【課題】本願発明の課題は、試料にレーザーを照射することにより、試料をイオン化し、該イオン化した試料を質量分析器に導き、試料の同定を行う方法において、簡便な装置により感度を向上させることである。
【解決手段】本願発明は、イオン化剤を混合した液体試料を噴霧装置により微細液滴（ミスト状）とし、該微細液滴試料にレーザー光を照射した。これにより、単に液滴にレーザー光を照射するのに比べて、感度が数百倍向上した。 （もっと読む）

【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】走査型アトムプローブ２００は、試料３の表面を走査する引出電極５と、試料３に電圧を供給する直流高圧電源２と、直流高圧電源２により供給された電圧により引出電極５と試料３の間に生じた電界によって、試料３の表面の原子又は原子団を試料３から脱離させたときに、脱離したイオン８を検出する位置感知型イオン検出器１１とを備える。位置感知型イオン検出器１１は、イオン８の入射により電子を放出する電子増倍板２５と、電子増倍板２５から放出された電子の一部が入射する螺旋状の遅延回路線４１と、電子増倍板２５から放出された電子のうち、遅延回路線４１の線間を通過した電子が入射する導電板４２とを含む。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】分析用の第２のイオントラップ５の上流に配置された第１のイオントラップ２を含む質量分析計が提供される。第１のイオントラップ２の電荷容量は、第１のイオントラップ２の電荷容量限度まで第１のイオントラップ２内に蓄積されたすべてのイオンが次いで第２のイオントラップ５に移動する場合、第２のイオントラップ５の分析性能が空間電荷作用によって実質的に損なわれないような値に設定される。 （もっと読む）

【課題】目的のイオンが十分な確保でき、ＭＳ／ＭＳ測定が最適化されたイオントラップ質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料をイオン化するイオン源部と、イオン源にて生成されたイオンを、三次元四重極電界を形成することで所定の質量電荷比に従いイオンを閉じ込め、不要なイオンを排出し、目的のイオンのみを四重極電界内に閉じ込め、衝突誘起解離を行い、フラグメントイオンを生成し、そのイオンを質量分離し、検出器に輸送するイオントラップ部とイオンの量を電流値に変換する検出部とで構成される質量分析装置において、イオン捕捉操作における捕捉イオン量かつ目的イオン量をＭＳ／ＭＳ測定を行うために最適化し、イオン選択操作および衝突誘起解離操作を行い、ＭＳ／ＭＳスペクトルを得る。 （もっと読む）

【課題】ハウジングへのイオン化プローブの取付け・取外し作業の効率化を図りつつ、部品点数の増加を抑えてコストを抑制する。
【解決手段】フランジ部２２に貫設したシャフト２５の頭部にレバー２６を設け、シャフト２５の周面に係止ピン２７を突設する。ハウジング３０にはシャフト２５が挿入される挿入孔３５を形成し、その挿入孔３５の上部には係止ピン２７が回動可能なざぐり３５ａを設ける。凹部３３に収容されたマイクロスイッチ４０を被覆する保護プレート５２はざぐり３５ａの一部にせり出している。イオン化プローブ２０がハウジング３０にセットされ、レバー２６が回動操作されると、係止ピン２７が保護プレート５２の下方に入り込み、その係合によってイオン化プローブ２０はハウジング３０に固定される。保護プレート５２はスイッチ４０の保護とイオン化プローブ２０の固定との２つの機能を果たす。 （もっと読む）

第１の端部と、第２の端部と、複数のロッドと、中心縦軸とを有する、細長いロッドセットを有する質量分析計と、それを操作する方法について記載される。実施形態は、ａ）ロッドセット内へとイオンを入射することと、ｂ）複数のロッド間にＲＦ場を生成し、ロッドセット内にイオンを半径方向に閉じ込めることであって、ＲＦ場は、ロッドセットの長さの少なくとも一部に沿って変動し、各イオンに対して、イオンに作用する対応する第１の軸方向力を提供して、第１の軸方向にイオンを押出すことと、ｃ）各イオンに対して、対応する第２の軸方向力を提供し、第１の軸方向と反対の第２の軸方向にイオンを押出すこととを伴う。第１の対応する軸方向力は、イオンが中心縦軸から閾値半径方向距離未満にある場合、対応する第２の軸方向力未満であって、イオンが閾値半径方向距離を上回って中心縦軸から半径方向に変位される場合、対応する第２の軸方向力を超える。
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【課題】
広い測定質量範囲をもつ質量分析装置において、高質量または低質量での測定感度が低下する。
【解決手段】
加速されたイオンが検出器までに到達する飛行時間を測定することにより、質量数を測定する、飛行時間型質量分析装置において、測定質量数に応じて検出器表面に印加する電圧を走査する。または、飛行空間と検出器の間に電極を設け、電極に印加する電極の電圧を走査することにより、広い質量範囲において、高い検出効率で測定可能な飛行時間型質量分析装置。 （もっと読む）

ドラッグフィールドを形成するための補助電極は、多重極の主ＲＦ電極間に挿入するためにプリント回路基板材料等の薄い基板に指電極の配列として設けることができる。配列の個々の指電極を相互接続する静的抵抗器を利用する分圧器を実装することにより補助電極の長さに沿って漸進的な電圧範囲を印加することができる。個々の指電極又は指電極のグループに動的電圧変化を印加することができる。
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【課題】デジタルイオントラップのリング電極に印加する矩形波電圧を発生する回路において、矩形波電圧の周波数を変更する際の温度変化に伴う質量のずれを電気的に補償する。
【解決手段】周波数変更時の温度変化に伴う電圧変動や位相変動を予め測定し、その測定結果に基づいてその変動の影響を補償するための制御情報を記憶部１１に格納しておく。分析時においてイオントラップ２から排出するイオンの質量を変更する際に、制御部７は周波数変更に対応した制御情報を記憶部１１から読み出して電圧変動や位相変動を予測し、その影響を補償する制御信号を生成して電圧調整部５２を介して可変電圧源４５、４６の電圧を調整する。これにより、例えば温度変化によりスイッチ４３、４４での電圧降下が大きくなる場合には、可変電圧源４５、４６の出力電圧は増加し、リング電極２１に印加される電圧の振幅は略一定に維持される。 （もっと読む）

前駆体イオン種をそれらのフラグメントから同定する方法が、複数の前駆体イオン種およびそれらのフラグメントの質量スペクトルを高質量精度で得るステップを含む。次いで、複数の前駆体イオン種のフラグメント化から得られたフラグメント質量スペクトルが走査され、合算した質量が前駆体イオン種の１つの質量と合致するフラグメントの対を同定する。フラグメントイオンの対が前駆体イオンに合致された後、複合のフラグメントイオンスペクトルがいくつかの部分に分解され、フラグメントの対ごとに１つの部分である。分析は、さらなる対が同定されなくなるまで続く。次いで、複合のフラグメントスペクトルの分解された区域を一体に継ぎ合わせることによって、各前駆体試料イオンごとに単純化されたフラグメントイオンスペクトルが再構成される。得られた再構成されて単純化されたフラグメントスペクトルが、サーチエンジンに送られ、サーチエンジンは、各合成フラグメントイオンスペクトルごとに有力候補のスコアソートリストを返す。
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【課題】多数の多重極やイオン輸送光学素子に印加する電圧の走査制御に関するＣＰＵの負担を軽減する。
【解決手段】第１段四重極、コリジョンセル内に配設された多重極イオンガイド、第３段四重極などのイオン輸送構成要素にそれぞれの印加する電圧に対応した制御データを時系列的に記述したパラメータテーブルをＣＰＵにより構成されるデータ生成部４００で生成し、ＤＭＡ転送で外部メモリであるテーブル保持部４１１に保持する。ＦＰＧＡにより構成されるデータ読み出し部４１２は、走査開始信号を受けて時系列順に制御データの読み出しを開始する。読み出されたデータはそれぞれ対応するＤ／Ａ変換部４１４に送られ、全てのＤ／Ａ変換部４１４にデータが揃うと共通の同期信号により同時にラッチされ、Ｄ／Ａ変換されたアナログ電圧が一斉に出力される。ＣＰＵは分析開始前にテーブルを作成した後、走査開始信号等を送るだけでよく、負担が少なくて済む。 （もっと読む）

【課題】イオン透過率を維持しつつ、光子および中性粒子の除去率が従来に比べて向上したイオン偏向レンズを備えるプラズマイオン源質量分析装置の提供
【解決手段】イオン偏向レンズは、入射側プレート状電極と出射側プレート状電極と、入射側プレート状電極と出射側プレート状電極との間に配置される筒状電極とを具備する。筒状電極は、非点対称形状を成す。また、筒状電極は、筒状電極の中心軸が出射側プレート状電極後のイオンの進行軸よりも入射側プレート状電極前のイオンの進行軸に近いように配置される。 （もっと読む）

【課題】質量分析を用いて樹脂中の臭素化難燃剤を定量分析する。
【解決手段】検体を加熱して気化する質量分析に用いられ、前記検体に添加される内部標準物質であって、1,6-ヘキサンジオールビス〔3-(3,5-ジ-t-ブチル-4-ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕(CAS#:35074-77-2)等のヒンダートフェノール化合物からなる内部標準物質。検体を加熱して気化する質量分析に用いられる内部標準物質が母材である樹脂に含有されて構成され、前記検体に添加される内部標準樹脂であって、前記内部標準物質が1,6-ヘキサンジオールビスからなる内部標準樹脂。 （もっと読む）

【課題】測定試料中の測定物質の濃度を正確に算出することができる測定物質定量方法及びガスクロマトグラフ質量分析装置の提供。
【解決手段】データベース記憶ステップＳ１０１と、内部標準物質の設定質量電荷比のイオンのピーク面積又は高さを算出する内部標準物質算出ステップＳ１０４と、選択質量電荷比のイオンのピーク面積又は高さを算出する測定物質算出ステップＳ１０７と、設定質量電荷比のイオンの強度と、選択質量電荷比のイオンの強度との強度比をイオン比補正係数として算出するイオン比補正係数算出ステップＳ１０８と、ピーク面積比又は高さ比にイオン比補正係数を乗じることにより、イオン比補正ピーク面積比又は高さ比を算出するイオン比補正比算出ステップＳ１０９と、イオン比補正ピーク面積比又は高さ比を相対検量線に当てはめることにより、測定物質の濃度を算出する測定物質濃度算出ステップＳ１１０とを含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】多価イオンを用いて、試料表面の分析を高精度で短時間に行うことができる表面分析装置を提供する。
【解決手段】表面分析装置１は、試料５を搭載する試料台６と、試料台６に搭載した試料５に価数が１５以上の多価イオンビーム４を照射する多価イオン発生源３と、試料５に多価イオンビーム４を照射することにより生じる二次イオン７を検出する質量分析部８と、試料５に多価イオンビーム４を照射することにより生じる二次電子９を検出する二次電子検出部１０と、二次電子検出部１０からの二次電子検出信号を受け分析開始信号を生成し質量分析部へ送信する質量分析制御部１２を、備えて構成される。 （もっと読む）

【課題】測定対象物質から脱離させたイオンを検出して測定対象物質の質量分析を行う場合、測定対象物質以外の物質から別離されたイオンが検出され、測定対象物質の解析が困難になる。例えば、ＭＡＬＤＩ法を用いた場合は、イオン化したマトリックスが検出され、ＳＡＬＤＩ法を用いた場合は、測定対象物質を載置している基板に由来したイオンが検出されてしまう。簡単な構成でかつ高精度に測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析用デバイスを提供する。
【解決手段】検出面が形成された基板と、基板の検出面に形成され、少なくとも測定対象物質が載置された測定領域と、基板の検出面の前記測定領域と異なる領域に形成された参照領域とを有し、前記参照領域は、測定対象物質が載置されていない以外は測定領域と同一に構成されている質量分析用デバイス。 （もっと読む）

【課題】試料ガスの測定結果の時間変化を広範囲に亘り表示して、大域的な測定結果の時間変化を視覚的に把握し易くする。
【解決手段】試料ガスをイオン化して、そのイオンを検出するセンサ部２１と、前記センサ部２１からの検出信号に基づいて前記試料ガスを分析する分析部３１と、前記分析部３１による測定結果に基づく値、時間、及び前記試料ガス中の成分を示す値それぞれを軸とする３次元グラフを画面上に表示するとともに、当該３次元グラフを回転可能に表示する表示制御部３３を備えている。 （もっと読む）

【課題】スキャン速度に応じて特性を切り替える電流−電圧変換器の構成を簡素にし且つ切替時の回路の安定性を向上させる。
【解決手段】電流−電圧変換器１１は、演算増幅器Ａ１の非反転入力端と出力端との間に、第１抵抗器Ｒ１と、第２抵抗器Ｒ２とスイッチＳＷ１との並列回路とを直列に接続した回路を挿入する。制御部１０はスキャン速度が速い場合にスイッチＳＷ１を閉成して帰還抵抗を小さくし、ゲインを落とす一方周波数帯域を広げる。電流−電圧変換器１１のスイッチは１個で済むのでコスト低減が図れ、切替え時に帰還ループがオープンにならないので電流−電圧変換器１１の動作が安定になる。 （もっと読む）

【課題】微量試料の質量分析を行う場合の分析感度を向上させる。
【解決手段】イオントラップ１８に導入するイオンを一時的に集積するためのイオンガイド１４を四重極ロッド型とし、このイオンガイド１４にそのイオン飽和量よりも少ない量のイオンを導入して、出口側端部に集積する。四重極ロッド型は八重極ロッド型と比較してイオン蓄積性は劣るもののイオン収束性が良好であり、少量のイオンをイオン光軸Ｃ近傍に閉じ込めて保持することができる。それによって、出口側ゲート電極１６が開放したときに、イオンは電場補正用電極１７及び入口側エンドキャップ電極１８２の２つの開口を経てイオントラップ１８内に効率良く導入され、高感度の分析が可能となる。また、イオンガイド１４に導入するイオン量は少量でよいので、試料の消費量は少なくて済む。 （もっと読む）

【課題】検出したいフラグメントイオンのイオンピークがスキャンの範囲外にならないように、スキャンする質量対価数比の範囲を狭くできる質量分析装置を提供する。
【解決手段】質量対価数比をスキャンしながら試料をイオン化したイオン種を分離する分離部１４と、質量対価数比毎にイオン種の検出強度を検出する検出部１５とを有し、検出強度に基づいてマススペクトルのピークの出現する質量対価数比を抽出する質量分析装置１において、ピークの出現する質量対価数比に基づいて、ターゲットイオンの質量数の自然数分の１を測定上限値として設定する設定部４と、イオン種からターゲットイオンを選んで解離しフラグメントイオンを生成する解離部１３とを有し、分離部１４は測定上限値を上限とする範囲内で質量対価数比をスキャンしながらフラグメントイオンを分離し、検出部１５は質量対価数比毎にフラグメントイオンの検出強度を検出する。 （もっと読む）