説明

配線基板およびその製造方法

【課題】スルーホールを有するコア層の一面側に表層を積層してなり、スルーホール内壁のメッキを介して放熱を行う配線基板において、スルーホールの放熱性の差異に応じてスルーホールの内壁のメッキの厚さを、容易に制御できるようにする。
【解決手段】スルーホール30、31は、放熱性の異なる第1のスルーホール30と第2のスルーホール31とよりなり、放熱性の大きな方の第1のスルーホール30においては、メッキ32は2層以上積層されてなるものであり、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31においては、メッキ33は1層のみで構成されたものであり、第1のスルーホール30における2層以上のメッキ32の合計厚さは、第2のスルーホール31におけるメッキ33の厚さよりも大きい。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、スルーホールを有するコア層の一面側に表層を積層してなる配線基板に関し、特にスルーホール内壁のメッキを介して放熱を行うものに関する。
【背景技術】
【0002】
一般に、この種の配線基板としては、電気絶縁性のコア層の一面側に電気絶縁性の表層を積層したものが知られている。ここで、コア層には通常スルーホールが設けられている。このスルーホールは、当該コア層の厚さ方向に貫通する孔を設け、当該孔の内壁にメッキを設けるとともに当該孔に充填部材を充填してなるものである。
【0003】
さらに、この配線基板においては、表層とコア層との間に、スルーホールのメッキと電気的に接続された内層導体を設け、この内層導体と、表層に設けられた導電性の表層導体とを、表層をその厚さ方向に貫通するビアホールを介して、電気的に接続している。
【0004】
ここで、この配線基板においては、孔径の異なるスルーホールが混在する場合があり、この場合、スルーホールの内壁に形成されたメッキについては、一般には、孔径の大きなスルーホールではメッキ厚さが大きく、孔径の小さなスルーホールのではメッキ厚さが小さいものであった。これは、孔径が大きい方が、孔の内壁にメッキが堆積しやすいためである。
【0005】
一方で、従来より、孔径の異なるスルーホールの内壁にメッキを形成するものであって、小径のスルーホール用の孔を先に形成して、その内壁に1回目のメッキを行い、次に、大径のスルーホール用の孔を形成し、小径および大径の両方のスルーホール用の孔の内壁に2回目のメッキを行う方法が提案されている(特許文献1参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開2007−88202号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
ところで、本発明者は、配線基板として、発熱の大きいパワー素子などの発熱素子と、それよりも発熱の小さい制御素子や受動素子とを混載するものについて、検討を進めている。そして、この場合、発熱素子については、コア層に設けたスルーホールのメッキを介して放熱を行うことを考えた。
【0008】
つまり、スルーホールとして放熱性の異なるものを設け、制御素子や受動素子は放熱性の小さなスルーホールに接続し、発熱素子については、放熱性の大きなスルーホールに接続して、放熱を行うようにすることを考えた。その場合、放熱性の大きなスルーホールについては、その内壁のメッキを厚くする必要がある。
【0009】
しかしながら、近年、配線基板の小型化・薄型化の要望により、コア層も薄型化される傾向にあり、それに伴って、上記したような孔径の差異によるスルーホールの内壁のメッキ厚さの差異が、ほとんど生じなくなってきている。
【0010】
また、上記特許文献1の方法は、スルーホールの孔径によってメッキの構成を変えてはいるものの、スルーホールの放熱性の差異を考慮したものではない。
【0011】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、スルーホールを有するコア層の一面側に表層を積層してなり、スルーホール内壁のメッキを介して放熱を行う配線基板において、スルーホールの放熱性の差異に応じてスルーホールの内壁のメッキの厚さを、容易に制御できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0012】
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明においては、スルーホール(30、31)は、放熱性の異なる第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とよりなり、放熱性の大きな方の第1のスルーホール(30)においては、メッキ(32)は2層以上積層されてなるものであり、放熱性の小さな方の第2のスルーホール(31)においては、メッキ(33)は1層のみで構成されたものであり、第1のスルーホール(30)における2層以上のメッキ(32)の合計厚さは、第2のスルーホール(31)におけるメッキ(33)の厚さよりも大きいことを特徴とする。
【0013】
それによれば、放熱性の大きな方の第1のスルーホール(30)においては、メッキ(32)を2層以上積層されたものにすることで、放熱性の小さな方の第2のスルーホール(31)における1層のみのメッキ(33)よりもメッキ厚さを容易に厚くし、放熱性も大きくすることができる。よって、本発明によれば、スルーホール(30、31)の放熱性の差異に応じてスルーホール(30、31)の内壁のメッキ(32、33)の厚さを、容易に制御することができる。
【0014】
ここで、請求項2に記載の発明のように、請求項1の配線基板において、第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とで、孔径が同じであるものにすれば、コア層(10)に対してスルーホール用の孔を開けるときに、第1のスルーホール用の孔(30a)と第2のスルーホール用の孔(31a)とで同一サイズの孔開け治具を用いることができるので、孔あけ加工が容易になるという利点がある。
【0015】
また、請求項3に記載の発明のように、請求項1の配線基板においては、第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とでは、孔径が異なるものあってもよい。
【0016】
また、請求項4に記載の発明では、請求項1ないし3のいずれか1つに記載の配線基板において、表層(20)とコア層(10)との間に、内層導体として、コア層(10)の一面側にて第2のスルーホール(31)を被覆するメッキよりなる蓋メッキ(41)を設け、この蓋メッキ(41)を、第1のスルーホール(30)におけるメッキ(32)のうち内壁側から数えて2層目以降のメッキ層(32b)と同一の層により形成されたものとしたことを特徴とする。
【0017】
この種の配線基板においては、スルーホールを形成したコア層の一面に表層を貼り付け、その後、表層にレーザでビアホールとなる孔を開けるのが一般的である。ここで、本発明によれば、第2のスルーホール(31)に蓋メッキ(41)をすることで、この蓋メッキ(41)がビアホール(50)の孔開け加工における終点ストッパとなり、第2のスルーホール(31)がレーザによって損傷すること等を防止できる。また、この蓋メッキ(41)は、第1のスルーホール(30)の2層目もしくはそれ以降のメッキ層(32b)を形成するときに、同時に形成できるので、工程の簡略化も期待できる。
【0018】
また、請求項5に記載の発明では、請求項1ないし4のいずれか1つに記載の配線基板において、コア層(10)の一面側にて表層導体(60、61)に電子部品が電気的・熱的に接続されるものとし、第1のスルーホール(30)におけるメッキ(32)と第2のスルーホール(31)におけるメッキ(33)とを、コア層(10)の一面側では電気的・熱的に接続せず、コア層(10)の他面側に設けられたスルーホール間接続導体(42)を介して電気的・熱的に接続したことを特徴とする。
【0019】
それによれば、コア層(10)の一面側にて、発熱の大きい電子部品は第1のスルーホール(30)のメッキ(32)に接続され、発熱の小さい電子部品は第2のスルーホール(31)のメッキ(33)に接続されるが、これら両電子部品の間では、第1のスルーホール(30)および第2のスルーホール(31)の両メッキ(32、33)がスルーホール間接続導体(42)を介して直列に電気的・熱的に接続される。
【0020】
そのため、発熱の大きい電子部品からの熱が発熱の小さい電子部品へ伝わろうとするのを、放熱性が小さく熱が伝わりにくい第2のスルーホール(31)によって防止することができる。
【0021】
請求項6に記載の発明は、配線基板の製造方法に係るものであり、スルーホール(30、31)として、放熱性の異なる第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とを形成するものであり、スルーホール(30、31)の形成工程では、コア層(10)の厚さ方向に貫通する孔として、放熱性の大きな方の第1のスルーホール(30)用の孔(30a)、および、放熱性の小さな方の第2のスルーホール(31)用の孔(31a)を形成し、メッキ(32、33)を、第1のスルーホール(30)用の孔(30a)の内壁、および、第2のスルーホール(31)用の孔(31a)の内壁に同時に形成し、その後、第1のスルーホール(30)用の孔(30a)に充填部材(34)を充填し、次に、第2のスルーホール(31)用の孔(31a)における内壁のメッキ(33)をエッチングすることにより薄膜化し、しかる後、第2のスルーホール(31)用の孔(31a)に充填部材(34)を充填することを特徴とする。
【0022】
それによれば、放熱性の大きな方の第1のスルーホール(30)においては、メッキ(32)をエッチングせず、放熱性の小さな方の第2のスルーホール(31)におけるメッキ(33)をエッチングしてメッキ厚さを薄くすることができる。よって、本発明によれば、スルーホール(30、31)の放熱性の差異に応じてスルーホール(30、31)の内壁のメッキ(32、33)の厚さを、容易に制御することができる。
【0023】
なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
【図面の簡単な説明】
【0024】
【図1】本発明の第1実施形態に係る配線基板の概略断面図である。
【図2】第1実施形態の配線基板の製造方法を示す工程図である。
【図3】本発明の第2実施形態に係る配線基板の概略断面図である。
【図4】第2実施形態の配線基板の製造方法を示す工程図である。
【図5】本発明の他の実施形態に係る配線基板の概略断面図である。
【図6】本発明の他の実施形態に係る配線基板の概略断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0025】
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。
【0026】
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る配線基板1の概略断面構成を示す図である。本実施形態の配線基板1は、大きくは、板状をなすコア層10の両板面側に表層20、21を設けてなる積層基板であり、基板内部のスルーホール30、31、内層導体40〜42、ビアホール50、さらに表層20、21に設けられた表層導体60〜62といった各配線が電気的に接続されたものである。
【0027】
コア層10は、電気絶縁性の板状の部材であり、ガラス繊維に樹脂を含浸させてなるプリプレグや、エポキシ樹脂や、さらに樹脂にガラスや無機酸化物などの無機物のフィラーを含有させた材料などよりなる。また、コア層10は単層でも多層の集合体でもよい。
【0028】
表層20、21は、電気絶縁性のものであり、コア層10の一面(図1中の上面)に貼り付けられた第1の表層20と、コア層10の他面(図1中の下面)に貼り付けられた第2の表層21とよりなる。この表層20、21の材質は、コア層10と同様のものにできる。また、各表層20、21は単層でも多層の集合体でもよい。
【0029】
ここで、コア層10には、当該コア層10の一面から他面へ貫通する、すなわちコア層10の厚さ方向にてコア層10を貫通するスルーホール30、31が設けられている。ここでは、スルーホール30、31は、放熱性の異なる第1のスルーホール30と第2のスルーホール31とよりなる。
【0030】
放熱性の大きな方の第1のスルーホール30は、コア層10を厚さ方向に貫通する孔と、この孔の内壁に設けられた第1のメッキ32と、この孔に充填され当該孔を埋める充填部材34とにより構成されている。
【0031】
一方、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31は、コア層10を厚さ方向に貫通する孔と、この孔の内壁に設けられた第2のメッキ33と、この孔に充填され当該孔を埋める充填部材34とにより構成されている。
【0032】
ここで、両スルーホール30、31を構成する孔は、コア層10に対してパンチングや切削などの孔あけ加工を施すことにより形成される。また、充填部材34は、エポキシ樹脂などの電気絶縁性材料や、銅などの金属ペーストに代表される導電性材料よりなり、印刷やポッティングなどにより、充填が行われるものである。
【0033】
そして、本実施形態では、図1に示されるように、放熱性の大きな方の第1のスルーホール30においては、その内壁に形成されている第1のメッキ32が、2層のメッキ層32a、32bが積層されてなるものとしている。ここで、これら2層のメッキ層32a、32bについては、孔の内壁側から下側メッキ層32a、上側メッキ層32bとする。
【0034】
そして、これら下側メッキ層32a、上側メッキ層32bは、一般のスルーホールの内壁のメッキと同様に、電気メッキもしくは無電解メッキにより形成されたCuメッキなどよりなる。下側メッキ層32aと上側メッキ層32bとは、異なる金属メッキであってもよいが、典型的には、同じ金属とする。たとえば、本実施形態の第1のメッキ32は、2層のCuメッキよりなるメッキ層32a、32bが積層されたものにできる。
【0035】
それに対して、本実施形態では、図1に示されるように、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31においては、その内壁に形成されている第2のメッキ33が1層のメッキ層よりなるものとしている。後述するが、この第2のメッキ33は、上記第1のメッキ31の下側メッキ層32aと同じメッキ工程により同時に形成されるものであり、当該下側メッキ32aと同一の材質である。
【0036】
そして、本実施形態においては、第1のスルーホール30の第1のメッキ32の厚さ、つまり下側メッキ層32aと上側メッキ層32bの合計厚さは、第2のスルーホール31の第2のメッキ33の厚さよりも大きいものとされている。たとえば、第1のメッキ32の厚さが40μm以上で、第2のメッキ33の厚さが20μm以下である。
【0037】
また、本実施形態では、第1のスルーホール30と第2のスルーホール31とでは、孔径が同じであってもよいし、異なるものであってもよい。図1に示される例では、第1のスルーホール30の孔径の方が第2のスルーホール31の孔径よりも大きいものとなっている。
【0038】
また、図1に示されるように、内層導体40、41、42は、第1の表層20とコア層10との間、および、第2の表層21とコア層10との間に、それぞれ設けられている。これら内層導体40〜42のうちコア層10の一面側にて第2のスルーホール31の直上に設けられている内層導体41は、蓋メッキ41として構成されている。
【0039】
この蓋メッキ41は、第2のスルーホール31を被覆して、いわゆる蓋をするように設けられたものである。ここで、蓋メッキ41は、第2のスルーホール31の第2のメッキ33と接触して電気的に接続されている。
【0040】
そして、この蓋メッキ41は、第1のスルーホール30における第1のメッキ32のうち内壁側から数えて2層目以降のメッキ層32bと同一の層により形成されたものである。つまり、蓋メッキ41は、上側メッキ層32bと同じメッキ工程にて同時に形成されるメッキ層よりなる。
【0041】
また、蓋メッキ41を除く内層導体40、42は、ここでは、第1のメッキ32を構成する2層のメッキ層32a、32bと同じメッキ層により形成されている。つまり、当該内層導体40、42は、下側メッキ層32a、上側メッキ層32bを順次形成していくメッキ工程において、これらメッキ層32a、32bと同時に形成されるメッキ層よりなる。
【0042】
そして、蓋メッキ41を除く内層導体40、42は、両スルーホール30、31のメッキ32、33と電気的に接続され、各スルーホール30、31からコア層10の一面、他面上を引き回された配線として構成されている。なお、当該配線としての内層導体40、42のうち、図1ではスルーホール30、31に接していないものであっても、図示しない部分にて引き回されて接続がなされている。
【0043】
また、図1において、コア層10の他面側に設けられた上記配線としての内層導体40、42のうち両スルーホール30、31の間に位置する内層導体42は、スルーホール間接続導体42として構成されている。このスルーホール間接続導体42は、一端が第1のスルーホール30の第1のメッキ32に接続され、他端が第2のスルーホール31の第2のメッキ33に接続されている。
【0044】
こうして、両スルーホール30、31のメッキ32、33は、コア層10の他面側にて、スルーホール間接続導体42を介して電気的・熱的に接続されている。一方、コア層10の一面側では、両スルーホール30、31のメッキ32、33は電気的・熱的に接続されていない。
【0045】
また、本実施形態の配線基板1においては、電子部品としては、発熱の大きいパワー素子などの発熱素子や、発熱の小さい制御素子や受動素子(以下、上記発熱素子との対応でこれらを非発熱素子という)が混合して搭載されるが、これら電子部品はコア層10の一面側の第1の表層20に搭載される。一方、コア層10の他面側の第2の表層21には、図1に示されるようにアルミ筐体などの冷却部材2を接続し、配線基板1の熱を放熱するようにしている。
【0046】
各表層20、21の表面には、一般と同様、Cuメッキなどよりなる導電性の表層導体60、61、62が設けられている。第1の表層20の表層導体60、61のうち第1のスルーホール30寄りに位置する表層導体60は、放熱を要する発熱素子が搭載され接続される発熱素子搭載用の導体であり、第2のスルーホール31寄りに位置する表層導体61は、放熱が実質的に不要な制御素子や受動素子などの非発熱素子が搭載され接続される非発熱素子搭載用の導体である。
【0047】
ここで、第1の表層20には、第1の表層20の厚さ方向に貫通し上記の各素子搭載用の表層導体60、61と内層導体40、41とを電気的に接続するビアホール50が設けられている。このビアホール50は、第1の表層20にレーザで孔あけを行い、その孔に銅メッキなどにより導体を埋め込んでなるものである。
【0048】
また、コア層10の他面側の第2の表層21の外面には、第1の表層20のものと同様の材質よりなる表層導体62が設けられているが、これは、冷却部材2と熱的に接続して放熱を行う用をなすものである。
【0049】
こうして、本実施形態の配線基板1が構成されている。この配線基板1における発熱素子と非発熱素子との間の電気および熱の接続経路について述べると、発熱素子搭載用の表層導体60は、コア層10の一面側にてビアホール50、内層導体40を介して第1のスルーホール30の第1のメッキ32に接続され、そこから、コア層10の他面側にてスルーホール間接続導体42を介して、第2のスルーホール31の第2のメッキ33に接続され、そこから再びコア層10の一面側にて蓋メッキ41や内層配線40、ビアホール50を介して非発熱素子搭載用の表層導体61に接続されている。
【0050】
そのため、上記素子の搭載状態においては、上記発熱素子からの電流や熱は、この接続経路を通って上記非発熱素子に流れることになるが、発熱素子からの熱は、放熱性の小さい第2のスルーホール31は通りにくく、主として、第2のスルーホール31以外の接続部分へ放熱されていくことになる。そのため、発熱素子の熱が非発熱素子に伝わるのを極力防止することができる。
【0051】
次に、本実施形態の配線基板1の製造方法について、図2を参照して述べる。図2は、本製造方法を示す工程図であり、各ワークを断面的に示したものである。
【0052】
まず、用意されるコア層10は、板状の樹脂の両板面に銅箔が貼り付けられたものである。つまり、コア層10の両板面は銅箔よりなるものである。なお、この銅箔は図1、図2では省略してある。
【0053】
次に、図2(a)に示されるように、パンチングやドリルなどにより、コア層10に対して、コア層10の厚さ方向に貫通する孔30a、31aを設ける。この孔として、放熱性の大きな方の第1のスルーホール用の孔30a、および、放熱性の小さな方の第2のスルーホール用の孔31aを形成する。
【0054】
次に、1回目のメッキ工程を行う。具体的には、無電解メッキや電気メッキにより銅メッキを行い、コア層10の両板面および各孔30a、31aの内壁に、1回目のメッキ層M1を形成する。このメッキ層M1のうち、第1のスルーホール用の孔30aの内壁のものは下側メッキ層32aとなり、第2のスルーホール用の孔31aの内壁のものは第2のメッキ33となる。ここまでの状態が図2(a)に示される。
【0055】
次に、図2(b)に示されるように、両スルーホール用の孔30a、31aのうち第2のスルーホール用の孔31aのみに充填部材34を充填する。具体的には、第1のスルーホール用の孔30aを閉塞し、第2のスルーホール用の孔31aでは開口するマスクK1を用い、このマスクK1によってコア層10の一面をマスキングした状態で、充填部材34を印刷・供給する。
【0056】
この充填部材34の充填に伴い、実質的に第2のスルーホール31ができあがる。この後、第2のスルーホール用の孔31aから突出する充填部材34を除去し、コア層10の両板面を平坦化する等の目的で、必要に応じて、コア層10の両板面を研磨するようにしてもよい。
【0057】
そして、図2(c)に示されるように、2回目のメッキ工程を行う。この工程では、具体的には、無電解メッキや電気メッキにより銅メッキを行い、コア層10の両板面および第1のスルーホール30用の孔30aの内壁における1回目のメッキ層M1の上に、2回目のメッキ層M2を形成する。
【0058】
このとき、第2のスルーホール用の孔31aでは、当該孔31aに埋められた充填部材34によって内壁のメッキ層M1つまり第2のメッキ33は被覆保護されているので、2回目のメッキ層M2は付着しない。
【0059】
こうして積層された2層のメッキ層M1、M2のうち、第1のスルーホール用の孔30aの内壁のものは、下側メッキ層32aと上側メッキ層32bとからなる第1のメッキ32となる。また、両スルーホール用の孔30a、31a間のものはスルーホール間接続導体42となる。また、第2のスルーホール31の直上に形成された2回目のメッキ層M2は、蓋メッキ41となる。ここまでの状態が図2(c)に示される。
【0060】
次に、図2(d)に示されるように、両スルーホール用の孔30a、31aのうち第1のスルーホール用の孔30aのみに充填部材34を充填する。具体的には、上記したマスクを用いた選択的な充填部材34の印刷・供給方法を用いればよい。この充填部材34の充填に伴い、実質的に第1のスルーホール30ができあがる。
【0061】
その後は、フォトリソグラフ法により、コア層10の両面側において2層のメッキ層M1、M2を上記内層導体40、42の形状にパターニングする。こうして、両スルーホール30、31および内層導体40〜42が形成されたコア層10ができあがる。
【0062】
そして、このコア層10の両面に、表層20、21を熱圧着などにより貼り付け、固定する。そして、表層20に対してビアホール50となる孔をレーザで開ける。次に、無電解メッキや電気メッキにより銅メッキを行い、この銅メッキによってビアホール用の孔の充填、および、表層導体60〜62となる導体層の形成を行う。
【0063】
そして、フォトリソグラフ法により、表層導体60〜62となる導体層をパターニングすることで、表層導体60〜62を形成する。こうして本実施形態の配線基板1ができあがる。
【0064】
ところで、本実施形態によれば、放熱性の大きな方の第1のスルーホール30の第1のメッキ32を2層以上のメッキ層が積層されたものにすることで、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31における1層のみの第2のメッキ33よりもメッキ厚さを厚くし、放熱性を大きくしている。
【0065】
よって、本実施形態によれば、放熱性の異なるスルーホール30、31について、その放熱性の差異に応じて、その内壁のメッキ32、33の厚さを、容易に制御することができる。つまり、厚くしたい方の第1のメッキ32を2層以上のメッキ層が積層されたものとすることで、スルーホールの孔径によらず、放熱性に応じてメッキ厚さを制御することができるのである。
【0066】
また、上述したように、第1のスルーホール30と第2のスルーホール31とでは、孔径が同じであっても、異なっていてもよいが、同じであれば、コア層10に対してスルーホール用の孔30a、31aを開けるときに、第1のスルーホール用の孔30aと第2のスルーホール用の孔31aとで、同一径のパンチング用金型やドリルを用いればよい。そして、このように、同一サイズの孔開け治具を用いることができるので、孔あけ加工が容易になる。
【0067】
また、上述したが、本実施形態では、第1の表層20とコア層10との間には、内層導体として第2のスルーホール31を被覆する蓋メッキ41が設けられている。
【0068】
上述のように、本配線基板1の形成においては、スルーホール30、31を形成したコア層10の一面に第1の表層20を貼り付け、その後、当該表層20にレーザでビアホール50となる孔を開ける。また、このレーザによる孔あけは、この種の配線基板では一般的に行われることである。
【0069】
ここで、本実施形態によれば、第2のスルーホール31に蓋メッキ41をすることで、この蓋メッキ41がビアホール50の孔開け加工における終点ストッパとなる。そのため、当該孔あけのときに、第2のスルーホール31がレーザによって損傷すること等が防止される。
【0070】
また、本実施形態では、この蓋メッキ41は、第1のスルーホール30の2層目のメッキ層である上側メッキ層32bと同一の層よりなり、この上側メッキ層32bを形成するときに、同時に蓋メッキ41も形成される。そのため、蓋メッキ41形成のための工程を別途用意することが不要となり、工程の簡略化を図れる。
【0071】
また、本実施形態では、上述したように、コア層10の一面側に搭載される電子部品のうち発熱の大きい発熱素子は第1のスルーホール30の第1のメッキ32に接続され、発熱の小さい非発熱素子は第2のスルーホール31の第2のメッキ33に接続される。そして、これら両素子の間では、第1のスルーホール30および第2のスルーホール31の両メッキ32、33がスルーホール間接続導体42を介して直列に電気的・熱的に接続された状態とされる。
【0072】
そのため、発熱の大きい発熱素子からの熱が発熱の小さい非発熱素子へ伝わろうとするのを、放熱性が小さく熱が伝わりにくい第2のスルーホール31によって防止することができる。
【0073】
なお、上記図示例では、第1のスルーホール30の第1のメッキ32は、2層であったが、本実施形態において、当該第1のメッキ32は、3層以上のメッキ層よりなるものであてもよい。
【0074】
(第2実施形態)
図3は、本発明の第2実施形態に係る配線基板3の概略断面構成を示す図である。本実施形態では、上記第1実施形態との相違点を中心に述べることとする。
【0075】
図3に示されるように、本配線基板3は、上記同様、コア層10と、コア層10の一面側に積層された第1の表層20と、コア層10の他面側に積層された第2の表層21と、コア層10に設けられた第1のスルーホール30、第2のスルーホール31と、各表層20、21とコア層10との間に設けられた内層導体40、42と、第1の表層20に設けられた表層導体60、61と、第1の表層20に設けられたビアホール50とを備えて構成されている。
【0076】
ここで、図3に示されるように、本配線基板3においては、放熱性の大きな方の第1のスルーホール30における第1のメッキ32、および、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31における第2のメッキ33は、ともに1層のみで構成されたものであり、第1のメッキ32の厚さは、第2のメッキ33の厚さよりも大きいものであることが、上記第1実施形態と相違するところである。
【0077】
つまり、メッキの数に関していえば、本実施形態は、上記第1実施形態における第1のメッキ32の2層目のメッキ層32bを無くした構成である。なお、図3では、第1のスルーホール30の孔径の方が第2のスルーホール31の孔径よりも大きいものとなっているが、本実施形態においても、第1のスルーホール30と第2のスルーホール31とでは、互いの孔径が同じであってもよいし、異なるものであってもよい。
【0078】
また、このメッキ数を減らしたことにより、本配線基板3においては、上記第1実施形態の蓋メッキ41は無くなり、スルーホール間接続導体42およびそれ以外の内層導体40については、2層のメッキ層が積層されたものではなく、1層のメッキ層にて構成されている。
【0079】
ここで、本実施形態では、蓋メッキを省略しているため、第2のスルーホール31の直上にはビアホールを設けていない。その代わりに、第2のスルーホール31から外れた位置まで内層導体40を引き回し、当該位置にて第1の表層21にビアホール50を設け、それを介して、第1の表層20上の表層導体61と第2のスルーホール31とを接続している。なお、図3では、コア層10の他面側の第2の表層21において上記冷却部材2に熱的に接続される上記表層導体62(図1参照)は、省略されている。
【0080】
次に、本実施形態の配線基板3の製造方法について、図4を参照して述べる。図4は、本製造方法を示す工程図であり、各ワークを断面的に示したものである。
【0081】
まず、上記第1実施形態と同様に、コア層10を用意し、これにパンチングやドリルなどにより、コア層10に対して、放熱性の大きな方の第1のスルーホール用の孔30a、および、放熱性の小さな方の第2のスルーホール用の孔31aを形成する。
【0082】
そして、図4(a)に示されるように、1回目のメッキ工程を行う。具体的には、無電解メッキや電気メッキにより銅メッキを行い、コア層10の両板面および各孔30a、31aの内壁に、同時にメッキ層M1を形成する。このメッキ層M1のうち、第1のスルーホール用の孔30aの内壁のものは、第1のメッキ32となり、第2のスルーホール用の孔31aの内壁のものは、第2のメッキ33となる。
【0083】
次に、図4(b)に示されるように、両スルーホール用の孔30a、31aのうち第1のスルーホール用の孔30aのみに充填部材34を充填する。この充填は、具体的には、上記第1実施形態と同様(上記図2(b)参照)、マスクK2を用いた選択的な印刷方法により行う。
【0084】
つまり、図4(a)に示されるように、第2のスルーホール用の孔31aを閉塞し、第2のスルーホール用の孔31aでは開口するマスクK2を用い、このマスクK2によってコア層10の一面をマスキングした状態で、充填部材34を印刷・供給する。この充填部材34の充填に伴い、図4(b)に示されるように、実質的に第1のスルーホール31ができあがる。
【0085】
なお、本実施形態における充填部材34の選択的な充填、および、上記第1実施形態における充填部材34の選択的な充填については、図2や図4のようにマスクK1、K2による印刷でもよいが、ディスペンス法で行ってもよい。
【0086】
こうして、第1のスルーホール用の孔30aの内壁の第1のメッキ32は、当該孔30aを埋める充填部材34によって封止され、保護される。そして、この状態で、第2のスルーホール用の孔31aにおける内壁のメッキ、すなわち第2のメッキ33をエッチングすることにより薄膜化する。このエッチング後の状態が図4(c)に示される。
【0087】
このエッチングは、具体的には一般的な銅のエッチング液、たとえば酸系のエッチャントを用いたウェットエッチングにより行う。このとき、コア層10の両板面のメッキ層M1もエッチングされるので、当該エッチング後には、コア層10の両板面のメッキ層M1は、エッチングされない第1のスルーホール30の第1のメッキ32よりも薄くなりがちである。
【0088】
つまり、本実施形態では、できあがった上記配線基板3において、内層導体40、42のメッキ厚さよりも、第1のスルーホール30の第1のメッキ32のメッキ厚さの方が大きくなりがちである。
【0089】
次に、図4(d)に示されるように、第2のスルーホール用の孔31aに充填部材34を充填すると、実質的に第2のスルーホール31ができあがる。この充填については、上記同様、マスクによる印刷やディスペンス法などにより行える。なお、この充填をマスク印刷によって行う場合には、上記エッチング後であって当該充填を行う前に、コア層10の両板面を研磨して、当該板面より突出する第1のスルーホール30の充填部材34を除去するようにしてもよい。
【0090】
また、このコア層10の両板面を研磨することは、第2のスルーホール用の孔31aに充填部材34を充填した後に行ってもよい。それにより、両スルーホール用の孔30a、31aから突出する充填部材34を除去し、コア層10の両板面を平坦化する。なお、これら研磨は必要に応じて行えばよい。ここまでの状態が、図4(e)に示される。
【0091】
こうして、コア層10に対して、本実施形態の両スルーホール30、31が形成される。その後は、フォトリソグラフ法により、コア層10の両面側においてメッキ層M1を上記内層導体40、42の形状にパターニングする。こうして、両スルーホール30、31および内層導体40〜42が形成されたコア層10ができあがる。
【0092】
後は、上記第1実施形態と同様に、コア層10の両面への表層20、21の貼り付け・固定、ビアホール50となる孔の孔開け、ビアホール用の孔の充填、および、表層導体60〜62となる導体層の形成を行う。そして、表層導体60〜62となる導体層のパターニングを行い、表層導体60〜62を形成する。こうして本実施形態の配線基板3ができあがる。
【0093】
ところで、本実施形態の製造方法によれば、放熱性の大きな方の第1のスルーホール30における第1のメッキ32をエッチングせず、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31における第2のメッキ33のみをエッチングしてメッキ厚さを薄くするようにしている。
【0094】
そのため、たとえば第1、第2のスルーホール30、31の孔径が同じであっても、また、第2のスルーホール31の方が第1のスルーホール30よりも孔径が大きいものであっても、上記エッチングによる薄膜化によって、放熱性の小さな方の第2のスルーホール31のメッキ33の方を薄いものにできる。
【0095】
つまり、本実施形態においても、上記第1実施形態と同様に、スルーホールの孔径によらず、放熱性に応じてメッキ厚さを制御することができる。そのため、本実施形態によれば、スルーホール30、31の放熱性の差異に応じてスルーホール30、31の内壁のメッキ32、33の厚さを、容易に制御することができる。
【0096】
また、上記図示例では、各スルーホール30、31のメッキ32、33は1層であったが、ともに2層以上であってもよい。つまり、上記図4(a)にて両スルーホール用の孔30a、31aの内壁に形成するメッキ層M1は、2層以上でもよい。
【0097】
このとき、両孔30a、31aの内壁でメッキ層の積層数は同じであるが、この場合も、後工程で第2のスルーホール31のメッキ33のみに上記エッチングを行うことにより、第1のスルーホール30のメッキ32よりも第2のスルーホール31のメッキ33を薄くしてやればよい。
【0098】
(他の実施形態)
図5、図6に、本発明の他の実施形態に係る配線基板の概略断面図を示す。図5は、上記第1実施形態に示した配線基板を一部変形したものである。
【0099】
この図5のものは、上記図1に示した配線基板1において、コア層10と第1の表層20との間に設けられた内層導体として、さらに第1のスルーホール30を被覆する蓋メッキ43を付加したものである。
【0100】
この蓋メッキ43も他の内層導体と同様に、銅メッキ等よりなる。つまり、本実施形態では、上記第1実施形態の図2に示される製造工程において、図2(d)の状態から、さらに、前のメッキ工程と同様に、3回目のメッキ工程を行い、コア層10の両板面にメッキ層を形成してやればよい。
【0101】
その後は、上記第1実施形態と同様に、コア層10の両面への表層20、21の貼り付け・固定、ビアホール50となる孔の孔開け、ビアホール用の孔の充填、および、表層導体60〜62となる導体層の形成・パターニングを行うことで、図5に示される配線基板ができあがる。
【0102】
この場合、第1のスルーホール30の蓋メッキ43を形成するメッキ層と同一の層が、追加されるため、図5に示されるように、第2のスルーホール31の蓋メッキ41は2層のメッキ層となり、それ以外のスルーホール間接続導体42を含む内層導体40、42は、3層のメッキ層が積層されたものとなる。
【0103】
そして、この場合、内層導体として第2のスルーホール31だけでなく、第1のスルーホール30にも蓋メッキ43が設けられ、これがビアホールのレーザ孔開けを行うときの終点ストッパとなる。そのため、この第1のスルーホール30の蓋メッキ43の直上においても、第1の表層20にビアホール50が設けられている。
【0104】
そして、図5に示されるように、このビアホール50および蓋メッキ43を介して、第1の表層20の外面に位置する発熱素子用の表層導体60と第1のスルーホール30の第1のメッキ32とが接続されている。
【0105】
また、図6は、上記第2実施形態に示した配線基板を一部変形したものである。このものは、上記図3に示した配線基板3において、コア層10と第1の表層20との間に設けられた内層導体として、さらに第1のスルーホール30を被覆する蓋メッキ43と、第2のスルーホール31を被覆する蓋メッキ41とを付加したものである。
【0106】
これら蓋メッキ41、43は、図6の配線基板における他の内層導体と同様に、銅メッキ等よりなる。つまり、本実施形態では、上記第2実施形態の図4に示される製造工程において、図4(e)の状態から、さらに、メッキ工程を行い、コア層10の両板面にメッキ層を形成してやればよい。その後は、上記第2実施形態と同様に、表層20、21の貼り付け・固定、ビアホール50および表層導体60〜62の形成を行うことで、図6に示される配線基板ができあがる。
【0107】
この場合、上記図3に示される配線基板3に対して、両蓋メッキ41、43を形成するメッキ層と同一の層が、追加されるため、図6に示されるように、スルーホール間接続導体42を含む内層導体40、42は、2層のメッキ層が積層されたものとなる。
【0108】
そして、この場合、両スルーホール30、31に蓋メッキ41、43が設けられるため、両スルーホール30、31の蓋メッキ41、43の直上において、第1の表層20にビアホール50を設け、このビアホール50および蓋メッキ41、43を介して、表層導体60、61と各スルーホール30、31の各メッキ32、33とを接続している。
【0109】
なお、上記各実施形態では、コア層10の両板面に表層20、21を設けていたが、表層としては、発熱素子および非発熱素子といった電子部品が搭載されるコア層10の一面側の第1の表層20のみであってもよい。つまり可能ならば、たとえば上記図1や図3に示される配線基板1、3において、第2の表層21および第2の表層21の外面の表層導体62が省略された構成のものであってもよい。
【符号の説明】
【0110】
10 コア層
20 第1の表層
30 第1のスルーホール
30a 第1のスルーホール用の孔
31 第2のスルーホール
31a 第2のスルーホール用の孔
32 第1のメッキ
32b 第1のメッキの上側メッキ層
33 第2のメッキ
34 充填部材
40 内層導体
41 内層導体としての蓋メッキ
42 内層導体としてのスルーホール間接続導体
60 発熱素子用の表層導体
61 非発熱素子用の表層導体

【特許請求の範囲】
【請求項1】
電気絶縁性のコア層(10)と、
前記コア層(10)の一面側に積層された電気絶縁性の表層(20)と、
前記コア層(10)に対して当該コア層(10)の厚さ方向に貫通する孔を設け、当該孔の内壁にメッキ(32、33)を設けるとともに当該孔に充填部材(34)を充填してなるスルーホール(30、31)と、
前記表層(20)と前記コア層(10)との間に設けられ前記メッキ(32、33)と電気的に接続された内層導体(40、41)と、
前記表層(20)に設けられた導電性の表層導体(60、61)と、
前記表層(20)をその厚さ方向に貫通し前記表層導体(60、61)と前記内層導体(40、41)とを電気的に接続するビアホール(50)とを備える配線基板において、
前記スルーホール(30、31)は、放熱性の異なる第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とよりなり、
放熱性の大きな方の前記第1のスルーホール(30)においては、前記メッキ(32)は2層以上積層されてなるものであり、放熱性の小さな方の第2のスルーホール(31)においては、前記メッキ(33)は1層のみで構成されたものであり、
前記第1のスルーホール(30)における2層以上の前記メッキ(32)の合計厚さは、前記第2のスルーホール(31)における前記メッキ(33)の厚さよりも大きいことを特徴とする配線基板。
【請求項2】
前記第1のスルーホール(30)と前記第2のスルーホール(31)とでは、孔径が同じであることを特徴とする請求項1に記載の配線基板。
【請求項3】
前記第1のスルーホール(30)と前記第2のスルーホール(31)とでは、孔径が異なることを特徴とする請求項1に記載の配線基板。
【請求項4】
前記表層(20)と前記コア層(10)との間には、前記内層導体として、前記コア層(10)の一面側にて前記第2のスルーホール(31)を被覆するメッキよりなる蓋メッキ(41)が設けられており、
この蓋メッキ(41)は、前記第1のスルーホール(30)における前記メッキ(32)のうち内壁側から数えて2層目以降のメッキ層(32b)と同一の層により形成されたものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載の配線基板。
【請求項5】
前記コア層(10)の一面側にて表層導体(60、61)に電子部品が電気的・熱的に接続されるものであり、
前記第1のスルーホール(30)における前記メッキ(32)と前記第2のスルーホール(31)における前記メッキ(33)とは、前記コア層(10)の一面側では電気的・熱的に接続されておらず、前記コア層(10)の他面側に設けられたスルーホール間接続導体(42)を介して電気的・熱的に接続されていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1つに記載の配線基板。
【請求項6】
電気絶縁性のコア層(10)に対して当該コア層(10)の厚さ方向に貫通する孔を設け、当該孔の内壁にメッキ(32、33)を設けるとともに当該孔に充填部材(34)を充填してなるスルーホール(30、31)を形成し、
前記コア層(10)の一面側に、前記メッキ(32、33)と電気的に接続された内層導体(40)を形成し、
続いて、前記コア層(10)の一面側に電気絶縁性の表層(20)を積層し、前記表層(20)に、導電性の表層導体(60、61)を設けるとともに、前記表層(20)の厚さ方向に貫通し前記表層導体(60、61)と前記内層導体(40)とを電気的に接続するビアホール(50)を形成するようにした配線基板の製造方法において、
前記スルーホール(30、31)として、放熱性の異なる第1のスルーホール(30)と第2のスルーホール(31)とを形成するものであり、
前記スルーホール(30、31)の形成工程では、
前記コア層(10)の厚さ方向に貫通する孔として、放熱性の大きな方の前記第1のスルーホール(30)用の孔(30a)、および、放熱性の小さな方の前記第2のスルーホール(31)用の孔(31a)を形成し、
前記メッキ(32、33)を、前記第1のスルーホール(30)用の孔(30a)の内壁、および、前記第2のスルーホール(31)用の孔(31a)の内壁に同時に形成し、
その後、前記第1のスルーホール(30)用の孔(30a)に前記充填部材(34)を充填し、
次に、前記第2のスルーホール(31)用の孔(31a)における内壁のメッキ(33)をエッチングすることにより薄膜化し、
しかる後、前記第2のスルーホール(31)用の孔(31a)に前記充填部材(34)を充填することを特徴とする配線基板の製造方法。

【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【公開番号】特開2011−82250(P2011−82250A)
【公開日】平成23年4月21日(2011.4.21)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2009−231417(P2009−231417)
【出願日】平成21年10月5日(2009.10.5)
【出願人】(000004260)株式会社デンソー (27,639)
【Fターム(参考)】