誘導加熱調理器及びその製造方法
【課題】本発明は、誘導加熱調理器の組立工程における煩雑な検査・調整作業を可能な限り簡便化し、且つより正確な駆動制御を精度高く行うことができる誘導加熱調理器及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】誘導加熱調理器は、誘導加熱調理器を駆動制御するためのプログラムが記憶されたフラッシュメモリ（１４）を持つマイクロコンピュータ（９）を有し、マイクロコンピュータにはプログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられており、マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、電流検知手段（６）の検出値および電源電圧検知手段（７）の検出値などを検知して、プログラムの書き替えを行い誘導加熱調理器が製造される。
【解決手段】誘導加熱調理器は、誘導加熱調理器を駆動制御するためのプログラムが記憶されたフラッシュメモリ（１４）を持つマイクロコンピュータ（９）を有し、マイクロコンピュータにはプログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられており、マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、電流検知手段（６）の検出値および電源電圧検知手段（７）の検出値などを検知して、プログラムの書き替えを行い誘導加熱調理器が製造される。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、誘導加熱により加熱調理する誘導加熱調理器に関し、特にマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
誘導加熱は電磁誘導で金属を加熱できるため、金属製の鍋を高効率で直接加熱することが可能であり、調理器の多くに用いられてきている。このような誘導加熱の特性を生かした調理器の一つとして炊飯器がある。最近の炊飯器においては、米種やユーザの好みに対応できるように種々の炊飯シーケンスを実行することが可能な炊飯器が提供されている。このような炊飯器においては、誘導加熱手段である誘導加熱コイルに対する駆動制御を行い、鍋に加える電力を制御しているものがある。この電力を検知する為に、入力電流を検知する電流検知回路と電源電圧を検知する電圧検知回路を設け、この電流検知回路の出力値と電圧検知回路の出力値をマイクロコンピュータ（以後、マイコンと省略する）において演算処理し、当該炊飯器における基準値になるように、スイッチング素子のオン時間を制御している。
【０００３】
これらの電流検知回路や電圧検知回路を構成する部品の個々においては、特性のバラツキが存在するため、正確な電力制御を行うためには、出荷前の個々の炊飯器においてバラツキ調整を行う必要がある。
バラツキ調整を行う方法としては、電流検知回路や電圧検知回路の構成部品に可変抵抗器を実装して、入力電力が設定基準値となるよう調整する方法がある。（例えば、特許文献１参照。）
また、炊飯器に電源電圧検知手段、電源電流検知手段および電源電圧電流調整手段を設け、電源電圧電流調整手段により電圧レベルを調整するものが開示されている。この炊飯器においては、調整完了後に不揮発性メモリに調整値を記憶させておき、再度の電力調整を容易なものとしている。（例えば、特許文献２参照。）
【０００４】
上記のように、誘導加熱調理器における炊飯器では、部品個々のバラツキに応じたバラツキ調整を工場出荷前の段階で行うことにより、炊飯器における電気回路を構成する各部品のバラツキに起因する電力の変動要因を無くしていた。
【特許文献１】特開平１１−０５６６０２号公報
【特許文献２】特開２００５−１３０９９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の誘導加熱調理器における炊飯器においては、工場出荷前の組立工程において各炊飯器を起動して電力検査を行い、その検査結果に応じて個々の炊飯器における可変抵抗器等を用いてバラツキ調整を行っていた。また、炊飯器以外の誘導加熱調理器においても、正確な駆動制御が必要な機器においては、それぞれの機器の電力を予め検査して同様の調整を行っていた。
【０００６】
上記のように誘導加熱調理器においては、正確な駆動制御を行うために機器の組立の最終段階において検査とバラツキ調整作業が必要であり、組立工程における煩雑な作業の一つとなっていた。
また、可変抵抗に変わって外部メモリを用いてバラツキ調整を行う場合には、外部メモリとマイコンとの通信不良が起きたときに、正常に動作しないという信頼性上の課題があった。
また、誘導加熱調理器においては、電気回路を構成する部品等が経年変化によりその特性が変わる場合がある。そのような場合においても継続して同じ制御プログラムを実行していると望ましい調理ができないという問題があった。
【０００７】
本発明は、誘導加熱調理器の組立工程における煩雑な検査・調整作業を簡便化し、且つより正確な駆動制御を継続して精度高く行うことができる誘導加熱調理器及びその製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の観点の誘導加熱調理器は、フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有し、前記フラッシュメモリには誘導加熱調理器を駆動制御するための制御プログラムが記憶されており、前記マイクロコンピュータには前記フラッシュメモリ内に記憶された前記制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられている。このように構成された第１の観点の誘導加熱調理器は、外部メモリが不要となり、外部メモリとマイコン間の通信が不要となるので、通信不良がなくなり信頼性が高くなる。また、変更できるデータ数が外部メモリの容量の影響を受けなくなり、一台ごとに最適な調整を行うことが可能となる。また、フラッシュマイコンなので、制御プログラムの書き換えを容易に、且つ確実に行うことが可能となる。
【０００９】
本発明の第２の観点の誘導加熱調理器は、前記の第１の観点における誘導加熱調理器が入力電流を検知する電流検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電流検知手段の検出値が入力電流設定値になるように制御するプログラムを有し、前記制御プログラムの書き替え時に前記入力電流設定値を書き替え可能に設定している。このように構成された第２の観点の誘導加熱調理器においては、正確な電流値で制御することができ、バラツキ調整用の可変抵抗や外部メモリが不要となり実装面積を小さくすることができる。
【００１０】
本発明の第３の観点の誘導加熱調理器は、前記第２の観点における誘導加熱調理器のマイクロコンピュータと前記マイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段は、制御プログラムの検査時に電気的に接続されるよう構成されている。このように構成された第３の観点の誘導加熱調理器においては、バラツキの要因となる電気部品が接続された状態で制御プログラムの検査が行われるため、精度の高い検査を少ない工程で行うことが可能となる。また、誘導加熱調理器のマイクロコンピュータとマイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段のバラツキの要因となる電気部品を実質的に１つの基板に実装することにより、その基板だけで検査が可能のとなり、完成品でのバラツキ調整工程を省略することができる。
【００１１】
本発明の第４の観点の誘導加熱調理器は、前記第２および第３の観点における誘導過熱調理器が、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電源電圧検知手段の検出値と電源電圧基準値に基づいて、入力電流設定値を補正するように制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記電源電圧基準値を書き替え可能に設定している。このように構成された第４の観点の誘導加熱調理器においては、正確な電源電圧を検知することが可能となり、正確な電力を制御することができる。また、バラツキ調整用の可変抵抗や外部メモリが不要となり実装面積を小さくすることができる。
【００１２】
本発明の第５の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第４の観点における誘導加熱調理器が、被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、前記誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子と、前記スイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは、前記素子電圧検知手段の検出値が素子電圧上限値を超えないように前記スイッチング手段のオン時間を制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記素子電圧上限値が書き替え可能に設定されている。このように構成された第５の観点の誘導加熱調理器においては、スイッチング素子が確実に最大定格以下で動作するようにマイクロコンピュータにより制御することが可能となり、スイッチング素子の破壊を防止することができる。
【００１３】
本発明の第６の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第５の観点における誘導加熱調理器が炊飯器であり、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは炊飯シーケンスプログラムを有し、前記炊飯シーケンスプログラムには入力電流設定値がデータとして入力されている。このように構成された第６の観点の誘導加熱調理器においては、炊飯器シーケンスプログラムを全て書き替えることが可能となり、炊飯器の経年変化にあわせて、炊飯シーケンスプログラムを書き替えて、安定した炊飯性能を長期間持続することができる。
【００１４】
本発明の第７の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第７の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、入力電流検知手段のバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１５】
本発明の第８の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の観点における誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第８の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段と電源電圧検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、これらのバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１６】
本発明の第９の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の観点における誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値と素子電圧検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第９の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段と電源電圧検知手段と素子電圧検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、これらのバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１７】
本発明の第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器の製造方法であって、
前記誘導加熱調理器は、前記フラッシュメモリ内に記憶された制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路と、入力電流を検知する電流検知手段と、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段と、誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
誘導加熱調理器の製造方法においては、前記マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、前記電流検知手段の検出値、前記電源電圧検知手段の検出値、および前記素子電圧検知手段の検出値を送信データとして外部装置に送信し、
前記外部装置は前記送信データに基づき入力電流設定値、電源電圧基準値、および素子電圧上限値を変更した制御プログラムを前記フラッシュメモリに書き込んでいる。このように構成された第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、マイクロコンピュータが読み込んでいるデータに変更するため、検知バラツキの小さい誘導加熱調理器を提供することができる。
【００１８】
本発明の第１１の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、外部装置による制御プログラムの書き替えが製品組立前の基板実装状態で行われる。このように構成された第１１の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、基板状態でバラツキ調整を行うため、製品組立後の調整が不要となり、操作キーによる調整や可変抵抗による調整が不要となり、煩雑な調整工程が不要となる。
【００１９】
本発明の第１２の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、マイクロコンピュータと外部装置との通信が入出力端子に接続された有線通信手段を介して行われる。このように構成された第１２の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、有線通信手段、例えばコネクタを介して通信が行われるため、炊飯器の経年変化で電力にバラツキが生じた場合でも、その場で、フラッシュメモリを書き替えすることができるため、長期間、バラツキの小さい誘導加熱調理器を提供することが可能となる。
【００２０】
本発明の第１３の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、マイクロコンピュータと外部装置との通信が無線通信手段を介して行われる。このように構成された第１３の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、無線通信手段を介して外部装置と通信し、フラッシュメモリに記憶されたプログラムを書き替えることができるため、プログラムの書き替えのために炊飯器を分解したりする必要がなく、その場で書き替えが可能となる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、誘導加熱調理器の組立工程における検査・調整作業の簡便化を図ることが可能となり、且つより正確な駆動制御を継続して精度高く行うことができる誘導加熱調理器及びその製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明に係る誘導加熱調理器及びその製造方法について好適な実施の形態として炊飯器を示して詳細に説明する。本発明の誘導加熱調理器としては炊飯器に限定されるものではなく、誘導加熱を用いて制御プログラムに基づいて動作する調理器、例えば電子レンジ、スチームレンジ、クッキングヒータ等の調理器であれば適用可能である。なお、以下に説明する実施の形態においては、本発明の特徴を詳細に説明するものであるが、この実施の形態における開示内容は構成の細部において変化してしかるべきものであり、各構成要素の組合せや順序の変化は請求された特許請求の範囲及び本発明の技術的思想を逸脱することなく実現し得るものである。
【００２３】
［実施の形態１］
図１は本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器の構成を示すブロック図である。図２は実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック化して示した回路図である。
【００２４】
図１に示すように、炊飯器の内釜１には被加熱物である被調理物が収納された状態において、ユーザが指定した炊飯シーケンスに従って誘導加熱手段である誘導加熱コイル２により設定された電力及び温度により加熱される。誘導加熱コイル２はインバータ回路３により形成された高周波電力が供給されて誘導加熱する。内釜１の加熱状態は温度検知手段である温度検知器８により検知され、その検知信号が後述するフラッシュマイコン９に送られている。ここでフラッシュマイコン９とは、フラッシュメモリ１４を内蔵するマイクロコンピュータである。フラッシュメモリ１４は、記憶されたデータの消去、書き込みを行うことができるものであり、フラッシュメモリ１４への電源供給が遮断されても、記憶されているデータは保持される。
【００２５】
実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器においては、商用電源４から入力された電源電流を電流検知手段である電流検知回路６により検出して電圧信号に変換し、その電圧信号をフラッシュマイコン９に入力している。即ち、実施の形態１の炊飯器においては、入力される電流値が常に検知されている。また、電源電圧検知手段である電源電圧検知回路７は、商用電源４から供給される電源電圧を検出し、その検出した電圧信号はフラッシュマイコン９に入力されている。
【００２６】
フラッシュマイコン９には、演算制御処理を行う中枢部である中央演算回路（ＣＰＵ）１３、書き換え可能である記憶手段であるフラッシュメモリ１４、アナログ電圧をデジタル値に変換するＡＤ変換器１５、外部とのデータ伝送を行う入出力ポートを有する入出力回路１６であるシリアルインターフェース等が少なくとも設けられている。なお、フラッシュマイコン９は、実施の形態１の説明においては省略するが、タイマ回路、クロック発生回路等の一般的に設けられている回路を有するものである。
実施の形態１の炊飯器には、液晶表示パネル（ＬＣＤ）等が用いられ、フラッシュマイコン９からのデータ等を表示する表示部１１と、ユーザの炊飯指令、設定及び調整等を行うための操作部１２が設けられている。
【００２７】
図２は実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック化して示した回路図である。
商用電源４から供給された電力は、整流手段であるダイオードブリッジ２３により全波整流される。コンデンサ２４は電源周波数の２倍の周波数は平滑せず、高周波成分を吸収するフィルタの役割を果たしている。誘導加熱コイル２と並列に共振用コンデンサ２５が設けられており、スイッチング素子であるＩＧＢＴ（Insulated Gate Bipolar Transistor）２６のスイッチング動作により高周波電流が、設定された炊飯シーケンスプログラム１８に応じて誘導加熱コイル２に供給される。このＩＧＢＴ２６と並列に還流ダイオードが接続されている。実施の形態１の炊飯器においては、ＩＧＢＴ２６のオン時間により供給電力を制御するよう構成されており、誘導加熱コイル２への電流量を制御して内釜１に対する加熱制御を行っている。実施の形態１においては、共振用コンデンサ２５及びＩＧＢＴ２６によりインバータ回路３が構成されている。
【００２８】
インバータ駆動制御回路５は、フラッシュマイコン９からの制御信号が入力され、ＩＧＢＴ２６のゲート端子に駆動信号を出力する。駆動信号により励起されたＩＧＢＴ２６は、誘導加熱コイル２に高周波電流を出力し、内釜１を誘導加熱する。フラッシュマイコン９のフラッシュメモリ１４には各種炊飯シーケンスのデータが格納されており、ユーザにより選択された炊飯シーケンスプログラム１８に従ってフラッシュマイコン９から制御信号が出力されるよう構成されている。
【００２９】
商用電源４に接続された半波整流平滑回路４１は、商用電源４から入力された電圧信号を整流ダイオードと電解コンデンサにより約１４１Ｖの電圧に半波整流平滑する。スイッチング電源４２は、半波整流平滑回路４１の出力値である約１４１Ｖの電圧を専用ＩＣとコイルを用いて２０Ｖの直流電圧に降圧している。５Ｖ直流電源４３においては、トランジスタとツェナーダイオードでエミッタフォロア回路が構成されており、スイッチング電源４２からの出力値である２０Ｖの直流電圧を５Ｖの直流電圧に降圧している。この５Ｖ直流電源４３がフラッシュマイコン９とその周辺回路に電力を供給している。また、５Ｖ直流電源４３はフラッシュマイコン９内のＡＤ変換器１５の基準電圧源として直流電圧を供給している。
【００３０】
電流検知回路６には入力電流を検知するためにカレントトランス（ＣＴ）２７が商用電源４とダイオードブリッジ２３との間に設けられており、カレントトランス２７の１次側に商用電源４からの電流が検出される。カレントトランス２７の２次側の出力は、ダイオードブリッジ２８で全波整流され、電解コンデンサ２９で平滑される。電解コンデンサ２９により平滑された電圧は、抵抗により分圧されて、入力電流を示す信号としてフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力される。ＣＰＵ１３はＡＤ変換器１５が変換した入力値（デジタル値）と入力電流設定値（デジタル値）との差を演算し、入力電流設定値より入力値の方が小さい場合は、スイッチング素子のオン時間を増やし、入力電流設定値より入力値の方が大きい場合はスイッチング素子のオン時間を減らす。この制御プログラムはフラッシュメモリ１４に記憶されている。
【００３１】
電源電圧検知回路７においては、商用電源４からダイオード３０により半波整流され、抵抗器で分圧されて、この分圧された電圧をトランジスタ３１とコンデンサ３２を有するエミッタフォロア回路でピークホールドする。この電源電圧検知回路７の出力は、電源電圧を示す信号としてフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力される。ＣＰＵ１３は、ＡＤ変換器１５が変換した入力値（デジタル値）と電源電圧基準値（デジタル値）との差を演算し、その演算結果に基づいて入力電流設定値（デジタル値）を補正する。例えば、電源電圧基準値より入力値の方が小さい場合は、入力電流設定値を大きくし、電源電圧基準値より入力値の方が大きい場合は、入力電流設定値を小さくする。その結果、入力電力がほぼ一定となる。
【００３２】
内釜１の温度を検出する温度検知手段である温度検知器８は、例えばサーミスタで構成されており、内釜１の温度を示す信号をフラッシュマイコン９に入力している。
スイッチング手段であるＩＧＢＴ２６の両端電圧は、素子電圧検知手段である素子電圧検知回路４０により検出されている。
素子電圧検知回路４０は、特に図示していないが、複数の抵抗の直列回路からなる抵抗分圧回路と、この抵抗分圧回路の出力電圧のピーク値を保持するエミッタフォロア回路で構成されており、ＩＧＢＴ２６の両端電圧（コレクタ−エミッタ間電圧）に相当する電圧をフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に出力している。
フラッシュマイコン９は素子電圧検知回路４０の検出値がＩＧＢＴ２６の素子電圧上限値を超えないように、ＩＧＢＴ２６のオン時間を制御している。フラッシュメモリ１４に記憶されている制御プログラムには、素子電圧検知回路４０の検出値が素子電圧上限値を超えないようにＩＧＢＴ２６のオン時間を制御するためのプログラムを有しており、フラッシュメモリ１４の書き替え時において素子電圧上限値が書き替えられるよう構成されている。
なお、実施の形態１では、スイッチング素子のオン時間を制御する要素に入力電流設定値と素子電圧上限値があるが、この二つの制御は矛盾しない。なぜなら、この二つの制御プログラムの結果得られるスイッチング素子のオン時間の内、オン時間の小さい方を選択するように制御プログラムを構成しているからである。
【００３３】
以上のように、フラッシュマイコン９には、入力電流を示す信号、電源電圧を示す信号、内釜１の温度を示す信号、およびＩＧＢＴ２６の両端電圧を示す信号が入力されている。これらの入力信号は、全てフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力されている。このＡＤ変換器１５の基準電圧は５Ｖ直流電源４３により供給されている。
上記のようにフラッシュマイコン９に入力された、入力電流を示す信号、電源電圧を示す信号、内釜１の温度を示す信号、およびＩＧＢＴ２６の両端電圧を示す信号に基づいて、フラッシュメモリ１４の制御プログラムにおけるそれぞれの設定値が書き替えられるよう構成されている。
【００３４】
実施の形態１においては、炊飯器への入力電流が実際は同じであっても、電流検知回路６を構成する電子部品の特性がバラツキを有していると、電流検知回路６の検出値は変動する。また、５Ｖ直流電源４３の構成部品の特性がバラツキを有していると、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が変動する。このような変動が生じると、フラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５の検出したデジタル値が変動し、入力電流の変動として検知（検知バラツキ）する。例えば、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が５Ｖであり、電流検知回路６の出力電圧が４Ｖの場合、フラッシュマイコン９が検出した入力電流に相当するデジタル値は（０ｘｃｃ）となる。一方、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が４．５Ｖで、電流検知回路６の出力電圧が４Ｖの場合、フラッシュマイコンが検出した入力電流に相当するデジタル値は（０ｘｅ３）となる。
【００３５】
上記のように検知されるバラツキの要因としては、電流検知回路６の構成部品の特性のバラツキとフラッシュマイコン９に電力供給する５Ｖ直流電源４３の構成部品の特性のバラツキが大きく影響している。このため、入力電流の検知バラツキを正確に検知し、その検知バラツキを可能な限り低減させるためには、制御プログラムの検査においては電流検知回路６と５Ｖ直流電源４３とフラッシュマイコン９を電気的に接続した状態で行う必要がある。
【００３６】
図３は実施の形態１の誘導加熱調理器である炊飯器の炊飯シーケンスを示している。
この炊飯シーケンスは図１および図２に示したフラッシュメモリ９に記憶されている。図３に示すように、実施の形態１における炊飯シーケンスは、浸水工程、炊き上げ工程、沸騰維持工程、およびむらし工程を有して構成されている。
以下、図１、図２および図３を参照しつつ、実施の形態１における炊飯シーケンスについて説明する。
【００３７】
浸水工程では、フラッシュマイコン９内のタイマを用いて、計時時間が第１の所定時間ｔ１（通常２０分前後）になるまで、温度検知器８の検知温度が第１の所定温度（通常５５℃前後）になるように内釜１が加熱される。このとき、フラッシュマイコン９はＩＧＢＴ２６をオンオフ制御し、誘導加熱コイル２に高周波電流を流している。浸水工程における加熱手段である誘導加熱コイル２への入力電流の設定値はＩｓ１である。浸水工程は、糊化温度よりも低温の水に米を浸し、予め米に吸水させておくことにより、浸水工程より後の工程において、米の中心部まで十分に糊化させるために設定されている。また、浸水工程は、米に含まれるアミラーゼにより澱粉を分解しグルコースを生成させる工程でもあり、この工程において、飯の甘味を生み出すのである。
【００３８】
次に、浸水工程終了後、炊き上げ工程に移行する。炊き上げ工程では、図３に示すように、温度検知器８の検知温度が第２の所定温度Ｔ２（水の沸点（通常１００℃近傍））になるまで、内釜１を加熱するものである。この時、内釜１の温度を素早く立ち上げるために、最初の数秒間、入力電流の設定値をＩｓ２に設定する。図３から明らかなように、炊き上げ工程における設定値Ｉｓ２は、浸水工程における設定値Ｉｓ１より高い値に設定されている。
【００３９】
なお、炊き上げ工程では、温度検知器８の検知温度により誘導加熱コイル２を制御したが、別途、内釜１の開口部を覆う蓋の温度を検知する蓋温度検知手段を設け、この蓋温度検知手段の検知温度が所定温度に達するまで、誘導加熱コイル２が内釜１を加熱することも可能である。
【００４０】
引き続き、炊き上げ工程終了後、沸騰維持工程に移行する。沸騰維持工程においては、内釜１に水が存在する間は、温度検知器８の検知温度が、図３に示すように、第２の所定温度（水の沸点（通常１００℃近傍））で沸騰状態を維持するように、フラッシュマイコン９がＩＧＢＴ２６のオン時間を制御して、誘導加熱コイル２に高周波電流を供給し、内釜１を加熱する。そして、沸騰維持工程の時間が経過していくと、内釜１内の水が蒸発して、内釜１内に水がなくなり、内釜１の温度が急激に上昇する。温度検知器８の検知温度が、第３の所定温度（水の沸点以上（通常１３０℃近傍））に到達すると、フラッシュマイコン９は内釜１内に水がなくなったと判断して、沸騰維持工程を終了する。この沸騰維持工程は、米澱粉を糊化させる工程であり、炊飯後の飯の糊化度は１００％近くに達するが、この工程終了時には糊化度は５０〜６０％程度となる。
【００４１】
次に、むらし工程に進む。むらし工程では、図３に示すように、フラッシュマイコン９のタイマによる計時時間が第２の所定時間ｔ２（通常１５分前後）になるまで、温度検知器８の検知温度が第２の所定温度（通常１００℃近傍）で維持するように、フラッシュマイコン９がＩＧＢＴ２６をオンオフ制御して、誘導加熱コイル２に高周波電流を供給し、内釜１を加熱する。むらし工程は沸騰維持工程に引き続き、米澱粉を糊化させる工程であり、むらし工程の開始時には糊化度は５０〜６０％程度であったものが、むらし工程終了時、すなわち、炊飯終了時には、糊化度は１００％近くに達する。
【００４２】
上記のように構成された実施の形態１の炊飯器において、入力された電源電圧が同じであっても電気回路を構成する部品等のバラツキにより検出された電力値は僅かに変動しているため、個々の炊飯器において同じ設定値の炊飯シーケンスプログラム１８で動作させると、内釜１を加熱する電力が異なるため、異なる炊飯状態となる場合が生じる。
【００４３】
しかし、実施の形態１の炊飯器においては、フラッシュマイコン９のフラッシュメモリ１４にはテストプログラムである電力テストプログラム１７が格納されており、後述する検査機２２を炊飯器に接続して、電力テストプログラム１７を実行することにより、当該炊飯器を構成するフラッシュマイコン９が検知した値を知ることができる。なお、電力テストプログラム１７はフラッシュメモリ１４とは別の記憶手段であるＲＯＭを設け、そのＲＯＭに格納しても良い。
【００４４】
次に、例えば、１２００Ｗの炊飯器において、検査機２２により電力テストプログラム１７を実行する動作について図４を参照しつつ説明する。図４は電力テストプログラム１７を実行するフローチャートである。
【００４５】
図４において、ステップ１０１では、カレントトランス２７の１次巻線に設定電流である１２Ａの電流を供給する。
ステップ１０２では、フラッシュマイコン９が検知した電流検知回路６の検出値をデジタル値に変換して検査機２２に出力する。カレントトランス２７の１次巻線に１２Ａの電流を供給したとき、電流検知回路６が検出する標準値は、例えば４Ｖであり、その４Ｖに相当するデジタル値が（０ｘｃｃ）であっても、実際の検出値が、例えば３．８Ｖであれば、その３．８Ｖに相当するデジタル値（０ｘｃ２）が検出データＩsnewとして検査機２２に出力される。
【００４６】
ステップ１０３においては、検出データＩsnewが当該炊飯器のカレントトランス２７の１次巻線に１２Ａが流れた時のフラッシュマイコン９に入力される電圧であるため、この検出データＩsnewのデジタル値（０ｘｃ２）が新たな入力電流設定値Ｉｓとして、後述するフラッシュマイコン書込器１０によりフラッシュマイコン９に書き込まれる。
このように電力テストプログラムを実行することにより、目標電流（例えば１２Ａ)が入力されたときのフラッシュマイコン９の検知電圧を検出し、その検出された電圧を新たな設定値の電源電圧基準値として、炊飯シーケンスプログラム１８が書き換えられる。
【００４７】
なお、カレントトランス２７に大電流である１２Ａを流すには検査設備を大型化する必要がある。そこで、カレントトランス２７の１次巻線に１２Ａの大電流を流さずにカレントトランス２７の２次巻線からの出力電流に相当する電流値を検査器２２から供給する下記に説明する疑似電流入力方法を用いても良い。
【００４８】
疑似電流入力方法について具体的に説明する。
まず、カレントトランス２７の１次巻線と２次巻線の比率により電流比率を推定する。例えば、１次巻線が１ターン、２次巻線が３０００ターンであれば、１次巻線に１２Ａ流れたときは、２次巻線にはその１／３０００の４ｍＡが流れる。そこで、ダイオードブリッジ２８の入力側に４ｍＡの定電流源を接続し、その時のフラッシュマイコン９の読み込み値がデジタル値でいくつであるかを検出する。ただし、この疑似電流入力方法にはカレントトランス２７のバラツキが含まれないため、予めカレントトランス２７の１次巻線と２次巻線の電流比を測定しておき、そのデータを基に各基板ごとに定電流源の電流値を変更し、調整するように構成しても良い。
【００４９】
上記のような入力電流検出方法を用いることにより、炊飯器に組み込む前の基板状態において電力調整が可能となり自動検査器の使用が可能となる。即ち、バラツキ調整時に人が機械に触れる必要がなくなり、調整時に製品に傷を付けたり、製品が壊れたりすることが防止される。
【００５０】
実施の形態１の炊飯器において、フラッシュメモリ１４に格納された炊飯シーケンスプログラム１８における設定値を書き換える場合には、フラッシュマイコン９の入出力回路１６にフラッシュマイコン書込器１０を接続する。フラッシュマイコン書込器１０は、フラッシュ書込プログラム２０がその記憶手段に格納されており、中央処理装置（ＣＰＵ）１９により入出力回路２１を介して接続されたフラッシュマイコン９の炊飯シーケンスプログラム１８が書き換えられる。フラッシュ書込プログラム２０にしたがって、検査器２２が検知したフラッシュマイコン９からの出力値が新しい設定値として入力され、その結果、フラッシュメモリ１４に格納されている全ての炊飯シーケンスプログラム１８に対して当該炊飯器に対応した設定値が入力される。
【００５１】
なお、実施の形態１の炊飯器においては電流検知回路６にカレントトランス２７が用いられており、前述のようにカレントトランス２７においても個々でバラツキが存在するため、個々のカレントトランス２７における偏差を示すデータを予め入手し、そのカレントトランス２７のデータをテストプログラムに書き込んでおき、当該カレントトランスの偏差を考慮に入れた設定値を算出するよう構成しても良い。なお、各カレントトランスにその特性値が書き込まれたＩＣチップを張り付けておき、製品組立時に各カレントトランスの特性を読み込み、その読み込んだ特性値を考慮した炊飯シーケンスプログラム１８を形成しても良い。
【００５２】
また、実施の形態１の誘導加熱調理器においては、フラッシュマイコン９に設けられた入出力回路１６を無線による双方向通信が可能な構成としても良い。このように構成された誘導加熱調理器においては、フラッシュマイコン９に格納されたプログラムの書き換え用接続端子に接続するための、例えば開口（接続端子用孔）を特別に設ける必要がなく、外観設計における規制を少なくすることができる。
【００５３】
［実施の形態２］
次に、本発明に係る実施の形態２の誘導加熱調理器について説明する。実施の形態２の誘導加熱調理器として、炊飯器を例に挙げて説明する。
【００５４】
実施の形態２の誘導加熱調理器である炊飯器においては、前述の実施の形態１の炊飯器と同様にフラッシュマイコンが用いられており、このフラッシュマイコンのフラッシュメモリに電力テストプログラムの他に更正プログラムが記憶されている。なお、この更正プログラムは別の記憶手段であるＲＯＭに格納するよう更正しても良い。実施の形態２の誘導加熱調理器である炊飯器においては、実施の形態１の炊飯器と実質的に同様の構成を有しているため実施の形態１において用いた符号を適用して説明する。
【００５５】
実施の形態２の炊飯器において用いられている更正プログラムは、製品として出荷され、使用された後の状態において、当該炊飯器における電気回路の特性を検出し、検出された検査データに基づき、制御プログラムである炊飯シーケンスプログラム１８を更正するものである。使用後の炊飯器における電気回路を構成する部品等においては、経年変化等により、当該炊飯器の特性が変化する場合がある。そのような場合に、炊飯器においては予め設定している設定電力と異なる電力で炊飯シーケンスプログラム１８が動作し、美味しい飯が炊けない等の問題が発生するときがある。このような場合に、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、フラッシュメモリ９又はＲＯＭに記憶されている更正プログラムを実行して、誘導加熱調理器における電気回路の特性を検出し、検出された検査データに基づき炊飯シーケンスプログラム１８を更正するものである。
【００５６】
実施の形態２の炊飯器においては、更正プログラムおよびフラッシュ書込器１０のフラッシュ書込プログラムを実行する場合、まず、安定化交流電源と電力計と電圧計が必要である。
以下、実施の形態２の炊飯器において、更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合の動作について図５を参照しつつ説明する。図５は更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合のフローチャートである。
【００５７】
図５において、ステップ２０１では、炊飯器において更正プログラムを開始し、１２００Ｗで動作するモードに設定する。しかし、実際は経年変化などにより電気回路部品、特に電解コンデンサの定数が変動し、例えば１１８０Ｗ程度で動作している場合がある。
【００５８】
ステップ２０２において、当該炊飯器の実際の入力電力が１２００Ｗであるか否かが検出される。ステップ２０２において入力電力が例えば１１８０Ｗであった場合、当該炊飯器の特定の操作スイッチに対して所定の操作（例えば、炊飯器に設けられたパワー調整スイッチをオン状態とする）を行うことにより、フラッシュマイコン９内部の入力電流設定値が変更される（ステップ２０３）。実施の形態２においては、操作スイッチにおけるパワー調整スイッチを押圧することにより入力電力の調整ができるよう構成されている。
【００５９】
ステップ２０２では当該炊飯器の入力電力が１２００Ｗになったか否かを電力計によりサービスマンが確認する。入力電力が１２００Ｗとなった場合には、そのときにフラッシュマイコン９が設定している入力電流設定値(Ｉsnew）を検査器２２に出力する（ステップ２０４）。
ステップ２０５では、検査器２２が検出した入力電流設定値(Ｉsnew）を新しい設定値Ｉsとして、フラッシュマイコン書込器１０がフラッシュマイコン９に対して、フラッシュ書込プログラム２０によりデータ書き込みを行う。
【００６０】
上記のように構成された実施の形態２の誘導加熱調理器は、工場から出荷後のユーザの使用時において、制御プログラムの通りに動作しない場合、更正プログラムを起動することにより、当該誘導加熱調理器の制御プログラムにおける設定値（電力設定値、温度設定値、計時設定値等）の確認が可能となる。もし、制御プログラムの設定値等が当該誘導加熱調理器に適合しなくなっている場合には、検査データにより更正されて当該誘導加熱調理器に適合した制御プログラムがフラッシュマイコン９に格納される。この結果、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、制御プログラムの更正を容易に行うことが可能であり、信頼性が高く寿命の長い誘導加熱調理器を提供することが可能となる。
【００６１】
なお、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、検査器２２を用いて更正プログラムを起動するよう構成されているが、誘導加熱調理器の電源線を介した伝送回線によりメーカ側から検査指令を出力し、その検査指令に応じて更正プログラムが起動するよう構成することも可能である。この場合、更正プログラムが起動され、検出された検査データにより制御プログラムが更正される。このような更正処理は、電源線を介した伝送回線を通じて中央に集められ、中央で更正処理の推移が管理される。もし、中央において更正処理において問題等が検知された場合には、即当該誘導加熱調理器を使用しているユーザに連絡され、適切な処理が施される。
【００６２】
［実施の形態３］
次に、本発明に係る実施の形態３の誘導加熱調理器について説明する。実施の形態３の誘導加熱調理器においても、炊飯器を例に挙げて説明するが、本発明の誘導加熱調理器としては炊飯器に限定されるものではなく、誘導加熱を用いて制御プログラムに基づいて動作する調理器であれば適用可能である。
【００６３】
実施の形態３の誘導加熱調理器である炊飯器は、フラッシュメモリに炊飯シーケンス書込プログラムが格納されている。その他の構成は、前述の実施の形態１の誘導加熱調理器と実質的に同じ構成であるため、実施の形態１の説明において用いた符号を適用する。炊飯シーケンス書込プログラムは、実施の形態２において説明した更正プログラムとフラッシュ書込プログラムを組み合わせたものであり、当該炊飯器自体において検査データに基づいて炊飯シーケンスプログラム１８を書き直すものである。
【００６４】
炊飯器を長期間使用した結果、電気回路を構成する部品に経年変化等により、炊飯器における特性が変わっていく。実施の形態３の炊飯器においては、そのように特性が変わった場合に、そのときの特性に合わせて自己解決型で炊飯シーケンスプログラム１８を書き換え更正するものである。炊飯シーケンスプログラム１８をそのときの特性に対応して書き換える場合、当該炊飯器の操作部におけるスイッチ操作により炊飯シーケンス書込プログラムの更正プログラムをまず起動する。この更正プログラムを起動するときは内釜１に所定量の水を入れた状態で行われる。更正プログラムが起動すると疑似炊飯動作が開始され、電力データ、温度データ、計時データ等が検査データとして検知される。
【００６５】
炊飯シーケンス書込プログラムにおいて、検知された検査データに基づいて炊飯シーケンスプログラム１８の設定値が書き換えられ、当該炊飯器に最適な炊飯シーケンスプログラム１８が形成される。なお、この炊飯シーケンス書込プログラムにおいては、当該炊飯器の稼働時間や使用頻度等が考慮されて、検査データの調整が行われている。ただし、メーカ側で予め決めていた稼働保証時間、使用保証期間等を超過していた場合には、当該炊飯シーケンス書込プログラムは起動しないよう構成されている。
【００６６】
上記のように構成された実施の形態３の誘導加熱調理器は、自己解決型であるため制御プログラムの更正を特殊の器具を用いることなく容易に、且つ確実に行うことができる。したがって、実施の形態３の誘導加熱調理器は、結果として長期間、所望の制御プログラムが確実に動作して、美味しい飯を炊くことが可能となる。
【００６７】
［実施の形態４］
図６は本発明に係る実施の形態４の誘導加熱調理器の回路部品の主要部を実装した基板を示す概略図である。図６において、６１はフラッシュマイコンであり、第１の基板６２に実装されている。図６においてフラッシュマイコン６１を点線で示しているのは、第１の基板６２の背面（裏側）に実装されているためである。６８はコネクタであり、フラッシュマイコン６１の入出力回路に接続し、第１の基板６２に実装されている。
【００６８】
第１の基板６２には、特に図示していないが、操作部および表示部に使用される部品が実装されている。例えば、ＬＣＤ、ＬＥＤ、モーメンタリスイッチなどが第１の基板６２に実装されている。
第１の基板６２とケーブル６８を介して電気的に接続された第２の基板６７には、電流検知回路６３、半波整流平滑回路６４、スイッチング電源６５、および５Ｖ直流電源６６が実装されている。また、第２の基板６７には、特に図示していないが、インバータ回路を構成するスイッチング素子や商用電源を整流するダイオードブリッジ、高周波ノイズをフィルタするコンデンサなどが実装されている。
制御プログラムの検査時において、第１の基板６２と第２の基板６７は機械的に接続された状態であり、検査後において、第１の基板６２と第２の基板６７は分割されて、炊飯器内部に組み込まれる。
【００６９】
前述の実施の形態１の炊飯器において説明したように、入力電流の検知バラツキの要因は電流検知回路６３の入力電流に対する出力電圧のバラツキと、５Ｖ直流電源６６の出力電圧のバラツキにある。このため、図６に示すように、検査時においてフラッシュマイコン６１と電流検知回路６３と５Ｖ直流電源６６が電気的に接続状態であれば、入力電流の検知バラツキの要因を含んだ状態で検査を行うことができ、そのときのフラッシュマイコン６１が検出した入力電流値には検知バラツキの要因が含まれている。このとき検出したフラッシュマイコン６１の入力電流値を新しい入力電流設定値とすれば、入力電流の検知バラツキのない誘導加熱調理器を実現できる。
また、実施の形態４では、フラッシュマイコン６１の入出力回路とコネクタ６８が接続されている。このような構成にすることにより、炊飯器に基板を組み込んだ後でも、コネクタ６８を通じてフラッシュマイコン６１と検査器やフラッシュマイコン書込器を接続し、有線で通信することができる。従って、例えば、炊飯器の長期使用により、電流検知回路６３や５Ｖ直流電源６６の電気的特性が経年変化したとしても、コネクタ６８を通じてフラッシュマイコン６１と検査器を有線で通信し、更正プログラムを実施することにより、入力電流のバラツキを抑えることができる。
【００７０】
なお、実施の形態４の炊飯器におけるフラッシュマイコン６１、電流検知回路６３、半波整流平滑回路６４、スイッチング電源６５、および５Ｖ直流電源６６は、前述の実施の形態１の炊飯器におけるフラッシュマイコン９、電流検知回路６、半波整流平滑回路４１、スイッチング電源４２、および５Ｖ直流電源４３にそれぞれが相当するものである。
また、実施の形態４では、フラッシュマイコン６１の入出力回路にコネクタ６８を接続し、検査器やフラッシュマイコン書込器と有線通信できるようにしているが、コネクタ６８の変わりに無線アンテナを接続し、検査器やフラッシュマイコン書込器と無線で通信できるよう構成することも可能である。
【００７１】
実施の形態４の構成においては、炊飯器への組み込み前の基板状態でバラツキ調整を行うことが可能となり、誘導加熱調理器の組立後の調整をなくすことができる。基板状態で検査、バラツキ調整を行えば、組立完成品で検査、バラツキ調整を行うよりも、検査する場所を節約することができ、工場の省スペース化を実現することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７２】
本発明は、誘導加熱により加熱調理する誘導加熱調理器において、個々の誘導加熱調理器固有の特性を考慮した制御プログラムが実行されるため、所望の調理を確実に行うことが可能となり、汎用性が高く有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック図で示した回路図である。
【図３】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器である炊飯器の炊飯シーケンスを示すグラフである。
【図４】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器における電力テストプログラム１７を実行するフローチャートである。
【図５】本発明に係る実施の形態２の誘導加熱調理器における更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合のフローチャートである。
【図６】本発明に係る実施の形態４の誘導加熱調理器の回路部品の主要部を実装した基板を示す概略図である。
【符号の説明】
【００７４】
１ 内釜
２ 誘導加熱コイル
３ インバータ回路
４ 商用電源
５ インバータ駆動制御回路
６ 電源電流検知回路
７ 電源電圧検知回路
８ 温度検知器
９ フラッシュマイコン
１０ フラッシュマイコン書込器
１１ 表示部
１２ 操作部
１３ 中央演算回路
１４ フラッシュメモリ
１５ ＡＤ変換器
１６ 入出力回路
１７ 電力テストプログラム
１８ 炊飯シーケンス
１９ 中央処理装置
２０ フラッシュ書込みプログラム
２１ 入出力回路
２２ 検査器
４０ 素子電圧検出回路
４１ 半波整流平滑回路
４２ スイッチング電源
４３ ５Ｖ直流電源
【技術分野】
【０００１】
本発明は、誘導加熱により加熱調理する誘導加熱調理器に関し、特にマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
誘導加熱は電磁誘導で金属を加熱できるため、金属製の鍋を高効率で直接加熱することが可能であり、調理器の多くに用いられてきている。このような誘導加熱の特性を生かした調理器の一つとして炊飯器がある。最近の炊飯器においては、米種やユーザの好みに対応できるように種々の炊飯シーケンスを実行することが可能な炊飯器が提供されている。このような炊飯器においては、誘導加熱手段である誘導加熱コイルに対する駆動制御を行い、鍋に加える電力を制御しているものがある。この電力を検知する為に、入力電流を検知する電流検知回路と電源電圧を検知する電圧検知回路を設け、この電流検知回路の出力値と電圧検知回路の出力値をマイクロコンピュータ（以後、マイコンと省略する）において演算処理し、当該炊飯器における基準値になるように、スイッチング素子のオン時間を制御している。
【０００３】
これらの電流検知回路や電圧検知回路を構成する部品の個々においては、特性のバラツキが存在するため、正確な電力制御を行うためには、出荷前の個々の炊飯器においてバラツキ調整を行う必要がある。
バラツキ調整を行う方法としては、電流検知回路や電圧検知回路の構成部品に可変抵抗器を実装して、入力電力が設定基準値となるよう調整する方法がある。（例えば、特許文献１参照。）
また、炊飯器に電源電圧検知手段、電源電流検知手段および電源電圧電流調整手段を設け、電源電圧電流調整手段により電圧レベルを調整するものが開示されている。この炊飯器においては、調整完了後に不揮発性メモリに調整値を記憶させておき、再度の電力調整を容易なものとしている。（例えば、特許文献２参照。）
【０００４】
上記のように、誘導加熱調理器における炊飯器では、部品個々のバラツキに応じたバラツキ調整を工場出荷前の段階で行うことにより、炊飯器における電気回路を構成する各部品のバラツキに起因する電力の変動要因を無くしていた。
【特許文献１】特開平１１−０５６６０２号公報
【特許文献２】特開２００５−１３０９９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の誘導加熱調理器における炊飯器においては、工場出荷前の組立工程において各炊飯器を起動して電力検査を行い、その検査結果に応じて個々の炊飯器における可変抵抗器等を用いてバラツキ調整を行っていた。また、炊飯器以外の誘導加熱調理器においても、正確な駆動制御が必要な機器においては、それぞれの機器の電力を予め検査して同様の調整を行っていた。
【０００６】
上記のように誘導加熱調理器においては、正確な駆動制御を行うために機器の組立の最終段階において検査とバラツキ調整作業が必要であり、組立工程における煩雑な作業の一つとなっていた。
また、可変抵抗に変わって外部メモリを用いてバラツキ調整を行う場合には、外部メモリとマイコンとの通信不良が起きたときに、正常に動作しないという信頼性上の課題があった。
また、誘導加熱調理器においては、電気回路を構成する部品等が経年変化によりその特性が変わる場合がある。そのような場合においても継続して同じ制御プログラムを実行していると望ましい調理ができないという問題があった。
【０００７】
本発明は、誘導加熱調理器の組立工程における煩雑な検査・調整作業を簡便化し、且つより正確な駆動制御を継続して精度高く行うことができる誘導加熱調理器及びその製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の観点の誘導加熱調理器は、フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有し、前記フラッシュメモリには誘導加熱調理器を駆動制御するための制御プログラムが記憶されており、前記マイクロコンピュータには前記フラッシュメモリ内に記憶された前記制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられている。このように構成された第１の観点の誘導加熱調理器は、外部メモリが不要となり、外部メモリとマイコン間の通信が不要となるので、通信不良がなくなり信頼性が高くなる。また、変更できるデータ数が外部メモリの容量の影響を受けなくなり、一台ごとに最適な調整を行うことが可能となる。また、フラッシュマイコンなので、制御プログラムの書き換えを容易に、且つ確実に行うことが可能となる。
【０００９】
本発明の第２の観点の誘導加熱調理器は、前記の第１の観点における誘導加熱調理器が入力電流を検知する電流検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電流検知手段の検出値が入力電流設定値になるように制御するプログラムを有し、前記制御プログラムの書き替え時に前記入力電流設定値を書き替え可能に設定している。このように構成された第２の観点の誘導加熱調理器においては、正確な電流値で制御することができ、バラツキ調整用の可変抵抗や外部メモリが不要となり実装面積を小さくすることができる。
【００１０】
本発明の第３の観点の誘導加熱調理器は、前記第２の観点における誘導加熱調理器のマイクロコンピュータと前記マイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段は、制御プログラムの検査時に電気的に接続されるよう構成されている。このように構成された第３の観点の誘導加熱調理器においては、バラツキの要因となる電気部品が接続された状態で制御プログラムの検査が行われるため、精度の高い検査を少ない工程で行うことが可能となる。また、誘導加熱調理器のマイクロコンピュータとマイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段のバラツキの要因となる電気部品を実質的に１つの基板に実装することにより、その基板だけで検査が可能のとなり、完成品でのバラツキ調整工程を省略することができる。
【００１１】
本発明の第４の観点の誘導加熱調理器は、前記第２および第３の観点における誘導過熱調理器が、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電源電圧検知手段の検出値と電源電圧基準値に基づいて、入力電流設定値を補正するように制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記電源電圧基準値を書き替え可能に設定している。このように構成された第４の観点の誘導加熱調理器においては、正確な電源電圧を検知することが可能となり、正確な電力を制御することができる。また、バラツキ調整用の可変抵抗や外部メモリが不要となり実装面積を小さくすることができる。
【００１２】
本発明の第５の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第４の観点における誘導加熱調理器が、被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、前記誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子と、前記スイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは、前記素子電圧検知手段の検出値が素子電圧上限値を超えないように前記スイッチング手段のオン時間を制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記素子電圧上限値が書き替え可能に設定されている。このように構成された第５の観点の誘導加熱調理器においては、スイッチング素子が確実に最大定格以下で動作するようにマイクロコンピュータにより制御することが可能となり、スイッチング素子の破壊を防止することができる。
【００１３】
本発明の第６の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第５の観点における誘導加熱調理器が炊飯器であり、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは炊飯シーケンスプログラムを有し、前記炊飯シーケンスプログラムには入力電流設定値がデータとして入力されている。このように構成された第６の観点の誘導加熱調理器においては、炊飯器シーケンスプログラムを全て書き替えることが可能となり、炊飯器の経年変化にあわせて、炊飯シーケンスプログラムを書き替えて、安定した炊飯性能を長期間持続することができる。
【００１４】
本発明の第７の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第７の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、入力電流検知手段のバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１５】
本発明の第８の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の観点における誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第８の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段と電源電圧検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、これらのバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１６】
本発明の第９の観点の誘導加熱調理器は、前記第２から第６の観点における誘導加熱調理器のフラッシュメモリに記憶された制御プログラムがテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値と素子電圧検知手段の検出値を出力するように構成されている。このように構成された第９の観点の誘導加熱調理器においては、外部装置で入力電流検知手段と電源電圧検知手段と素子電圧検知手段のバラツキを確認することが可能となり、制御プログラムの書き替えの際に、これらのバラツキを考慮した値に書き替えることができる。
【００１７】
本発明の第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器の製造方法であって、
前記誘導加熱調理器は、前記フラッシュメモリ内に記憶された制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路と、入力電流を検知する電流検知手段と、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段と、誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
誘導加熱調理器の製造方法においては、前記マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、前記電流検知手段の検出値、前記電源電圧検知手段の検出値、および前記素子電圧検知手段の検出値を送信データとして外部装置に送信し、
前記外部装置は前記送信データに基づき入力電流設定値、電源電圧基準値、および素子電圧上限値を変更した制御プログラムを前記フラッシュメモリに書き込んでいる。このように構成された第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、マイクロコンピュータが読み込んでいるデータに変更するため、検知バラツキの小さい誘導加熱調理器を提供することができる。
【００１８】
本発明の第１１の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、外部装置による制御プログラムの書き替えが製品組立前の基板実装状態で行われる。このように構成された第１１の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、基板状態でバラツキ調整を行うため、製品組立後の調整が不要となり、操作キーによる調整や可変抵抗による調整が不要となり、煩雑な調整工程が不要となる。
【００１９】
本発明の第１２の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、マイクロコンピュータと外部装置との通信が入出力端子に接続された有線通信手段を介して行われる。このように構成された第１２の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、有線通信手段、例えばコネクタを介して通信が行われるため、炊飯器の経年変化で電力にバラツキが生じた場合でも、その場で、フラッシュメモリを書き替えすることができるため、長期間、バラツキの小さい誘導加熱調理器を提供することが可能となる。
【００２０】
本発明の第１３の観点の誘導加熱調理器の製造方法は、前記第１０の観点の誘導加熱調理器の製造方法において、マイクロコンピュータと外部装置との通信が無線通信手段を介して行われる。このように構成された第１３の観点の誘導加熱調理器の製造方法においては、無線通信手段を介して外部装置と通信し、フラッシュメモリに記憶されたプログラムを書き替えることができるため、プログラムの書き替えのために炊飯器を分解したりする必要がなく、その場で書き替えが可能となる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、誘導加熱調理器の組立工程における検査・調整作業の簡便化を図ることが可能となり、且つより正確な駆動制御を継続して精度高く行うことができる誘導加熱調理器及びその製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明に係る誘導加熱調理器及びその製造方法について好適な実施の形態として炊飯器を示して詳細に説明する。本発明の誘導加熱調理器としては炊飯器に限定されるものではなく、誘導加熱を用いて制御プログラムに基づいて動作する調理器、例えば電子レンジ、スチームレンジ、クッキングヒータ等の調理器であれば適用可能である。なお、以下に説明する実施の形態においては、本発明の特徴を詳細に説明するものであるが、この実施の形態における開示内容は構成の細部において変化してしかるべきものであり、各構成要素の組合せや順序の変化は請求された特許請求の範囲及び本発明の技術的思想を逸脱することなく実現し得るものである。
【００２３】
［実施の形態１］
図１は本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器の構成を示すブロック図である。図２は実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック化して示した回路図である。
【００２４】
図１に示すように、炊飯器の内釜１には被加熱物である被調理物が収納された状態において、ユーザが指定した炊飯シーケンスに従って誘導加熱手段である誘導加熱コイル２により設定された電力及び温度により加熱される。誘導加熱コイル２はインバータ回路３により形成された高周波電力が供給されて誘導加熱する。内釜１の加熱状態は温度検知手段である温度検知器８により検知され、その検知信号が後述するフラッシュマイコン９に送られている。ここでフラッシュマイコン９とは、フラッシュメモリ１４を内蔵するマイクロコンピュータである。フラッシュメモリ１４は、記憶されたデータの消去、書き込みを行うことができるものであり、フラッシュメモリ１４への電源供給が遮断されても、記憶されているデータは保持される。
【００２５】
実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器においては、商用電源４から入力された電源電流を電流検知手段である電流検知回路６により検出して電圧信号に変換し、その電圧信号をフラッシュマイコン９に入力している。即ち、実施の形態１の炊飯器においては、入力される電流値が常に検知されている。また、電源電圧検知手段である電源電圧検知回路７は、商用電源４から供給される電源電圧を検出し、その検出した電圧信号はフラッシュマイコン９に入力されている。
【００２６】
フラッシュマイコン９には、演算制御処理を行う中枢部である中央演算回路（ＣＰＵ）１３、書き換え可能である記憶手段であるフラッシュメモリ１４、アナログ電圧をデジタル値に変換するＡＤ変換器１５、外部とのデータ伝送を行う入出力ポートを有する入出力回路１６であるシリアルインターフェース等が少なくとも設けられている。なお、フラッシュマイコン９は、実施の形態１の説明においては省略するが、タイマ回路、クロック発生回路等の一般的に設けられている回路を有するものである。
実施の形態１の炊飯器には、液晶表示パネル（ＬＣＤ）等が用いられ、フラッシュマイコン９からのデータ等を表示する表示部１１と、ユーザの炊飯指令、設定及び調整等を行うための操作部１２が設けられている。
【００２７】
図２は実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック化して示した回路図である。
商用電源４から供給された電力は、整流手段であるダイオードブリッジ２３により全波整流される。コンデンサ２４は電源周波数の２倍の周波数は平滑せず、高周波成分を吸収するフィルタの役割を果たしている。誘導加熱コイル２と並列に共振用コンデンサ２５が設けられており、スイッチング素子であるＩＧＢＴ（Insulated Gate Bipolar Transistor）２６のスイッチング動作により高周波電流が、設定された炊飯シーケンスプログラム１８に応じて誘導加熱コイル２に供給される。このＩＧＢＴ２６と並列に還流ダイオードが接続されている。実施の形態１の炊飯器においては、ＩＧＢＴ２６のオン時間により供給電力を制御するよう構成されており、誘導加熱コイル２への電流量を制御して内釜１に対する加熱制御を行っている。実施の形態１においては、共振用コンデンサ２５及びＩＧＢＴ２６によりインバータ回路３が構成されている。
【００２８】
インバータ駆動制御回路５は、フラッシュマイコン９からの制御信号が入力され、ＩＧＢＴ２６のゲート端子に駆動信号を出力する。駆動信号により励起されたＩＧＢＴ２６は、誘導加熱コイル２に高周波電流を出力し、内釜１を誘導加熱する。フラッシュマイコン９のフラッシュメモリ１４には各種炊飯シーケンスのデータが格納されており、ユーザにより選択された炊飯シーケンスプログラム１８に従ってフラッシュマイコン９から制御信号が出力されるよう構成されている。
【００２９】
商用電源４に接続された半波整流平滑回路４１は、商用電源４から入力された電圧信号を整流ダイオードと電解コンデンサにより約１４１Ｖの電圧に半波整流平滑する。スイッチング電源４２は、半波整流平滑回路４１の出力値である約１４１Ｖの電圧を専用ＩＣとコイルを用いて２０Ｖの直流電圧に降圧している。５Ｖ直流電源４３においては、トランジスタとツェナーダイオードでエミッタフォロア回路が構成されており、スイッチング電源４２からの出力値である２０Ｖの直流電圧を５Ｖの直流電圧に降圧している。この５Ｖ直流電源４３がフラッシュマイコン９とその周辺回路に電力を供給している。また、５Ｖ直流電源４３はフラッシュマイコン９内のＡＤ変換器１５の基準電圧源として直流電圧を供給している。
【００３０】
電流検知回路６には入力電流を検知するためにカレントトランス（ＣＴ）２７が商用電源４とダイオードブリッジ２３との間に設けられており、カレントトランス２７の１次側に商用電源４からの電流が検出される。カレントトランス２７の２次側の出力は、ダイオードブリッジ２８で全波整流され、電解コンデンサ２９で平滑される。電解コンデンサ２９により平滑された電圧は、抵抗により分圧されて、入力電流を示す信号としてフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力される。ＣＰＵ１３はＡＤ変換器１５が変換した入力値（デジタル値）と入力電流設定値（デジタル値）との差を演算し、入力電流設定値より入力値の方が小さい場合は、スイッチング素子のオン時間を増やし、入力電流設定値より入力値の方が大きい場合はスイッチング素子のオン時間を減らす。この制御プログラムはフラッシュメモリ１４に記憶されている。
【００３１】
電源電圧検知回路７においては、商用電源４からダイオード３０により半波整流され、抵抗器で分圧されて、この分圧された電圧をトランジスタ３１とコンデンサ３２を有するエミッタフォロア回路でピークホールドする。この電源電圧検知回路７の出力は、電源電圧を示す信号としてフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力される。ＣＰＵ１３は、ＡＤ変換器１５が変換した入力値（デジタル値）と電源電圧基準値（デジタル値）との差を演算し、その演算結果に基づいて入力電流設定値（デジタル値）を補正する。例えば、電源電圧基準値より入力値の方が小さい場合は、入力電流設定値を大きくし、電源電圧基準値より入力値の方が大きい場合は、入力電流設定値を小さくする。その結果、入力電力がほぼ一定となる。
【００３２】
内釜１の温度を検出する温度検知手段である温度検知器８は、例えばサーミスタで構成されており、内釜１の温度を示す信号をフラッシュマイコン９に入力している。
スイッチング手段であるＩＧＢＴ２６の両端電圧は、素子電圧検知手段である素子電圧検知回路４０により検出されている。
素子電圧検知回路４０は、特に図示していないが、複数の抵抗の直列回路からなる抵抗分圧回路と、この抵抗分圧回路の出力電圧のピーク値を保持するエミッタフォロア回路で構成されており、ＩＧＢＴ２６の両端電圧（コレクタ−エミッタ間電圧）に相当する電圧をフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に出力している。
フラッシュマイコン９は素子電圧検知回路４０の検出値がＩＧＢＴ２６の素子電圧上限値を超えないように、ＩＧＢＴ２６のオン時間を制御している。フラッシュメモリ１４に記憶されている制御プログラムには、素子電圧検知回路４０の検出値が素子電圧上限値を超えないようにＩＧＢＴ２６のオン時間を制御するためのプログラムを有しており、フラッシュメモリ１４の書き替え時において素子電圧上限値が書き替えられるよう構成されている。
なお、実施の形態１では、スイッチング素子のオン時間を制御する要素に入力電流設定値と素子電圧上限値があるが、この二つの制御は矛盾しない。なぜなら、この二つの制御プログラムの結果得られるスイッチング素子のオン時間の内、オン時間の小さい方を選択するように制御プログラムを構成しているからである。
【００３３】
以上のように、フラッシュマイコン９には、入力電流を示す信号、電源電圧を示す信号、内釜１の温度を示す信号、およびＩＧＢＴ２６の両端電圧を示す信号が入力されている。これらの入力信号は、全てフラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５に入力されている。このＡＤ変換器１５の基準電圧は５Ｖ直流電源４３により供給されている。
上記のようにフラッシュマイコン９に入力された、入力電流を示す信号、電源電圧を示す信号、内釜１の温度を示す信号、およびＩＧＢＴ２６の両端電圧を示す信号に基づいて、フラッシュメモリ１４の制御プログラムにおけるそれぞれの設定値が書き替えられるよう構成されている。
【００３４】
実施の形態１においては、炊飯器への入力電流が実際は同じであっても、電流検知回路６を構成する電子部品の特性がバラツキを有していると、電流検知回路６の検出値は変動する。また、５Ｖ直流電源４３の構成部品の特性がバラツキを有していると、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が変動する。このような変動が生じると、フラッシュマイコン９のＡＤ変換器１５の検出したデジタル値が変動し、入力電流の変動として検知（検知バラツキ）する。例えば、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が５Ｖであり、電流検知回路６の出力電圧が４Ｖの場合、フラッシュマイコン９が検出した入力電流に相当するデジタル値は（０ｘｃｃ）となる。一方、５Ｖ直流電源４３の出力電圧が４．５Ｖで、電流検知回路６の出力電圧が４Ｖの場合、フラッシュマイコンが検出した入力電流に相当するデジタル値は（０ｘｅ３）となる。
【００３５】
上記のように検知されるバラツキの要因としては、電流検知回路６の構成部品の特性のバラツキとフラッシュマイコン９に電力供給する５Ｖ直流電源４３の構成部品の特性のバラツキが大きく影響している。このため、入力電流の検知バラツキを正確に検知し、その検知バラツキを可能な限り低減させるためには、制御プログラムの検査においては電流検知回路６と５Ｖ直流電源４３とフラッシュマイコン９を電気的に接続した状態で行う必要がある。
【００３６】
図３は実施の形態１の誘導加熱調理器である炊飯器の炊飯シーケンスを示している。
この炊飯シーケンスは図１および図２に示したフラッシュメモリ９に記憶されている。図３に示すように、実施の形態１における炊飯シーケンスは、浸水工程、炊き上げ工程、沸騰維持工程、およびむらし工程を有して構成されている。
以下、図１、図２および図３を参照しつつ、実施の形態１における炊飯シーケンスについて説明する。
【００３７】
浸水工程では、フラッシュマイコン９内のタイマを用いて、計時時間が第１の所定時間ｔ１（通常２０分前後）になるまで、温度検知器８の検知温度が第１の所定温度（通常５５℃前後）になるように内釜１が加熱される。このとき、フラッシュマイコン９はＩＧＢＴ２６をオンオフ制御し、誘導加熱コイル２に高周波電流を流している。浸水工程における加熱手段である誘導加熱コイル２への入力電流の設定値はＩｓ１である。浸水工程は、糊化温度よりも低温の水に米を浸し、予め米に吸水させておくことにより、浸水工程より後の工程において、米の中心部まで十分に糊化させるために設定されている。また、浸水工程は、米に含まれるアミラーゼにより澱粉を分解しグルコースを生成させる工程でもあり、この工程において、飯の甘味を生み出すのである。
【００３８】
次に、浸水工程終了後、炊き上げ工程に移行する。炊き上げ工程では、図３に示すように、温度検知器８の検知温度が第２の所定温度Ｔ２（水の沸点（通常１００℃近傍））になるまで、内釜１を加熱するものである。この時、内釜１の温度を素早く立ち上げるために、最初の数秒間、入力電流の設定値をＩｓ２に設定する。図３から明らかなように、炊き上げ工程における設定値Ｉｓ２は、浸水工程における設定値Ｉｓ１より高い値に設定されている。
【００３９】
なお、炊き上げ工程では、温度検知器８の検知温度により誘導加熱コイル２を制御したが、別途、内釜１の開口部を覆う蓋の温度を検知する蓋温度検知手段を設け、この蓋温度検知手段の検知温度が所定温度に達するまで、誘導加熱コイル２が内釜１を加熱することも可能である。
【００４０】
引き続き、炊き上げ工程終了後、沸騰維持工程に移行する。沸騰維持工程においては、内釜１に水が存在する間は、温度検知器８の検知温度が、図３に示すように、第２の所定温度（水の沸点（通常１００℃近傍））で沸騰状態を維持するように、フラッシュマイコン９がＩＧＢＴ２６のオン時間を制御して、誘導加熱コイル２に高周波電流を供給し、内釜１を加熱する。そして、沸騰維持工程の時間が経過していくと、内釜１内の水が蒸発して、内釜１内に水がなくなり、内釜１の温度が急激に上昇する。温度検知器８の検知温度が、第３の所定温度（水の沸点以上（通常１３０℃近傍））に到達すると、フラッシュマイコン９は内釜１内に水がなくなったと判断して、沸騰維持工程を終了する。この沸騰維持工程は、米澱粉を糊化させる工程であり、炊飯後の飯の糊化度は１００％近くに達するが、この工程終了時には糊化度は５０〜６０％程度となる。
【００４１】
次に、むらし工程に進む。むらし工程では、図３に示すように、フラッシュマイコン９のタイマによる計時時間が第２の所定時間ｔ２（通常１５分前後）になるまで、温度検知器８の検知温度が第２の所定温度（通常１００℃近傍）で維持するように、フラッシュマイコン９がＩＧＢＴ２６をオンオフ制御して、誘導加熱コイル２に高周波電流を供給し、内釜１を加熱する。むらし工程は沸騰維持工程に引き続き、米澱粉を糊化させる工程であり、むらし工程の開始時には糊化度は５０〜６０％程度であったものが、むらし工程終了時、すなわち、炊飯終了時には、糊化度は１００％近くに達する。
【００４２】
上記のように構成された実施の形態１の炊飯器において、入力された電源電圧が同じであっても電気回路を構成する部品等のバラツキにより検出された電力値は僅かに変動しているため、個々の炊飯器において同じ設定値の炊飯シーケンスプログラム１８で動作させると、内釜１を加熱する電力が異なるため、異なる炊飯状態となる場合が生じる。
【００４３】
しかし、実施の形態１の炊飯器においては、フラッシュマイコン９のフラッシュメモリ１４にはテストプログラムである電力テストプログラム１７が格納されており、後述する検査機２２を炊飯器に接続して、電力テストプログラム１７を実行することにより、当該炊飯器を構成するフラッシュマイコン９が検知した値を知ることができる。なお、電力テストプログラム１７はフラッシュメモリ１４とは別の記憶手段であるＲＯＭを設け、そのＲＯＭに格納しても良い。
【００４４】
次に、例えば、１２００Ｗの炊飯器において、検査機２２により電力テストプログラム１７を実行する動作について図４を参照しつつ説明する。図４は電力テストプログラム１７を実行するフローチャートである。
【００４５】
図４において、ステップ１０１では、カレントトランス２７の１次巻線に設定電流である１２Ａの電流を供給する。
ステップ１０２では、フラッシュマイコン９が検知した電流検知回路６の検出値をデジタル値に変換して検査機２２に出力する。カレントトランス２７の１次巻線に１２Ａの電流を供給したとき、電流検知回路６が検出する標準値は、例えば４Ｖであり、その４Ｖに相当するデジタル値が（０ｘｃｃ）であっても、実際の検出値が、例えば３．８Ｖであれば、その３．８Ｖに相当するデジタル値（０ｘｃ２）が検出データＩsnewとして検査機２２に出力される。
【００４６】
ステップ１０３においては、検出データＩsnewが当該炊飯器のカレントトランス２７の１次巻線に１２Ａが流れた時のフラッシュマイコン９に入力される電圧であるため、この検出データＩsnewのデジタル値（０ｘｃ２）が新たな入力電流設定値Ｉｓとして、後述するフラッシュマイコン書込器１０によりフラッシュマイコン９に書き込まれる。
このように電力テストプログラムを実行することにより、目標電流（例えば１２Ａ)が入力されたときのフラッシュマイコン９の検知電圧を検出し、その検出された電圧を新たな設定値の電源電圧基準値として、炊飯シーケンスプログラム１８が書き換えられる。
【００４７】
なお、カレントトランス２７に大電流である１２Ａを流すには検査設備を大型化する必要がある。そこで、カレントトランス２７の１次巻線に１２Ａの大電流を流さずにカレントトランス２７の２次巻線からの出力電流に相当する電流値を検査器２２から供給する下記に説明する疑似電流入力方法を用いても良い。
【００４８】
疑似電流入力方法について具体的に説明する。
まず、カレントトランス２７の１次巻線と２次巻線の比率により電流比率を推定する。例えば、１次巻線が１ターン、２次巻線が３０００ターンであれば、１次巻線に１２Ａ流れたときは、２次巻線にはその１／３０００の４ｍＡが流れる。そこで、ダイオードブリッジ２８の入力側に４ｍＡの定電流源を接続し、その時のフラッシュマイコン９の読み込み値がデジタル値でいくつであるかを検出する。ただし、この疑似電流入力方法にはカレントトランス２７のバラツキが含まれないため、予めカレントトランス２７の１次巻線と２次巻線の電流比を測定しておき、そのデータを基に各基板ごとに定電流源の電流値を変更し、調整するように構成しても良い。
【００４９】
上記のような入力電流検出方法を用いることにより、炊飯器に組み込む前の基板状態において電力調整が可能となり自動検査器の使用が可能となる。即ち、バラツキ調整時に人が機械に触れる必要がなくなり、調整時に製品に傷を付けたり、製品が壊れたりすることが防止される。
【００５０】
実施の形態１の炊飯器において、フラッシュメモリ１４に格納された炊飯シーケンスプログラム１８における設定値を書き換える場合には、フラッシュマイコン９の入出力回路１６にフラッシュマイコン書込器１０を接続する。フラッシュマイコン書込器１０は、フラッシュ書込プログラム２０がその記憶手段に格納されており、中央処理装置（ＣＰＵ）１９により入出力回路２１を介して接続されたフラッシュマイコン９の炊飯シーケンスプログラム１８が書き換えられる。フラッシュ書込プログラム２０にしたがって、検査器２２が検知したフラッシュマイコン９からの出力値が新しい設定値として入力され、その結果、フラッシュメモリ１４に格納されている全ての炊飯シーケンスプログラム１８に対して当該炊飯器に対応した設定値が入力される。
【００５１】
なお、実施の形態１の炊飯器においては電流検知回路６にカレントトランス２７が用いられており、前述のようにカレントトランス２７においても個々でバラツキが存在するため、個々のカレントトランス２７における偏差を示すデータを予め入手し、そのカレントトランス２７のデータをテストプログラムに書き込んでおき、当該カレントトランスの偏差を考慮に入れた設定値を算出するよう構成しても良い。なお、各カレントトランスにその特性値が書き込まれたＩＣチップを張り付けておき、製品組立時に各カレントトランスの特性を読み込み、その読み込んだ特性値を考慮した炊飯シーケンスプログラム１８を形成しても良い。
【００５２】
また、実施の形態１の誘導加熱調理器においては、フラッシュマイコン９に設けられた入出力回路１６を無線による双方向通信が可能な構成としても良い。このように構成された誘導加熱調理器においては、フラッシュマイコン９に格納されたプログラムの書き換え用接続端子に接続するための、例えば開口（接続端子用孔）を特別に設ける必要がなく、外観設計における規制を少なくすることができる。
【００５３】
［実施の形態２］
次に、本発明に係る実施の形態２の誘導加熱調理器について説明する。実施の形態２の誘導加熱調理器として、炊飯器を例に挙げて説明する。
【００５４】
実施の形態２の誘導加熱調理器である炊飯器においては、前述の実施の形態１の炊飯器と同様にフラッシュマイコンが用いられており、このフラッシュマイコンのフラッシュメモリに電力テストプログラムの他に更正プログラムが記憶されている。なお、この更正プログラムは別の記憶手段であるＲＯＭに格納するよう更正しても良い。実施の形態２の誘導加熱調理器である炊飯器においては、実施の形態１の炊飯器と実質的に同様の構成を有しているため実施の形態１において用いた符号を適用して説明する。
【００５５】
実施の形態２の炊飯器において用いられている更正プログラムは、製品として出荷され、使用された後の状態において、当該炊飯器における電気回路の特性を検出し、検出された検査データに基づき、制御プログラムである炊飯シーケンスプログラム１８を更正するものである。使用後の炊飯器における電気回路を構成する部品等においては、経年変化等により、当該炊飯器の特性が変化する場合がある。そのような場合に、炊飯器においては予め設定している設定電力と異なる電力で炊飯シーケンスプログラム１８が動作し、美味しい飯が炊けない等の問題が発生するときがある。このような場合に、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、フラッシュメモリ９又はＲＯＭに記憶されている更正プログラムを実行して、誘導加熱調理器における電気回路の特性を検出し、検出された検査データに基づき炊飯シーケンスプログラム１８を更正するものである。
【００５６】
実施の形態２の炊飯器においては、更正プログラムおよびフラッシュ書込器１０のフラッシュ書込プログラムを実行する場合、まず、安定化交流電源と電力計と電圧計が必要である。
以下、実施の形態２の炊飯器において、更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合の動作について図５を参照しつつ説明する。図５は更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合のフローチャートである。
【００５７】
図５において、ステップ２０１では、炊飯器において更正プログラムを開始し、１２００Ｗで動作するモードに設定する。しかし、実際は経年変化などにより電気回路部品、特に電解コンデンサの定数が変動し、例えば１１８０Ｗ程度で動作している場合がある。
【００５８】
ステップ２０２において、当該炊飯器の実際の入力電力が１２００Ｗであるか否かが検出される。ステップ２０２において入力電力が例えば１１８０Ｗであった場合、当該炊飯器の特定の操作スイッチに対して所定の操作（例えば、炊飯器に設けられたパワー調整スイッチをオン状態とする）を行うことにより、フラッシュマイコン９内部の入力電流設定値が変更される（ステップ２０３）。実施の形態２においては、操作スイッチにおけるパワー調整スイッチを押圧することにより入力電力の調整ができるよう構成されている。
【００５９】
ステップ２０２では当該炊飯器の入力電力が１２００Ｗになったか否かを電力計によりサービスマンが確認する。入力電力が１２００Ｗとなった場合には、そのときにフラッシュマイコン９が設定している入力電流設定値(Ｉsnew）を検査器２２に出力する（ステップ２０４）。
ステップ２０５では、検査器２２が検出した入力電流設定値(Ｉsnew）を新しい設定値Ｉsとして、フラッシュマイコン書込器１０がフラッシュマイコン９に対して、フラッシュ書込プログラム２０によりデータ書き込みを行う。
【００６０】
上記のように構成された実施の形態２の誘導加熱調理器は、工場から出荷後のユーザの使用時において、制御プログラムの通りに動作しない場合、更正プログラムを起動することにより、当該誘導加熱調理器の制御プログラムにおける設定値（電力設定値、温度設定値、計時設定値等）の確認が可能となる。もし、制御プログラムの設定値等が当該誘導加熱調理器に適合しなくなっている場合には、検査データにより更正されて当該誘導加熱調理器に適合した制御プログラムがフラッシュマイコン９に格納される。この結果、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、制御プログラムの更正を容易に行うことが可能であり、信頼性が高く寿命の長い誘導加熱調理器を提供することが可能となる。
【００６１】
なお、実施の形態２の誘導加熱調理器においては、検査器２２を用いて更正プログラムを起動するよう構成されているが、誘導加熱調理器の電源線を介した伝送回線によりメーカ側から検査指令を出力し、その検査指令に応じて更正プログラムが起動するよう構成することも可能である。この場合、更正プログラムが起動され、検出された検査データにより制御プログラムが更正される。このような更正処理は、電源線を介した伝送回線を通じて中央に集められ、中央で更正処理の推移が管理される。もし、中央において更正処理において問題等が検知された場合には、即当該誘導加熱調理器を使用しているユーザに連絡され、適切な処理が施される。
【００６２】
［実施の形態３］
次に、本発明に係る実施の形態３の誘導加熱調理器について説明する。実施の形態３の誘導加熱調理器においても、炊飯器を例に挙げて説明するが、本発明の誘導加熱調理器としては炊飯器に限定されるものではなく、誘導加熱を用いて制御プログラムに基づいて動作する調理器であれば適用可能である。
【００６３】
実施の形態３の誘導加熱調理器である炊飯器は、フラッシュメモリに炊飯シーケンス書込プログラムが格納されている。その他の構成は、前述の実施の形態１の誘導加熱調理器と実質的に同じ構成であるため、実施の形態１の説明において用いた符号を適用する。炊飯シーケンス書込プログラムは、実施の形態２において説明した更正プログラムとフラッシュ書込プログラムを組み合わせたものであり、当該炊飯器自体において検査データに基づいて炊飯シーケンスプログラム１８を書き直すものである。
【００６４】
炊飯器を長期間使用した結果、電気回路を構成する部品に経年変化等により、炊飯器における特性が変わっていく。実施の形態３の炊飯器においては、そのように特性が変わった場合に、そのときの特性に合わせて自己解決型で炊飯シーケンスプログラム１８を書き換え更正するものである。炊飯シーケンスプログラム１８をそのときの特性に対応して書き換える場合、当該炊飯器の操作部におけるスイッチ操作により炊飯シーケンス書込プログラムの更正プログラムをまず起動する。この更正プログラムを起動するときは内釜１に所定量の水を入れた状態で行われる。更正プログラムが起動すると疑似炊飯動作が開始され、電力データ、温度データ、計時データ等が検査データとして検知される。
【００６５】
炊飯シーケンス書込プログラムにおいて、検知された検査データに基づいて炊飯シーケンスプログラム１８の設定値が書き換えられ、当該炊飯器に最適な炊飯シーケンスプログラム１８が形成される。なお、この炊飯シーケンス書込プログラムにおいては、当該炊飯器の稼働時間や使用頻度等が考慮されて、検査データの調整が行われている。ただし、メーカ側で予め決めていた稼働保証時間、使用保証期間等を超過していた場合には、当該炊飯シーケンス書込プログラムは起動しないよう構成されている。
【００６６】
上記のように構成された実施の形態３の誘導加熱調理器は、自己解決型であるため制御プログラムの更正を特殊の器具を用いることなく容易に、且つ確実に行うことができる。したがって、実施の形態３の誘導加熱調理器は、結果として長期間、所望の制御プログラムが確実に動作して、美味しい飯を炊くことが可能となる。
【００６７】
［実施の形態４］
図６は本発明に係る実施の形態４の誘導加熱調理器の回路部品の主要部を実装した基板を示す概略図である。図６において、６１はフラッシュマイコンであり、第１の基板６２に実装されている。図６においてフラッシュマイコン６１を点線で示しているのは、第１の基板６２の背面（裏側）に実装されているためである。６８はコネクタであり、フラッシュマイコン６１の入出力回路に接続し、第１の基板６２に実装されている。
【００６８】
第１の基板６２には、特に図示していないが、操作部および表示部に使用される部品が実装されている。例えば、ＬＣＤ、ＬＥＤ、モーメンタリスイッチなどが第１の基板６２に実装されている。
第１の基板６２とケーブル６８を介して電気的に接続された第２の基板６７には、電流検知回路６３、半波整流平滑回路６４、スイッチング電源６５、および５Ｖ直流電源６６が実装されている。また、第２の基板６７には、特に図示していないが、インバータ回路を構成するスイッチング素子や商用電源を整流するダイオードブリッジ、高周波ノイズをフィルタするコンデンサなどが実装されている。
制御プログラムの検査時において、第１の基板６２と第２の基板６７は機械的に接続された状態であり、検査後において、第１の基板６２と第２の基板６７は分割されて、炊飯器内部に組み込まれる。
【００６９】
前述の実施の形態１の炊飯器において説明したように、入力電流の検知バラツキの要因は電流検知回路６３の入力電流に対する出力電圧のバラツキと、５Ｖ直流電源６６の出力電圧のバラツキにある。このため、図６に示すように、検査時においてフラッシュマイコン６１と電流検知回路６３と５Ｖ直流電源６６が電気的に接続状態であれば、入力電流の検知バラツキの要因を含んだ状態で検査を行うことができ、そのときのフラッシュマイコン６１が検出した入力電流値には検知バラツキの要因が含まれている。このとき検出したフラッシュマイコン６１の入力電流値を新しい入力電流設定値とすれば、入力電流の検知バラツキのない誘導加熱調理器を実現できる。
また、実施の形態４では、フラッシュマイコン６１の入出力回路とコネクタ６８が接続されている。このような構成にすることにより、炊飯器に基板を組み込んだ後でも、コネクタ６８を通じてフラッシュマイコン６１と検査器やフラッシュマイコン書込器を接続し、有線で通信することができる。従って、例えば、炊飯器の長期使用により、電流検知回路６３や５Ｖ直流電源６６の電気的特性が経年変化したとしても、コネクタ６８を通じてフラッシュマイコン６１と検査器を有線で通信し、更正プログラムを実施することにより、入力電流のバラツキを抑えることができる。
【００７０】
なお、実施の形態４の炊飯器におけるフラッシュマイコン６１、電流検知回路６３、半波整流平滑回路６４、スイッチング電源６５、および５Ｖ直流電源６６は、前述の実施の形態１の炊飯器におけるフラッシュマイコン９、電流検知回路６、半波整流平滑回路４１、スイッチング電源４２、および５Ｖ直流電源４３にそれぞれが相当するものである。
また、実施の形態４では、フラッシュマイコン６１の入出力回路にコネクタ６８を接続し、検査器やフラッシュマイコン書込器と有線通信できるようにしているが、コネクタ６８の変わりに無線アンテナを接続し、検査器やフラッシュマイコン書込器と無線で通信できるよう構成することも可能である。
【００７１】
実施の形態４の構成においては、炊飯器への組み込み前の基板状態でバラツキ調整を行うことが可能となり、誘導加熱調理器の組立後の調整をなくすことができる。基板状態で検査、バラツキ調整を行えば、組立完成品で検査、バラツキ調整を行うよりも、検査する場所を節約することができ、工場の省スペース化を実現することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７２】
本発明は、誘導加熱により加熱調理する誘導加熱調理器において、個々の誘導加熱調理器固有の特性を考慮した制御プログラムが実行されるため、所望の調理を確実に行うことが可能となり、汎用性が高く有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器としての炊飯器の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る実施の形態１の炊飯器の構成を一部ブロック図で示した回路図である。
【図３】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器である炊飯器の炊飯シーケンスを示すグラフである。
【図４】本発明に係る実施の形態１の誘導加熱調理器における電力テストプログラム１７を実行するフローチャートである。
【図５】本発明に係る実施の形態２の誘導加熱調理器における更正プログラムおよびフラッシュ書込プログラムを実行する場合のフローチャートである。
【図６】本発明に係る実施の形態４の誘導加熱調理器の回路部品の主要部を実装した基板を示す概略図である。
【符号の説明】
【００７４】
１ 内釜
２ 誘導加熱コイル
３ インバータ回路
４ 商用電源
５ インバータ駆動制御回路
６ 電源電流検知回路
７ 電源電圧検知回路
８ 温度検知器
９ フラッシュマイコン
１０ フラッシュマイコン書込器
１１ 表示部
１２ 操作部
１３ 中央演算回路
１４ フラッシュメモリ
１５ ＡＤ変換器
１６ 入出力回路
１７ 電力テストプログラム
１８ 炊飯シーケンス
１９ 中央処理装置
２０ フラッシュ書込みプログラム
２１ 入出力回路
２２ 検査器
４０ 素子電圧検出回路
４１ 半波整流平滑回路
４２ スイッチング電源
４３ ５Ｖ直流電源
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有し、前記フラッシュメモリには誘導加熱調理器を駆動制御するための制御プログラムが記憶されており、前記マイクロコンピュータには前記フラッシュメモリ内に記憶された前記制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられた誘導加熱調理器。
【請求項２】
入力電流を検知する電流検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電流検知手段の検出値が入力電流設定値になるように制御するプログラムを有し、前記制御プログラムの書き替え時に前記入力電流設定値を書き替え可能に設定した請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項３】
マイクロコンピュータと前記マイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段は、制御プログラムの検査時に電気的に接続されるよう構成された請求項２に記載の誘導加熱調理器。
【請求項４】
交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電源電圧検知手段の検出値と電源電圧基準値に基づいて、入力電流設定値を補正するように制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記電源電圧基準値を書き替え可能に設定した請求項２または３のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項５】
被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、前記誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子と、前記スイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは、前記素子電圧検知手段の検出値が素子電圧上限値を超えないように前記スイッチング手段のオン時間を制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記素子電圧上限値が書き替え可能に設定された請求項２乃至４のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項６】
誘導加熱調理器が炊飯器であり、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは炊飯シーケンスプログラムを有し、前記炊飯シーケンスプログラムには入力電流設定値がデータとして入力されている請求項２乃至５のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項７】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項８】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項９】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値と素子電圧検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項１０】
フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器の製造方法であって、
前記誘導加熱調理器は、前記フラッシュメモリ内に記憶された制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路と、入力電流を検知する電流検知手段と、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段と、誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
前記マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、前記電流検知手段の検出値、前記電源電圧検知手段の検出値、および前記素子電圧検知手段の検出値を送信データとして外部装置に送信し、
前記外部装置は前記送信データに基づき入力電流設定値、電源電圧基準値、および素子電圧上限値を変更した制御プログラムを前記フラッシュメモリに書き込む誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１１】
外部装置による制御プログラムの書き替えが製品組立前の基板実装状態で行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１２】
マイクロコンピュータと外部装置との通信が入出力端子に接続された有線通信手段を介して行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１３】
マイクロコンピュータと外部装置との通信が無線通信手段を介して行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１】
フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有し、前記フラッシュメモリには誘導加熱調理器を駆動制御するための制御プログラムが記憶されており、前記マイクロコンピュータには前記フラッシュメモリ内に記憶された前記制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路が設けられた誘導加熱調理器。
【請求項２】
入力電流を検知する電流検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電流検知手段の検出値が入力電流設定値になるように制御するプログラムを有し、前記制御プログラムの書き替え時に前記入力電流設定値を書き替え可能に設定した請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項３】
マイクロコンピュータと前記マイクロコンピュータの電源回路と電流検知手段は、制御プログラムの検査時に電気的に接続されるよう構成された請求項２に記載の誘導加熱調理器。
【請求項４】
交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段を有し、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは前記電源電圧検知手段の検出値と電源電圧基準値に基づいて、入力電流設定値を補正するように制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記電源電圧基準値を書き替え可能に設定した請求項２または３のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項５】
被加熱物を誘導加熱する誘導加熱コイルと、前記誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子と、前記スイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは、前記素子電圧検知手段の検出値が素子電圧上限値を超えないように前記スイッチング手段のオン時間を制御するプログラムを有し、前記フラッシュメモリの書き替え時に前記素子電圧上限値が書き替え可能に設定された請求項２乃至４のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項６】
誘導加熱調理器が炊飯器であり、フラッシュメモリに記憶された制御プログラムは炊飯シーケンスプログラムを有し、前記炊飯シーケンスプログラムには入力電流設定値がデータとして入力されている請求項２乃至５のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項７】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項８】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項９】
フラッシュメモリに記憶された制御プログラムはテストプログラムを有し、前記テストプログラムを実行することにより、電流検知手段の検出値と電源電圧検知手段の検出値と素子電圧検知手段の検出値を出力するように構成された請求項２乃至６のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項１０】
フラッシュメモリを内蔵したマイクロコンピュータを有する誘導加熱調理器の製造方法であって、
前記誘導加熱調理器は、前記フラッシュメモリ内に記憶された制御プログラムを書き替えるために外部装置との通信を行う入出力回路と、入力電流を検知する電流検知手段と、交流電源の電圧を検知する電源電圧検知手段と、誘導加熱コイルを通電、遮断するスイッチング素子の両端電圧を検知する素子電圧検知手段と、を有し、
前記マイクロコンピュータがテストプログラムを実行して、前記電流検知手段の検出値、前記電源電圧検知手段の検出値、および前記素子電圧検知手段の検出値を送信データとして外部装置に送信し、
前記外部装置は前記送信データに基づき入力電流設定値、電源電圧基準値、および素子電圧上限値を変更した制御プログラムを前記フラッシュメモリに書き込む誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１１】
外部装置による制御プログラムの書き替えが製品組立前の基板実装状態で行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１２】
マイクロコンピュータと外部装置との通信が入出力端子に接続された有線通信手段を介して行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【請求項１３】
マイクロコンピュータと外部装置との通信が無線通信手段を介して行われる請求項１０に記載の誘導加熱調理器の製造方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００８−２０６６７３（Ｐ２００８−２０６６７３Ａ）
【公開日】平成２０年９月１１日（２００８．９．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−４５５１９（Ｐ２００７−４５５１９）
【出願日】平成１９年２月２６日（２００７．２．２６）
【出願人】（０００００５８２１）松下電器産業株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年９月１１日（２００８．９．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年２月２６日（２００７．２．２６）
【出願人】（０００００５８２１）松下電器産業株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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