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Fターム[4K030AA01]の内容

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【課題】酸化ケイ素又は窒化ケイ素をCVDやALDなどのプロセスにより、低温で堆積できる前駆体を提供する。
【解決手段】誘電体膜を形成するための前駆体及び方法である。1つの態様では、次の式Iを有するケイ素前駆体が与えられる。
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【課題】高品質な成膜を維持するために必要となるチャンバー内の清掃の頻度を低減し、稼動率を向上したCVD装置を提供すること。
【解決手段】CVD装置100は、チャンバー1と、チャンバー1内に原料ガスを供給するための原料ガス供給装置2と、廃棄ガスをチャンバー1内から排出するための廃棄ガス処理装置12とを備える。チャンバー1に設置された加熱ステージ6は、基板5を保持するための機構を有し、その周囲に、加熱ステージ6を原料ガス及び廃棄ガスによる腐食あるいは廃棄ガス中の反応生成物の付着を防止するためのヒーターカバー10が設置されている。ヒーターカバー10にはシールガスを噴出する複数のガス噴出口16が設けられ、ヒーターカバー10の表面と廃棄ガスとの間に、原料ガスと反応しない不活性ガスの層、シールガス層を、基板5の外周から30mm以内の範囲にわたり作り、ヒーターカバー10への付着物の量を減少させる。 (もっと読む)


【課題】電子素子へ容易に適用が可能な状態で、キャリアがドープされたカーボンナノチューブが形成できるようにする。
【解決手段】基板10の上に、CoおよびNiより選択された金属の微粒子103を直接形成する。次に、ステップS103で、ベンジルアミンおよびホウ酸トリイソプロピルの少なくとも1つからなる原料ガスを用いた熱化学気相成長法により、微粒子103よりキャリアがドープされたカーボンナノチューブ104を成長する。 (もっと読む)


【課題】従来よりも低温でシリコン含有窒化膜を成膜することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ウエハにSiN膜を形成する半導体装置の製造方法であって、ウエハが収容される処理室に、DCS(ジクロロシラン)を供給するシラン系ガス供給工程と、前記シラン系ガスの供給と同時ではないタイミングで、前記処理室にNH(アンモニア)を供給する窒化ガス供給工程と、前記処理室にTEA(トリエチルアミン)を供給するアミン系ガス供給工程と、前記処理室の前記シラン系ガスまたは前記窒化ガスを排気する排気工程と、を有し、前記アミン系ガス供給工程は、前記シラン系ガス供給工程及び前記窒化ガス供給工程と合わせて行う。 (もっと読む)


【課題】蒸着重合によるポリイミドの成膜に適した基板処理装置を提供する。
【解決手段】真空ポンプにより排気可能なチャンバーとなる外部管と、前記外部管内に設けられており、内部に基板が設置される内部管と、前記内部管内にガスを導入するためのガス供給部と、前記基板、前記外部管、前記内部管を加熱するためのヒーターと、前記外部管と前記内部管との間に設けられたトラップ部と、を有し、前記基板を前記ヒーターにより第1の温度に加熱することにより、前記ガス供給部から供給されたガスが蒸着重合反応し、前記基板表面において前記蒸着重合反応によりに生成された膜が成膜され、前記内部管に設けられた開口部から流入した前記ガスにより、前記トラップ部においても、前記蒸着重合反応により生成された膜が成膜されることを特徴とする基板処理装置により上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】透明性を向上させたSiNxOyCz膜、および成膜速度を向上させた薄膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】被成膜基材2にRFバイアスを印加し、1ターンのコイル6にICP出力を印加して誘導結合プラズマを発生させ、誘導結合プラズマによって有機金属を含む原料ガスを分解するCVD法を用いることによりSiNxOyCz膜を形成する。SiNxOyCz膜は、x、y及びzそれぞれが下記式(1)〜(3)の範囲である。0.2<x<1.5・・・(1)、0.3<y<0.8・・・(2)、0.03<z<0.4・・・(3) (もっと読む)


【課題】ポーラスLow−k膜の信頼性を向上させる。
【解決手段】プラズマCVD法によって層間絶縁膜IL2を形成する際にCVD装置内に供給するポロジェンの流量を、ポロジェンおよびメチルジエトキシシランの合計の流量の30%以上60%以下とすることで、層間絶縁膜IL2内に形成される空孔10の大きさを小さくし、プロセスダメージによって層間絶縁膜IL2の表面に変質層CLが形成されることを防ぐ。また、水分を含む変質層CLの形成を抑えることで、各配線を構成するバリア膜および主導体膜の酸化を防ぎ、各配線間の耐圧の劣化を防ぐ。これにより、層間絶縁膜IL2に隣接して形成される配線のEM寿命および前記配線の線間TDDB寿命の劣化を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】経時安定性の高い導電性酸化亜鉛膜を得る。
【解決手段】B、Al、GaおよびInからなる群から選ばれる1つ以上の元素をドーパントとして含む導電性酸化亜鉛膜において、膜中に水素を含むものとし、その水素の含有量を3×1021 atoms/cm3以下とする。 (もっと読む)


【課題】 表面ラフネスの精度をさらに改善でき、進展するコンタクトホールやラインなどの微細化に対応可能なアモルファスシリコンの成膜方法を提供すること。
【解決手段】 下地2を加熱し、加熱した下地2にアミノシラン系ガスを流し、下地2の表面にシード層3を形成する工程と、下地2を加熱し、加熱した下地2の表面のシード層3にアミノ基を含まないシラン系ガスを供給し、アミノ基を含まないシラン系ガスを熱分解させることで、シード層3上にアモルファスシリコン膜を形成する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】基材の内部に空隙を形成するための方法を提供する。
【解決手段】基材を用意する工程;少なくとも1つの犠牲材料前駆体の堆積によって犠牲材料を堆積する工程;複合層を堆積する工程;該複合層中のポロゲン材料を除去して多孔質層を形成する工程;及び積層基材を除去媒体と接触させて前記犠牲材料を実質的に除去し、前記基材の内部に空隙を与える工程を含み、前記少なくとも1つの犠牲材料前駆体が、有機ポロゲン、シリコン、極性溶媒に可溶な金属酸化物、及びそれらの混合物からなる群より選択される方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】透明導電膜のヘイズ率を高くしても、その表面の表面粗さの上昇を抑制できる透明導電膜付きガラス板を提供する。
【解決手段】ガラス板11と、ガラス板11上に形成された透明導電膜15と、を備え、透明導電膜15が透明導電層(透明導電層A)13と透明導電層(透明導電層B)14を有し、透明導電層B14が透明導電層A13の上に形成され、透明導電膜15が複数の空孔13a(13b)を含み、複数の空孔13a(13b)の各々が、透明導電層A13の表面における凹部13hを透明導電層B14塞いだものである、透明導電膜付きガラス板10、を提供する。透明導電膜ガラス板10は、透明導電層A13の表面の一部の領域をエッチングによって膜厚方向に後退させるとともに、当該一部の領域を塞ぐように透明導電層A13の上に透明導電層B14を形成することで得ることができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、Ge含有ガスを供給してEpi−SiGe等の成膜処理をする場合に、基板界面の酸素濃度上昇を抑え、良好な膜を形成することができる基板処理装置を提供することを課題としている。
【解決手段】基板に成膜処理をする際に、ステップS18においてEpi−SiGe成膜処理を行う前に、ステップS13においてSiコーティング処理を行う。 これにより基板支持体に付着したGeO等の酸化物をコーティングで封じ込めることができ、GeOから脱離した酸素がEpi−SiGe膜のSi基板との界面に取り込まれるのを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】厚みと組成の均一な膜を形成しやすい成膜装置を提供する。
【解決手段】大気圧下においてプラズマPを生成する。このプラズマPを用いて被処理物Wの表面に膜原料を付着させて成膜するための成膜装置Aに関する。膜原料を含有する成膜ガスCGを流通させるための第1流路5。プラズマ生成ガスPGを流通させるための第2流路9。前記プラズマ生成ガスCGに電界Eを印加してプラズマPを生成するための電極3。前記第1流路5と前記第2流路9とを合流させる合流部14とを備える。前記第1流路5から前記合流部14への前記成膜ガスCGの流入方向と、前記合流部14での前記プラズマPの流通方向とが略平行となるように前記第1流路5が前記第2流路9内に形成される。 (もっと読む)



【課題】硬質被覆層が高速重断続切削加工ですぐれた耐チッピング性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の逃げ面及びすくい面の表面に、(a)Ti化合物層、(b)α型Al層、(c)平板多角形状かつたて長形状の結晶粒組織構造を有するZr含有α型Al層をそれぞれ順次に蒸着形成し、一方、切刃部には、上記(a)のTi化合物層及び上記(b)のα型Al層を順次蒸着形成した表面被覆切削工具において、上記(b)は、(0001)面配向率の高いα型Al層からなり、また、逃げ面およびすくい面の上記(c)は、(0001)面配向率が高く、かつ、面積比率で60%以上の結晶粒の内部は、少なくとも一つ以上のΣ3で表される構成原子共有格子点形態からなる結晶格子界面により分断されている。 (もっと読む)


【課題】硬質被覆層が高速重切削加工ですぐれた耐剥離性と耐摩耗性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。
【解決手段】工具基体の表面に、(a)下部層としてTi化合物層、(b)中間層としてα型Al層、(c)上部層として、平板多角形状かつたて長形状の結晶粒組織構造を有するZr含有α型Al層を蒸着形成した表面被覆切削工具において、逃げ面およびすくい面の中間層及び上部層は、それぞれ、(0001)面配向率の高いα型Al層、Zr含有α型Al層からなり、また、逃げ面およびすくい面の上部層の結晶粒の内、面積比率で60%以上の結晶粒の内部は、少なくとも一つ以上のΣ3で表される構成原子共有格子点形態からなる結晶格子界面により分断されている。 (もっと読む)



本発明は、各々が少なくとも1つの処理対象面を有する少なくとも2つの多層体、ならびに多層体を位置決めするための少なくとも1つの装置を含む、多層体配列に関し、装置は、それぞれの処理対象面が互いに向かい合っており、そうして処理対象面の間に設けられた準閉鎖処理空間を形成するように構成されており、そこで処理が行われる。本発明はさらに、このような多層体配列を用いて多層体を処理するシステム、ならびに多層体を処理する方法にも関し、多層体は、それぞれの処理対象面が互いに向かい合っており、そうして表面の間に設けられた準閉鎖処理空間を形成するように設けられており、そこで処理が行われる。
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【課題】表面の平坦性の優れたシリコン膜を形成する成膜方法、半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】基体上にジシラン及びトリシランの少なくともいずれかを用いて第1温度で第1膜を形成する第1膜形成工程と、前記基体及び前記第1膜を、水素を含む雰囲気中において、前記第1温度から、前記第1温度よりも高い第2温度に向けて昇温する昇温工程と、前記昇温の後に、前記第1膜の上に、シランを用いて前記第2温度で第2膜を形成する第2膜形成工程と、を備えたことを特徴とする成膜方法が提供される。 (もっと読む)


次世代の誘電体膜に適切な誘電率およびヤング率を有するSiCOH膜を成膜するために適合した前駆体が開示される。 (もっと読む)


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