象ガラス基板8に対する副ガラス定盤11のリフタピン孔22の位置が変化し、画像ムラが解消される。
【0036】
なお、図6(d)に示すように、移動させる副ガラス定盤11の小孔15を介して被修正対象ガラス基板8にエアを噴出し、副ガラス定盤11と被修正対象ガラス基板8の間に微小な隙間を開けることにより、被修正対象ガラス基板8に傷が付くのを防止することができる。
【0037】
また、図6(e)に示すように、Y軸テーブル10,11をそれぞれYZ軸テーブル27,28で置換し、移動させる副ガラス定盤11を下降させて副ガラス定盤11と被修正対象ガラス基板8の間に微小な隙間を開けることにより、被修正対象ガラス基板8に傷が付くのを確実に防止することができる。このとき、移動させる副ガラス定盤11の小孔14を介して被修正対象ガラス基板8に所定圧力のエアを噴出することにより、被修正対象ガラス基板8が撓むのを防止することができる。
【0038】
図7は、被修正対象ガラス基板8を副ガラス定盤10,11に吸着する真空吸着手段を例示するブロック図である。図7において、真空吸着手段は真空ポンプ30と電磁バルブ31,32を含む。真空ポンプ30の吸込口は、電磁バルブ31を介して副ガラス定盤10の小孔15群に接続されるとともに、電磁バルブ32を介して副ガラス定盤11の小孔15群に接続される。電磁バルブ31,32の両方を開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10,11の両方に吸着固定される。電磁バルブ31のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10のみに吸着固定される。電磁バルブ32のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤11のみに吸着固定される。電磁バルブ31,32の両方を閉じれば、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10,11に吸着固定されない。
【0039】
図8は、副ガラス定盤10,11を介して被修正対象ガラス基板8にエアを噴出するエア噴出手段を例示するブロック図である。図8において、エア噴出手段はエア供給装置33と電磁バルブ34,35を含む。エア供給装置33の供給口は、電磁バルブ34を介して副ガラス定盤10の小孔15群に接続されるとともに、電磁バルブ35を介して副ガラス定盤11の小孔15群に接続される。電磁バルブ34,35の両方を開ければ、被修正対象ガラス基板8が浮上して、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10,11の間に隙間ができる。電磁バルブ34のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8が撓んで、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10の間に隙間ができる。電磁バルブ35のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8が撓んで、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤11の間に隙間ができる。電磁バルブ31,32の両方を閉じれば、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10,11の間に隙間はできない。
【0040】
図9(a)(b)は、この実施の形態の比較例を示す図であって、図5(a)(b)と対比される図である。図9(a)(b)を参照して、この比較例が実施の形態と異なる点は、2枚の副ガラス定盤10,11が1枚のガラス定盤36で置換され、3つの位置決めピン25が移動可能に設けられている点である。
【0041】
図9(a)に示すように、観察位置Pがリフタピン孔22の上端部にある場合は画像ムラが発生するので、図9(b)に示すように、3つの位置決めピン25、被修正対象ガラス基板8および観察光学系2を図中の上方向に移動させて観察位置Pをリフタピン孔22から離間させる。これにより、画像ムラをなくすことができる。
【0042】
しかし、この比較例では、ガラス定盤36に対して3つの位置決めピン25、被修正対象ガラス基板8および観察光学系2を移動させるので、再度、アライメント動作すなわちアライメントマークM1,M2の撮像およびテーブル6,7の座標系の補正を行なう必要がある。また、被修正対象ガラス基板8を移動させるためには、ガラス定盤36への吸着を一旦解除する必要があり、再吸着に時間が掛かる。また、基板8裏面への傷付きを防止する必要がある場合は、ガラス定盤36全面からエア噴射を行なって被修正対象ガラス基板8を浮上させる必要があり、さらに時間が必要となる。したがって、この比較例では、アライメント動作が必要となること、基板8全面での再吸着が必要となるため、本実施の形態と比較して修正タクトが長くなる。
【0043】
この実施の形態では、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割し、観察位置Pがリフタピン孔22や溝14や小孔15の上部に位置した場合は、副ガラス定盤10または11を移動させ、リフタピン孔22や溝14や小孔15を観察位置Pから退避させることができる。したがって、ムラのない観察画像を得ることができ、画像処理による自動修正を行なうことが可能となる。
【0044】
また、副ガラス定盤10,11のうちの一方の副ガラス定盤で被修正対象ガラス基板8を固定した状態で他方の副ガラス定盤を移動させるため、副ガラス定盤の移動後においてもアライメント動作を行なう必要がなく、修正タクトを短縮することができる。
【0045】
また、移動させる副ガラス定盤の各小孔15からエアを噴射して、その副ガラス定盤と被修正ガラス基板8の間に隙間を開けた状態で移動させることにより、被修正対象ガラス基板8の裏面に傷が付くのを防止することができる。さらには、移動させる副ガラス定盤を下降させて移動させることにより、被修正対象ガラス基板8の裏面への傷の発生を一層確実に防止することができる。
【0046】
また、ガラス定盤9の大型化に伴ってガラス定盤9の加工性や装置に搭載する際の取り扱い性が悪化していたが、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割して小型化することにより、ガラス定盤9の加工性および取り扱い性を改善することができる。
【0047】
なお、この実施の形態では、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割した場合について説明したが、ガラス定盤9を3枚以上の副ガラス定盤に分割しても構わない。
【0048】
また、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割するので、ガラス定盤9の撓みの影響が軽減される。したがって、図10に示すように、副ガラス定盤10,11の裏面の反射膜12を除去し、副ガラス定盤10,11の下方から照明光を出射する方式を使用しても構わない。副ガラス定盤10,11は、額縁状のY軸テーブル27,28にそれぞれ搭載される。また、副ガラス定盤10,11の下方の集光レンズ37から対物レンズ13に向けて照明光が出射される。集光レンズ37は、光ファイバを介して光源に接続されている。対物レンズ37が移動すると、集光レンズ37は対物レンズ13に対向する位置に移動する。
【0049】
また、この実施の形態では、副ガラス定盤10,11をY軸方向に移動可能に設けたが、X軸方向に移動可能に設けてもよいし、X軸およびY軸の両方の方向に移動可能に設けてもよい。
【0050】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【0051】
【図1】この発明の一実施の形態による微細パターン修正装置の全体構成を示す斜視図である。
【図2】図1に示した被修正対象ガラス基板の透過照明光観察を行なう方法を示す図である。
【図3】図2に示した対物レンズの真下に溝および小孔がある場合を示す図である。
【図4】図2に示した対物レンズの真下にリフタピン孔がある場合を示す図である。
【図5】図1に示した副ガラス定盤の使用方法を示す図である。
【図6】図5に示した副ガラス定盤の駆動方法を例示する図である。
【図7】図6に示した副ガラス定盤に被修正対象ガラス基板を吸着する方法を例示する図である。
【図8】図6に示した副ガラス定盤から被修正対象ガラス基板を浮上させる方法を例示する図である。
【図9】この実施の形態の比較例を示す図である。
【図10】この実施の形態の変更例を示す図である。
【図11】LCDのカラーフィルタに発生する欠陥を示す図である。
【符号の説明】
【0052】
1 レーザ装置、2 観察光学系、3 リング照明器、4 インク塗布機構、5 Z軸テーブル、6 X軸テーブル、7,16,17 Y軸テーブル、8 被修正対象ガラス基板、9,36 ガラス定盤、10,11 副ガラス定盤、12 反射膜、13 対物レンズ、14 溝、15 小孔、18 ゴムパッキン、19 エア継手、20 エアホース、21 リフタピン、22 リフタピン孔、23 LED照明光源、24 切欠部、25 位置決めピン、M1,M2 アライメントマーク、P 観察位置、26 レール、27,28 YZ軸テーブル、30 真空ポンプ、31,32,34,35 電磁バルブ、33 エア供給装置、37 集光レンズ、50 ブラックマトリクス、51 R画素、52 G画素、53 B画素、54 白欠陥、55 黒欠陥、56 異物欠陥。
【技術分野】
【0001】
本発明は微細パターンを透過光によって観察する微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置に関し、特にLCD(液晶ディスプレイ)用カラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を観察するための微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置に関する。
【背景技術】
【0002】
近年、LCD(液晶ディスプレイ)の大型化、高精細化に伴い画素数も増大し、LCDを無欠陥で製造することは困難となり、欠陥の発生確率も増加してきている。このような状況下において歩留まり向上のために、LCDのカラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を修正する微細パターン修正装置が生産ラインに不可欠となってきている。
【0003】
図11(a)〜(c)は、LCDのカラーフィルタの製造工程において発生する欠陥を示す図である。図11(a)〜(c)において、カラーフィルタは、透明基板と、その表面に形成されたブラックマトリクス50と呼ばれる格子状のパターンと、複数組のR(赤色)画素51、G(緑色)画素52、およびB(青色)画素53とを含む。カラーフィルタの製造工程においては、図11(a)に示すように画素やブラックマトリクス50の色が抜けてしまった白欠陥54や、図11(b)に示すように隣の画素と色が混色したり、ブラックマトリクス50が画素にはみ出してしまった黒欠陥55や、図11(c)に示すように画素に異物が付着した異物欠陥56などが発生する。
【0004】
白欠陥54を修正する方法としては、インク塗布機構により、白欠陥54が存在する画素と同色のインクを塗布針の先端部に付着させ、塗布針の先端部に付着したインクを白欠陥54に塗布して修正する方法がある(たとえば特許文献1参照)。また、黒欠陥55や異物欠陥56を修正する方法としては、欠陥部分をレーザカットして矩形の白欠陥54を形成した後、インク塗布機構により、塗布針の先端部に付着したインクをその白欠陥54に塗布して修正する方法がある(たとえば特許文献2参照)。
【0005】
LDCのカラーフィルタの白欠陥54を修正する場合、白欠陥54がカラーフィルタのどの色部分に発生しているのかを観察する必要がある。また、白欠陥54に修正インクを塗布して修正した後にも、修正状態を確認するためにその部分を観察する必要がある。カラーフィルタの色を観察する場合、落射照明光観察ではカラーフィルタの色状態を観察することはできないので、透過照明光観察をする必要がある。従来は、カラーフィルタが形成された被修正対象ガラス基板をガラス定盤に搭載し、ガラス定盤の下方から透過照明光を照射し、ガラス定盤の上方からカラーフィルタの色状態を確認していた。
【0006】
また、最近の液晶基板の大型化は目覚しく、製造工程におけるガラス基板サイズは、現状製造ラインのガラス基板サイズ(第5世代)で1000×1500mm、次期の第6世代では1500×1800mm、第7世代では1700×2000mmになると言われている。このようなガラス基板の大型化に伴い、微細パターン修正装置も大型化が必須となるが、単純に装置サイズを大きくすることは、クリーンルーム内での占有面積の関係で許されないため、装置構成を変更して装置サイズを極力小さくすることが必要となっている。これに伴い、ガラス基板が静止し、レーザ装置や観察光学系を搭載したヘッド部が移動するガントリー方式の装置が主流となってきている。
【0007】
ガントリー方式で透過照明光観察を実現するためには、ガラス定盤の下方に配置した透過照明光源をガラス定盤の上方に配置した観察光学系と同期して移動させる機構が必要となる。したがって、ガラス定盤の下に支持部材を配置することができず、ガラス定盤を周辺部でしか支持できないので、ガラス定盤の撓みや、ガラス定盤の破損を招く可能性が高くなる。
【0008】
そこで、ガラス定盤の裏面側に反射膜を形成し、ガラス定盤の表面側から照明光を出射し、反射膜で反射した光を用いて透過照明光観察を行なう方法が提案された(たとえば特許文献3参照)。この方法では、ガラス定盤が照明光を透過させる必要がないので、ガラス定盤の裏面全体を金属製架台で支持することが可能となり、ガラス定盤が撓んだり破損する可能性は低くなる。
【特許文献1】特開平9−236933号公報
【特許文献2】特開平9−262520号公報
【特許文献3】特開2006−38825号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0009】
また、このような微細パターン修正装置では、省人化、修正の効率化を目的として修正の自動化が求められ、画像処理による欠陥の認識、修正後の状態観察が必要とされている。
【0010】
しかし、従来の透過照明観察方法では、観察画像にムラが発生する場合があった。すなわち、ガラス定盤には、被修正対象ガラス基板をロボットハンドから修正装置に受け取る時に使用する複数のリフタピンを通すための複数のリフタピン孔が形成されている。また、被修正対象ガラス基板をガラス定盤に吸着固定するための複数の溝や孔も形成されている。これらの孔や溝の影響で、観察位置によっては画像に若干のムラが発生する。このムラは、作業者がモニタを見て欠陥の有無などを判断する場合には許容されるレベルであるが、画像処理によって判断する場合には許容レベルを超えており、誤動作を招くという問題があった。
【0011】
それゆえに、この発明の主たる目的は、ムラのない観察画像を得ることが可能な微細パターン観察装置およびそれを用いた微細パターン修正装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【0012】
この発明に係る微細パターン観察装置は、透明基板上に形成され、少なくとも部分的に光を透過させる微細パターンを観察する微細パターン観察装置であって、微細パターンを観察するための観察光学系と、透明基板に照明光を出射する光源と、透明基板を水平に支持する透明定盤とを備え、透明定盤は、各々が水平方向に移動可能に設けられた複数の副透明定盤に分割されていることを特徴とする。
【0013】
好ましくは、各副透明定盤には複数の孔が設けられており、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を水平方向に移動させ、その副透明定盤の孔を観察位置から離間させる駆動手段を備える。
【0014】
また好ましくは、駆動手段は、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を他の副透明定盤に対して相対的に下降させ、その副透明定盤と透明基板の間に隙間を開ける。
【0015】
また好ましくは、複数の副透明定盤のうちの選択されていない少なくとも1つの副透明定盤の複数の孔を介して透明基板を吸着し、その副透明定盤に透明基板を固定する真空吸着手段を備える。
【0016】
また好ましくは、複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤の複数の孔を介して透明基板に気体を噴射し、その副透明定盤と透明基板の間に隙間を開ける気体噴射手段を備える。
【0017】
また好ましくは、各副透明定盤の裏面側に設けられ、光源から出射された照明光を反射させて微細パターンに照射する反射部材を備え、光源は副透明定盤の表面側から照明光を出射し、観察光学系は副透明定盤の表面側から微細パターンの透過照明光観察を行なう。
【0018】
また好ましくは、光源は副透明定盤の一方側から照明光を出射し、観察光学系は副透明定盤の他方側から微細パターンの透過照明光観察を行なう。
【0019】
また、この発明に係る微細パターン修正装置は、上記微細パターン観察装置と、微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【0020】
この発明に係る微細パターン観察装置および微細パターン修正装置では、透明定盤は複数の副透明定盤に分割され、各副透明定盤は水平方向に移動可能に設けられている。したがって、観察位置の下方に副透明定盤のリフタピン孔などがある場合は、その副透明定盤を移動させることにより、リフタピン孔などを観察位置から離間させることができる。よって、ムラのない観察画像を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0021】
図1は、この発明の一実施の形態による微細パターン修正装置の全体構成を示す斜視図である。図1において、この微細パターン修正装置では、レーザ装置1、観察光学系2、リング照明器3、およびインク塗布機構4がZ軸テーブル5に固定されていて、Z軸テーブル5はZ軸方向(上下方向)に移動可能に設けられている。Z軸テーブル5はX軸テーブル6上においてX軸方向(横方向)に移動可能に設けられている。X軸テーブル6は、Y軸テーブル7上においてY軸方向(横方向)に移動可能に設けられている。
【0022】
X軸テーブル6の下方には、被修正対象ガラス基板8を搭載するガラス定盤9が設けられている。ガラス定盤9は、各々がY軸方向に移動可能に設けられた2枚の副ガラス定盤10,11に分割されている。
【0023】
レーザ装置1は、被修正対象ガラス基板8上のカラーフィルタの白欠陥、黒欠陥、および異物欠陥にレーザ光を照射して矩形の白欠陥に変換したり、塗布した修正インクのうちの不要な部分にレーザ光を照射して除去する。観察光学系2は、欠陥部分を撮像し、撮像した画像をテレビモニタ(図示せず)に表示する。リング照明器3は、被修正対象ガラス基板8およびガラス定盤9に光を照射する。インク塗布機構4は、被修正対象ガラス基板8上のカラーフィルタの白欠陥に修正インクを塗布する。塗布した修正インクは、紫外線照明(図示せず)またはハロゲンランプ照明(図示せず)により光硬化または熱硬化される。
【0024】
レーザ装置1、観察光学系2、リング照明器3、およびインク塗布機構4はZ軸テーブル5に取付けられているので、被修正対象ガラス基板8の上に任意の高さに位置させることができ、かつZ軸テーブル5はX軸テーブル6およびY軸テーブル7上に載置されているため、被修正対象ガラス基板8に対してX軸方向およびY軸方向に任意の位置に移動できる。その他に、各機構を制御するための制御用コンピュータ(図示せず)と、装置全体を制御するためのホストコンピュータ(図示せず)とが設けられている。
【0025】
次に、このパターン修正装置の動作について説明する。X軸テーブル6およびY軸テーブル7をそれぞれX軸方向およびY軸方向に移動させ、かつZ軸テーブル5をZ軸方向に移動させ、観察光学系2によって被修正対象ガラス基板8上を撮像する。ホストコンピュータは、撮像した画像に基づいて、フィルタ欠陥の有無を判断する。また、撮像した画像はモニタに表示され、作業者は目視によってフィルタ欠陥の有無を判断する。
【0026】
フィルタ欠陥の存在を判別した場合は、欠陥部にレーザ光を照射して矩形の白欠陥に変換し、その白欠陥にインク塗布機構4によって修正インクを塗布し、硬化させる。硬化したインクによって不要部が生じた場合は、レーザ装置1から不要部にレーザ光を照射し、レーザ光の熱エネルギーで昇華または飛散させる。
【0027】
図2は、被修正対象ガラス基板8の透過照明光観察を行なう方法を示す図である。図2において、この微細パターン修正装置では、副ガラス定盤10,11の裏面に反射膜12を形成するとともに、ハロゲンランプ光を光ファイバにより導光し、その光の出射端であるリング照明器3を観察光学系2の対物レンズ13の周囲に配置している。リング照明器3から出射されたリング状の光は、対物レンズ13の光軸の1点に集束するようにされている。リング照明器3から出射されたリング状の光は、被修正対象ガラス基板8の被観察部の周辺領域および副ガラス定盤10または11を透過して反射膜12で反射され、副ガラス定盤10または11および被修正対象ガラス基板8の被観察部を透過して対物レンズ13に入射される。これにより、透過照明光観察が実現される。
【0028】
また、図3に示すように、副ガラス定盤10,11の各々には、被修正対象ガラス基板8を吸着して固定したり、エアを噴出して被修正対象ガラス基板8を浮上させるための溝14および小孔15が形成されている。溝14は、副ガラス定盤10,11の表面に所定のピッチで複数設けられている。孔15は、各溝14の底に形成され、溝14の長さ方向に所定のピッチで複数設けられている。図3では、対物レンズ13が副ガラス定盤10または11の小孔14の真上に位置した状態が示されている。この微細パターン観察装置では、副ガラス定盤10,11の各々の支持を裏面全体で行なうことが可能なため、副ガラス定盤10,11をそれぞれY軸テーブル16,17に搭載することができる。
【0029】
Y軸テーブル16,17には、副ガラス定盤10,11の小孔15に対応する位置に排気孔が形成されている。排気孔の上側開口部の周囲にはリング状の凹部が形成され、その凹部にリング状のゴムパッキン18が嵌め込まれている。複数の小孔15に対応する複数の排気孔は、Y軸テーブル16または17内で連通している。複数の排気孔のうちの1つの排気孔の下側開口部にはエア継手19が接合され、エア継手19はエアホース20の一方端に接続されている。エアホース20の他方端は、電磁バルブによって真空ポンプ(図示せず)またはエア供給装置(図示せず)に選択的に接続される。
【0030】
このような場合においても、エア継手19をX軸テーブル16または17に取り付けることができるため、副ガラス定盤10,11の裏面の反射膜12は、小孔15の部分のみが抜けるだけであり、リング照明器3から出射された光は、小孔15の周囲で反射され、透過照明光観察に十分な光量を確保することができる。ただし、画像には小孔15と溝14による若干のムラが発生する。このムラは、作業者が目視で観察する分には問題ないが、画像処理を行なう場合に誤動作の原因となる。
【0031】
また、図4に示すように、副ガラス定盤10,11には、被修正対象ガラス基板8を搬入排出する際にリフトアップするためのリフトアップ機構のリフタピン21を通すためのリフタピン孔22が形成されている。リフタピン21およびリフタピン孔22は、所定のピッチで複数設けられている。図4では、対物レンズ13がリフタピン孔22の真上に位置した状態が示されている。この微細パターン修正装置では、副ガラス定盤10,11の裏面に反射膜12を設けているが、リフタピン孔22の部分には反射膜12を形成することができない。そのため、リング照明器3から出射された光を十分反射することができない。そこで、リフタピン21の内部にLED照明光源23を配置し、リフタピン21の先端部から上方に向けて光を照射する。これにより、透過照明光観察に十分な光量を得ることができる。ただし、画像にはリフタピン孔22による若干のムラが発生する。このムラは、作業者が目視で観察する分には問題ないが、画像処理を行なう場合に誤動作の原因となる。
【0032】
そこで、この微細パターン修正装置では、図5(a)に示すように、ガラス定盤9を2つの副ガラス定盤10,11に分割する。副ガラス定盤10,11の各々は、図中Y方向に移動可能に設けられている。副ガラス定盤11の図中の上端部および左端部と副ガラス定盤10の図中の左端部とに合計3つの切欠部24が形成され、各切欠部24の中心に位置決めピン25が立設されている。被修正対象ガラス基板8は、その上辺と左辺が3本の位置決めピン25に当接されて副ガラス定盤10,11に搭載され、吸着固定される。
【0033】
被修正対象ガラス基板10の左上の角と右下の角にはアライメントマークM1,M2がそれぞれ設けられている。観察光学系2によって2つのマークM1,M2を撮像し、その撮像結果に基づいてX軸テーブル6およびY軸テーブル7の座標系を補正する。これにより、前段の検査装置からの欠陥の位置データに基づいて、観察光学系2などを欠陥の位置に移動させることが可能となる。
【0034】
図5(a)に示すように、観察光学系2の焦点である観察位置Pがリフタピン孔22の上端部にある場合は画像ムラが発生するので、図5(b)に示すように、副ガラス定盤11のみを図中の下方向に移動させてリフタピン孔22を観察位置Pから離間させる。これにより、画像ムラをなくすことができる。
【0035】
図6(a)〜(e)は、副ガラス定盤10,11を移動させる方法を例示する図である。図6(a)に示すように、副ガラス定盤10,11はそれぞれY軸テーブル16,17に搭載されている。Y軸テーブル16,17は、ホストコンピュータからの制御信号に従って、レール26に沿ってY方向に移動する。図5(b)に示したように、副ガラス定盤11を副ガラス定盤10の方に近付ける場合は、図6(b)に示すように、Y軸テーブル17をY軸テーブル16の方に移動させる。このとき、図6(c)に示すように、副ガラス定盤10の小孔15を介して被修正対象ガラス基板8を真空吸着し、被修正ガラス基板8を副ガラス定盤10に固定しておく。これにより、被修正対象ガラス基板8の位置は変化せず、被修正対象ガラス基板8に対する副ガラス定盤11のリフタピン孔22の位置が変化し、画像ムラが解消される。
【0036】
なお、図6(d)に示すように、移動させる副ガラス定盤11の小孔15を介して被修正対象ガラス基板8にエアを噴出し、副ガラス定盤11と被修正対象ガラス基板8の間に微小な隙間を開けることにより、被修正対象ガラス基板8に傷が付くのを防止することができる。
【0037】
また、図6(e)に示すように、Y軸テーブル10,11をそれぞれYZ軸テーブル27,28で置換し、移動させる副ガラス定盤11を下降させて副ガラス定盤11と被修正対象ガラス基板8の間に微小な隙間を開けることにより、被修正対象ガラス基板8に傷が付くのを確実に防止することができる。このとき、移動させる副ガラス定盤11の小孔14を介して被修正対象ガラス基板8に所定圧力のエアを噴出することにより、被修正対象ガラス基板8が撓むのを防止することができる。
【0038】
図7は、被修正対象ガラス基板8を副ガラス定盤10,11に吸着する真空吸着手段を例示するブロック図である。図7において、真空吸着手段は真空ポンプ30と電磁バルブ31,32を含む。真空ポンプ30の吸込口は、電磁バルブ31を介して副ガラス定盤10の小孔15群に接続されるとともに、電磁バルブ32を介して副ガラス定盤11の小孔15群に接続される。電磁バルブ31,32の両方を開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10,11の両方に吸着固定される。電磁バルブ31のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10のみに吸着固定される。電磁バルブ32のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤11のみに吸着固定される。電磁バルブ31,32の両方を閉じれば、被修正対象ガラス基板8は副ガラス定盤10,11に吸着固定されない。
【0039】
図8は、副ガラス定盤10,11を介して被修正対象ガラス基板8にエアを噴出するエア噴出手段を例示するブロック図である。図8において、エア噴出手段はエア供給装置33と電磁バルブ34,35を含む。エア供給装置33の供給口は、電磁バルブ34を介して副ガラス定盤10の小孔15群に接続されるとともに、電磁バルブ35を介して副ガラス定盤11の小孔15群に接続される。電磁バルブ34,35の両方を開ければ、被修正対象ガラス基板8が浮上して、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10,11の間に隙間ができる。電磁バルブ34のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8が撓んで、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10の間に隙間ができる。電磁バルブ35のみを開ければ、被修正対象ガラス基板8が撓んで、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤11の間に隙間ができる。電磁バルブ31,32の両方を閉じれば、被修正対象ガラス基板8と副ガラス定盤10,11の間に隙間はできない。
【0040】
図9(a)(b)は、この実施の形態の比較例を示す図であって、図5(a)(b)と対比される図である。図9(a)(b)を参照して、この比較例が実施の形態と異なる点は、2枚の副ガラス定盤10,11が1枚のガラス定盤36で置換され、3つの位置決めピン25が移動可能に設けられている点である。
【0041】
図9(a)に示すように、観察位置Pがリフタピン孔22の上端部にある場合は画像ムラが発生するので、図9(b)に示すように、3つの位置決めピン25、被修正対象ガラス基板8および観察光学系2を図中の上方向に移動させて観察位置Pをリフタピン孔22から離間させる。これにより、画像ムラをなくすことができる。
【0042】
しかし、この比較例では、ガラス定盤36に対して3つの位置決めピン25、被修正対象ガラス基板8および観察光学系2を移動させるので、再度、アライメント動作すなわちアライメントマークM1,M2の撮像およびテーブル6,7の座標系の補正を行なう必要がある。また、被修正対象ガラス基板8を移動させるためには、ガラス定盤36への吸着を一旦解除する必要があり、再吸着に時間が掛かる。また、基板8裏面への傷付きを防止する必要がある場合は、ガラス定盤36全面からエア噴射を行なって被修正対象ガラス基板8を浮上させる必要があり、さらに時間が必要となる。したがって、この比較例では、アライメント動作が必要となること、基板8全面での再吸着が必要となるため、本実施の形態と比較して修正タクトが長くなる。
【0043】
この実施の形態では、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割し、観察位置Pがリフタピン孔22や溝14や小孔15の上部に位置した場合は、副ガラス定盤10または11を移動させ、リフタピン孔22や溝14や小孔15を観察位置Pから退避させることができる。したがって、ムラのない観察画像を得ることができ、画像処理による自動修正を行なうことが可能となる。
【0044】
また、副ガラス定盤10,11のうちの一方の副ガラス定盤で被修正対象ガラス基板8を固定した状態で他方の副ガラス定盤を移動させるため、副ガラス定盤の移動後においてもアライメント動作を行なう必要がなく、修正タクトを短縮することができる。
【0045】
また、移動させる副ガラス定盤の各小孔15からエアを噴射して、その副ガラス定盤と被修正ガラス基板8の間に隙間を開けた状態で移動させることにより、被修正対象ガラス基板8の裏面に傷が付くのを防止することができる。さらには、移動させる副ガラス定盤を下降させて移動させることにより、被修正対象ガラス基板8の裏面への傷の発生を一層確実に防止することができる。
【0046】
また、ガラス定盤9の大型化に伴ってガラス定盤9の加工性や装置に搭載する際の取り扱い性が悪化していたが、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割して小型化することにより、ガラス定盤9の加工性および取り扱い性を改善することができる。
【0047】
なお、この実施の形態では、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割した場合について説明したが、ガラス定盤9を3枚以上の副ガラス定盤に分割しても構わない。
【0048】
また、ガラス定盤9を2枚の副ガラス定盤10,11に分割するので、ガラス定盤9の撓みの影響が軽減される。したがって、図10に示すように、副ガラス定盤10,11の裏面の反射膜12を除去し、副ガラス定盤10,11の下方から照明光を出射する方式を使用しても構わない。副ガラス定盤10,11は、額縁状のY軸テーブル27,28にそれぞれ搭載される。また、副ガラス定盤10,11の下方の集光レンズ37から対物レンズ13に向けて照明光が出射される。集光レンズ37は、光ファイバを介して光源に接続されている。対物レンズ37が移動すると、集光レンズ37は対物レンズ13に対向する位置に移動する。
【0049】
また、この実施の形態では、副ガラス定盤10,11をY軸方向に移動可能に設けたが、X軸方向に移動可能に設けてもよいし、X軸およびY軸の両方の方向に移動可能に設けてもよい。
【0050】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【0051】
【図1】この発明の一実施の形態による微細パターン修正装置の全体構成を示す斜視図である。
【図2】図1に示した被修正対象ガラス基板の透過照明光観察を行なう方法を示す図である。
【図3】図2に示した対物レンズの真下に溝および小孔がある場合を示す図である。
【図4】図2に示した対物レンズの真下にリフタピン孔がある場合を示す図である。
【図5】図1に示した副ガラス定盤の使用方法を示す図である。
【図6】図5に示した副ガラス定盤の駆動方法を例示する図である。
【図7】図6に示した副ガラス定盤に被修正対象ガラス基板を吸着する方法を例示する図である。
【図8】図6に示した副ガラス定盤から被修正対象ガラス基板を浮上させる方法を例示する図である。
【図9】この実施の形態の比較例を示す図である。
【図10】この実施の形態の変更例を示す図である。
【図11】LCDのカラーフィルタに発生する欠陥を示す図である。
【符号の説明】
【0052】
1 レーザ装置、2 観察光学系、3 リング照明器、4 インク塗布機構、5 Z軸テーブル、6 X軸テーブル、7,16,17 Y軸テーブル、8 被修正対象ガラス基板、9,36 ガラス定盤、10,11 副ガラス定盤、12 反射膜、13 対物レンズ、14 溝、15 小孔、18 ゴムパッキン、19 エア継手、20 エアホース、21 リフタピン、22 リフタピン孔、23 LED照明光源、24 切欠部、25 位置決めピン、M1,M2 アライメントマーク、P 観察位置、26 レール、27,28 YZ軸テーブル、30 真空ポンプ、31,32,34,35 電磁バルブ、33 エア供給装置、37 集光レンズ、50 ブラックマトリクス、51 R画素、52 G画素、53 B画素、54 白欠陥、55 黒欠陥、56 異物欠陥。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
透明基板上に形成され、少なくとも部分的に光を透過させる微細パターンを観察する微細パターン観察装置であって、
前記微細パターンを観察するための観察光学系と、
前記透明基板に照明光を出射する光源と、
前記透明基板を水平に支持する透明定盤とを備え、
前記透明定盤は、各々が水平方向に移動可能に設けられた複数の副透明定盤に分割されていることを特徴とする、微細パターン観察装置。
【請求項2】
各副透明定盤には複数の孔が設けられており、
前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を水平方向に移動させ、その副透明定盤の孔を観察位置から離間させる駆動手段を備えたことを特徴とする、請求項1に記載の微細パターン観察装置。
【請求項3】
前記駆動手段は、前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を他の副透明定盤に対して相対的に下降させ、その副透明定盤と前記透明基板の間に隙間を開けることを特徴とする、請求項2に記載の微細パターン観察装置。
【請求項4】
前記複数の副透明定盤のうちの選択されていない少なくとも1つの副透明定盤の前記複数の孔を介して前記透明基板を吸着し、その副透明定盤に前記透明基板を固定する真空吸着手段を備えたことを特徴とする、請求項2または請求項3に記載の微細パターン観察装置。
【請求項5】
前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤の前記複数の孔を介して前記透明基板に気体を噴射し、その副透明定盤と前記透明基板の間に隙間を開ける気体噴射手段を備えたことを特徴とする、請求項2から請求項4までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項6】
各副透明定盤の裏面側に設けられ、前記光源から出射された照明光を反射させて前記微細パターンに照射する反射部材を備え、
前記光源は前記副透明定盤の表面側から照明光を出射し、
前記観察光学系は前記副透明定盤の表面側から前記微細パターンの透過照明光観察を行なうことを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項7】
前記光源は前記副透明定盤の一方側から照明光を出射し、
前記観察光学系は前記副透明定盤の他方側から前記微細パターンの透過照明光観察を行なうことを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項8】
請求項1から請求項7までのいずれかに記載の微細パターン観察装置と、
前記微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布手段とを備えたことを特徴とする、微細パターン修正装置。
【請求項1】
透明基板上に形成され、少なくとも部分的に光を透過させる微細パターンを観察する微細パターン観察装置であって、
前記微細パターンを観察するための観察光学系と、
前記透明基板に照明光を出射する光源と、
前記透明基板を水平に支持する透明定盤とを備え、
前記透明定盤は、各々が水平方向に移動可能に設けられた複数の副透明定盤に分割されていることを特徴とする、微細パターン観察装置。
【請求項2】
各副透明定盤には複数の孔が設けられており、
前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を水平方向に移動させ、その副透明定盤の孔を観察位置から離間させる駆動手段を備えたことを特徴とする、請求項1に記載の微細パターン観察装置。
【請求項3】
前記駆動手段は、前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤を他の副透明定盤に対して相対的に下降させ、その副透明定盤と前記透明基板の間に隙間を開けることを特徴とする、請求項2に記載の微細パターン観察装置。
【請求項4】
前記複数の副透明定盤のうちの選択されていない少なくとも1つの副透明定盤の前記複数の孔を介して前記透明基板を吸着し、その副透明定盤に前記透明基板を固定する真空吸着手段を備えたことを特徴とする、請求項2または請求項3に記載の微細パターン観察装置。
【請求項5】
前記複数の副透明定盤のうちの選択された副透明定盤の前記複数の孔を介して前記透明基板に気体を噴射し、その副透明定盤と前記透明基板の間に隙間を開ける気体噴射手段を備えたことを特徴とする、請求項2から請求項4までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項6】
各副透明定盤の裏面側に設けられ、前記光源から出射された照明光を反射させて前記微細パターンに照射する反射部材を備え、
前記光源は前記副透明定盤の表面側から照明光を出射し、
前記観察光学系は前記副透明定盤の表面側から前記微細パターンの透過照明光観察を行なうことを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項7】
前記光源は前記副透明定盤の一方側から照明光を出射し、
前記観察光学系は前記副透明定盤の他方側から前記微細パターンの透過照明光観察を行なうことを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の微細パターン観察装置。
【請求項8】
請求項1から請求項7までのいずれかに記載の微細パターン観察装置と、
前記微細パターンの欠陥部に修正液を塗布する塗布手段とを備えたことを特徴とする、微細パターン修正装置。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【公開番号】特開2008−128891(P2008−128891A)
【公開日】平成20年6月5日(2008.6.5)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2006−315700(P2006−315700)
【出願日】平成18年11月22日(2006.11.22)
【出願人】(000102692)NTN株式会社 (9,006)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成20年6月5日(2008.6.5)
【国際特許分類】
【出願日】平成18年11月22日(2006.11.22)
【出願人】(000102692)NTN株式会社 (9,006)
【Fターム(参考)】
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