【課題】ガラス壜の壜底部のビリ（底ビリ）と壜底外周縁の欠け（底欠け）とを単一の光学撮像系を用いて確実に検出することができるガラス壜の検査装置を提供する。
【解決手段】直立した状態で搬送されるガラス壜１の下方に配置された照明３０と、ガラス壜の壜底部１ｂの側方に配置され、ガラス壜の底面から上方に立ち上がっていく部分である彎曲した曲面の壜底外周縁１ｅと該壜底外周縁１ｅに連なる壜底部１ｂとを撮像するＣＣＤカメラ４２とを備え、照明３０はガラス壜１の底面側からガラス壜を照明し、ガラス壜の底面を透過して壜内に入射した光を壜底部のカメラ側の面の肉厚内に入射させる。 （もっと読む）

【課題】簡易な構成で素材、板厚、端面の状態等を含めたガラス基板等の状態の検査を行うことが可能なガラス基板検査装置及びガラス基板の製造方法を提供することを目的としている。
【解決手段】画像データを解析する解析手段を有し、前記解析手段は、前記画像データの所定領域内における色に基づき前記ガラス基板の素材を判別する判別手段と、前記ガラス基板の板厚を算出する板厚算出手段と、前記ガラス基板の端面に対する加工が行われているか否かを検出する端面状態検出手段と、を有する。 （もっと読む）

【課題】ユーザの意図を反映可能な分類条件設定機能を有する二分木構造を用いて欠陥を分類する装置の提供。
【解決手段】欠陥検査装置から取得される検出信号を基に抽出される欠陥の特徴量に基づいて二分木構造の分類器を用いて欠陥を分類する欠陥分類方法であって、予め欠陥クラスと対応付けられた特徴量データとの教示に基づいて、二分木構造の分岐点毎に、分岐の両側のグループにそれぞれ属する欠陥クラス、分岐に使用する特徴量および判別基準からなる分岐条件を設定することにより前記二分木構造の分類器を構築する分類器構築過程を有し、該分類器構築過程において、さらに予め欠陥クラス毎並びに全体および最悪のピュリティおよびアキュラシーの目標分類性能について優先順位をつけて指定しておく優先順位指定過程と、前記設定した分岐条件による前記指定した目標分類性能を満足するか否かを項目毎に評価して該項目毎の評価結果を表示する。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の欠陥の有無を簡単に認識できる検査装置を提供する。
【解決手段】内視鏡装置３は、第１の条件に基づいて、画像から検査対象物の第１の特徴部を検出する特徴検出部と、第１の特徴部に基づいて、検査対象物の第１の欠陥部を検出する欠陥検出部と、第１の欠陥部を示す情報を、画像と共に表示する表示部とを有する。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の不良品に生じた欠陥を写した画像が少数しか得られない場合でも、検査対象物が良品か否かを識別する識別器を十分に学習させることが可能な外観検査用識別器生成装置を提供する。
【解決手段】外観検査用識別器生成装置は、検査対象物の表面に生じる欠陥の像を擬似的に表した複数の擬似欠陥画像について、擬似欠陥画像上の欠陥の像が検査対象物の良品または不良品の何れに対応するかを表す良否判定情報を取得する良否判定情報取得部（１５）と、複数の擬似欠陥画像と対応する良否判定情報から検査対象物の良品と不良品とを識別する境界を決定する境界決定部（１２）と、欠陥の像についての特徴量とその境界に従って決定されるその特徴量に対する検査対象物の良否判定結果を表す値との組である学習サンプルを複数生成するサンプル生成部（１６）と、その複数の学習サンプルを用いて外観検査用識別器を学習する識別器学習部（１７）とを有する。 （もっと読む）

【課題】低コストかつ単純な装置構成で検査対象の被検査面の凹凸欠陥を精度よく検出する。
【解決手段】欠陥検出装置は、照射装置１と、撮像装置２と、処理装置３とを備える。照射装置１は、検査対象Ａの拡散反射性を有する被検査面Ｂに斜め方向から光を照射する。撮像装置２は、照射装置１から被検査面Ｂを通った光が入射する。被検査面Ｂにおいて照射装置１の照射光が直接照射される範囲を直接照射エリアとし、被検査面Ｂにおいて直接照射エリアでの照射光の拡散によって発生する拡散光が照射される範囲を拡散光照射エリアとする。処理装置３は、撮像装置２で撮像された撮像画像において直接照射エリアに第１の検査領域を設けるとともに拡散光照射エリアに第２の検査領域を設定し、第１の検査領域および第２の検査領域の少なくとも一方の輝度情報を用いて、被検査面Ｂの凹凸に関する欠陥を検出する。 （もっと読む）

【課題】特定の要因で発生するパーティクルの数を正確に計測することができるパーティクル数計測方法を提供する。
【解決手段】ガラス窓２４を介して本排気ライン１６内にレーザ光２５を入射し、該レーザ光２５と交差したパーティクルＰ１，Ｐ２から発生する散乱光Ｌ１，Ｌ２を光検出器２１によって受光し、該受光された散乱光に基づいてパーティクルの数を計測する際に、移動しないパーティクルＰ２がガラス窓２４に付着した汚れと見なされ、移動しないパーティクルＰ２の数が本排気ライン１６内において計測されたパーティクルの数から除外される。 （もっと読む）

【課題】舗装道路のひび割れ検出は、現場を撮影した画像を検査所に持ち帰り、分析機器を使って分析・評価しているが、全長が何百キロメータ以上にも及ぶ道路のひび割れ検出には処理画像の量が膨大で人的作業に適さず、評価も技術者の経験による主観的判断によっているため、客観的かつ定量的に行うことが不可能である。
【解決手段】本発明に係る舗装路面のクラックの抽出と損傷レベルの評価方法は、遺伝的プログラミングによる並列型画像フィルタ自動生成システムにサイズ依存型交叉を導入して複数の実舗装画像からクラック(1)の抽出が困難と思われる箇所をフィルタ構築の訓練データに選定採用することで様々なタイプの画像からクラックの抽出用画像フィルタ(4)を自動的に構築する。そして、評価対象舗装領域の画像全体を格子状に分割した個々のブロック(6)に該抽出用画像フィルタ(4)を適用して評価する。 （もっと読む）

【課題】 端子取付部の画像を撮影して端子圧着不良の検出を行うに当たって、画像の位置調整の処理を簡単化する。
【解決手段】 端子付き電線４を移動させたまま端子部の画像データをカメラ２で撮影し、取得した画像データについて、所定の枠内において、電線を横切る方向に、複数回平行に走査して各ライン毎に輝度の重心点を求め、各重心点に基づいて第１の座標軸を決定する。また、前記画像データ全体について、電線を横切る方向に、複数回平行に走査してライン毎に、隣接する画素間の輝度の差を積算して、積算値の変化パターンを生成し、該変化パターンを前記第１の座標軸方向に移動させながら、基準パターンと比較し、最も一致する位置に基づいて、前記第１の座標軸と直交する第２の座標軸を決定する。そして、両座標軸を基準として前記画像データの位置を調整し、端子圧着状態の良否判定を行う。 （もっと読む）

【課題】多層に構成された部分を有する透明な成形物について、多層中の特定の層の有無や、層構成の異なる位置、または層のムラを安定的に精度よく検出可能な検査装置および検査方法を提供する。
【解決手段】少なくとも２層に構成された部分を有する、透明な検査対象物１を検査する検査装置２０は、検査対象物１に照射する、第１の波長λ１の光と第１の波長λ１とは異なる第２の波長λ２の光を放射する面光源３１と；第１の波長λ１と第２の波長λ２の光が照射された検査対象物１を撮影する撮像装置４１と；第１の波長λ１と第２の波長λ２の光のそれぞれについて、撮像装置４１により撮影された画像データから各画素の濃度値を抽出し、画素毎に第１の波長λ１の光と第２の波長λ２の光について画素濃度の比を求める演算装置５１とを備える。さらに検査装置２０では、演算装置５１が前記画素濃度の比の変化量に基づいて、検査対象物１の良／不良を判断する。 （もっと読む）

【課題】照明の輝度変化および検査対象物の構造による輝度変化による誤検出を低減し、安定して異物を検出可能な異物検出装置および異物検出方法を提供すること。
【解決手段】異物検出装置は、検査対象を撮像した撮像画像に対して各画素の輝度を検出し、この輝度に基づいて全画素から対象画素を抽出する対象画素抽出手段６２１と、前記対象画素と前記対象画素の周辺に位置する複数の周辺画素との輝度差を検出する輝度差検出手段（フィルター処理手段６２２）と、前記輝度差に基づいて異物の有無を判定する異物判定手段６２４と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】基板上に立設されたピン側面における半田はい上がり高さを直接的に計測して、欠陥を精密に検出評価できるＰＧＡ実装基板の半田付け検査装置を提供する。
【解決手段】PGA実装基板に配置されたピンの半田付け画像を撮像して、取得された画像データをもとにピンの接合状態を評価するPGA実装基板の半田付け検査装置であって、PGA実装基板Ｋが載置される基板載置台11と、基板載置台の長手方向Ａに対して斜め方向に延伸して設けられたカメラ移動台12と、カメラ移動台上に設置しPGA実装基板を斜め上方向から撮像するカメラ撮像部13と、カメラ撮像部をカメラ移動台上でその長手方向に移動させるカメラ撮像部移動手段14と、を備え、PGA実装基板のピンの格子状配列に対し、投影線Ｘにおいて交差するようにカメラ撮像部内に設けたリニアイメージセンサ13aのセンサ列を、カメラ撮像部移動手段によって移動させ、PGA実装基板を斜め上方から撮像するようにした。 （もっと読む）

【課題】繰り返し同一絵柄が印刷された印刷物の印刷欠陥を検査するための印刷物検査装置を提供する。
【解決手段】印刷された印刷物の１画像フレーム内の印刷絵柄に任意の検査箇所及び任意の検査領域を設定すると共に、それらの検査箇所と検査領域毎に印刷欠陥の検査条件を設定するための領域別検査条件決定手段と、撮像用トリガ信号を発生する信号発生手段と、撮像用トリガ信号を得て印刷物を１画像フレーム毎に撮像するための撮像手段と、この撮像手段によって撮像されて得られた１画像フレーム毎の被検査画像情報と基準となる基準絵柄が形成されている１画像フレームを撮像することによって取得した基準画像情報とを各検査箇所及び検査領域別に設定された検査条件に基づいて印刷欠陥を検出するための印刷欠陥検出手段とを備えてなる印刷物検査装置。 （もっと読む）

【課題】半田の厚さに関係なくツノ不良及びブリッジ不良の判定を簡便かつ精度良く行う。
【解決手段】画像入力手段１２が、カメラ１の撮像したプリント基板の半田付け部位のＲＧＢカラー画像を取得し、画像変換手段１３がＨＳＶ色空間画像に変換する。半田領域抽出手段１４はＲＧＢカラー画像をＨＳＶ色空間画像と比較して半田領域を抽出し、ランド領域抽出手段１５はパターンマッチング用モデルデータ作成手段１１の作成したモデルデータでＲＧＢカラー画像をパターンマッチングしてランド領域を特定する。不良判定手段１６は、半田領域とランド領域の差領域に基づいて良否判定を行う。 （もっと読む）

【課題】本発明は様々なＡＣＦ貼付け状態を効率よく検査できる、または輝度の変化、特に照明劣化等の輝度低下の不具合が発生しても確実にＡＣＦの貼付状態を検査し不具合原因を判別できる処理作業装置またはＡＣＦ貼付検査方法、あるいは不具合原因を知りその原因に対する保全(準備、対処)をし、稼働率の高い表示基板モジュール組立ラインを提供することである。
【解決手段】所定位置を照明し、撮像し、前記撮像によって得られた撮像データに前記ＡＣＦが存在しなければいけない領域に判定エリアを設定し、前記判定エリアの外周部上の撮像データを処理し、前記処理結果に基づいて前記ＡＣＦの貼付け状態を検査する、または前記撮像データの輝度レベルを検出し、前記輝度レベルの時系列変化に基づき前記輝度レベルの変化の原因を判別すること特徴とする。 （もっと読む）

【課題】多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。
【解決手段】外観検査装置１は、検査対象の品種毎の外観画像をサムネイルで表示する表示装置３，４を備えている。従来の品種選択は文字情報のみで判断しなくてはならなかったため、類似した文字情報の場合には誤動作が生じるおそれがあったが、本発明の品種選択はサムネイルイメージＳにより判断できるため、品種識別が容易になり、誤動作を減少させることができる。 （もっと読む）

【課題】印刷物における印刷不良の有無を精度良く高速に検出し、顧客に納品する印刷物への不良品の混入を防止すること。
【解決手段】検品装置１０００は、ＭＦＰ９００にて第１の画像データに基づいて印刷処理された印刷媒体を読み取り第２の画像データを生成し（Ｓ１１０６）、第１の画像データと第２の画像データとを部分的に比較して印刷不良の有無の判定を行う第１の比較判定処理を行い（Ｓ１１０７〜Ｓ１１０９）、これにより印刷不良の有無を判定できた場合（Ｓ１１０８でＹｅｓ又はＳ１１０９でＹｅｓ）、これを判定結果とし、一方、印刷不良の有無を判定できなかった場合（Ｓ１１０８でＮｏ且つＳ１１０９でＮｏ）、第１の比較判定処理で比較していない部分を比較して印刷不良の有無を判定する第２の比較判定処理を行う（Ｓ１１１０〜Ｓ１１１１）。 （もっと読む）

【課題】検査対象部の異常の判別の精度を向上させることができる検査装置を提供する。
【解決手段】検査装置１は、ケース２の隅Ｃに形成される隙間Ｄを含む所定の撮像範囲を撮像するカメラ１０と、ケース２を照明する照明器１１と、カメラ１０が取得した前記所定の撮像範囲の画像に基づいて隙間Ｄが映されている部分を含むように設定された検査領域Ｔ内の隙間Ｄの面積を取得し、取得した隙間Ｄの面積に基づいて隙間Ｄの異常の有無を判別する判別装置１３と、を備え、判別装置１３は、隙間Ｄが２つに区分されるように検査領域Ｔを二つの小領域Ｔ１、Ｔ２に分けて二つの小領域Ｔ１、Ｔ２毎に異常の有無を判別する。 （もっと読む）

【課題】レジストパターンやエッチング後及び再エッチング後のパターンに関わらず、基準データを用いてＡＰＭ−ＰＥＲ検査法による線幅の検査を行うための基準データの生成方法を提供する。
【解決手段】ＡＰＭ−ＰＥＲ検査法による表面検査装置１００で用いられる基準データの生成方法であって、第１のエッチング工程（第１の工程）により異なる線幅の繰り返しパターンの組が形成された基準用ウエハ１０を複数作成し、さらに、この基準用ウエハ１０に対して異なる条件で第２のエッチング工程（第２の工程）を行い、それぞれの状態の基準用ウエハ１０から較正曲線を求め、これらの較正曲線が同一の曲線上にほぼ一致するエリアを検査対象座標として求める。 （もっと読む）