【課題】金属微粒子を数１０ｎｍ以下に密に配置する工程を行わずに、金属微粒子の近傍においてホットスポットを形成可能な微細構造体を容易に作製できる微細構造体の作製方法を提供する。
【解決手段】局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属微粒子を基材表面に分散固定した状態とする工程と、前記複数の前記金属微粒子の間隙に金属膜を成膜する工程とを有し、前記金属微粒子は、前記基材の表面と平行な切断面の断面積が最大となる部分をもち、前記断面積が最大となる部分から前記基材表面に向かうにつれて前記断面積が減少する形状であり、前記金属膜と離間することを特徴とする微細構造体の作製方法。 （もっと読む）

質量分光分析システムにおいて用いるための試薬イオンおよび生成イオンを発生するシステムおよび方法について記載する。また、極微小濃度の揮発性有機化合物を検出するための本システムおよび方法の応用についても記載する。マイクロ波または高周波ＲＦエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 （もっと読む）

【課題】 ロッドセットの軸に沿って軸電界を発生させること。
【解決手段】 部材間に、縦軸を有する容積を画定する部材のセット、前記部材にＲＦ電圧を印加し、前記縦軸に沿って前記容積を通ってイオンを伝達する手段、および前記部材に沿って延び、前記縦軸に沿って延びる軸電界を確立する手段を有し、各ロッドが、内部表面および外部表面を有する絶縁材料のチューブを備え、前記軸電界を確立する手段が前記外部表面を被覆する抵抗性材料を備え、前記チューブが、ＲＦを印加するための該チューブの内部表面を被覆する導電性材料のコーティングを有する。 （もっと読む）

質量分析のためにイオン源から質量分析計まで運ばれるイオンには、多くの場合、イオン源から生じる、光子、中性粒子およびクラスタまたはエアロゾルイオンなどのバックグラウンド粒子が伴う。バックグラウンド粒子は、質量分析計検出器までの見通し線の存在する圧力のより高い領域における、バックグラウンド気体分子との衝突中の散乱およびイオンの中性化によっても生じる。いずれの場合にも、そのようなバックグラウンド粒子は、質量スペクトルにノイズを発生させる。複数の真空ステージを通じて効率的にイオンを運ぶように多重極イオンガイドが構成されるとともに、イオン源において、またイオン輸送の経路に沿って生じるバックグラウンド粒子が検出器へ到達することを妨げることによって質量スペクトルにおける信号対雑音を改良する、装置および方法を提供する。
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【解決手段】開示されるイオンガイド装置は、第１のイオンガイド（７）を備え、第１のイオンガイド（７）は第２のイオンガイド（８）に結合される。ＤＣ電位の勾配によって２つのガイド領域を仕切る径方向の疑似ポテンシャル障壁を超えて、イオンが誘導される。比較的大きな断面形状を有するイオンガイドから比較的小さな断面形状を有するイオンガイドにイオンを移動させることにより、その後のイオン閉じ込めが促進される。 （もっと読む）

【課題】化学剤を探知するスピード、誤報率の低減、化学剤の種類の絞込み、無人の連続モニタリング装置としての仕様を備えた硫黄マスタード、ルイサイト１の探知に用いて好適な化学剤の探知装置及び探知方法を得る。
【解決手段】探知装置は、試料を取り込み加熱する試料導入部１と、試料導入部１からの試料をイオン化するイオン化部２と、質量分析部３と、データを解析する計算機６とにより構成される。計算機６により硫黄マスタード、ルイサイト１に特有の所定の信号が認められた場合、その試料を特定することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】プラズマのイオン密度を低減して、イオンビーム中に含有される被分析物元素のイオンの量を増加させ、分析装置としての感度の向上を図る。
【解決手段】スキマーコーン３３の背面側でプラズマの側方への広がりを制限するように軸線方向に沿ってプラズマを包囲して延びる側壁３５と、当該側壁３５の後側に位置してイオンビームを通過可能にした開口５７を備えた第１の電極５３の平坦部５６とによって画定される小衝突室３６が設けられる。当該小衝突室３６では、追加のガスを導入することなく、その内部の圧力が高められるので、イオンと電子の衝突・再結合によってアルゴンイオンが中和されプラズマのイオン密度が低減される。これによって、イオンの引出・輸送時のビーム径が比較的小さく抑えられる。 （もっと読む）

イオントラップを有するイオントラップ分光計システムを動作させる方法が提供される。本方法は、ａ）第１の検体を含むイオン群を提供することと、ｂ）第１の検体以外のイオンを除去することによって、フィルタリングされた第１の検体を提供することと、ｃ）フィルタリングされた第１の検体をイオントラップ内に格納することと、ｄ）第１の較正用イオン集合をイオントラップ内に格納することであって、第１の較正用イオン集合は、既知の電荷質量比を有する少なくとも１つの較正用イオンを有することと、ｅ）フィルタリングされた第１の検体および第１のイオン集合をイオントラップから透過させることと、ｆ）第１の検体質量信号ピークを発生させ、各較正用イオンを検出し、関連する較正用質量信号ピークを発生させることと、ｇ）既知の電荷質量比と、較正用質量信号ピークとを比較することによって、第１の質量信号を較正することと、を含む。
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【課題】異なる個体から採取した同一部位の試料の比較を、分析担当者が煩雑な操作や面倒な判断を行うことなく効率よく行えるようにする。
【解決手段】複数の試料の顕微観察画像に基づいて試料又はその中の特定の部位の形状を把握し、その形状が揃うように一方の画像を、移動、回転、拡大・縮小など、変形操作する（Ｓ２）。その変形操作情報に基づいて、同一座標を持つ微小領域に対する質量スペクトルデータの比較が可能となるように、変形させた画像に対応した微小領域の座標情報を変更する（Ｓ３）。その後に、同一座標の微小領域の質量スペクトルを比較するように主成分分析を行い、差異などに関する情報を取得する（Ｓ４）。 （もっと読む）

【課題】手動のパラメータ設定による装置の調整や校正の作業を、容易且つ迅速に行えるようにする。
【解決手段】標準試料の質量分析を行ってマススペクトルを取得している際に、分析担当者が所定の操作を行うと、そのときの各種パラメータ（印加電圧など）とマススペクトルのピーク波形とが対応付けられて記憶部に格納される。異なるパラメータの条件の下で記憶させた同一質量に対するピーク波形は同一グラフ内に異なる線種や表示色で重ね描きされ、ピーク形状の比較が容易になる。分析担当者が好ましいピーク波形を選択すると、該ピーク波形に対応付けられたパラメータが読み出され、自動的に分析条件として設定される。 （もっと読む）

分圧分析器用のイオン源装置、および、イオン源の内側で中空陰極放電（ＨＣＤ）を誘導することに基づいた、その原位置洗浄方法。ＨＣＤは、陽極電極、レンズフォーカスプレートおよび少なくとも１つの他のレンズもしくは他の形態のプレート、例えば全圧収集機プレート、を含む、イオン源の１つ以上の部品に高い負電圧を加えることにより、形成される。
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【課題】低質量から高質量まで幅広い質量範囲のイオンを高い強度で検出する。
【解決手段】ノズル１２から噴霧する噴霧流の進行方向の前方で、噴霧口１２１に近い位置に第１放電電極１３１を配置し、イオンや液滴を吸い込んで後段に輸送する加熱パイプ１４の吸込口１４１に近い位置に第２放電電極１３２を配置する。第１放電電極１３１によるコロナ放電によっては主として高質量化合物が効率良くイオン化され、これに対し、第２放電電極１３２によるコロナ放電によっては主として低質量化合物が効率良くイオン化される。これにより、従来はイオン強度が低くなる傾向にあった低質量化合物のイオン強度も高くすることができる。 （もっと読む）

本出願人の教示は、高周波（ＲＦ）および交流（ＡＣ）電流の両方のロッドまたは他の電極への同時印加を通して、正および負の電荷の両方のイオンを同時に収容するための多極ロッドセットまたは他の多電極デバイスを組み込む、質量分析計および他のデバイスの操作の際に有用な方法、システム、および装置を提供する。一実施形態において、多極電極セットは、複数の電極対、すなわち２Ｎ個の電極（Ｎは、１より大きい整数）を備える。そのような実施形態では、ＲＦ電圧は、第１の位相で１つおきのロッドに、反対の位相で残りのロッドに印加され得る。
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【課題】構造や特徴が類似した複数の化合物を包含する化合物系列についての有益な情報を簡単な操作・作業で取得できるようにする。
【解決手段】クロマトグラフ質量分析により収集したデータに基づいて、保持時間と質量電荷比とを二軸にとり、信号強度を等高線として描いた２次元的な等強度線グラフを作成して表示する（Ｓ１）。オペレータがそのグラフ上でマウスのドラッグ操作等により任意の範囲を指定すると（Ｓ２）、指定された範囲に含まれるデータを収集し、保持時間毎に質量電荷比軸方向の信号強度を積算し、その積算値に基づいて積算マスクロマトグラムを作成する（Ｓ４、Ｓ５）。また、質量電荷比毎に保持時間軸方向の信号強度を積算し、その積算値に基づいて積算マススペクトルを作成する（Ｓ６、Ｓ７）。そして、これらを等強度線グラフと同一画面上に表示する（Ｓ８）。 （もっと読む）

【課題】クロマトグラフとＭＳⁿ型質量分析計とを組み合わせた装置で収集されるデータを見易く且つ管理が容易であるように印刷出力する。
【解決手段】収集したデータから全てのプリカーサイオンの情報を取得した後、設定された選別条件に適合するプリカーサイオンを抽出する（Ｓ３、Ｓ４）。１個のプリカーサイオンについて、それを開裂させて取得したＭＳ²スペクトルや、それからさらにプリカーサの選択・開裂を行って得たＭＳⁿスペクトルがあればそうしたＭＳⁿスペクトルのデータを収集し（Ｓ５、Ｓ６）、１段目のプリカーサイオンのm/zのマスクロマトグラムのデータも収集する（Ｓ７）。そして、決まったサイズの印刷領域をスペクトルの数で分割することで領域の割り当てを決め、マスクロマトグラムと１乃至複数のＭＳⁿスペクトルを１つの印刷領域に印刷する（Ｓ８、Ｓ９）。 （もっと読む）

【課題】質量スペクトロメータの構造を簡単にし、製造、コストを下げること
【解決手段】デバイスの出口近くでイオンを細いビームに合焦するテーパ付き電界を形成するよう、振動（例えば無線周波数）電圧を印加する、長手方向に離間する複数の電極から、質量スペクトロメータの低真空領域または大気圧領域内でイオンをトランスポートし、合焦するためのデバイスが構成されており、電極間間隔または振動電圧の振幅は、イオン走行方向に大きくなっている。 （もっと読む）

【課題】マススペクトルに出現する多数のピークの中で目的化合物の分子量関連イオンを高い精度で見つける。
【解決手段】高い質量精度で以て分析が可能な質量分析装置により実質的に同時に測定された正イオンのマススペクトルと負イオンのマススペクトルとを利用し、両マススペクトル上のそれぞれ１本のピークの質量の質量差を算出し、その質量差がプロトン２個分の理論質量（２．０１４６Ｄａ）を中心とする所定の範囲に入るようなピークのペアを探索する。概要するペアは同一化合物のプロトン付加イオン（Ｍ＋Ｈ）⁺とプロトン脱離イオン（Ｍ−Ｈ）^-であると推定できるから、これらを分子量関連イオンとして抽出し、マススペクトルの該当ピークにラベル表示するとともに、目的化合物の分子量を推定して該化合物の同定を実行する。 （もっと読む）

【課題】取得したマススペクトルに基づいて自動的に適切なピークを選択してプリカーサイオンとしてＭＳ²分析を実行する場合に、信号強度が低いイオンのＭＳ²分析の順番が来るまでに該当成分の溶出が終了してしまい十分なＭＳ²スペクトルが得られない場合がある。
【解決手段】マススペクトルのピーク選別条件として、信号強度の下限値ＬＬとともに上限値ＵＬを指定可能とする。データ処理部は、ＬＣＭＳ分析中に得られたマススペクトルに現れるピークのピーク強度が上限値ＵＬと下限値ＬＬとで決まる強度範囲Ａthに入っているか否かを判定し、入らないピークは除外し、残ったピークについて例えば強度順にプリカーサイオンに設定してＭＳ²分析を実行する。上限値ＵＬを適切に設定することで、ＭＳ²分析が不要な高強度成分を避けて低濃度の成分のＭＳ²分析を優先的に行うことができる。 （もっと読む）

イオン及び荷電液滴がノズル（６）から荷電粒子輸送装置又は脱溶媒パイプ（７）のオリフィス（２２）に向かって移動する。この粒子運動は粒子軌道に沿った擬似ポテンシャル分布により制御される。電極アレイ（２４）の隣接電極に印加された高周波電圧が荷電粒子を電極アレイ（２４）の上方に実質的に浮遊させる。このようにイオンは電極アレイ（２４）に達する直前に電極アレイ（２４）の表面に垂直な斥力Ｆを受ける。この斥力Ｆは電極アレイ（２４）のすぐ手前に実効的な障壁（Ｂ）を作り出し、結果として擬似ポテンシャル井戸（Ａ）を生じさせる。この井戸では、荷電粒子はきのこ雲の軸（Ｄ）に平行には運動しない。従って荷電粒子は井戸（Ａ）の中心線（Ｃ）の周辺に集まってくる。高周波電位に加えて直流電位を電極アレイ（２４）内の隣接電極に与えると、井戸の領域（２３）に微小な直流電場が形成される。この追加の直流電場は、荷電粒子を対称軸（Ｃ）に向けて、従って荷電粒子輸送装置又は脱溶媒パイプ（７）のオリフィス（２２）に向けて動かす。こうして、通常ならオリフィス（２２）を取り囲む面（２１）に衝突するであろう荷電粒子の多くが分析可能となる。
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【課題】試料から２次イオンを効率良く発生させて、試料を高感度で分析する。
【解決手段】（１）イオン発生源と、パルス化手段と、ＯＮ状態の時にクラスターイオンの中から特定の質量数のイオンからなる測定用１次イオンを選別し、ＯＦＦ状態の時にクラスターイオンを通過させる選別手段であって、ＯＮ状態とＯＦＦ状態を切り替えることが可能な選別手段とを有するイオン照射手段と、（２）試料台と、（３）試料から生じた２次イオンの飛行時間を測定する飛行時間型質量分析部と、を備えたことを特徴とする飛行時間型２次イオン質量分析装置。 （もっと読む）