【課題】内部の雑音を低減した多重エネルギ撮像データを得る。
【解決手段】ＣＴシステム（１０）が、走査対象（２２）を収容する開口（４８）を有する回転式ガントリ（１２）と、制御器（２８）とを含んでおり、制御器（２８）は、第一の時間的期間（４５４）にわたり第一のｋＶｐ（４５２）を印加し、第一の時間的期間（４５４）とは異なる第二の時間的期間（４５８）にわたり第二のｋＶｐ（４５６）を印加し、第一の時間的期間（４５４）の少なくとも一部の間に第一の非対称型ビュー・データ集合（５５０）を取得し、第二の時間的期間（４５８）の少なくとも一部の間に第二の非対称型ビュー・データ集合（５５４）を取得して、取得された第一及び第二の非対称型ビュー・データ集合（５５０、５５４）を用いて画像を形成するように構成されている。 （もっと読む）

【課題】ＣＴ値のレベル変動や不均質が少ない着目部の断面像を得る。
【解決手段】Ｘ線管１と回転軸ＲＡとの距離を変更して撮影倍率を設定し、被検体５について第一の撮影倍率で実施された第一のスキャンで得られた第一のスキャンデータと、被検体５の着目領域について第一の撮影倍率より大きな第二の撮影倍率で実施された第二のスキャンで得られた第二のスキャンデータとを入力し、再構成部９ｆを制御して、第一のスキャンデータからローパス処理を施した所定マトリックス数の着目領域の第一の断面像を作成し、第二のスキャンデータからハイパス処理を施した所定マトリックス数の着目領域の第二の断面像を作成し、第一の断面像と第二の断面像を加算して着目領域の合成断面像を作成する画像合成部９ｇとを有することを特徴とするＣＴ装置。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、プラント配管検査のように被検体の移動が不可能な場合であっても、放射線断層撮影の作業を簡素化することにある。
【解決手段】本発明は、放射線源の焦点位置と放射線源の焦点が検出器に投影される位置との距離Ｈ，検出器上の任意の座標位置（ｕ，ｖ），透過画像データに映り込んだ空気層部分の座標位置（ｕ′，ｖ′），空気層部分の座標位置（ｕ′，ｖ′）の放射線強度Ｉ_ref(ｕ′，ｖ′)に基づき、被検体がないと仮定した場合に、任意の座標位置（ｕ，ｖ）の検出素子が検出する放射線の強度を推定して擬似エアデータを生成し、擬似エアデータを用いて画像再構成演算を行うことを特徴とする。
【効果】本発明によれば、プラント配管検査のように被検体の移動が不可能な場合であっても、放射線断層撮影の作業を簡素化することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】検被検査体の立体的な情報を用いて検査する放射線検査装置を提供する。
【解決手段】輪郭抽出部４２は、基板および電子部品を含む被検査体の断面画像を画像解析し、当該断面画像の中から基板と電子部品とを接合するはんだ領域の輪郭を抽出する。法線ベクトル取得部４８は、はんだ表面の３次元形状における法線ベクトルを求める。はんだ重心取得部４４は、はんだ表面の３次元領域における重心の位置を取得する。接合状態検査部５０は、前記法線ベクトル取得部が取得した法線ベクトルのうち、前記はんだ重心取得部が取得した重心位置を向く法線ベクトルの割合を取得し、当該割合が基板と電子部品とを接合するはんだの接合状態を判定するために定められた所定の割合を超える場合はんだの接合状態が良好と判定し、そうでない場合は不良と判定する。 （もっと読む）

【課題】試料のＸ線吸収差により、画像再構成に生じる放射状パターンのアーチファクトを低減する。
【解決手段】Ｘ線連続スペクトルを記憶し、単一スペクトルのＸ線投影データgを生成し、補正量を初期化し、Ｘ線投影データを補正量h、tで補正して撮影物に含む２つの物質のＸ線吸収係数のエネルギー依存性を考慮して撮影物に単一スペクトルのＸ線を照射した場合に相当する補正Ｘ線投影データg’を得、単一波長用画像再構成アルゴリズムを用いて逆投影演算してＣＴ画像を再構成し、各物質を区別する１つのしきい値TH1、TH2、…を用いてＣＴ画像から各物質の領域を抽出しこの領域のＸ線経路の長さを演算し、発生Ｘ線連続スペクトルのエネルギー、各物質の領域の長さ及び各物質のＸ線吸収係数を用いて連続スペクトルのＸ線投影データfを演算し、単一ペクトルのＸ線投影データgと連続スペクトルのＸ線投影データfとの差で補正量h、tを演算する。 （もっと読む）

【課題】集束イオンビームで形成した観察面に荷電粒子ビームを照射し、観察像を取得し、観察面を保持したまま、さらに透過可能になるように薄片化加工を行うことで、同一観察位置のＴＥＭ観察と二次粒子像観察を図ること。
【解決手段】集束イオンビーム３を試料５に照射し観察面を形成し、電子ビーム４を観察面に照射し、観察像を形成し、試料５の観察面と反対側の面を除去し、観察面を含む薄片部５ｔを形成し、薄片部５ｔの透過電子像を取得する試料加工観察方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】高速検査のためのＸ線検査装置を用いて不良解析検査を実現する。
【解決手段】Ｘ線検査装置が実行する処理は、高速撮像を実行するステップ（Ｓ３１５）と、再構成処理を実行して検査画像を作成するステップ（Ｓ３２０）と、自動検査（Ｓ３２５）が合格の場合に検査結果を表示するステップ（Ｓ３３０）と、自動検査が不合格の場合に、撮像条件を切り換えて不良解析用の撮像を実行するステップ（Ｓ３４０）と、不良解析用の再構成処理を実行して画像を作成するステップ（Ｓ３４５）と、不良解析用の画像を出力するステップ（Ｓ３５０）とを含む。 （もっと読む）

【課題】海上や河川上に設けられたコンクリート構造物の内部状態を容易に非破壊検査する。
【解決手段】船体本体１と、検査線発生部５と、該検査線発生部５から入射した中性子線を検査対象物Ｒに対して走査状に照射する照射手段６と、中性子線が検査対象物Ｒによって回折されて得られる回折中性子線を照射手段６の走査位置に応じて検出する検出手段８と、該検出手段８から入力される回折中性子線の検出信号に基づいて検査対象物Ｒの走査位置における物質の格子定数ｄを算出する格子定数算出手段９と、各走査位置における検査対象物Ｒの格子定数に基づいて検査対象物Ｒの内部状態を可視化する可視化手段９とを具備する。 （もっと読む）

【課題】屈折コントラスト法に替わるＸ線撮像装置およびＸ線撮像方法を提供する。
【解決手段】被検知物によるＸ線の位相変化を用いて撮像するＸ線撮像装置であって、Ｘ線発生手段１０１から発生したＸ線を空間的に分割する分割素子１０３と、分割素子により分割されたＸ線の入射により第１の蛍光を生じる第１の蛍光体が複数配列された第１の蛍光体アレイ１０５と、第１の蛍光体アレイを透過したＸ線の入射により前記第１の蛍光とは異なるスペクトルを有する第２の蛍光を生じる第２の蛍光体が複数配列された第２の蛍光体アレイ１０６と、前記第１の蛍光と前記第２の蛍光を検出する検出手段１０７と、を有し、第２の蛍光体は、前記Ｘ線の入射位置の変化に応じて蛍光の発光量が変化する発光量勾配を有する。 （もっと読む）

【課題】良品における半田形状を安定化させて、良品の場合と不良品の場合とで半田形状の差異を顕著にすることによって、検査精度を向上させる。
【解決手段】ランド２２の縁部分がレジスト２４に覆われた基板２０と、ランド２２に半田付けされた電極３２を有する電子部品３０との半田付け状態を検査するＸ線検査方法であって、基板２０にＸ線を照射するＸ線照射ステップと、Ｘ線照射ステップにおいて照射し基板２０を透過したＸ線を検出するＸ線検出ステップと、Ｘ線検出ステップにおいて検出したＸ線に基づいて、半田４０の水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成した水平断面画像の半田形状に基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】挿入端子を有する電子部品が実装されたプリント基板に対して、安価に精度良く良否判定を行う。
【解決手段】プリント基板２０にＸ線を照射するＸ線照射ステップと、Ｘ線照射ステップにおいて照射しプリント基板２０を透過したＸ線を検出するＸ線検出ステップと、Ｘ線検出ステップにおいて検出したＸ線に基づいて、スルーホール２１の複数位置での水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成した水平断面画像に基づいて、半田上がり高さを検出する検査ステップと、検査ステップにおいて検出した半田上がり高さに基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】ランドの仕様および部品電極の仕様によって良品の半田形状にばらつきが生じている場合にも、精度良く半田付け状態の良否判定を行う。
【解決手段】基板２０にＸ線を照射するＸ線照射ステップと、Ｘ線照射ステップにおいて照射し基板を透過したＸ線を検出するＸ線検出ステップと、Ｘ線検出ステップにおいて検出したＸ線に基づいて、ランド２２と半田４０間の水平断面画像、及び半田４０の水平断面画像を生成する断面画像生成ステップと、断面画像生成ステップにおいて生成したランド２０と半田４０間の水平断面画像、及び半田４０の水平断面画像のコントラスト差に基づいて、半田付け状態を判定する判定ステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】撮影時間を短縮化して、動きを止めにくい動物などのＣＴ画像を短時間で得る。
【解決手段】本発明のＣＴ装置１は、回転中心を基点に所定の半径を保ちつつ回転すると共に、回転中心に配置された患部に対して透過線２を照射する照射部３と、回転中心を挟んで照射部３の反対側に設けられると共に照射部３から患部を透過してきた透過線２を面状に撮影する撮影部４と、照射部３と撮影部４とが回転中心を基準として同じ位置関係を保つように照射部３と撮影部４とを回転中心回りに回転させる回転機構５と、撮影部４で撮影された撮影データを取り込む検査用コンピュータ７と、を備えたものである。 （もっと読む）

【課題】検被検査体を簡便に検査することができる放射線検査装置を提供する。
【解決手段】基板表面検出部３８は、基板および電子部品を含む被検査体の断面画像を画像解析し、前記断面画像の中から基板表面を映し出す表面画像を特定する。疑似断面画像生成部４０は、前記表面画像を基準として前記断面画像に映し出されている前記基板と前記電子部品とを接合するはんだの領域を特定し、前記はんだを映し出す前記断面画像を積み上げることにより擬似的に撮像範囲に厚みを持たせた疑似断面画像を生成する。検査部４２は、前記表面画像に映し出された前記はんだの領域および前記疑似断面画像に映し出された前記はんだの領域を画像解析することにより、前記はんだの接合状態の良否を推定する。 （もっと読む）

【課題】幾何条件を変更した後に最初に断層撮影をする場合に、スキャン開始から断面像の完成までの時間を短くできるＣＴ装置を提供する。
【解決手段】透過像の回転中心位置を求め記憶する回転中心求出部９ｅと、スキャン制御部９ｄと回転中心求出部９ｅと再構成部９ｆとを制御して、被検体５に対し第一のスキャンを実施して、第一のスキャンデータから回転中心位置の求出と記憶を行い、引き続き、被検体５に対し第二のスキャンを実施して第二のスキャンデータを記憶しつつ、第二のスキャンデータから順次、回転中心位置を用いて再構成処理を前記第二のスキャンと並行して行い、被検体５の断面像を再構成する撮影制御部９ｃを有するＣＴ装置。 （もっと読む）

【課題】本発明は３次元画像取得方法及び装置に関し、分解能を向上させることができるトモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置を提供することを目的としている。
【解決手段】走査透過型電子顕微鏡において、試料の３次元画像を得る３次元画像取得手段を設け、該３次元画像取得手段を用いて試料の第１の３次元画像を得、次に、試料を裏返して該３次元画像取得手段を用いて試料の第２の３次元画像を得、得られた試料の第１の３次元画像と第２の３次元画像とから試料の３次元画像を得る、ように構成する。 （もっと読む）

高解像度ＣＴ画像を生成する方法及びシステムが提示される。ＮＳＲ＃法は、ＣＴスキャナの面内画像解像度を向上させることによって、ヘリカルスキャンモードでＡＭＰＲ法に改良を加える。提供される方法は、４分の１検出器オフセット及びインタリービングを利用する高解像度アキシャルスキャンモードとほぼ同等の面内画像解像度を得るために、４分の１検出器オフセット及び相補データのインタリービングを使用する。この方法は、２平面によるＮＳＲ＃、３平面によるＮＳＲ＃、複数の平面によるＮＳＲ＃のような、インタリーブされるべきデータの幾つかの選択法を含む。インタリーブされたデータは、高解像度傾斜スライスを作成するために使用される。ＮＳＲ＃法では、撮像タスクで必要とされる所望の面内解像度と画像アーチファクトのバランスを得るために、傾斜を除くフィルタを最適化して高解像度傾斜スライスと低解像度傾斜スライスを混合したものを作成する。傾斜を除く処理の一実施形態では、最大解像度の利益を得るのに高解像傾斜スライスだけを使用することができる。別の実施形態では、高解像度傾斜スライスを、インタリービングを行わなかったデータから得られた標準解像度傾斜スライスと混合することができる。これにより解像度が標準よりも高くアーチファクトが少ない、傾斜していないスライスが作成される。ピッチが２／３未満であるスキャンの別の実施形態では、コリメーションを低減して患者への線量を低減することができる。
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【課題】容器を形作る金属製ライナーをこれに巻装された繊維材料と樹脂とで強化した複合容器について、破壊検査を行うことなく、強度不足の容器を発見する。
【解決手段】複合容器を非破壊検査して、樹脂内部の空隙の体積を空隙ごとに測定する（Ｓ１〜Ｓ６）。各空隙の体積と予め定められた第１閾値とを比較して、第１閾値を超える空隙が存在する場合に、測定した複合容器を排除する（Ｓ７）。全ての空隙の総体積と予め定められた第２閾値とを比較して、空隙の総体積が第２閾値を超える場合に、測定した複合容器を排除する（Ｓ８、Ｓ９）。 （もっと読む）

【課題】サンプルの立体表現を決定するためのコンピュータ断層撮影法を提供する。
【解決手段】Ｘ線システム（１０）によって取られるサンプル（１３）のＸ線投影からのサンプル（１３）の再構成容積データを用いるステップと、前記再構成容積データからの前方投影によって前記サンプル（１３）の一連の人工投影を計算するステップと、本質的に前記再構成容積データおよび／または前記Ｘ線投影を含む前記再構成の処理データから、前記測定Ｘ線投影の各々に対し、この測定Ｘ線投影の検査中のボクセルへの寄与度と対応する人工投影からの検査中のボクセルへの寄与度との差を計算することに基づき、前記容積データの単一のボクセルの個々の信頼度を求めるステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】被検査体の観察に好適な断面画像が得られる放射線検査装置を提供する。
【解決手段】撮像部は、基板および電子部品を含む被検査体の複数の箇所に複数方向から放射線を照射し、複数の放射線透過画像を撮像する。断面画像生成部３８は、前記複数の放射線透過画像に基づいて前記被検査体の複数の断面画像を再構成する。検査画像特定部７４は、前記複数の断面画像に基づいて検査画像を取得する。補助画像特定部７６は、前記被検査体の少なくとも一部が映し出されている補助画像を取得する。周波数解析部４２は、前記検査画像と前記補助画像とが共通に含む周波数成分を特定する。周波数成分除去部４４は、前記共通に含む周波数成分の影響を前記検査画像から軽減する。 （もっと読む）