Array ( [0] => その他の電気的手段による材料の調査、分析 [1] => イオン化後の処理 [2] => 断片化させるもの、CID ) その他の電気的手段による材料の調査、分析 | イオン化後の処理 | 断片化させるもの、CID
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Fターム[2G041KA01]の内容

その他の電気的手段による材料の調査、分析 (22,023) | イオン化後の処理 (407) | 断片化させるもの、CID (363)

Fターム[2G041KA01]に分類される特許

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【課題】簡単な構成で単一MSモードとタンデムMS/MSモードの切り替え時に生じる時間や試料の無駄を排する。
【解決手段】イオン飛行軌道内またはイオン飛行軌道近傍に配置されたイオン検出器と、イオンをイオン飛行軌道近傍の前記イオン検出器に向けて偏向させる偏向器とを第1質量分析装置内に設け、第1質量分析装置内を飛行するイオンを前記イオン飛行軌道内のイオン検出器で順次検出するか、またはイオンを前記偏向器でイオン飛行軌道近傍のイオン検出器に向けて偏向させて順次検出する第1のモードと、第1質量分析装置で分離した所望のイオンのみを第1質量分析装置の後段に置かれた第2質量分析装置で質量分析するとともに、他のイオンは前記偏向器で偏向させて、偏向先に置かれた前記イオン検出器で順次検出する第2のモードとを切り替え可能に備えた。 (もっと読む)





【課題】イオンの解離効率を高め、従来、解離しにくい分子量の大きなイオンも解離して質量分析する。
【解決手段】イオントラップ1内にイオンを捕捉してプリカーサイオンを選別した後、被励起ガス導入部23よりエチレンガスをイオントラップ1内に導入し、該ガス分子を振動励起させる所定波長(10.6μm)のレーザ光を励起レーザ照射源22から照射する。ガス分子は光子を吸収して振動励起され高い振動エネルギーを持ち、この振動励起状態にあるガス分子が捕捉領域Aに捕捉されているプリカーサイオンに接触すると、振動エネルギーがプリカーサイオンに移動する。プリカーサイオンが振動励起状態にあるガス分子に接触する度にプリカーサイオンが持つ振動エネルギーは増加し、該エネルギーが解離するのに十分な大きさに達するとプリカーサイオンは解離してプロダクトイオンを生成する。 (もっと読む)




【課題】微量の目的分子および多数の夾雑成分を含む試料に関して、実験者の経験と勘に依存することなしに、高感度で目的分子の質量スペクトル測定を行う方法の提供。
【解決手段】目的分子を含む測定試料の複数の領域に関してプレスキャンMS測定を行い、異なるm/zを有する複数のイオンのシグナル強度を求め、得られたシグナル強度を比較して、前記複数の領域の中から測定領域を選択する工程を含むことを特徴とする質量分析法。 (もっと読む)




【課題】硫酸化糖鎖のイオン化における脱硫酸化を抑制して、容易かつ正確に硫酸化糖鎖を分析することができる、硫酸化糖鎖の構造解析手法を提供する。
【解決手段】MALDI法により硫酸化糖鎖をイオン化する工程を含む、硫酸化糖鎖の分析方法および配列解析方法。 (もっと読む)









【課題】光解離により発生した1次フラグメントイオンがさらに2次的に解離してしまうことでMS/MSスペクトルの信号強度が低下することを抑制する。
【解決手段】光解離を起こすための励起レーザ光をイオントラップ1内の捕捉領域Aの中央に照射し、それとともにプリカーサイオンを励振させずにフラグメントイオンを励振させるような励振信号をエンドキャップ電極12、13に印加する。選別されたプリカーサイオンは捕捉領域Aの中央付近に集まるため、励起レーザ光の照射を受けて効率良く解離が生じる。これにより生成されたフラグメントイオンは励振信号による励振電場の作用で即座に励振されるため、大きく振動して励起光照射領域Bを外れる。このため、フラグメントイオンは励起レーザ光を受けにくく2次解離は生じにくい。 (もっと読む)


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