説明

計測対象の3次元表面形状算出方法及び3次元表面形状計測装置

【課題】
位相シフト方法による計測対象の3次元形状の計測では、少なくも3種類以上の位相を変えた縞パターンの投影が必要であり、縞パターンの切替、撮像の時間等の計測に時間が掛る課題がある。
【解決手段】
分離可能な異なる2色と各々位相の異なる4種類の縞パターンの2つから合成した異なる2種類の合成縞パターンを計測対象にカラー投影して撮影したカラー画像の色分離を行って撮像画像の縞パターンの位相を算出して計測対象の3次元表面形状の計測を行う。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、計測対象の3次元表面形状を計測する技術に係り、特に位相シフト方法を用いた位相算出による3次元表面形状算出方法及び3次元表面形状計測装置に関する。
【背景技術】
【0002】
工業分野において製品や部品のハンドリングや、形状の良否判定を行う場合、計測対象の3次元形状を計測することが重要となる。
【0003】
計測対象の3次元表面形状を計測する手法としては、縞パターンを計測対象に投影し、投影した縞パターンの位相が計測対象によりどのように変調されたかを調べることで、計測対象の3次元表面形状を求める方法が広く知られている。この方法では計測対象により変調された縞パターン(以降、変調縞パターンと表現する)の位相変化が計測対象の高さ変化に比例するため、変調縞パターンの位相を精度よく求める必要がある。この変調縞パターンの位相を精度良く求める方法としては、位相シフト法や空間キャリア法が知られている。位相シフト法は位相を変えた縞パターンの何種類かを計測対象に投影し、それを撮像した複数の変調縞パターン画像から位相を求める方法である。また空間キャリア法は高い空間周波数をもつ縞パターンを計測対象に投影し、撮像した画像に対し周波数空間における演算を行って、計測対象により変調された位相を求める方法である。
【0004】
特許文献1ではプリント板上に印刷されたクリーム半田に複数の位相の光パターンを投影して得られる画像からクリーム半田の形状、量を検出する技術が開示されている。
【0005】
図5は位相シフト法による計測対象の3次元表面形状計測方法を示す図である。
【0006】
計測台24に計測対象23を設置し、プロジェクタ22より計測対象23に縞パターンを投影し、投影された計測対象23をカメラ21で撮像する。
【0007】
図6は従来の計測対象の3次元表面形状の位相算出方法を示す図である。カメラ21で撮像した計測対象23の画像より位相(計測対象の高さ)を算出する。
【0008】
S31:位相が異なる4つの縞パターンを生成し、1回目(位相0度)、2回目(位相90度)、3回目(位相180度)、4回目(位相270度)の計4回、プロジェクタ22より順次計測対象23に投影する。
S32:投影する縞パターンを正弦波とした場合、計測対象23の撮影画像の変調縞パターンの画像上の画素の位置(x,y)における明るさIα(x,y)は、投影する縞パターンの位相変化量をαとして、一般に(式1)で表わせる。
【0009】
【数1】

【0010】
ここで、A(x,y)は変調縞パターンの明るさオフセットである。また、B(x,y)は振幅であり、Ф(x,y)は求める位相である。
【0011】
投影縞パターンの位相変化量αが0度、90度、180度、270度であるので、変調縞パターンの各画素の位置(x,y)における明るさは(式2)の各々の式となる。
【0012】
【数2】

【0013】
なお、変調縞パターンの白色、黒色、灰色に見える色は白、黒のパターンの明るさの違いによるものである。
【0014】
S33:(式2)より、計測対象23の位相を(式3)で算出する。
【0015】
【数3】

【0016】
このように、位相シフト法は、投影する縞パターン正弦波とした場合、位相が異なる最低3種類の縞パターンを投影させる必要があり、特に投影する縞パターンの位相誤差などの影響を小さく抑えて精度よく位相を求めるには4種類以上の異なる縞パターンの撮像画像より位相を求めるのが一般的である。そのため、縞パターンを設定して投影し、また投影する縞パターンの切替により計測対象23を撮像する操作・処理を最低4回行う必要があり、位相算出に時間が掛る問題がある。
【0017】
一方、空間キャリア法は空間周波数の高い縞パターンを1回投影して得られる撮像画像から位相を求めることができる高速な計測が可能であることが利点であるが、縞パターンの変調を加えた方向に対して分解能が低下するという問題点がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0018】
【特許文献1】特許公報第2711042号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0019】
位相シフト方法による計測対象の3次元表面形状の計測では、少なくも3種類以上(通常最低4種類)の位相を変えた縞パターンの投影が必要であり、縞パターンの切替、撮像の時間等の計測に時間が掛る課題がある。
【課題を解決するための手段】
【0020】
第1の色と第1の位相を有する縞パターンと、前記第1の色と異なる第2の色で且つ第1の位相と異なる第2の位相の縞パターンと、を合成した第1の合成縞パターンと、第1の色と同一で且つ第1の位相及び第2の位相と異なる第3の位相の縞パターンと、第2の色と同一で且つ第1の位相、第2の位相及び第3の位相と異なる第4の位相の縞パターンと、を合成した第2の合成縞パターンと、の異なる2種類の合成縞パターンを生成し、
前記生成した2種類の合成縞パターンを前記計測対象に投影し、
前記投影された前記計測対象をカラー撮像した2種類の撮像画像を取得し、
前記2種類の撮像画像の前記第1の色と、前記第2の色を分離して4種類の撮像画像の縞パターンを生成し、
前記色分離した4種類の撮像画像縞パターンより前記計測対象の位相を算出して前記計測対象の3次元表面形状を算出する。
【発明の効果】
【0021】
本発明により、位相シフト法による計測対象の縞パターンをカラー撮像して位相変化より計測対象の表面形状の計測において、従来4回(4種類)の縞パターンを切替て撮像する手順に対し、合成縞パターンの2回(2種類)の投影と撮像を行うことで計測対象の位相算出が可能となり、計測対象の3次元表面形状の計測の高速化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【図1】本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状計測装置を示す図である。
【図2】本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状評価手順を示す図である。
【図3】本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状算出手順を示す図である。
【図4】本発明の一実施形態の計測対象の補正振幅比算出方法を示す図である。
【図5】位相シフト法による計測対象の3次元表面形状計測方法を示す図である。
【図6】従来の計測対象の3次元表面形状の位相算出方法を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0023】
(実施例1)
図1は本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状計測装置を示す図である。
【0024】
3次元表面形状計測装置1はカラーカメラ2、パターン投影装置(プロジェクタ)3、変調縞パターン解析部4で構成し、計測台6に設置した計測対象5の3次元表面形状を計測する。
【0025】
計測対象5を計測台6に設置し、予めパソコン等で作成し転送(パソコン等の縞パターン作成装置との接続は図示せず)された合成縞パターンデータを投影装置(プロジェクタ)3より計測対象5に投影する。カラーカメラ2より投影された計測対象5を撮像し、撮像画像を変調縞パターン解析部4に送信する。
【0026】
変調縞パターン解析部4は色パターン分離部7、位相算出部8、形状評価部9、データベース(DB)10で構成する。DB10は種々の計測対象の評価基準(基準形状、基準形状からの許容範囲(高さ、変形等の許容閾値等)等)、及び予め基準となる計測対象から算出した投影する色が異なることにより生じる変調縞パターンの振幅変化のデータ(補正振幅比)を保持する。
【0027】
色パターン分離部7はカラーカメラ2より送信された変調縞パターンを信号処理により色分離を行い位相算出部8に送信する。
【0028】
位相算出部8は色分離した4種類の変調縞パターンと、DB10により予め算出した補正振幅比を用いて計測対象5の位相を算出し、形状評価部9に送信する。補正振幅比の算出については図4で説明する。
【0029】
形状評価部9はDB10に保持する計測対象5の評価基準により計測対象5の評価を行う。
【0030】
図2は本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状評価手順を示す図である。
【0031】
S1:ア、イ、ウ、エで示す4つの縞パターンデータをパソコンなどで生成する。
ア.縞パターン1:色1/位相0度 イ.縞パターン2:色2/位相90度
ウ.縞パターン3:色1/位相180度 エ.縞パターン4:色2/位相270度
ここで、色1と色2は信号処理による色分離が可能な異なる色とする。
S2:縞パターン1と縞パターン2より合成縞パターン1、縞パターン3と縞パターン4より合成縞パターン2を生成し、2つの合成縞パターンを投影装置(プロジェクタ)3より計測対象5に投影し、カラーカメラ2で撮像し、撮像画像より計測対象5の位相を計測する。変調縞パターンの位相変化が計測対象5の高さ変化に比例するので、位相を算出することにより計測対象5の表面形状を算出する。なお、位相算出手順の詳細は図3で説明する。
【0032】
S3:計測結果を計測対象5の評価基準と比較照合して計測対象5を評価する。評価はDB10に保持する計測対象5の評価基準である基準形状からの許容範囲(高さ、変形等の許容閾値等)等)を満たす場合は良品として所定の処理を行い、満たさない場合は不良品とし所定の処理を行う。
【0033】
図3は本発明の一実施形態の計測対象の3次元表面形状算出手順を示す図である。
【0034】
S11:投影する縞パターンを正弦波とした場合、生成する4種類の縞パターンの輝度データは(式4)となる。
【0035】
【数4】

【0036】
ここで、X,Yは投影装置に転送するデータ空間におけるX座標とY座標であり、Cr(X,Y)、Cb(X,Y)はそれぞれ赤色、青色で生成する縞パターンにおける明るさのオフセットであり、Dr(X,Y)、Db(X,Y)はそれぞれ赤色、青色で生成する縞パターンの振幅であり、Φ(X,Y)は生成する縞パターンの初期位相である。
【0037】
また、(式4)におけるF(・)は投影装置(プロジェクタ)3に転送する輝度指示値と撮像手段により検出される明るさ検出値のあいだの非線形性を補正する関数である。非線形性がある場合、投影した縞パターンの輝度値が想定と異なる場合があるため位相算出における誤差の要因となる。
【0038】
このような非線形性を補正するため、あらかじめ投影装置(プロジェクタ)3に与える輝度指示値とカラーカメラ2により撮影される輝度値の関係を計測しておき、輝度指示値とカラーカメラ2で撮像される輝度値が線形となるような補正関数(あるいは補正テーブル)F(・)を求めておくことで縞パターンの輝度値を補正する。
【0039】
投影装置(プロジェクタ)3が投影する色は一般的なカラー投影装置の3原色である赤、緑、青とする。これより赤、緑、青3色の「n」番目の縞パターンの各々の輝度データをSnr(X,Y)、Sng(X,Y)、Snb(X,Y)とする。式における添え字「r」、「g」、「b」は各々赤(red)、緑(green)、青(brue)を示している。
【0040】
本発明では3色の内の2色(ここでは、2色として赤(red)、青(brue)とする)で処理する。
【0041】
例えば、緑の輝度データSng(X,Y)(n=1,2,3,4)は全て「0」出力であり、赤の輝度データS1r(X,Y)は「0」出力、S2r(X,Y)は位相90度で所定の出力を有し、S3r(X,Y)は「0」出力、S4r(X,Y)は位相270度で所定の出力を有している。また、青の輝度データS1b(X,Y)は位相0度で所定の出力を有し、S2b(X,Y)は「0」出力、S3b(X,Y)は位相180度で所定の出力を有し、S4b(X,Y)は「0」出力である。
【0042】
これより、合成縞パターン1T1c(X,Y)(c=r,g,b)、合成縞パターン2T2c(X,Y)(c=r,g,b)(式5)を生成して投影装置(プロジェクタ)3に入力し、計測対象5に投影する。
【0043】
【数5】

【0044】
(式5)に示すように合成縞パターン1T1c(X,Y)(c=r,g,b)は(式4)の縞パターンSnc(X,Y)(c=r,g,b)のn=1,2に対応している。T1r(X,Y)はS1r(X,Y)とS2r(X,Y)を加算、T1g(X,Y)はS1g(X,Y)とS2g(X,Y)を加算、T1b(X,Y)はS1b(X,Y)とS1b(X,Y)を加算したものである。
【0045】
合成縞パターン2T2c(X,Y)(c=r,g,b)も同様である。説明は省略する。
【0046】
なお、投影装置(プロジェクタ)3に転送する明るさ指示値とカラーカメラ2により検出される明るさ検出値の間の非線形性を補正しない場合の縞パターンの輝度データは(式6)となる。(式4)と同様に投影縞パターンを正弦波として、前述の赤色、青色で生成する縞パターンにおける明るさのオフセットCr(X,Y)、Cb(X,Y)及び赤色、青色で生成する縞パターンの振幅Dr(X,Y)、Db(X,Y)で表し、(式6)より(式5)を生成する。
【0047】
【数6】

【0048】
(式6)において、「0」出力以外の縞パターン輝度データは、例えば、S1b(X,Y)はC(X,Y)とD(X,Y)sin(Ф(X,Y))を加算したものである。S2r(X,Y)、S3b(X,Y)、S4r(X,Y)も同様である。
【0049】
S12:合成縞パターン1、合成縞パターン2を計測対象5に投影し、カラーカメラ2で撮像した画像として、変調縞パターン1、変調縞パターン2を得る。1)に色分離前の変調縞パターン、2)に色分離後の変調縞パターン、3)に色分離後の変調縞パターンの明るさを示す。
1)色分離前の変調縞パターン
変調縞パターンは色1(青)と、色2(赤)が混ざった明るさに応じた色になっている。即ち、変調縞パターンは色1(青)と、色2(赤)の2色の正弦波の何れか片方の色から他方の色の間を両色の割合が変化しながら混ざりあったものである。
2)色分離後の変調縞パターン
合成縞パターン1による変調縞パターンを色分離し色1(青)の変調縞パターン1と色2(赤)変調縞パターン2を得る。また合成縞パターン2による変調縞パターンを色分離し色1(青)の変調縞パターン3と色2(赤)の変調縞パターン4を得る。色分離後の変調縞パターンは、各々、色1、色2各々の単色でその明るさが変化している。色が白く見える領域は明るく、黒く見える領域は暗い領域である。
3)色分離後の変調縞パターンの明るさ
色分離後の4種類の変調縞パターンの明るさは(式7)の各式となる。
【0050】
【数7】

【0051】
色1(青)で位相0度の縞パターンに対応する変調縞パターン1がI(x,y)であり、色1(青)で位相180度の縞パターンに対応する変調縞パターン3がI180(x,y)である。また、色2(赤)で位相90度の縞パターンに対応する変調縞パターン2がI90(x,y)であり、色2(赤)で位相270度の縞パターンに対応する変調縞パターン4がI270(x,y)である。なお、A(x,y)(c=b,r)の縞パターンを投影したときの変調縞パターンの明るさオフセット、B(x,y)(c=b,r)は変調縞パターンの振幅である。
【0052】
S13:色分離した変調縞パターンの明るさ(式7)と、DB10に保持する補正振幅比γ(x,y)(式13)から計測対象5の位相を(式8)で算出する。補正振幅比γ(x,y)の算出方法は後述する(図4)
【0053】
【数8】

【0054】
図4は本発明の一実施形態の計測対象の補正振幅比算出方法を示す図である。
【0055】
S21:縞パターンとして、色1(青)、色2(赤)各々に対し、位相αが0度、90度、180度、270度の縞パターンを計測対象5の基準サンプルに投影する。色1(青)の縞パターン投影による変調縞パターンの明るさは(式9)となり、色2(赤)の縞パターン投影による変調縞パターンの明るさは(式10)となる。
【0056】
【数9】

【0057】
【数10】

【0058】
(式9)、(式10)は基本的に(式2)と同一であるので、説明は省略する。
【0059】
S22:変調縞パターン色1(青)の明るさ(式9)より色1(青)の振幅B(x,y)(式11)を算出し、変調縞パターン色2(赤)の明るさ(式10)より色2(赤)の振幅B(x,y)(式12)を算出する。
【0060】
【数11】

【0061】
【数12】

【0062】
これより投影する色(青、赤)が異なることにより生じる変調縞パターンの補正振幅比γ(x,y)は(式13)となる。
【0063】
【数13】

【0064】
また、補正振幅比は、計測対象毎に使用する各色で予め基準サンプルにより計測を行い、補正振幅比を算出してDB10に保持しておく。
【0065】
以上より、2種類の色、各々異なる複数位相の縞パターンから生成した2種類の合成縞パターンを計測対象に投影し、撮像した画像を色分離した変調縞パターンから位相を算出することができる。即ち、2回の投影操作により計測対象5の表面形状を算出でき、従来の4回の投影操作を半分にできる。
【符号の説明】
【0066】
1 3次元表面形状計測装置
2 カラーカメラ
3 投影装置(プロジェクタ)
4 変調縞パターン解析部
5 計測対象
6 計測台
7 色パターン分離部
8 位相算出部
9 形状評価部
10 DB
21 カメラ
22 プロジェクタ
23 計測対象(従来図)
24 計測台(従来図)

【特許請求の範囲】
【請求項1】
第1の色と第1の位相を有する縞パターンと、前記第1の色と異なる第2の色で且つ前記第1の位相と異なる第2の位相の縞パターンと、を合成した第1の合成縞パターンと、前記第1の色と同一で且つ第1の位相及び前記第2の位相と異なる第3の位相の縞パターンと、前記第2の色と同一で且つ前記第1の位相、前記第2の位相及び前記第3の位相と異なる第4の位相の縞パターンと、を合成した第2の合成縞パターンと、の異なる2種類の合成縞パターンを生成し、
前記生成した2種類の合成縞パターンを前記計測対象に投影し、
前記投影された前記計測対象をカラー撮像した2種類の撮像画像を取得し、
前記2種類の撮像画像の前記第1の色と、前記第2の色を分離して4種類の撮像画像の縞パターンを生成し、
前記色分離した4種類の撮像画像縞パターンより前記計測対象の位相を算出して前記計測対象の3次元表面形状を算出することを特徴とする計測対象の3次元表面形状算出方法。
【請求項2】
前記色分離した撮像画像の4種類の縞パターンと基準の計測対象から求めた色の違いによる補正振幅比情報をもとに位相を算出することを特徴とする請求項1に記載の計測対象の3次元表面形状算出方法。
【請求項3】
前記第2の位相は前記第1の位相に対し90度進んでいる縞パターンであり、
前記第3の位相は前記第1の位相に対し180度進んでいる縞パターンであり、
前記第4の位相は前記第1の位相に対し270度進んでいる縞パターンであることを特徴とする請求項1に記載の計測対象の3次元表面形状算出方法。
【請求項4】
前記合成縞パターンはさらに前記投影装置に転送する明るさ指示値と前記撮像手段により検出される検出値の間の非線形性を補正した縞パターンより生成することを特徴とする請求項1に記載の計測対象の3次元表面形状算出方法。
【請求項5】
前記補正振幅比情報は異なる計測対象毎に固有情報として保持することを特徴とする請求項2に記載の計測対象の3次元表面形状算出方法。
【請求項6】
計測対象にカラー縞パターンを投影する投影手段と、
前記投影手段により投影された前記計測対象をカラー撮像するカラー撮像手段と、
前記カラー撮像画像の色を分離するカラー画像色分離手段と、
前記色分離された撮像画像の位相を算出する位相算出手段と、
前記算出した位相より表面形状の評価する表面形状評価手段と、
を備えることを特徴とする計測対象の3次元表面形状計測装置。


【図1】
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【図2】
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【図3】
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【図4】
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【図5】
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【図6】
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【公開番号】特開2012−202771(P2012−202771A)
【公開日】平成24年10月22日(2012.10.22)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−66476(P2011−66476)
【出願日】平成23年3月24日(2011.3.24)
【出願人】(000005223)富士通株式会社 (25,993)
【Fターム(参考)】