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Fターム[2G059GG04]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 光源 (9,251) | 偏光を用いるもの (407)

Fターム[2G059GG04]に分類される特許

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【課題】乾麺におけるクラックの発生を事前に予測することができる乾麺のクラック発生予測装置を提供する。
【解決手段】光源部1のハロゲンランプ4から発せられた光が円偏光フィルタ5で円偏光に変換されると共にコンデンサレンズ6で集光されて試料Sに照射され、試料Sを透過した光が対物レンズ7で平行光に変換された後、楕円偏光解析器8を通してCCDカメラ9に到達し、試料Sの複屈折性に起因して試料Sを透過する際に生じた位相差をコントラストに変換した位相差像がCCDカメラ9で取得される。位相差像のデータに基づき、予測部3で、試料Sが有する複屈折位相差量が計測されると共に計測された複屈折位相差量から試料S内の残留応力の大きさが評価され、評価された残留応力の大きさに応じて、試料Sにおけるクラック発生の有無が予測される。 (もっと読む)


【課題】より大きなダイナミックレンジかつ実用的な精度で物体との相互作用によって生じる光の強度を測定することが可能な光強度計測装置を提供することである。
【解決手段】光強度計測装置は、照射系、計測系及び減光フィルタを備えている。照射系は、被検物体に照射光を照射する。計測系は、照射光と被検物体との相互作用によって生じた光の強度の計測を行う。減光フィルタは、照射光及び相互作用によって生じた光の少なくとも一方を互いに異なる複数の減光率で減光する。計測系は、光の計測に先だってフォトンカウンタを用いて複数の減光率で減光された光を構成する光子をそれぞれ計数し、光子の計数結果に基づいて求められた減光率の校正値に基づいて、複数の減光率で減光されていない場合又は同一の減光率で減光された場合において相互作用によって生じる光の強度を求めるように構成される。 (もっと読む)


【課題】試料上の微小領域を加熱し、この加熱に伴う同領域の温度計測並びに磁気計測を実施することが可能な磁気光学効果計測装置を提供するにある。
【解決手段】磁気光学効果計測装置においては、磁気計測モードにおいて、直線偏光又は円偏光の特性を与えられている第1の光ビームが発生され、また、温度計測モードにおいて、赤外波長を有する第2の光ビームが発生される。磁性体試料上の微小領域に第2の光ビームが直入射型反射光学素子によって集光されてこの領域が加熱され、この微小領域の加熱に伴いこの微小領域から輻射される赤外線が直入射型反射光学素子によって伝播されて温度が計測される。また、磁性体試料に磁界が印加された状態で、第1の光ビームが直入射型反射光学素子によって集光照射され、微小領域で磁気光学効果の作用を受けて伝播される。 (もっと読む)


【課題】光源からの光の強度のばらつきおよび上記光源から光検出器までの光路における偏光特性の変動が存在する場合でも精度の高い測定を行うことができるようにすること。
【解決手段】流路となる溝部が形成されている第1のマイクロチップ基板11と、金属薄膜13が成膜されている第2のマイクロチップ基板12とを接合したマイクロチップ10において、試料を設置する検出部となる金属薄膜13とは別に、第1または第2のマイクロチップ基板上であって上記流路外に参照部Nとなる金属薄膜15を設ける。金属薄膜15へは表面は一様な媒質で覆い表面の状態を一定に保つ。光源22からの光を金属薄膜13,15に同時に照射し、反射光を光検出器であるCCD受光器23で受光し、反射光の測定結果により、検出部となる金属薄膜13の測定結果から光源22の強度ばらつきおよび光源22からCCD受光器23までの光路における偏光特性の変動の影響を取り除く。 (もっと読む)


【課題】定量的で且つ自動化が可能で、更に精度高く幹細胞コロニーの状態を判別する細胞解析方法、細胞解析装置、および細胞解析プログラムを提供する。
【解決手段】多数の細胞から構成される細胞コロニーの光路長画像を用いて、細胞コロニーの解析を行う細胞解析装置Dにおける細胞解析方法であって、細胞解析装置Dの取得部D1が、細胞コロニーの光路長画像を取得するステップと、細胞解析装置Dの抽出部D2が、当該取得した光路長画像中において、細胞の細胞核に対応する円形形状を抽出するステップと、細胞解析装置Dの比較部D3が、当該抽出した円形形状に対し、その内側の光路長および外側の光路長を比較するステップと、細胞解析装置Dの解析部D4が、当該比較結果に基づき、細胞コロニーの解析を行うステップと、を備える (もっと読む)


【課題】対向する光学膜の貼り付きを防止する。
【解決手段】第1基板20と、第1基板20に対向する第2基板30と、第1基板20に設けられた第1光学膜40と、第2基板30に設けられ、第1光学膜40と対向する第2光学膜50と、を含み、第1光学膜40は、所望波長帯域の光に対する反射特性および透過特性を有し、第1光学膜40の最表面の誘電体膜43は第1光学膜40の周端部43aにおいて、第1光学膜40に光が入射する光入射部43bよりも厚みが厚く形成されている。 (もっと読む)


【課題】任意の形状を有する散乱体からの散乱波を高速かつ高精度に導出可能な散乱波の導出方法を提供する。
【解決手段】散乱波の導出方法は、所定の電磁波を散乱体に入射させて、所定の位置における散乱体からの第1の散乱波を算出する工程と、散乱体と同じ形状および大きさを有する領域の内部に複数の球形微粒子を含む球形微粒子群を配置した状態で、所定の電磁波を球形微粒子群に入射させた場合の、前記所定の位置における球形微粒子群からの第2の散乱波をT−matrix法を用いて算出する工程と、第1の散乱波と第2の散乱波とが等しくなるような複数の球形微粒子の条件を決定する工程と、決定した球形微粒子の条件に基づいて、任意の電磁波を前記散乱体に入射させた際の、任意の位置における散乱体からの散乱波を得る工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】 検査の信頼性を高めてリアルタイム計測が可能な検出装置等を提供すること。
【解決手段】 検査装置は、光学デバイス20と、流体試料を光学デバイスに吸引する吸引部40と、光学デバイスに光を照射する光源50と、光デバイスから出射される光を検出する光検出部60と、吸引部を駆動制御する制御部71と、を有する。光学デバイスは、吸着される流体試料を反映する光を出射する。制御部71は、光検出部にて検出する期間を含む第1モードでは、光学デバイス上での流体試料の吸引流速をV1とし、第2モードでは、光学デバイス上での流体試料の吸引流速をV2(V2>V1)とし、光検出部からの信号に基づいて第1,第2モードを切換える。 (もっと読む)


【課題】記録紙の種類を詳細に判別することのできる小型の光学センサを低コストで提供する。
【解決手段】第1の偏光方向の直線偏光の光を、記録媒体に照射する光照射系と、前記光照射系より照射された光のうち、前記記録媒体において正反射された光を検出する正反射光検出系と、前記光照射系より照射された光のうち、前記記録媒体において拡散反射された光を検出する前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を透過する光学素子を備えた拡散反射光検出系と、を有する測定系を複数有していることを特徴とする光学センサを提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】測定の感度向上と確からしさの向上をもたらすCD測定装置及び方法を提供すること。
【解決手段】円二色性測定装置は、直線偏光の互いに直交する2つの偏光成分間の位相差(δ)を変調して、長軸方向の一致する扁平率の大きい左右の楕円偏光を交互に形成する楕円偏光変調手段と、被測定試料を透過した前記左右の楕円偏光から短軸方向の偏光成分を取り出して、該偏光成分の強度変化を測定する偏光強度測定手段と、前記強度変化の直流成分(DC)、および、前記位相差の変調に同期する前記強度変化の交流成分(AC)をそれぞれ抽出して、該交流成分および該直流成分の比(AC/DC)に前記位相差の変調振幅(δ)を掛けた値を算出して、被測定試料の円二色性を取得する演算手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】音響センサおよび音響センサの製造方法を提供する。
【解決手段】音響センサは、少なくとも1つのフォトニック結晶構造と、この少なくとも1つのフォトニック結晶構造に光学的に結合された端部を有する光ファイバとを含む。音響センサはさらに、上記少なくとも1つのフォトニック結晶構造および光ファイバに機械的に結合された構造部分を含む。上記少なくとも1つのフォトニック結晶構造、光ファイバおよび構造部分は、音響センサの周波数応答が音響周波数の範囲内で全体的に平坦となるように、ある体積を有する領域と実質的に境をなす。 (もっと読む)


【課題】ウエハの特性を決定するための方法とシステムを提供する。
【解決手段】検査システム16を用い、ウエハからの光に対応する出力を生成することを含む。出力は、ウエハ上の欠陥に対応する第一出力と、欠陥に対応しない第二出力とを含む。また本方法は、第二出力を用い、ウエハの特性を決定することを含む。一つのシステム16は、ウエハに光を当て、ウエハからの光に対応する出力を生成するように設定された検査サブシステムを備える。出力は、欠陥に対応する第一出力と、欠陥に対応しない第二出力を含む。また本システムは、第二出力を用い、ウエハの特性を決定するように設定されたプロセッサを備える。 (もっと読む)


【課題】皮膚等の状態を簡易に低コストで検査することのできる検査装置を提供する。
【解決手段】第1の偏光方向の直線偏光の光を検査対象に照射する光源と、前記光源より照射された光のうち、前記検査対象において正反射された光を検出する正反射光検出器と、前記光源より照射された光のうち、前記検査対象において拡散反射された光であって、前記第1の偏光方向に直交する第2の偏光方向の光を透過する光学素子と、前記光学素子を通過した光を検出する拡散反射光検出器と、前記光源、前記正反射光検出器、前記光学素子、前記拡散反射光検出器を覆い、前記光源より前記検査対象に光が照射される部分に開口を有する暗箱と、前記暗箱の前記開口に設けられた前記検査対象と接する透明板と、を有することを特徴とする検査装置を提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】テクスチャ構造を有する対象物上に形成された薄膜の形状を容易かつ高精度に取得する。
【解決手段】膜形状取得装置1では、上面に複数のテクスチャ凸部を有する基板9上に形成されたシリコン膜の光学モデルにおいて、複数のテクスチャ凸部に一致する薄膜凹部およびその上方に位置する薄膜凸部が設定される。そして、薄膜凸部、薄膜凹部、および、薄膜凸部と薄膜凹部との間の中間部の形状を表すパラメータ群に含まれる各パラメータを有効膜厚にて表現し、有効膜厚を変更することにより各パラメータの値を変更して理論スペクトルの測定スペクトルに対するフィッティングが行われる。これにより、シリコン膜の形状を容易かつ高精度に取得することができる。 (もっと読む)


【課題】微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数を容易かつ精度良く取得する。
【解決手段】結晶化指数取得装置1では、微結晶シリコン膜の理論誘電関数を複数の部分誘電関数モデルの合成として表現し、微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数κが、複数の部分誘電関数モデルのうち、結晶シリコン膜の誘電関数における虚部の高エネルギー側のピークに寄与する高エネルギーピークモデルの振幅に基づいて設定される。そして、複数の部分誘電関数モデルに含まれるパラメータ群の各パラメータを結晶化指数κにより表現し、結晶化指数κを変更することにより各パラメータの値を変更し、分光エリプソメータ3により取得された測定誘電関数に対する理論誘電関数のフィッティングが行われる。これにより、微結晶シリコン膜の結晶化指数κを容易かつ精度良く求めることができる。 (もっと読む)


【課題】少量のサンプルであっても、高い分解能と安定した計測精度が実現でき、安価でコンパクトな光学的成分測定装置を提供する。
【解決手段】光ファイバループ2を一の方向に伝搬する直線偏光を右円偏光に変換して測定対象のサンプル22に入射する第1光変換部23と、光ファイバループ2を他の方向に伝搬する直線偏光を左円偏光に変換してサンプル22に入射する第2光変換部24と、を有する円偏光入射部21を備え、両光変換部23,24は、サンプル22の一側に並列して配置され、円偏光を同一方向に出射するように構成され、円偏光入射部21は、一の光変換部23から出射された円偏光を反射し、サンプル22に少なくとも1往復透過させた後、他の光変換部24に入射させる反射手段25をさらに備え、反射手段25は、入射してきた円偏光を偶数回反射させて、サンプル22に出射する偶数個の反射ミラー25aからなる。 (もっと読む)


【課題】基板に生じる撓みを低減して分解能を向上させた波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器を提供する。
【解決手段】エタロン5(波長可変干渉フィルター)は、固定基板51と、固定基板51に対向する可動基板52と、固定基板51に設けられた固定反射膜56と、可動基板52に設けられ、固定反射膜56とギャップを介して対向する可動反射膜57と、固定基板51に設けられた固定電極541と、可動基板52に設けられ、固定電極541と対向する可動電極542と、を備え、可動電極542の固定電極541側の面には可動絶縁膜544が積層され、可動電極542は圧縮応力を有し、可動絶縁膜544は引張応力を有して構成された。 (もっと読む)


【課題】新規な接触面積測定装置を提供することを目的とする。
【解決手段】接触面積測定装置は、試料7に接する光透過性基板6と、前記試料7とは反対側から、前記光透過性基板6に光を照射する照射手段と、前記試料7からの反射光と前記光透過性基板6からの反射光とから生じる干渉画像を取得する干渉画像取得手段12と、前記干渉画像の輝度値情報を補正処理し、得られた補正輝度値情報から輝度値ヒストグラムを作成する輝度値ヒストグラム作成手段14と、前記輝度値ヒストグラムから接触面積を算出する接触面積演算手段15を有し、前記補正処理は、割り算演算を有する式により、補正画像輝度を算出する。ここで、補正画像輝度は、式(補正画像輝度=(対象画像輝度/参照画像輝度)×定数)により算出することが好ましい。また、参照画像輝度は、荷重ゼロ時の元画像に対し、ガウスぼかしフイルター処理して求めることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】対象物を多くの種類のなかから特定することができる光学センサを提供する。
【解決手段】 光源11、コリメートレンズ12、2つの受光器(13、15)、偏光フィルタ14、2つのミラー(21、22)、筐体16、標準板17、保持部材18などを有している。受光器13は、内部拡散反射光に含まれるP偏光成分を受光し、受光器15は、表面正反射光を主として受光するように配置されている。また、紙種判別処理が行われるときには、筐体16の開口部を開放し、紙種判別処理が行われていないときには、該開口部を封止している。 (もっと読む)


【課題】回折格子の形状特徴物などの小寸法の形状特徴物のプロフィールを見出すためのシステムを提供する。
【解決手段】シード・プロフィールのギャラリが作られ、半導体装置についての製造プロセス情報を用いて該プロフィールに関連する初期パラメータ値が選択される。回折構造および関連するフィルムを測定するとき、反射率Rs,Rpなどのいろいろな放射パラメータおよび楕円偏光パラメータを使用することができる。放射パラメータのうちのあるものは、該プロフィールまたは該フィルムのパラメータ値の変化に対してより敏感な1つ以上の放射パラメータを選択してより精密な測定に到達することができる。プロフィール・パラメータのエラーを補正するために上述した手法をトラック/ステッパおよびエッチャに供給してリソグラフィおよびエッチングのプロセスを制御することができる。 (もっと読む)


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