【課題】
位置出し用の目印の場所が電流経路に限定されるという制約をなくし、位置出しの精度を向上する。
【解決手段】
試料とレーザ光とを相対的に移動させて前記試料を走査し前記試料からの磁気をSQUID磁気検出器で検出し、走査位置に対応し且つ検出結果に応じた値の集りからなる像を取得し、取得された像のうち少なくとも一つの領域について、前記試料における位置の目印として、前記像の値に関する前記領域内でのピーク位置又は重心位置を求める。 （もっと読む）

トンネル落盤監視システムや土木構造物破損監視システムは、ネットワーク３、複数の導電性塗布パターン４、複数のセンサネット端末５、既存施設６に設置される複数の中継基地局端末７、ルート基地局端末８及び遠隔監視装置９から構成される。導電性塗布パターン４は、内壁面２に塗布され、センサネット端末５によって所定の電圧を印加される。それによって、導電性塗布パターン４内を電流が流れる。そのとき、内壁面２の一部にひび割れが発生し、塗布された導電性塗布パターン４の少なくとも一部が切断されると、抵抗値が高くなって電流値が低くなる。その電流値データは、センサネット端末５によって測定され、センサネット端末５から中継基地局端末７、ルート基地局端末８及びネットワーク３を介して遠隔監視装置９に送信される。そして、遠隔監視装置９は、その電流値データからひび割れの発生箇所を推定し、表示する。
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【課題】 長尺の超電導ケーブルの臨界電流を簡便に測定できる超電導ケーブルの臨界電流測定方法と測定システムを提供する。
【解決手段】 複数本の送電路を有する超電導ケーブルの臨界電流を測定する超電導ケーブルの臨界電流測定方法である。これら複数本の送電路のうち、測定対象となる一本の送電路（ケーブルコア10A）に一方向の電流を、他の一本の送電路（ケーブルコア10B）に逆方向の電流を流して往復通電を行い、測定対象の送電路の臨界電流Icを求める。この構成により、送電路自体がリード線の機能を兼ねることができる。そのため、長尺のリード線を用いる必要がなく、それに伴うリード線の引き回しの問題や、大容量の直流電源を必要とするといった問題を全て解消することができる。 （もっと読む）

【課題】、特定の添加元素を含むスクラップシリコンを容易に、短時間でかつ確実に選別する方法を提供する。
【解決手段】各スクラップシリコンをエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）による非破壊分析にかけ、得られたスペクトルデータから前記特定の添加元素を含んでいるか否かを判定し、この判定結果に基づいて特定の添加元素を含むスクラップシリコンを選別する。また、各スクラップシリコンの電気抵抗率を測定し、その測定結果からスクラップシリコンに含まれる添加元素の濃度を推定する。 （もっと読む）

【課題】 電気機器の絶縁物の汚損状態を容易に監視し得る絶縁診断装置を提供する。
【解決手段】 直流電圧を発生する直流電源部２と、前記直流電圧を絶縁物に印加して絶縁抵抗の経時変化を測定する絶縁抵抗測定部３と、前記絶縁抵抗の経時変化から、前記絶縁抵抗が時間経過に伴って変化する割合を算出して、前記絶縁物の汚損状態を判定する汚損状態判定部４とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 坑道やトンネルのような壁面や地質路頭のような大きく傾斜した岩盤或いは地盤において、高精度な比抵抗法探査およびIP法探査の高密度測定やそのモニタリングを可能とする非分極性電極の設置方法を提供する。
【解決手段】 本発明は、非分極性電極に使用している塩と同じ塩、或いは環境に無害な塩を混ぜた石膏を用いて、非分極性電極を岩盤或いは地盤に接着して設置し、非電極性電極およびその周辺に生じる分極反応や電気化学反応を抑えて、電位を測定する。この非分極性電極の設置は、該非分極性電極の外径より少し大きめの穴を穿孔し、そこに石膏を流し込んで電極を固定させることにより行う。 （もっと読む）

【課題】 絶縁性部材に、非常に微細なピンホールや亀裂等が存在していたとしても、これらが存在しているか否かを正確に、しかも簡単に検知することが可能な絶縁性部材の検査方法及び検査装置を提供する。
【解決手段】 一対の電極の一方に、絶縁性部材２０の第１の表面を接触させる工程と、前記電極に接触させた第１の表面の反対側の面に電解液を供給する工程と、前記電解液が供給された面に、前記一対の電極の他方を接触させる工程と、絶縁性部材２０に接触させた一対の電極に電圧を印加する工程と、前記電圧が印加された際の電流値に応じて、前記絶縁性部材の異常の有無を判定する工程を含んでなる絶縁性部材の検査方法である。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板の周囲に導電膜を形成し、導電膜の抵抗値を測定してそれの変化で導電膜の欠けや断線を検知し、それにより基板の破損を検出する。
【解決手段】ガラス基板１の周囲に切れ目なく導電膜２を形成し、その導電膜２に異なる位置で２本の引き出し線３を接続し、２本の引き出し線３間の抵抗値を測定してそれの変化を検知することでガラス基板の破損を検出する。 （もっと読む）

【課題】 実際の使用形態に近い半導体薄膜を面内方向で測定できると共に、簡単且つ低コストで正確に測定することができる、キャリア移動度測定用基板、測定装置及び測定方法を提供する。
【解決手段】 励起光を透過する基板１１と、基板１１上に形成されその一部に開口部１３を有する遮光層１２と、開口部１３に隣接して又はその開口部１３の一部を覆う第１電極１４と、遮光層１２上に形成され前記第１電極１４から所定の間隔で設けられた第２電極１５とを有するキャリア移動度測定用基板１０により、上記課題を解決する。このとき、遮光層１３が導電性を有する場合には、遮光層１３と電極１４，１５との電気的接触を防止するための絶縁層１６を設けることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】熱交換装置に設けられた水管の耐食性を、簡便、迅速、定量的かつ高精度に測定及び診断することができる装置及び方法を提供する。
【解決手段】熱交換装置に設けられた水管９３の電気抵抗を測定する方法及び装置において、第１の端子９７を該水管９３内面に接触させると共に、第２の端子９８を第１の端子９７から離隔させて該水管９３に接触させ、両端子間に通電して電気抵抗を測定することを特徴とする。特に前記第１の端子９７は弾性的に変形可能であり、該第１の端子９７を水管９３内に挿入し、該第１の端子９７の弾性により該水管９３内面に弾性的に接触させるものが好ましい。 （もっと読む）

【課題】高プロトン導電性を維持しつつ、水分雰囲気における減量を抑え、水分雰囲気に対する耐久性を高めるのに有利な高プロトン導電性ガラス、これを製造できる製造方法を提供する。
【解決手段】高プロトン導電性ガラスは、Ｌａ₂Ｏ₃、Ａｌ₂Ｏ₃、Ｐ₂Ｏ₅系を主要成分とする高プロトン導電性ガラスであり、Ｌａ₂Ｏ₃をｂモル％、Ａｌ₂Ｏ₃をｃモル％含み、且つ、ｂは１〜１０モル％、ｃは０．０５〜２モル％に設定されていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】より高いイオン伝導度を発揮できる材料を提供する。
【解決手段】化学式（ＲＭ）（ＱＯ_４）_３（ただし、ＲはＺｒ及びＨｆの少なくとも１種、ＭはＭｇ、Ｃａ、Ｓｒ、Ｂａ及びＲａの少なくとも１種、ＱはＷ及びＭｏの少なくとも１種を示す。）で表される結晶体から実質的に構成される固体電解質に係る。 （もっと読む）

【課題】 超高真空中において試料に応力を印加しながらその表面構造の原子レベルの分解能でのその場観察を行うことができる超高真空走査型プローブ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 この出願の発明の超高真空走査型プローブ顕微鏡は、超高真空状態の真空槽内に、板状試料（２）の一端又は両端を支持する試料ホルダー（３）と、垂直方向の変位がナノスケールで制御され、板状試料（２）に対し応力を印加する応力印加機構（６）、（７）、（８）と、応力が印加された板状試料表面の状態を原子レベルの分解能でその場計測するプローブ（１）を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】シース管にグラウトを充填した後に、シース管中のグラウト内の空隙（気泡）をシース管の外側から計測すること
【解決手段】図１（ａ）は、絶縁体で構成されたシース管１４０の外側に設けた２つの電極１１２，１１４を示す。電極１１２と電極１１４は、シース管１４０およびグラウト等を介してキャパシタを構成している。このため、電極１１２にオシレータ１０２からの高周波を印加すると、電極１１４から、シース管内部のグラウトを介して高周波を受信することができる。受信した高周波はグラウトの状態により変化している。電極１１４で受信した高周波は、増幅器１０４で増幅されて出力電圧Ｖとして検出される。この出力電圧Ｖはシース管内部の状態（グラウト内の空隙やＰＣ鋼材の位置等）により変化する。 （もっと読む）

【課題】 感湿膜の膜厚を均一にできる湿度センサを提供すること。
【解決手段】 半導体などからなる基板１の上面には、酸化シリコン膜などの絶縁膜を介してパッド部２ｂと、このパッド部２ｂから一方向に延びる複数の櫛歯形状の検出部２ａとにより構成される一対の電極２が同一平面に離間して対向配置される。この電極２上には窒化シリコン膜を介して、一対の電極２及び電極２間を覆うように、ポリイミド系ポリマーなどからなる吸湿性を備えた感湿膜３が形成されている。そして、この感湿膜３を、感湿剤と同一の材料であるビーズ３ａを含有する吸湿性の高分子有機材料の感湿剤にて構成する。 （もっと読む）

コーティング材料の導電率を求める非接触型プローブ（１００）を開示する。プローブ（１００）は、選択された発振周波数で動作する自励発振器（４０）と、ＩＣ回路から形成されるセンサと、センサコイル（４４）の磁気誘導の変化に応答するＬＣ回路の変化を検出する検出器と、信号の検出変化を表面導電率データに変換するマイクロプロセッサと、を備える。検出器は周波数検出器とすることができ、この周波数検出器はＬＣ回路の共振周波数の変化を検出する、または検出器は振幅検出器とすることができ、この振幅検出器はＬＣ発振器（４０）の信号振幅の変化を検出する。センサはＬＣ回路のコイルインダクタ（４４）である。センサコイルのインダクタンスがセンサコイルの近傍の材料の導電率によって変化する。
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セラミック部品に取り付けられた組込み導電回路を有するセラミック装甲システム。この導電回路は、システムに設けられたコンタクトにおいて、使用者によって利用されうる。セラミック部品内で発生するクラックなどの損傷が、回路を形成している導電物質に広がり、これにより導電回路中に断線が発生するように、回路は配置されている。抵抗計などの電気プローブを使用して、導電回路の抵抗が測定されて、これが、その後予想値と照合される。この結果は、セラミック装甲部品が使用可能な状態にあるかどうかを検出するために使用される。 （もっと読む）

【課題】 電子機器を静電破壊から効果的に回避する物の構成材料となり得るか否かを、正確に判断できる静電破壊防止用材料の評価方法および静電破壊防止用材料の評価装置を提供する。
【解決手段】 静電気による半導体デバイス又は電子機器の破壊を回避するために用いられる物の構成材料である被評価材料について、複数値の電圧を該被評価材料に印加して該複数値の電圧毎に該被評価材料に流れる電流を測定する電圧対電流特性の測定処理（ステップＳ１０）と、ステップＳ１０での測定処理の結果に、非直線性を示す箇所があるか否かを判断する処理（ステップＳ２０）と、被評価材料の帯電量を測定する処理（ステップＳ３０）とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】微小な粉体量を高感度に正確に測定できるようにする為、温度変化による金属電極の熱膨張及び空気の比誘電率の変化による影響を低減してコスト・ダウンを計る。
【解決手段】静電容量センサーの電極構造を平行平面板コンデンサーの構造にして、静電容量センサー電極３ａ、３ｂとガード電極４ａ、４ｂとに分離して、一方の静電容量センサー電極３ａとガード電極４ａを交流発振器２ａに接続して、もう一方の静電容量センサーの電極３ｂは増幅機２１の入力に接続し、もう一方のガード電極４ｂは増幅機２１の出力に接続して、非常に小さい静電容量値を実現する。さらに、対向電極間の電界強度分布極めて均一な構造を実現する。 （もっと読む）

知識ベースの映像分析及び理解と組み合せて、キャパシタンスの測定に基づく断層撮影システムを含む電気的断層撮影（ＥＣＴ）及び電気磁気断層撮影（ＥＭＴ）をベースとするセキュリティ走査装置。各装置は、感知ヘッド又はトランスジューサ、感知電子装置、映像再構成及び映像分析マイクロプロセッサ（マイクロコントローラ、ＤＳＰ、ラップトップ、又はデスクトップＰＣ）、ディスプレイユニット、及び危険物質及び品目を識別するための付随のソフトウェアを備えている。セキュリティ走査装置は、ＥＣＴ及びＥＭＴでの映像解像度を向上させることができる。より多くのセンサ、より多くの感知回路、及び柔軟な／最適な測定プロトコルを使用して、より多くの独立した測定値を得ることができると共に、データ融合を実施して、ＥＣＴ及びＥＭＴの相補的感度を異なる材料特性に結合する一方、多数のセンサから映像属性が取得される物体を特徴付ける映像知識ベースを実施するアーキテクチャーを与えることができる。
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