説明

積層体及び有機ELパネル

【課題】配線付き基体形成用の積層体及びこの積層体を用いた有機ELパネルにおいて、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、パターニング性能,生産性あるいは耐湿性及び耐熱性の高い配線構造を提供する。
【解決手段】基体1上に、少なくとも一方が透光性である一対の電極6,10と電極6,10間に形成される少なくとも発光層を有する有機層9とを備えてなる有機ELパネルである。基体1上に、少なくともアルミニウムにニッケルとボロンとを含有する導体層5bとモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層5cとをこの順に積層形成してなる積層体5を備え、電極6,10の少なくとも一方と積層体5とがその少なくとも一部で電気的に接続されてなることを特徴とする。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、配線付き基体形成用の積層体及びこの積層体を用いた有機EL(エレクトロルミネッセンス)パネルに関する。
【背景技術】
【0002】
従来、有機材料によって形成される自発光素子である有機EL素子を備える有機ELパネルは、例えば、陽極となるインジウム錫酸化物(ITO)等からなる第一電極と、少なくとも発光層を有する有機層と、陰極となるアルミニウム(Al)等からなる非透光性の第二電極と、を順次積層して前記有機EL素子を形成するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
また、ドットマトリクス型の有機ELパネルにおいては、その駆動方式としてパッシブ駆動方式が知られている。パッシブ駆動の有機ELパネルは、基板上に信号電極を複数のライン状に形成し、走査電極を前記信号電極と交差するように複数のライン状に形成して前記信号電極と前記走査電極との交差位置を発光画素とし、この発光画素を複数配置して発光部を構成するものである。かかる有機ELディスプレイは、線順次走査された画像が前記表示部に表示される。かかるパッシブ駆動の有機ELパネルは、アクティブ駆動方式と比較して製造が容易であるといった利点がある。
【0004】
ドットマトリクス型の有機ELパネルは、近年カラー化や高精細化が要求されており、そのために配線部の低抵抗化が必要とされている。しかしながら、従来から配線材料に用いられたITO層の低抵抗化には限界がある。そこで、薄膜トランジスタ(TFT)や液晶パネルに用いられるようにアルミニウム(Al)あるいはAl合金などの低抵抗金属を補助配線としてITO層と組み合わせることで実質的に有機EL素子回路の更なる低抵抗化を実現することが知られている。しかし、Al等は低抵抗ではあるがヒロックが発生しやすく、また、表面にAl酸化物が形成されやすく、他の金属と電気的に接続させる際に接触抵抗が高くなってしまう。さらには、例えばITOなどの透明導電体層とAlなどが直接電気的コンタクトを取ると、Alと透明導電体層との酸化還元電位差が高いため腐食しやすいなどAl及びAl合金を単層で使用できないという不都合がある。
【0005】
これに対し、例えば特許文献2には、モリブデン(Mo)またはMo合金からなるキャップ層をAlの上層及び下層(AlとITOとの間)に形成する方法が知られている。
【0006】
また、特許文献3には、陰極と補助電極とのコンタクト抵抗を低減するための技術として、窒化チタン(TiN)あるいはクロム(Cr)を下地層とし、AlあるいはAl合金を上層として、陰極と下地層とを部分的に直接接触させる方法が開示されている。
【0007】
また、引用文献4には、キャップ層を省略可能とする技術として、Alにニッケル(Ni)とボロン(B)を含有させたAl−Ni−B合金が開示されている。
【特許文献1】特開昭59−194393号公報
【特許文献2】特開2001−311954号公報
【特許文献3】特開平11−329750号公報
【特許文献4】特開2007−142356号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
しかしながら、特許文献2に記載の技術においては、配線の低抵抗化のための積層体が3層構造となるため、製造方法が煩雑となり製造コストが上昇して生産性が低下するという問題点があった。また、特許文献3に記載の技術においては、補助配線の形成に2回のフォトリソグラフィー工程が必要となるという問題点があった。さらに、前記下地層としてTiNを用いるにはパターニングにドライエッチングを行う必要があり、生産性に問題が生じる。前記下地層にCrを用いた場合には、初期コンタクト特性が良好であっても100℃程度の高温に放置した場合にはコンタクト抵抗が著しく高くなることがある。また、特許文献4に記載の技術においては、ドットマトリクス型有機ELパネルの製造において、発光画素を画定する絶縁層の形成工程において一般的に行われるフォトエッチングで使用される薬液の中にはAl−Ni−B合金を腐食させるものがあり、必ずしもAl−Ni−B合金を単層で使用できないという問題点があった。
【0009】
本発明は、この問題に鑑みなされたものであり、配線付き基体形成用の積層体及びこの積層体を用いた有機ELパネルにおいて、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、パターニング性能,生産性あるいは耐湿性及び耐熱性の高い配線構造を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【0010】
本発明は、前記課題を解決するために、配線付き基体形成用の積層体であって、基体上に形成される少なくともアルミニウムにニッケルとボロンとを含有する導体層と、この導体層上に形成されるモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層と、を備えてなることを特徴とする。
【0011】
また、前記基体と前記導体層との間に形成される透明導電体層を備えてなることを特徴とする。
【0012】
本発明は、前記課題を解決するために、基体上に、少なくとも一方が透光性である一対の電極と前記電極間に形成される少なくとも発光層を有する有機層とを備えてなる有機ELパネルであって、前記基体上に、少なくともアルミニウムにニッケルとボロンとを含有する導体層とモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層とをこの順に積層形成してなる積層体を備え、前記電極の少なくとも一方と前記積層体とがその少なくとも一部で電気的に接続されてなることを特徴とする。
【0013】
また、前記積層体は、前記基体と前記導体層との間に形成される透明導電体層を備えてなることを特徴とする。
【0014】
また、前記積層体は、前記電極と駆動回路とを電気的に接続するための配線であることを特徴とする。
【発明の効果】
【0015】
本発明は、配線付き基体形成用の積層体及びこの積層体を用いた有機ELパネルに関し、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、パターニング性能,生産性あるいは耐湿性及び耐熱性の高い配線構造を得ることが可能となるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【0016】
以下、本発明を有機ELパネルに適用した実施形態について添付図面に基づいて説明する。
【0017】
図1は、有機ELパネルを示す図である。有機ELパネルは、支持基板(基体)1と、発光部2と、ドライバーIC(駆動回路)3と、陽極配線部4と、陰極配線部5と、を有する。
【0018】
支持基板1は、長方形形状の透明ガラス材からなる電気絶縁性の配線付き基体である。支持基板1上には、発光部2と、ドライバーIC3と、陽極配線部(積層体)4と、陰極配線部(積層体)5と、が形成されている。また、支持基板1上には発光部2を気密的に覆う封止部材が配設されるが、図1及び図2においては封止部材を省略している。
【0019】
発光部2は、図2及び図3に示すように、ライン状に複数形成される陽極(第一電極)6と、絶縁層7と、隔壁8と、有機層9と、ライン状に複数形成される陰極(第二電極)10と、から主に構成され、各陽極6と各陰極10とが交差するとともに有機層9を陽極6と陰極10とで挟持する個所からなる複数の発光画素(有機EL素子)を備えるいわゆるドットマトリクス型の発光表示部となる。また、陽極6及び陰極10は、陽極配線部4及び陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続される。また、発光部2は、図3に示すように、封止部材11によって気密的に覆われている。
【0020】
ドライバーIC3は、発光部2の各発光画素を駆動させる駆動回路を構成するものであり、信号線駆動回路及び走査線駆動回路等を備える。ドライバーIC3は、COG(Chip On Glass)技術によって支持基板1上に配設され、陽極配線部4及び陰極配線部5を介して各陽極6及び各陰極10と電気的に接続される。
【0021】
陽極配線部4及び陰極配線部5は、陽極6及び陰極10とドライバーIC3とをそれぞれ電気的に接続するための部材である。陽極配線部4及び陰極配線部5は、支持基板1上に形成される透明導電体層と、少なくともアルミニウム(Al)にニッケル(Ni)とボロン(B)とを含有するAl−Ni−B合金からなる導体層と、モリブデン(Mo)あるいはMo合金からなるキャップ層とを支持基板1からこの順に積層形成した構造を有する積層体である。図3には、陰極配線部5が示されており、陰極配線部5は、支持基板1上に透明導電体層5a,導体層5b及びキャップ層5cを積層形成してなる。なお、図示しないが陽極配線部4も同様の積層構造を有し、陽極6から延設されるITO等の透明導電体層,導体層及びキャップ層が積層形成されてなる。
【0022】
透明導電体層5aは、例えば陽極6と同材料であるITO等からなり、陽極6と同工程で支持基板1上に形成される。
【0023】
導体層5bは、Al−Ni−B合金からなり、配線を低抵抗化させるために支持基板1の透明導電体層5a上に形成されるものである。Al−Ni−B合金は、透明導電体層5aと直接接合が可能であり、Niは熱処理によりAlとの金属間化合物を形成し透明導電体層5aとの導体層5b直接接合における接合特性を良好にする作用を有する。しかしながら、Niの含有量が多くなると、配線自体の比抵抗が高くなり実用的ではなくなってしまう。逆に、Niの含有量が低くなると、Alとの金属間化合物の生成量が減少し、透明導電体層5aとの直接接合ができなくなり、耐熱性も低下する傾向となる。また、BはNiと同様に耐熱性に作用するがやはり含有量が多くなると配線自体の比抵抗が高くなり実用的ではなくなってしまう。したがって、導体層5bは、Niの含有量をNiの原子百分率Xat%とし、Bの含有量をBの原子百分率Yat%とした場合、
式(1)0.5≦X≦10.0
式(2)0.05≦Y≦11.00
式(3)Y+0.25X≧1.00
式(4)Y+1.15X≦11.50
の各式を満たし、残部がAlとなることが望ましい。さらに、Niの含有量が4.0at%以上であり、Bの含有量が0.8at%以下であると接合信頼性が向上するので好適である。また、導体層5bは、十分な導電性や良好なパターニングが得られるようにその膜厚が100〜500nmであることが好ましい。
【0024】
キャップ層5cは、MoあるいはMo合金からなり、導体層5bを腐食から保護するために導体層5b上に形成されるものである。Mo合金の例としては、Ni−Mo,Mo−ニオブ(Nb),Mo−タンタル(Ta),Mo−バナジウム(V),Mo−タングステン(W)などが上げられる。キャップ層5cは、耐湿性及びパターニング性の観点からその膜厚が10〜100nmであることが好ましい。
【0025】
陽極6は、ITO等の透明導電材料からなり、蒸着法やスパッタリング法等の手段によって支持基板1上に透明導電材料を層状を形成した後、フォトエッチング等によって互いに略平行となるようにライン状に複数形成される。また、陽極6は、端部の一方側(図1における下方側)から延設される陽極配線部4を介してドライバーIC3と接続される。
【0026】
絶縁層7は、例えばポリイミド系の電気絶縁性材料から構成され、陽極6と陰極10との間に位置するように陽極6上に形成され両電極6,10の短絡を防止するとともに、発光部2の各発光画素を画定する開口部7aを有する。また、絶縁層7は、陰極配線部5と陰極10との間にも延設されており、陰極配線部5と陰極10とを接続させるコンタクトホール7bを有する。
【0027】
隔壁8は、例えばフェノール系の電気絶縁性材料からなり、絶縁層7上に形成される。隔壁8は、その断面が絶縁層7に対して逆テーパー形状等のオーバーハング形状となるようにフォトエッチング等の手段によって形成されるものである。また、隔壁8は、陽極6と直交する方向に等間隔にて複数形成される。隔壁8は、その上方から蒸着法やスパッタリング法等によって有機層9及び陰極10となる金属膜を形成する際にオーバーハング形状によって有機層9及び前記金属膜が段切れを起こす構造を得るものである。
【0028】
有機層9は、陽極6上に形成されるものであり、少なくとも発光層を有するものである。なお、本実施形態においては、有機層9は正孔注入層,正孔輸送層,発光層及び電子輸送層を蒸着法等の手段によって順次積層形成してなるものである。
【0029】
陰極10は、アルミニウム(Al)やマグネシウム銀(Mg:Ag)等の陽極6よりも導電率が高い金属性導電材料を蒸着法等の手段により陽極6と交差するようにライン状に複数形成されるものである。陰極10は、前記導電材料にて形成される前記金属膜が隔壁8によって段切れが生じ、有機層9上に積層されるものと隔壁8上に積層されるものとに区分けされて形成される。また、陰極10は、絶縁層7に設けられるコンタクトホール7bを介して陰極配線部5と接続され、この陰極配線部5を介してドライバーIC3と電気的に接続されている。
【0030】
封止部材11は、例えばガラス材料からなる平板部材であり、発光部2を収納する凹部11aと、この凹部11aの全周を取り巻くように形成される接合部11bとを備えており、接着剤11cを介して支持基板1上に配設される。
【0031】
以上の各部によって有機ELパネルが構成されている。
【0032】
次に、配線付き支持基板1及び支持基板1を用いた有機ELパネルの製造方法を説明する。
【0033】
先ず、蒸着法やスパッタリング法等の手段によって支持基板1上にITO等の透明導電材料を層状に形成した後、フォトエッチング等によって陽極配線部4の透明導電体層,陰極配線部5の透明導電体層5a及び陽極6を形成する(図4(a)参照)。
【0034】
次に、支持基板1上にAl−Ni−B合金ターゲットを用いて不活性ガス雰囲気中でスパッタリングし、さらにMo合金系ターゲットを用いてMoあるいはMo合金をスパッタリングし、その後フォトエッチングによって陽極配線部4の導体層及びキャップ層と陰極配線部5の導体層5b及びキャップ層5cを形成する(図4(b)参照)。これにより、配線として陽極配線部4及び陰極配線部5を有する配線付き支持基板1が得られる。MoあるいはMo合金はAl−Ni−B合金と同じエッチング液(酸性水溶液)でほぼ同じ速度でエッチングすることができる。したがって、前記キャップ層及びキャップ層5cにMoあるいはMo合金を用いることによって前記導体層及び導体層5bと前記キャップ層及びキャップ層5cを一括してパターニングすることができる。
【0035】
そして、陽極6に対応するように絶縁層7,隔壁8及び有機層9を積層形成し、さらに、有機層9上に陰極10を積層形成して、各発光部2を得る(図4(c)参照)。
【0036】
そして、発光部2を収納する凹部11aを有する封止部材11を用意し、紫外線硬化性の接着剤11cを介して支持基板1上に配設固定する(図4(c)参照)。これにより支持基板1上に発光部2を有する有機ELパネルが得られる。
【0037】
かかる配線付き基体形成用の積層体である陽極配線部4及び陰極配線部5及びこれらを用いた有機ELパネルは、Al−Ni−B合金からなる前記導体層及び導体層5bを形成することによって、低抵抗でヒロックが発生しにくく、また、前記透明導電体層及び透明導電体層5aと直接接合することができることから下層のキャップ層を不要として生産性に優れた配線構造を得ることが可能となる。また、MoあるいはMo合金からなる前記キャップ層及びキャップ層5cを前記導体層及び導体層5b上に形成することによって、前記導体層及び導体層5bの腐食を防ぎ、耐湿性及び耐熱性を向上させることができ、また、前記導体層及び導体層5bと一括してパターニングすることができることからパターニング性能に優れた配線構造を得ることが可能となる。
【0038】
なお、本実施形態においては、陽極配線部4及び陰極配線部5に前記透明導電体層及び透明導電体層5aが形成されるものであったが、本発明においては透明導電体層が形成されず、基体上に直接導体層が形成される構成であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【0039】
【図1】本発明の実施形態における有機ELパネルの背面図。
【図2】同上実施形態における有機ELパネルの要部拡大図。
【図3】同上実施形態における有機ELパネルを示す断面図。
【図4】同上実施形態の配線付き支持基板及び有機ELパネルの製造方法を示す図。
【符号の説明】
【0040】
1 支持基板
2 発光部
3 ドライバーIC
4 陽極配線部
5 陰極配線部
5a 透明導電体層
5b 導体層
5c キャップ層
6 陽極
7 絶縁層
7a コンタクトホール
8 隔壁
9 有機層
10 陰極
11 封止部材

【特許請求の範囲】
【請求項1】
配線付き基体形成用の積層体であって、基体上に形成される少なくともアルミニウムにニッケルとボロンとを含有する導体層と、この導体層上に形成されるモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層と、を備えてなることを特徴とする積層体。
【請求項2】
前記基体と前記導体層との間に形成される透明導電体層を備えてなることを特徴とする請求項1に記載の積層体。
【請求項3】
基体上に、少なくとも一方が透光性である一対の電極と前記電極間に形成される少なくとも発光層を有する有機層とを備えてなる有機ELパネルであって、
前記基体上に、少なくともアルミニウムにニッケルとボロンとを含有する導体層とモリブデンまたはモリブデン合金を含有するキャップ層とをこの順に積層形成してなる積層体を備え、前記電極の少なくとも一方と前記積層体とがその少なくとも一部で電気的に接続されてなることを特徴とする有機ELパネル。
【請求項4】
前記積層体は、前記基体と前記導体層との間に形成される透明導電体層を備えてなることを特徴とする請求項3に記載の有機ELパネル。
【請求項5】
前記積層体は、前記電極と駆動回路とを電気的に接続するための配線であることを特徴とする請求項3あるいは請求項4に記載の有機ELパネル。

【図1】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate


【公開番号】特開2009−302083(P2009−302083A)
【公開日】平成21年12月24日(2009.12.24)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−151232(P2008−151232)
【出願日】平成20年6月10日(2008.6.10)
【出願人】(000231512)日本精機株式会社 (1,561)
【Fターム(参考)】