【課題】増強された分解能をもつＸ線散乱測定を用いた試料の検査方法を提供する。
【解決手段】その試料の検査方法は、試料に向かってＸ線ビームを誘導する段階と、試料から散乱させられたＸ線を捕捉すべく検出器素子のアレイを構成する段階とを含む。試料は、アレイのピッチの整数倍数でない増分だけ相互に分離された少なくとも第１および第２の位置との間で該アレイの軸に平行な方向にシフトされる。試料がそれぞれ少なくとも該第１および第２の位置のそれぞれにあるときに検出器素子が捕捉したＸ線に応答して、該検出器素子により少なくとも第１および第２の信号が生成される。この第１および第２の信号は、前記軸に沿った位置の関数として、試料のＸ線散乱プロファイルを決定すべく合成される。 （もっと読む）

【課題】 電線を備えた複数のステージ同士の組立て作業が簡単であり、ステージの移動に際して電線が邪魔にならない試料支持装置を提供する。
【解決手段】 ベースステージ７に重ねて配置される搭載ステージ８を有し、この搭載ステージ８によって試料Ｓを支持する試料支持装置である。ベースステージ７と搭載ステージ８はそれぞれの結合面を対向させた状態で互いに重ね合わされる。試料支持装置は、搭載ステージ８に設けられた駆動装置１８，１９と、搭載ステージ８の結合面内に設けられていて電線４４を介して駆動装置１８，１９に導通する搭載側端子３１ａと、ベースステージ７の結合面内に設けられていて搭載側端子３１ａと導電接続可能なベース側端子３１ｂとを有する。搭載ステージ８をベースステージ７上に重ねて配置した状態で、搭載側端子３１ａとベース側端子３１ｂとが導電接続する。 （もっと読む）

【課題】
MEM構造解析により得られる電子密度を、たんぱく質に代表される高分子に適用して、その高分子の静電ポテンシャルの計算に応用する。
【解決手段】
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 （もっと読む）

【課題】双晶の実空間単位格子，逆格子空間基本格子及び逆格子点群を立体的に表示することにより，双晶成分間の３次元的な相互関係を容易に理解できるようにして，双晶試料のＸ線構造解析の成功率を高める。
【解決手段】単結晶Ｘ線構造解析装置４２を用いて，複数の双晶成分の各結晶方位行列を得る。第１演算手段３４は，結晶方位行列に基づいて，複数の双晶成分の実空間単位格子を求めて，それを回転，拡大・縮小，平行移動の各操作が可能なように立体的に表示するための表示データを作成する。第２演算手段３６は，結晶方位行列に基づいて，複数の双晶成分の逆格子空間基本格子を求めて，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。第３演算手段３８は，結晶方位行列に基づいて，Ｘ線回折が生じる逆格子点群を，双晶成分ごとに区別して，それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 （もっと読む）

【課題】未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。
【解決手段】Ｘ線放射特性を用いた物質同定方法が提供される。監視されるＸ線放射特性を表すＸ線データは、入射エネルギービームに応答して試料から得られる。同様に、複数の物質の組成データを含むデータセットが得られる。試料物質はデータセット内に含まれる。組成データを用いてデータセット内の物質の各々について予測Ｘ線データが計算される。取得Ｘ線データと予測Ｘ線データとが比較され、この比較に基づいて試料物質の可能性のある素性が判定される。 （もっと読む）

【課題】 石炭中の無機鉱物の化学形態を推定するために、ＮＭＲ法を利用して、高炉などの冶金炉やボイラーなどの燃焼炉で広く使用される石炭中の無機鉱物の化学形態を迅速かつ簡便に推定する方法を提供する。
【解決手段】 予め各銘柄を代表する複数種の石炭について、該石炭中に存在する各無機鉱物の化学形態を²⁷Ａｌ−ＮＭＲスペクトル測定法により特定するともに、該石炭中のＡｌ量およびＳｉ量を成分分析法により測定し、該石炭中のＡｌ量およびＳｉ量と無機鉱物の化学形態との関係を示す無機鉱物推定マップを作成した後、評価対象である石炭について、該石炭中のＡｌ量およびＳｉ量を成分分析法により測定し、該石炭中のＡｌ量およびＳｉ量から前記無機鉱物推定マップに基づいて、該石炭中に存在する無機鉱物の化学形態を推定することを特徴とする石炭中の無機鉱物の化学形態の推定方法。 （もっと読む）

ラップ加工に用いられる粒子を含む研削材（砥粒）の圧潰強さを測定する方法及び装置が提供される。実施形態としての圧潰強さ試験機は、研削材を保持するカップと、カップを第１の方向に回転させる第１のモータと、カップ内に回転可能に嵌まり込んで研削材に接触するピストンと、ピストンを第１の方向とは逆の第２の方向に回転させる第２のモータと、第１及び第２のモータが回転している間にストンを研削材に押し付けて粒子を圧潰するプレスとを有する。粒子の初期粒径分布を求め、次に研削材に圧潰強さ試験機を用いてラップ加工の圧潰力にほぼ等しい圧潰力を及ぼす。粒子の圧潰後粒径分布を求め、初期粒径分布と圧潰後粒径分布を比較する。 （もっと読む）

【課題】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置を提供する。
【解決手段】コンテナー内に提供された骨セメント材料の硬化を監視する装置は、骨セメント材料の温度に基づくコンテナー内のある種類のセメント材料が硬化するのに要する時間に関連するデータが記憶されたメモリ装置を含む。データプロセッサは、セメント材料の温度に関連するデータ、および、硬化の程度に関連するメモリ装置内のデータ、に基づいて、セメント材料が硬化するのに要する時間を計算するのに用いられる。出力装置は、コンテナー内のセメント材料の硬化の程度に関連する、データプロセッサからのデータ用に、設けられている。 （もっと読む）

【課題】架橋後のゴム製品でも特別な処理無しに短時間で架橋度を評価できるゴムの評価方法、及びその評価方法を用いて所望の架橋度を得るゴムの製造方法、並びにその評価方法を用いたインクジェットプリンター用ジョイントシールの製造方法を提供する。
【解決手段】光電子分光測定によりゴムの成分元素ピーク（塩素化ブチルゴムのＣｌ２ｐ３／２ピーク等）のエネルギーシフト量を測定し、該エネルギーシフト量から該ゴムの架橋度を評価することを特徴とするゴムの評価方法；及び、光電子分光装置がインラインで組み込まれた工程でゴムの成分元素ピークのエネルギーシフト量を測定し、結果をフィードバックして所望の架橋度になるように加熱成形条件を調整するゴムの製造方法；及び、この評価法を用いたインクジェットプリンター用ジョイントシールの製造方法。 （もっと読む）

サンプルを高エネルギー放射線に露光させるための、例えば、Ｘ線吸収端近傍解析（ＸＡＮＥＳ）を実施するためにサンプルをＸ線に露光させるためのコンパクトで電力消費が少ないシステム及び方法である。このシステム及び方法は、Ｘ線管のような電力消費量が少ない放射源と、解析中にサンプルに放射エネルギーを向けて照射し、これを変化させるための同調可能な１つ以上の結晶光学系と、サンプルによって放射された放射線を検出するために、Ｘ線検出器のような放射線検出デバイスとを備えている。同調可能な１つ以上の結晶光学系は二重湾曲光学系でよい。システムの構成部品は同一直線上に配置してもよい。開示されるシステム及び方法は、特に例えば、生物学的工程におけるクロム又はその他の遷移金属の化学的状態のＸＡＮＥＳ解析のようなＸＡＮＥＳ解析に利用可能である。
（もっと読む）

【課題】荷電粒子線の光学系の光軸に垂直な平面内、もしくは少し傾斜した平面内における回転機構をもった装置の回転操作に伴って発生する観察・加工位置の移動の補正を簡便かつ高精度に実現すること。
【解決手段】荷電粒子線装置における試料ホルダー、絞り装置、バイプリズムなどの、当該回転機構の２次元位置検出器とコンピュータ制御による駆動機構を利用し、さらにコンピュータの演算能力を利用することによって該平面内の回転に伴う移動量を演算によって求め、これを相殺させる様に駆動、制御を行なう。また、ひとつの入力によって複数の回転機構を互いに関連をもって操作させる。 （もっと読む）

本発明の１つの実施形態によれば、計器からのデータを分析するための方法が開示される。計器によって生成された生データは、ユーザによって生成された構成データと共に、コーリング・モデル内にパッケージングされる。生データは、たとえば、光電子分光法データを分析した場合の特定の運動エネルギーを有するカウントを含むことができる。構成データは、測定されている構造体の組成及び構成に基づいてユーザによって選択される幾つかのパラメータを含むことができる。コーリング・モデルは、計器と、所望の結果をユーザに戻すためのアルゴリズムを生成するためのエンジンとの間のインターフェースとして役立つことができる。エンジンは、次に、アルゴリズム、並びにユーザによって指定された結果を生成し、コーリング・モデルはその結果をユーザに戻す。これは、既知のアルゴリズム及び関数を用いて、特定の被測定試料及び構造体に対して特定のアルゴリズム及び結果を生成することを可能にする。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、エネルギー制御や収束が容易で、コントラスの良いホログラムが得られる逆Ｘ線光電子ホログラフィー装置及びその測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 電子線を測定試料に照射し、該測定試料の電子線に対する姿勢を変えることにより電子線の入射角及び回転角を変化させ、該測定試料が励起されて放出される特性Ｘ線の強度変化を特定元素の原子周りの原子分解能ホログラムとして記録する逆Ｘ線光電子ホログラフィー測定方法において、該測定試料の原子の特性Ｘ線として強度を検知することにより、該測定試料に入射する電子が特定Ｘ線発生原子に到達する電子波としてのホログラフィーにおける参照波及び近接原子によって散乱された電子波としての物体波が発生し、前記参照波、物体波が合成されることで干渉パターンが形成される電子線強度のモニターとする。 （もっと読む）

本発明の一態様に従って、検出器は、或る閾値を超える光子に対してその数をカウントする多数の小さい画素で構成される検出素子を有し、この検出器の位置におけるエネルギー分布の再構成が最尤解析を用いて実行される。故に、再構成手法は測定における冗長性を使用し、それに従ってポアソン統計を処理する。
（もっと読む）

【課題】 試料からの微弱な散乱光を、超小角領域まで精度よく検出できる光散乱測定装置を提供する。
【解決手段】 レーザー光源１１と、レーザー光源１１からの光を集光する第１のレンズ１２と、ピンホールｄを有するピンホール板１３と、第１のレンズ１２からピンホールｄを介して入射した光を平行光にする第２のレンズ１４と、第２のレンズ１４から入射した平行光を検出器１７の検出面に備えられたビームストッパー１６で焦点を結ぶように集光する第３のレンズ１５とを設ける。また、ピンホールｄとビームストッパー１６とを光学的に共役な位置に配置する。 （もっと読む）

【課題】従来測定者が行っていた手作業を簡略化し、精度良く迅速に物質を同定することが可能な物質同定システムを提供する。
【解決手段】電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。物質同定部４は、電子線回折像解析部３から送信された格子面間隔データ、ＥＤＸ分析部２から送信された元素データをもとに検索用データベースを検索して物質を同定する。 （もっと読む）

【課題】 蛍光Ｘ線を用いて被測定物に含まれる微少物質を測定するに際して、比較的簡単な構成で、被測定物の複数の面を正確に且つ安定して測定できるようにする。
【解決手段】 蛍光Ｘ線を用いて被測定物Ｗの材料中に含まれる物質を測定する物質測定装置Ｓであって、被測定物が配置される測定ステーションＡｓを有する装置ベースＢｓと、測定ステーションに配置された前記被測定物を位置決め状態で保持し且つ保持状態で回転し得る保持回転手段Ｍと、測定ステーションに位置決め状態で保持された被測定物の測定面にＸ線を照射する照射手段２６と被測定物の測定面で反射したＸ線を検出する検出手段２７とを有する測定手段と、該測定手段および前記保持回転手段の作動を制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、小角Ｘ線散乱用途に使用するＸ線ビームのビーム発散を減少させるＸ線ビームを生成する方法及び装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線ビームを焦点に集束させる集束光学系、集束光学系と光学的に結合する第１スリット、第１スリットと光学的に結合する第２スリット、およびＸ線検出器を含み、焦点が検出器の前に配置されるＸ線分析システム。 （もっと読む）

【課題】 不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるＸ線回折図形を短時間で容易に取得することを実現する。
【解決手段】 単色の入射Ｘ線６の光軸、試料４、および二次元位置敏感型検出器７を固定した状態で単色の入射Ｘ線６の波長を変えながら試料表面の被測定領域Ａ全体を照らし、被測定領域Ａ内の異なる部位から出射する回折Ｘ線１０を二次元位置敏感型検出器７の別々の検出素子でそれぞれ区別して検出し、それぞれの波長について、各検出素子が検出した回折Ｘ線強度を各画素値とする二次元の回折Ｘ線画像を形成し、複数の波長値に対する回折Ｘ線画像を一つのセットとして記録する。 （もっと読む）

【課題】誰でも容易、且つ確実にしかも微小試料を損傷することなく捕集し、そのまま試料を効率よく冷凍でき、Ｘ線構造解析などに悪影響を及ぼすことがない、構造が簡単な捕集具を提供すること。
【解決手段】グリップの先端部にループを設けた微小試料捕集具であって、ループ内に、エレクトロンスピニング法により、１００〜２００ｎｍの微細径の合成繊維からなる網状物を形成した微小試料捕集具、その製造方法および該微小試料捕集具を用いた微小結晶構造解析方法。 （もっと読む）