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Fターム[4K029AA24]の内容

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Fターム[4K029AA24]に分類される特許

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【課題】 優れた導電性と化学的耐久性とを兼ね備えた酸化亜鉛系透明導電膜の形成方
法を提供する。
【解決手段】 本発明の酸化亜鉛系透明導電膜の形成方法は、スパッタリング法により酸化亜鉛系透明導電膜を形成する方法であって、実質的に亜鉛、チタンおよび酸素からなり、亜鉛とチタンとの合計に対するチタンの原子数比Ti/(Zn+Ti)が0.02を超え0.1以下である酸化物焼結体または酸化物混合体を加工して得られるターゲットを用いる方法である。この形成方法により成膜された透明導電膜は、該透明導電膜中に含まれる亜鉛とチタンとの合計に対するチタンの原子数比Ti/(Zn+Ti)が0.02を超え0.1以下である。 (もっと読む)


【課題】基板の面内における原料ガスの供給量を均一にし、成膜される膜の膜質を一定にすることができる成膜装置を提供する。
【解決手段】成膜容器60内で基板を水平面内で回転可能に保持する基板保持部44と、供給孔75が形成された供給管73aを含み、供給孔75を介して成膜容器60内に原料ガスを供給する供給機構70と、排気孔83が形成された排気管82を含み、排気孔83を介して成膜容器60内からガスを排気する排気機構80と、基板保持部44と供給機構70と排気機構80とを制御する制御部90とを有する。供給孔75と排気孔83とは、基板保持部44に保持されている基板を挟んで互いに対向するように形成されている。制御部90は、基板保持部44に保持されている基板を回転させた状態で、供給機構70により原料ガスを供給するとともに排気機構80によりガスを排気することによって、基板に膜を成膜するように制御する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、反射防止膜の中間屈折率膜として用いられる、屈折率1.5〜2.0を示す酸窒化ケイ素膜を形成する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、スパッタリング法により、基材上に希ガス及び反応性ガスからなる混合ガス雰囲気の真空チャンバー内で酸窒化ケイ素膜を形成する方法であり、前記反応性ガスに酸素及び窒素を含む時の放電電圧Vと、前記反応性ガスに窒素を含み酸素を含まない時の放電電圧Vとが、(V/V)>0.9となるように、前記混合ガスに含まれる希ガスを50〜70体積%とし、屈折率が1.5〜2.0の酸窒化ケイ素膜を得ることを特徴とする酸窒化ケイ素膜の形成方法。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高い無機配向膜を低コストで形成する。
【解決手段】プラズマ生成領域を挟むように対向配置された2つのターゲット5を備えるスパッタ粒子放出部3と、基板10を水平方向に搬送する搬送手段6aを収容する成膜室2と、を備えるスパッタ装置1を用いて、搬送される基板10にスパッタ粒子27を入射させて、10基板に接する下層配向膜132と液晶分子37に接し液晶分子37の配向を制御する上層配向膜131を含む無機配向膜31を形成する方法であって、スパッタ粒子27の基板10に対する入射角の範囲を入射角範囲と定義した場合において、下層配向膜132を形成する工程である第1の工程における入射角範囲である第1の入射角範囲が、上層配向膜131を形成する工程である第2の工程における入射角範囲である第2の入射角範囲に比べて広いことを特徴とする無機配向膜31の形成方法。 (もっと読む)


【課題】本発明は、複数のターゲット部材を接合して得られた分割スパッタリングターゲットにおいて、スパッタリングされることにより、バッキングプレートの構成材料が、成膜する薄膜中に混入することを効果的に防止できる技術を提供する。
【解決手段】本発明は、バッキングプレート上に、複数のターゲット部材を低融点ハンダにより接合して形成される分割スパッタリングターゲットにおいて、接合されたターゲット部材間に形成される間隙に沿って、バッキングプレートに保護体を設けたものであり、
ターゲット部材が酸化物半導体であり、保護体が高分子シートであることを特徴とする分割スパッタリングターゲットとした。 (もっと読む)


【課題】Moなどの密着層を省略し、熱処理もすることなく、ガラスなどの絶縁層に直接配線をCu合金により形成でき、また、表面平滑性の良好な配線を形成する技術を提供する。
【解決手段】本発明は、0.01at%〜0.5at%のBiと、0.05at%〜0.5at%のInと、残部がCu及び不可避不純物とからなることを特徴とする配線用Cu合金とした。また、本発明は、絶縁層とCu合金配線とが直接接合された接続構造において、Cu合金はBi及びInを含有しており、Cu合金配線は、絶縁層との接合界面側にBi偏析層が形成されていることを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】プラズマドーピングプロセス中の所定のドーパント濃度での終点検出のための方法を提供する。
【解決手段】プロセスチャンバー内で基板を位置決めするステップと、基板の上にプラズマを生成し、プラズマによって生成される光を基板を通って伝送するステップであって、ここで光は、基板の表側に入り、裏側から出る、ステップと、基板の下に位置決めされるセンサーによって光を受け取るステップとを包含する。さらに、センサーによって受け取られる光に比例する信号を生成するステップと、ドーピングプロセス中にドーパントを基板に注入するステップと、ドーピングプロセス中にセンサーによって受け取られる光の減少する量に比例する多重光信号を生成するステップと、いったん基板が最終ドーパント濃度を有するとセンサーによって受け取られる光に比例する終点信号を生成するステップと、ドーピングプロセスを中止する。 (もっと読む)


【課題】 複数の基板を連続して搬送しながら成膜を行う成膜装置の場合、搬送される複数の基板間の間隙を通って成膜室の内壁に堆積する成膜材料の剥離によって膜欠陥が引き起こされるため、堆積した成膜材料を除去するためのメンテナンスが頻繁に必要となり、装置の稼動率が低下してしまう。
【解決手段】 基板を保持して成膜装置の成膜室内を搬送するための基板保持部材において、複数の基板保持部材を搬送方向に連続して配置した際、それぞれの基板保持部材の搬送方向前方部を、前方に配置される基板保持部材の搬送方向後方部と前記被成膜基板の被成膜面の法線方向に重なり合う形状とする。 (もっと読む)


【課題】PZT(チタン酸ジルコン酸鉛)圧電体層の圧電定数を大きくでき、圧電性を向上させた圧電アクチュエータを提供する。
【解決手段】圧電アクチュエータはキャパシタ構造をなしており、単結晶シリコン基板1、酸化シリコン層2、Ti密着層3、PtO下部電極層4、PZT圧電体層5及びPt上部電極層6を積層して形成されている。下部電極層4のPtOの組成比mは0.6以上、PZT圧電体層5のZrTi1−xの組成比xは0.43〜0.55である。 (もっと読む)


【課題】極高真空領域まで真空排気される真空容器のシール材としてエラストマー素材のシール材を使用することができる真空容器を提供する。
【解決手段】2分割される真空容器12の合せ面にシール材20を有して気密に保持される真空容器12であって、合せ面の真空容器の内側にラビリンス形成装置を備え、ラビリンス形成装置22は、凹部23が形成された凹部材23と、凹部23aの内面と僅かな隙間を有して配置される凸部25を有する凸部材25aと、凹部材23aに凸部材25aを近づける方向に動作させる上下動機構28とを有する。 (もっと読む)


【課題】薄膜蒸着用マスクフレーム組立体及びその製造方法を提供する。
【解決手段】複数個のスティック型分割マスクが採用されるマスクフレーム組立体100であり、該マスクフレーム組立体100は、単位画面に対応する蒸着用パターンを具備する複数の分割マスク110を具備し、さらに各分割マスクは、複数の部分マスク110a,110bが結合され、単位画面に対応する蒸着用パターン111を形成するように構成される。これにより、大型画面に対応するパターンを収容した分割マスクをエッチング誤差増大の恐れなく容易に製作することができる。 (もっと読む)


【課題】膜厚センサの使用寿命が長い真空蒸着装置及び薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】
真空槽21と、真空槽21内を真空排気する真空排気装置27と、真空槽21内に露出する放出口11a、11bから蒸着材料の蒸気を放出する放出装置12a、12bと、放出口11a、11bと対面する位置に基板26を保持する基板保持部25と、放出された蒸気が入射する位置に配置され、付着した蒸気からなる付着膜の膜厚を測定する膜厚センサ15a、15bとを有し、基板保持部25に保持された基板26に薄膜を形成する真空蒸着装置2であって、膜厚センサ15a、15bに向けてレーザーを照射するレーザー照射装置18a、18bを有し、膜厚センサ15a、15bに付着した付着膜にレーザーが照射されると、膜厚センサ15a、15bから付着膜が除去される。 (もっと読む)


【課題】スパッタリングターゲットに起因する異物低減可能なEUVマスクブランクスの製造方法の提供。
【解決手段】基板11上にMo/Si多層反射膜12、保護層13としてRu膜またはRu化合物膜を、イオンビームスパッタリング法を用いて実施し、Mo/Si多層反射膜12のSi膜成膜時、および、Ru膜またはRu化合物膜成膜時に、ターゲット角度、プロセスガス種類、プロセスガス圧力、イオンソースのRFパワー、サプレッサ電圧、イオンビーム電圧、および、イオンビーム電流をほぼ同一とし、Si膜成膜に使用したスパッタリングターゲットのエロージョン領域に基づき、Ru膜またはRu化合物膜成膜に使用するスパッタリングターゲットのエロージョン領域、非エロージョン領域を予測し、RuターゲットおよびRu化合物ターゲットの予測される非エロージョン領域に粗面化処理を施してから、Ru膜またはRu化合物膜成膜を実施する。 (もっと読む)


【課題】スパッタリングターゲットに用いた場合に異常放電を発生せず、比抵抗の小さな透明電極を得ることが出来る程度に緻密な酸化亜鉛系焼結体を得る。
【解決手段】低原子価チタンを2モル%超、10モル%以下含有する酸化亜鉛焼結体であって、相対密度95%以上で、かつ複合酸化物の含有割合が10%以下である。この酸化亜鉛焼結体は、酸化亜鉛粉末と、亜鉛と低原子価チタンの複合酸化物粉末とを、低原子価チタンが2モル%超、10モル%以下含有するように混合した後、成形し、次いで800〜1500℃の温度で焼結を行うことによって得られる。 (もっと読む)


【課題】真空槽内の真空雰囲気を維持しながら振動子から付着膜を除去できる真空蒸着装置及び薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】
真空排気された真空槽11内に蒸着材料の蒸気を放出させ、ホルダ32a、32bに接触して保持された振動子31a、31bの表面に蒸気を付着させ、付着膜の膜厚を測定しながら、基板16に薄膜を形成する薄膜形成方法であって、付着膜の蒸発温度より融点の高い振動子31a、31bとホルダ32a、32bと、ホルダ加熱装置33a、33bとを用いて、真空槽11内の真空雰囲気を維持しながら、ホルダ32a、32bの融点と振動子31a、31bの融点の両方より低い温度でかつ付着膜の蒸発温度以上の温度にホルダ32a、32bを加熱し、ホルダ32a、32bからの熱伝導により振動子31a、31bを加熱し、振動子31a、31bから付着膜を気化させて除去する。 (もっと読む)


【課題】スパッタリングを用いて電池部材を成膜する際に、正負極が短絡することがなく、さらに、未成膜部分が生じることがない薄型電池の製造方法を提供する。
【解決手段】1つの電極を備えた積層体の表面を、所定形状の開口部を有するマスクでマスキングした後、スパッタリングにより、開口部内に電池部材を成膜して、前記積層体に積層する薄型電池の製造方法であって、マスクは、絶縁材料により形成された絶縁体部と、絶縁体部の上面側に設けられた第1の導体部と、成膜された電池部材が接する開口部の壁面部に設けられた第2の導体部と、を備えており、第1の導体部および第2の導体部が、接地されている薄型電池の製造方法。 (もっと読む)


【課題】ZnO系半導体層の新規な製造方法を提供する。
【解決手段】(a)基板上方に、(MgZn1−x(0≦x≦0.6)単結晶膜を成長させる工程と、(b)前記の(MgZn1−x(0≦x≦0.6)単結晶膜を、400℃以下で、活性酸素により酸化して、MgZn1−yO(0≦y≦0.6)単結晶膜を形成する工程と、(c)工程(a)及び(b)を繰り返して、MgZn1−yO(0≦y≦0.6)単結晶膜を積層する工程とを有するZnO系半導体層の製造方法とする。 (もっと読む)


【課題】 複数のスリット状の開口を持つ蒸着マスクにおいて、隣接するスリット状の開口間の箔が互いに接触して密着し、スリット状開口部が塞がって成膜パターンの不良を引き起こしてしまう。
【解決手段】連続して配置された少なくとも3つの前記開口の少なくとも一方の端部を、前記開口の長手方向に互いにずらして配置する。 (もっと読む)


【課題】基板上に成膜したW膜の膜厚面内均一性を向上させることが可能であり、さらにはパーティクルの発生を減少させることが可能なWスパッタリングターゲットおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】Wスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のX線回折により求められた結晶面(110)及び(200)の結晶方位比率(110)/(200)が0.1〜6.5であることを特徴とする。また、本発明の高純度Wスパッタリングターゲットの製造方法は、高純度W粉末を加圧焼結後、得られた焼結体をターゲット形状に加工後、ロータリー研磨およびポリッシングの少なくとも1種の研磨を施し、さらにエッチングおよび逆スパッタリングの少なくとも1種の研磨を施すことにより仕上げ加工することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】スパッタリング成膜時の発塵を抑制して高品質な珪素含有薄膜の成膜を可能とするスパッタリング成膜用珪素ターゲットを提供すること。
【解決手段】n型の珪素ターゲット材10と金属性バッキングプレート20はボンディング層40を介して貼り合わされている。珪素ターゲット材10のボンディング層40側の面には、珪素ターゲット材10よりも仕事関数の小さな材料からなる導電性層30が設けられている。つまり、珪素ターゲット材10は、導電性層30とボンディング層40を介して、金属性バッキングプレート20に貼り合わされる構成となっている。珪素が単結晶の場合、n型珪素の仕事関数は一般に4.05eVであるとされているから、導電性層30の材料の仕事関数は4.05eVよりも小さい必要がある。このような材料としては、ランタノイド元素、希土類元素、アルカリ金属元素、およびアルカリ土類金属元素を主成分とするものがある。 (もっと読む)


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