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Fターム[2F065HH07]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 入射光 (9,091) | 強度分布 (4,196) | コード化パターン光 (370)

Fターム[2F065HH07]に分類される特許

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【課題】配置の制約が少なく、かつ照度不足および照度ムラが生じにくい投影装置を提供する。
【解決手段】撮像部の撮像対象物に対して光を投影する投影装置200であって、放射する光の波長帯が互いに異なる赤色LED240R、緑色LED240Gおよび青色LED240Bと、撮像対象物の特性に基づき、各LEDが放射する光の光量を制御する投影制御部230と、複数のLEDから放射される光を、同一の光軸上に導くことにより、撮像対象物に対して光を投影するリレー部250とを備える。 (もっと読む)


【課題】内視鏡装置を用いて三次元形状の計測を短時間で行う計測方法を提供すること。
【解決手段】被検物の三次元形状を内視鏡装置を用いて計測する計測方法であって、所定の縞パターンを内視鏡装置の1箇所から被検物に投影し、被検物において縞パターンが投影された部分を撮像して1枚のパターン投影画像を取得し、空間的位相シフト法またはフーリエ変換法を用いて縞パターンが投影された部分の三次元形状を1枚のパターン投影画像から計測することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 従来の2次元画像と距離画像を併用した場合の位置姿勢計測手法に比べて、複雑背景下であっても高速かつロバストに位置姿勢を計測すること。
【解決手段】 2次元画像対応探索部140は、撮像画像中における仮想物体の幾何特徴と、撮像画像中に映っている現実物体において該幾何特徴に対応する特徴部分と、の対応付けを行う。対応探索領域設定部150は、仮想物体を構成するそれぞれの図形を距離画像上に投影し、該投影された図形の領域から、特徴部分に対応する距離画像内の部分の周辺を省いた残りの領域を、対応探索領域として設定する。位置姿勢算出部170は対応探索領域内の画素の奥行き値が示す位置と該画素に対応する仮想物体上の位置との3次元空間における距離、幾何特徴と特徴部分との3次元空間における距離、を表す評価関数を最小化するように位置姿勢情報を繰り返し更新する。 (もっと読む)


【課題】光ビーム照射装置の空間的光変調器の傾きとヘッド部の傾きとを容易に判別して、光ビームの歪みを抑制し、描画精度を向上させる。
【解決手段】光ビーム照射装置20から照射される光ビームを受光する受光装置51をチャック10に設け、光ビーム照射装置20のヘッド部20aを回転する回転機構28を設ける。回転機構28によりヘッド部20aを回転する前と回転した後に、光ビーム照射装置20から照射された光ビームを受光装置51により受光する。ヘッド部20aを回転する前後の、受光装置51により受光した光ビームの位置の変化から、光ビーム照射装置20の空間的光変調器25の傾きとヘッド部20aの傾きとを判別し、判別結果に基づき、空間的光変調器の傾き又はヘッド部20aの傾きを補正する。 (もっと読む)


【課題】 最適パターン光投影のような強度変調パターン光投影手法による静止物体の三次元画像計測を行う。
【解決手段】 ワークWにパターン光を投影するパターン投影機21と全面照明機22と、パターン光が投影されたワークWを撮像して画像を撮像するカメラ23、24により撮像した画像のデータを処理するデータ処理装置42とから構成され、パターン投影機21によりパターン光を投影して画像を撮影する第1撮像モードと、全面照明機22による全照明反射画像を撮像する第2撮像モードがワークWの種類の特定によって判定される。その撮像結果によって三次元情報が算出されるので、精度の高い三次元情報を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】位相シフト法による3次元計測を可能にしながらも、液晶シャッタにおける隣接する画素の透過率を連続的に変化させる場合に比べて応答時間を短縮する。
【解決手段】投影装置1は、光源11と、処理装置3からの制御信号により透過率が個別に制御される画素が2次元格子上に配列された液晶シャッタ12と、光源11から出力され液晶シャッタ12を透過した光束の少なくとも一部を混合して計測対象4の表面に照射させるレンズ13とを備える。処理装置3は、液晶シャッタ12にそれぞれ複数列の画素からなり平均透過率が周期的に変化する複数の帯領域を形成させるように制御信号を出力し、レンズ13は、帯領域を透過した光束を混合して計測対象4の表面に縞状の光パターンを形成させる。 (もっと読む)


【課題】高速に搬送される計測対象の物体の3次元形状計測を高精度に行う。
【解決手段】プロジェクタ2は、Y軸方向に並ぶ明暗ピッチによりコード化されたスリットパターンがX軸方向に複数配列され、Y位置が同じビットデータを各スリットパターンから抽出してX軸方向に沿って並べたときのビット列の値がY軸方向に沿って線形に変化するように各スリットパターンがコード化されたスリットパターン像を、物体Mの搬送経路上に投影する。撮像装置3は、物体MがX軸方向に搬送されスリットパターン像を通過する様子を、プロジェクタ2とは異なる角度から撮像する。コード生成部6は、撮像された動画像に基づいて、物体M上における計測対象の位置が、各スリットパターンにそれぞれ到達したときの明暗をコード化する。高さ算出部7は、コード化されたコードに基づいて、計測対象の位置の高さを算出する。 (もっと読む)


【課題】振動ミラーにより光ビームを走査することで対象物上に光のパターンを投影する三次元形状計測装置において、投影する光のパターンの環境条件等による変化を補償する。
【解決手段】MEMSミラー14で走査されるスリット光が実効的な走査範囲のA端を通るタイミングを光ファイバ20A及び光検出器36Aにより検出する。時間間隔計測部38は、往復走査されるスリット光がA端を通過するタイミング同士の時間間隔を計測する。走査角度判定部40は、計測された時間間隔に対応する走査角度変化パターンを求め、そのパターンからレーザー駆動信号の位相に対応する走査角度を求める。変調パターン信号生成部42は、求められた走査角度に対応するレーザー発光強度を投影パターンから求める。レーザー駆動回路32は、求められたレーザー発光強度に従って、レーザー10の発光を制御する。 (もっと読む)


【課題】
位相シフト方法による計測対象の3次元形状の計測では、少なくも3種類以上の位相を変えた縞パターンの投影が必要であり、縞パターンの切替、撮像の時間等の計測に時間が掛る課題がある。
【解決手段】
分離可能な異なる2色と各々位相の異なる4種類の縞パターンの2つから合成した異なる2種類の合成縞パターンを計測対象にカラー投影して撮影したカラー画像の色分離を行って撮像画像の縞パターンの位相を算出して計測対象の3次元表面形状の計測を行う。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で容易に平坦度を検出可能な平坦度検出装置、および平坦度検出方法を提供する。
【解決手段】平坦度検出装置1は、三次元測定装置2から計測データを取得する計測データ取得手段141と、検査対象計測面上の第一計測点を取得する第一計測点取得手段143と、第一計測点から検査対象計測面の幾何形状式を算出する第一形状算出手段144と、計測データから隣接計測面に属する第二計測点を取得する第二計測点取得手段145と、第二計測点から隣接計測面の幾何形状式を算出する第二形状算出手段146と、検査対象計測面および隣接計測面の交線または交点を算出する外周縁算出手段147と、交線または交点に基づいて補正検査対象計測面の幾何形状式を算出する補正計測面算出手段148と、補正検査対象計測面の幾何形状式に基づいて検査対象面の平坦度を検出する平坦度検出手段149と、を具備した。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の歪曲を適切に補償した検査領域の設定方法を提供する。
【解決手段】ステージに測定対象物を配置し、測定対象物に対する第1特徴オブジェクトを含む基準データを呼び出しS120、測定対象物に対する測定データを獲得しS130、測定データのうち、第1特徴オブジェクトと対応する第2特徴オブジェクトを抽出し、第1特徴オブジェクトの平面的形状と前記抽出された第2特徴オブジェクトの平面的形状とを比較して幾何学的変形を確認しS140、S150、幾何学的変形を定量化して前記測定対象物の垂直方向の変化量を算出しS160、変化量に基づいて検査領域を設定するS170。 (もっと読む)


【課題】距離計測対象領域を複数の局所領域に分割して並列処理を行う場合には、距離計測点の空間分解能に対応した各局所領域の演算処理量の均一化も考慮されていないため、並列処理化による処理時間の短縮効果が損なわれる。
【解決手段】パターン光が投光された計測対象物の撮像画像から、当該計測対象物の距離情報を算出する距離情報算出部と、パターン光の計測点の空間分解能を、局所領域ごとに適応的に設定可能な局所パターン設定部と、を有し、局所パターン設定部は、距離情報算出部の演算量に関する情報に基づき、パターン光の計測点の空間分解能を設定する。 (もっと読む)


【課題】光源によらない一定の色に補正できる画像色彩補正装置を提供する。
【解決手段】本発明における画像色彩補正装置1は、測定対象物2と複数のカラーコード付き標識CTを同時に又は別時に異なる複数方向から撮影する撮影部3と、撮影部3により撮影されたカラーコード付き標識CTの撮影画像から、位置検出用パターンP1の位置を求める位置検出部51と、撮影画像から基準色パターンP2を抽出する基準色パターン抽出部52と、撮影画像からカラーコードパターンP3を抽出するカラーコードパターン抽出部53と、基準色パターン抽出部で抽出された基準色パターンのうち、少なくとも光源色補正に用いる色彩を用いて、撮影画像の光源色補正を行う色補正部71とを備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、施工作業に要する時間を短縮させることができる面形成支援システム、面形成支援装置、及び面形成支援プログラムを提供する。
【解決手段】仮想空間において、予め定められた目標面に表示された所定画像を予め設定した複数の撮影位置から予め設定した撮影方向に向けて仮想的に撮影することにより得られる撮影位置毎の画像情報を生成する情報生成装置と、実空間において、目標面に対する複数の撮影位置と同一の位置関係になるよう各々設置され、対応する画像情報により示される画像を、前記目標面を形成する際の基礎となる基礎面に、対応する撮影方向に向けて投影する複数の投影装置と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】幅広いシート材種に対してシート材のしわ発生の余裕度を評価し、しわの発生を予防する技術を提供する。
【解決手段】波打ち形状算出手段が、ニップ部におけるシート材の搬送方向と直行する方向の搬送速度分布を記憶手段から読み出して(S1)、搬送速度分布からシート材の波打ち形状を算出し(S2)、しわ発生判別手段が、波打ち形状算出手段により算出された波打ち形状に基づいてシート材にしわが発生するか否かを判断する(S3、S6、S7)。 (もっと読む)


【課題】船舶、橋梁、配管などに用いられている様々な溶接形状を計測し、実際の溶接形状に即した溶接の形状パラメータを算出し、自動的に溶接部の疲労強度を算出する溶接形状評価装置及び方法を提供する。
【解決手段】溶接形状評価装置1が照射部13からレーザーを照射し、溶接部を複数の2次元座標(直交座標又は極座標)を持った計測点で計測する計測装置10と、前記計測点を用いて疲労強度を算出する演算装置20とからなり、溶接形状評価方法が座標から計算式により溶接の形状パラメータを算出して簡易式により応力集中係数を算出する簡易式工程と、有限要素法(FEM)を用いて溶接部を解析して応力集中係数を算出する有限要素法(FEM)工程とを備えた応力集中係数算出工程と、複数の提案式と方法を備えて疲労強度を算出する疲労強度算出工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】観察対象物の表面の3次元ビューを表示し、表面の凹凸、寸法を取得する方法及び装置を提供する。
【解決手段】複数の表面点の第1の座標系における3次元座標を決定し、観察対象物の表面の複数の測定点を選択し、複数の測定点のうちの1つまたは複数に隣接した複数の表面点のうちの3つ以上の第1の座標系における3次元座標に基づいて基準表面250を決定し、基準表面および複数の測定点に基づいて第1の座標系とは異なる第2の座標系を設け、複数の表面点の第1の座標系における3次元座標を第2の座標系における3次元座標に変換し、複数の測定点に基づいて、観察対象物202の表面210の対象領域262内である複数の表面点のサブセットを決定し、第2の座標系の3次元座標に複数の表面点のサブセットの描画された3次元ビューを表示する。 (もっと読む)


【課題】投影装置の温度ドリフトによる影響を軽減する3次元計測装置、および3次元計測方法を提供することを目的としている。
【解決手段】所定の照射パターンの光を照射する投光部30と、投光部により照射された光による反射光を含む像を撮像する撮像部20とを有する3次元計測装置1であって、投光部に対して照射パターンの光の照射位置を制御する照射指示を出力し、撮像部が撮像した画像データから計測データを算出する計測部40を備え、計測部は、投光部に照射パターンの光を照射し続けさせ、撮像部により撮像される領域を含む計測領域内で走査を繰り返すように制御し、照射指示による照射位置を撮像された画像データから検出し、検出した異なる時刻且つ同一位置への照射指示による照射位置を示す情報同士を比較して、計測値の校正のための校正データを補正する。 (もっと読む)


【課題】対象物の3次元座標を決定する改良された装置、および改良された方法を提供する。
【解決手段】対象物1の3次元座標を決定するための改良された装置は、対象物1にパターンを投影するプロジェクタ10と、上記プロジェクタ10に結合され、対象物1を撮影するカメラ11と、上記プロジェクタ10、およびカメラ11に結合され、リファレンスマーク6のフィールド25の1つ以上のリファレンスマーク6,24を撮影するリファレンスカメラ16とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定対象物に投影される縞の像の歪みを防止することができ、また、影の問題や、ハレーションの問題等を解消することができる3次元測定装置を提供すること。
【解決手段】3次元測定装置100は、投影部20と、撮像部30とを含む。投影部20は、基板10に向けて垂線を下ろしたときの基板の表面(投影面)との交点3の周囲の領域である投影可能領域2に縞を投影可能とされる。撮像部30は、投影可能領域2内に複数の撮像領域1を有する。投影可能領域2は、広範な領域とされているので、投影可能領域2内には複数の撮像領域1を設けることができる。撮像可能領域2内における撮像領域1の位置等は、影あるいはハレーションの影響の排除等を目的として設定される。 (もっと読む)


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