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Fターム[5F004AA16]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 目的 (7,312) | その他 (2,017)

Fターム[5F004AA16]に分類される特許

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【課題】
地球環境保全およびプラズマプロセスの高性能化を実現するため、非温室効果ガスを用いたプラズマ処理方法を開発し、デバイスへの損傷を抑制することができる高精度のプラズマエッチング方法を提供すること。
【解決手段】
本発明に係るプラズマ処理方法は、プラズマ生成室にフッ素ガス(F2)を含む処理ガ
スを供給し、高周波電界の印加と印加の停止とを交互に繰り返すことによりプラズマを生成し、該プラズマを基板に照射して基板処理を行うことを特徴とする。また、前記プラズマから負イオンまたは正イオンを、個別にまたは交互に、あるいは、負イオンのみを選択的に引き出して中性化することにより中性粒子ビームを生成し、該中性粒子ビームを基板に照射して基板処理を行ってもよい。 (もっと読む)


本発明の目的は歩留りおよび生産性向上が図れる半導体装置の製造方法を提供することにある。本発明に係わる半導体装置の製造方法は、本発明は、真空容器1と、前記真空容器1内に設けられたウエハ8を設置するためのサセプタ7と、前記真空容器に原料ガスを導入するためのガス導入手段2と、および高周波電力導入手段6とを有するプラズマエッチング装置が準備され、前記ガス導入手段2により前記真空容器1内に導入されたガスを前記高周波電力でプラズマ化し、前記プラズマ雰囲気中でウエハ主面の酸化膜23に選択的に複数の穴を形成する工程を含む半導体装置の製造方法であって、前記穴を形成する工程で前記半導体ウエハ主面の平坦部と穴部とに連続スペクトルを有する光15を照射させ、前記平坦部と前記穴部との反射率変化を測定することを特徴とする。
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【課題】 試料の表面の広い範囲にわたり高精度に微細な加工を実現できるプラズマ処理装置を提供する
【解決手段】 処理室101内に設けた試料台102およびシャワープレート109の中央部と周縁部とにそれぞれ異なる量のガスおよび冷媒を供給するようにしたするプラズマ処理装置100において、処理室101内のプラズマ発光を受光する受光部125および発光分析器124と、処理室下部内のガスの質量を分析する質量分析器129と、制御部130とを備え、発光分析と質量分析の双方のデータを用いて、処理室内へ供給するガスの流量を制御する流量制御装置120,121と、試料台102へ供給する冷媒の流量を制御する冷媒流量調節器131とを制御する。 (もっと読む)


【課題】 基材の裏面外周部の不要膜を表側の膜に影響を与えることなく除去する。
【解決手段】 ステージ10上にウェハ90を外周部が突出するようにして支持する。輻射加熱器20から熱光線をウェハ90の裏面外周部に向かって収束するように照射し、この基材裏面外周部を局所加熱する。この局所加熱された部位の近傍の反応性ガス吹出し口30bから不要膜除去のための反応性ガスを吹出す。 (もっと読む)


【課題】ガスを使用する複数の基板処理装置が同時に作動していても所望のガスについて重複使用を回避可能な基板処理システムを提供すること。
【解決手段】基板処理工程中にガス使用工程を含む複数の基板処理装置11と、これら各装置11を制御する処理制御装置12と、前記各装置11と前記処理制御装置12とを接続するネットワーク13と、前記各装置11と離れた場所に設置されたガス共通供給源16から導出され、分岐を経て前記各装置11の基板処理室に導入されるガス配管群14とを有し、処理制御装置12により、ネットワーク13を介して各基板処理装置11間の基板処理工程の実行開始タイミングを調節する基板処理システムとする。 (もっと読む)


【課題】 有害成分を含む排ガスを処理しないときの消費電力を小さくすることができるようにした排ガスの除害装置及びその除害方法、電子デバイスの製造システムを提供する。
【解決手段】 半導体処理装置から排出された排ガスを反応筒51内に導入して当該排ガス中に含まれるCF等の有害成分を無害化する除害装置であって、反応筒51内を加熱するハロゲンランプ52を有する。反応筒51内の温度を常時高温に維持する必要がなく、有害成分を含む排ガスを処理しないときの除害装置50の消費電力を小さくすることができる。除害処理コストを低減することが可能である。 (もっと読む)


製造検査のための方法は、半導体基板及び該基板を覆って形成された非導電層を含むウェーハを受け取ることと、それに続いて、該非導電層を貫通して該基板に達するコンタクト開口のエッチングを実行することであって、該コンタクト開口が、該ウェーハ上の検査領域内に予め画定されたテストパターン内に配列されたコンタクト開口から構成される配列を含むこととを含む。電子ビームは、該検査領域を照射するように向けられ、該電子ビームに反応して該基板を流れる試料電流が測定される。該試料電流は、該コンタクト開口の寸法を評価するために分析される。
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基材上のTERA層を化学的に処理するための処理システムおよび方法。基材の化学処理は、基材上の露出表面を化学的に変更する。一実施形態では、TERA層を処理するためのシステムは、TERA層を基材上に蒸着するためのプラズマ促進化学蒸着(PECVD)システムと、形状構成をTERA層の中に創出するためのエッチングシステムと、TERA層中の形状構成のサイズを縮小するための処理サブシステムとを含む。
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【課題】 プラズマによるダメージを低減し、かつガスの分解や解離を促進させることにより、高品質な電子デバイスを製造できるプラズマプロセス装置および該プラズマプロセス装置を用いた電子デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】 プラズマプロセス装置は、被処理基板4が内部に配置される処理室1と、処理室1の内部にガスを導入するガス導入口7と、処理室1の内部に設けられ被処理基板4にプラズマ処理を施すプラズマ発生部とを備える。プラズマ発生部は、被処理基板4に対し同じ側に、はしご状あるいは格子状のアノード電極3と、複数のガス導入口7を有するカソード電極2と、カソード電極2とアノード電極3との間に誘電体6とを有し、カソード電極2、誘電体6およびアノード電極3が、被処理基板4の処理面4aに垂直方向に配置される。 (もっと読む)


【課題】 ゲート容量が小さく、短チャネル効果が抑制された薄膜トランジスタ(TFT)を作製する。またゲート配線の配線抵抗を減少させ、回路面積の減少とTFTの高速駆動を可能にする。
【解決手段】 ゲート電極を二層にし、下層の幅を上層よりも小さくすることにより、ゲート電極と半導体膜からなる活性層の重なる面積が小さくなる。これによりゲート容量を減少させ、短チャネル効果を抑制することができるので、TFTを高速駆動させることが可能である。また、ゲート電極と配線を一体形成せず別々に形成することによって、TFTによって構成される回路面積も縮小でき、高速化に寄与できる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハの汚染を防止し、複数の処理ガスの解離を独立に制御することが可能で、コンパクトなプラズマCVD装置を与える。
【解決手段】デュアル反応チャンバプラズマ処理装置は、異なるガス流入ライン及び異なるRFシステムが取り付けられた2つの反応チャンバから成る。それぞれの反応チャンバは、RF電源からのRF電力を供給するためのRF波エントリーパス及び同一のRF電源へRF電力を戻すためのRF波リターンパスを具備する。 (もっと読む)


【目的】 プラズマ処理装置の処理速度に合わせて、他の処理装置における処理速度も速くすることができる基板処理装置を提供する。
【構成】 基板処理装置は、一対のカセット1,1、搬入搬出装置2、一対の洗浄装置(液体供給装置)3,3、ハンドリングロボット4、冷却装置5、一対のロードロック室6,6及び一対のアッシング装置(プラズマ処理装置)7,7が配置されている。冷却装置5は、冷媒が循環するクールプレート51とこのクールプレート51に基板Wを載置する昇降ピン52を備えている。特にクールプレート51は上下2段とされ、各クールプレート51に形成した貫通穴53に昇降ピン52を挿通するとともに、各昇降ピン52を共通の支持部材54に取り付け、シリンダユニットを駆動して支持部材54を昇降せしめることで、2枚の基板Wを同時に昇降動せしめるようにしている。また、カップ31とチャック2からなる洗浄装置3も冷却装置5と同様に多段式となっている。 (もっと読む)


【課題】
ドライエッチング装置において、真空容器壁のスパッタで生じる被加工試料への汚染や異物発生の抑制および真空容器壁交換に伴うランニングコスト増加や稼働率低下を抑制することが可能なプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】
平行平板構造のドライエッチング装置において、被加工試料4と対向する位置に配置され、放電生成用高周波電源2が接続される放電生成用電極1に、放電生成用高周波電源2の周波数に対して高インピーダンスで、かつ直流的に低抵抗でアースと接続される低周波通過フィルタを3接続するか、または直流的に低抵抗でアースと接続される低周波通過フィルタ3とそれに直列に挿入された直流電源を接続する構成とする。 (もっと読む)


【課題】 Oリング近傍のガラス部材を保護しながらOリングをも保護し、高い真空度を維持できる真空装置用チャンバを提供する。
【解決手段】 カバー1と、カバー1と共に閉空間100を形成するフランジ5とを備え、形成された閉空間100内の真空状態をOリング10によって封止する真空装置用チャンバにおいて、フランジ5は、カバー1と対向する周縁面5aと、周縁面5aにあってOリング10と嵌合する溝部22とを備える。また、カバー1は、周縁面5aと対向する対向面1aと、対向面1a上にあって、かつ耐プラズマ性を有する第1面30と、第1面30に比して平滑度が高く、かつ溝部22に対向する溝対向面22aに沿う第2面32とを備える。 (もっと読む)


【課題】 磁気発生手段が小型であって安価になり低価格のプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】 永久磁石装置6が与える磁場の元で媒質ガスを励起してプラズマ化し、このプラズマを被処理体の表面処理に用いるプラズマ処理装置であって、永久磁石装置6は、一方の永久磁石15を磁性体製の一方の磁石保持ケース13に吸着収容した一方の磁気ユニット11と、他方の永久磁石15―1を磁性体製の他方の磁石保持ケース13に吸着収容した他方の磁気ユニット12とを有し、一方の磁石保持ケース13と他方の磁石保持ケース13とを、それぞれの合せ目13aにおいて磁気保持回路(磁気誘導回路)を構成するように磁気吸着させて枠体Aを構成し、一方の永久磁石15と他方の永久磁石15―1との磁極間において磁界を発生することで磁場を形成するようにした。 (もっと読む)


【課題】 処理室内のデポ膜の除去と壁面材料の腐食を抑えることできる、プラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】 処理室内101に処理ガスを導入してプラズマ110を発生させ、被処理物を真空処理するプラズマ処理装置において、プラズマ発生手段106〜108と、処理室内壁102を構成する材料を含む反応物の存在を検出するモニタ手段112と、処理室内壁102を構成する材料を含む反応物の存在が所定量以上となったことを報知するアラーム手段を具備し、任意のエッチング処理毎にプラズマクリーニングを行い、その後OガスあるいはFガスを用いて壁面安定化処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】 本発明は半導体装置の製造工程において、レジストなどのマスクパターンを用いる際に発生する反応生成物等のレジスト等への不均一な付着によるパターン形状等の不良を生じさせず、また、寸法精度が良好な微細パターンの形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 パターン形成方法を含む半導体装置の製造方法として、第1の薄膜の側壁に第2の薄膜を形成し、その側壁に形成された第2の薄膜の先端部が不均一にならないように、平坦化法により、精度良くエッチバックして揃える。 (もっと読む)


【課題】 容量結合プラズマと誘導結合プラズマとを組み合わせたプラズマの高性能化を実現できる高周波プラズマ装置を提供する。
【解決手段】 所定の間隔で対面する壁面部1a,1bを有する所望のガス雰囲気を形成するための反応容器1と、高周波電源7と、前記反応容器1の一方の壁面部1aの外面部にコイル軸が壁面に対して直交する方向で配置された第1のコイル4と、前記反応容器1の他方の壁面部1bの外面部にコイル軸が壁面に対して直交する方向で且つ前記第1のコイル4と対向する位置に配置された第2のコイル5とを備え、前記高周波電源7より前記第1のコイル4及び前記第2のコイル5に高周波電流を流すことによって前記壁面部1a,1bの壁面を横切る高周波磁界を形成するとともに、前記壁面1a,1b間に強電界を形成し、前記反応容器1内に誘導結合プラズマ及び容量結合プラズマを放電維持させ、該プラズマによって、前記反応容器1内のガス雰囲気中に位置する被処理物10に対して所望のプラズマ処理を行う。 (もっと読む)


基板の処理のためのプラズマ処理システムが開示されている。プラズマ処理システムは、基板を保持するように構成されたチャックを含む下部部材を有している。また、プラズマ処理システムは、基板を処理するプラズマを発生させるための電磁場を形成するように構成された誘導コイルと;加熱及び冷却システムのために構成された、下部部材と結合する最適化された上部部材を含んで成る。前記加熱及び冷却システムが、最適化された上部部材によって電磁場とは実質的に遮断され、該上部部材は実質的に一人で操作可能であることを特徴とする。 (もっと読む)


プロセスツールからの排気流体流を処理するための低コストの装置を開示する。一実施形態では、装置は、緩和装置(12)と、緩和装置(12)を少なくとも部分的に排気する液体リングポンプ(14)とを有している。使用中、緩和装置(12)は、排気流体流の1つ以上の成分、例えばF4又はPFCを、環境に対する有害性の低い1つ以上の液体溶解性成分、例えばHFに変換する。液体リングポンプ(14)は、排気流体流及び液体を受入れ、液体と排気ガス流の液体溶解性成分とからなる溶液を排出する。かくして、液体リングポンプ(14)は、ウェットスクラバ及び大気圧真空圧送段の両方の作用を行う。
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