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Fターム[5F031HA24]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 処理時の固着、保持 (16,861) | ステージ、チャック、サセプタ (15,090) | 固着・保持機構 (3,822) | クランプ、把持 (775) | ウエハ等の周縁の一部を把持(爪状部材等) (222)

Fターム[5F031HA24]に分類される特許

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【課題】ドライエッチングを行う際のサイドエッチングを抑制する。
【解決手段】半導体素子の形成のための溝に対応するマスクを半導体膜の一方に備え、絶縁膜をその半導体膜の他方に備えるSOI基板などの半導体基板をドライエッチング装置の下部電極に置き、下部電極との間にコンタクトなどが配置されて下部電極と略同電位となる金属性のクランプにより絶縁部材を介して前記半導体基板を押さえて半導体基板を下部電極に固定し、前記絶縁膜をエッチングストッパ層としてドライエッチングを行う。 (もっと読む)


【課題】ドライエッチングにおいて、サイドエッチングの発生を抑制する。
【解決手段】半導体素子を形成する領域に溝を形成するためのマスクを半導体膜の一方に備え、絶縁膜をその半導体膜の他方に備える半導体基板をドライエッチング装置の下部電極上にマスクを備える面が被加工面になるように置き、前記半導体基板の外周部を前記下部電極と略同電位となる金属性のクランプにて押さえ、前記絶縁膜をエッチングストッパ層とするドライエッチングを開始し、すくなくとも、前記領域の周囲に形成される溝の底面が前記絶縁膜に達した後は、前記領域と前記クランプとを電気的に絶縁状態にする。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板を所定の載置位置に高精度に位置決めする事が可能なキャリア、およびこれを備えた基板搬送装置を提供する。
【解決手段】位置決め手段31は、略L字状の支持部材32と、この支持部材32を回動させる付勢部材33とを備えている。支持部材32は、例えば、全体が樹脂によって形成された略L字型の部材である。この支持部材32は、回転軸34によってキャリアフレーム15に回動自在に軸着されている。また、支持部材32は、ガラス基板11の底辺11b、および側辺11cにそれぞれ当接する。こうした、支持部材32がガラス基板11に当接する部分は、円周面を成す形状、例えば、半円形のロール部32a、32bを形成しているのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】エッチング中に基板割れを生じることなく加工できるエッチング装置及びエッチング方法の提供。
【解決手段】基板Sの周縁部Saを押圧して基板トレイ32上に固定するように構成されたクランプリング33と、クランプリングと基板の周縁部との間に設けられたリング部材34とを有し、基板トレイが、表面に表面凹部32aが、かつ裏面に裏面凹部32bと裏面凹部を囲んで基板電極31に接触する周囲接触面部32cとが形成され、そして冷却ガス流路32dが形成されたものであり、リング部材が、1.5W/mK以下の熱伝導率を有する材料から構成されている。このエッチング装置を用い、基板の載置された基板トレイを基板電極上に装着し、基板の周縁部をリング部材を介してクランプリングで押圧して固定し、冷却ガス流路にガスを流しながら、高密度プラズマ雰囲気下で基板をエッチングする。 (もっと読む)


ウエハを支持デバイス(17)から分離する分離方法において、ウエハは接着剤によって支持デバイス(17)に固着されたウエハブロック(40)を切断して形成され、ウエハ自体はその一側において支持デバイス(17)に依然として接着されており、ウエハを伴う支持デバイス(17)は、一定の運動面に沿って接着剤除去デバイス(47)へと駆動される。支持デバイスは接着剤除去デバイス(47)内に留まるとともに、接着剤除去容器(55,55a,55b)において可動壁部(52a,52b)によって包囲される。接着剤除去容器(55,55a,55b)を形成してこれを閉塞した後、接着剤を除去するための溶剤が接着剤除去容器内およびウエハに対して供給され、接着剤を溶解し、そしてウエハを支持デバイス(17)から除去する。
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【課題】クランプピンを伝って薬液が機構部に侵入しないウェハステージを提供すること。
【解決手段】本発明のウェハステージ10は、複数のクランプピン20によってウェハ30を載置面に位置決めし、載置面の周囲に形成した複数の凹部12と、凹部12の底面12Aに対応する下部に配置した回動源13と、回動源13を回動させる駆動体14とを備え、回動源13の上部に能動側磁石15を設け、クランプピン20の内部下部に受動側磁石16を設け、能動側磁石15と受動側磁石16との磁気結合によってクランプピン20が回動することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡素な構造で、半導体基板のおもて面側へのエッチング液の巻き込みを抑制する手段を提供する。
【解決手段】 半導体基板を、噴出口から半導体基板の半径方向外側に向けて噴出させた噴出ガスにより非接触で保持する回転基台と、回転基台に設けられ、半導体基板の外周面に接触する複数の位置決めピンとを備えた半導体装置の製造装置において、位置決めピンの外周面に、噴出ガスの流れを半径方向外側に案内する案内溝を設ける。 (もっと読む)


【課題】搬送時間、真空ポンピング時間及び処理時間を同期させるのに時間がかかり、システム全体のスループットを低下させる。
【解決手段】真空環境への基板の搬入は、清浄な排気環境の発展につれて同時に移送する基板の数を徐々に減少さることによって達成される。カセットは清浄な大気環境内に維持され、真空環境内に浸入させない。次第に高いレベルの真空環境を導入するようにいくつかの真空ロックを直線的にスタガ配置する。この配置を経て搬送される基板の数は各カセットに存在する基板の数の一部分とする。スタガ配置の真空ロックは一連の処理チャンバにつながり、これらのチャンバ内を更に少数の基板、例えば1つ又は2つの基板が搬送される。 (もっと読む)


【課題】環状のフレームに粘着テープを介して一体化されたワークの表面にスピンコートで液状樹脂を被覆する際、フレームの吸着パッドが吸着する部分への飛散樹脂の付着を防いで、フレームを介してのワークの搬送を円滑にする。
【解決手段】スピンナテーブル30における搬送機構10の吸着パッド13に対応する複数箇所に振り子体50を配設する。振り子体50は、錘部53と、吸着パッド13がフレーム2に吸着する部分(吸着パッド作用部2a)を被覆可能な爪部52と、錘部53と爪部52とを連結する連結部54と、軸部55とを備える。振り子体50は、スピンナテーブル30の静止時には開放位置にあり、スピンコート時にスピンナテーブル30が回転すると、遠心力により軸部55を支点として被覆位置まで揺動し、爪部52がフレーム2の上面を覆ってフレーム2の上面の吸着パッド作用部2aへの飛散樹脂の付着を防ぐ。 (もっと読む)


【課題】基板のベベル検査を有効に行うことができる基板保持装置、基板検査装置及び基板保持方法を提供する。
【解決手段】基板Wを保持する基板保持装置1において、基板Wを支持しこの基板Wと共に回転する複数の支持部材5,5,5,6,6,6を備え、これら複数の支持部材5,6は、基板Wと共に回転しながら、この基板Wを支持する位置(支持装置5参照)と、そこから退避した位置(支持装置6参照)とに移動する支持部材5,6を含む構成とする。 (もっと読む)


【課題】この発明は回転テーブルを高速回転させて基板を処理するとき、基板が回転テーブルの係合ピンから外れないようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】基板を回転させながら処理する処理装置であって、回転テーブル11と、回転テーブルを回転駆動するモータ8と、回転テーブルの上面に設けられた基板の下面を支持する支持ピン19及び基板の外面に係合する係合ピン20と、回転テーブルの下面に径方向に沿って位置決め可能に設けられ回転テーブルの回転速度が増大するにつれて径方向の外方に位置決めされて係合ピンの遠心力によって生じる回転テーブルの周辺部を下方へ撓ませる力を打ち消す力を発生するバランスウエイト24を具備する。 (もっと読む)


【課題】上カバーが熱膨張を生じても、その上カバーに挿通される保持部材が上カバーにより押圧されることを防止する。
【解決手段】スピンベース6の上カバー21には、複数の貫通孔27が形成されている。各貫通孔27には、保持部材7が挿通されている。また、各貫通孔27内には、上カバー21と保持部材7との間をシールするためのシール部材52がその内周に沿って配置されている。そして、水平方向において、保持部材7とシール部材52との間にギャップが形成されている。また、シール部材52は、上方に向けて突出する環状の突出部53を有している。一方、保持部材7(シール押さえ部材54)は、環状のシール当接面59を有している。環状の突出部53は、環状のシール当接面59に下方から当接する。シール当接面59は、水平方向において、突出部53よりも大きい幅を有している。 (もっと読む)


半導体ウェハの支持体は、ウェハを支持するためのサポート表面と、上記サポート表面から離れて形成されそれにより上記ウェハから離間される窪んだ表面と、を有するプレートを含む。複数のホールが、上記窪んだ表面から延び、サポート表面には、ウェハの汚染を防止するため、ホールが存在しない。
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【課題】より簡単な構成で基板を把持することができる基板把持機構を提供する。
【解決手段】基板把持機構は、基台1と、基台1に支持され、該基台1に対して上下方向に相対移動可能な複数の基板支持部材2と、基板支持部材2の上端にそれぞれ設けられた基板把持部28と、基板支持部材2を上下動させる駆動機構20と、少なくとも1つの基板支持部材2および基台1のうちのいずれか一方に取り付けられた第1の磁石31と、少なくとも1つの基板支持部材2および基台1のうちの他方に取り付けられた第2の磁石32とを備える。第1の磁石31の磁石は、基板支持部材2の上下動に伴って、第2の磁石32と近接した位置となるように配置され、第1の磁石31と第2の磁石32が近接したときに、第1の磁石31と第2の磁石32との間に発生する磁力により基板把持部28が基板Wの端部を押圧する方向に基板支持部材2を移動させる。 (もっと読む)


【課題】空気のかみ込みを解消でき、しかも一対の平板状のワークを高い精度で平行に貼合して、製品の歩留まりを向上できるワーク貼合装置を提供する。
【解決手段】真空チャンバー2の内部に、ワークホルダー8を支持するテーブル4と、貼合ダイヤフラム5を設ける。ワークホルダー8は、貼合台22と、第1・第2の両ワークW1・W2を所定の対向隙間をあけた状態で支持するワーク保持構造23を備えている。貼合ダイヤフラム5は、貼合台22の側へ向かって突弧状に膨張変形できる金属製のダイヤフラム膜14と、圧力室15を備えている。真空チャンバー2内の空気を真空源3で排気し、圧力室15に作動流体を供給してダイヤフラム膜14を膨張変形させた状態でテーブル4を駆動して、第2ワークW2を第1ワークW1に対して中央部分から周辺部へ向かって貼合する。 (もっと読む)


【課題】ウェハをアンクランプするときにウェハの回転と脱落を防止する。
【解決手段】平板状の本体ベース21上にピニオン23を回転自在に設ける。2本の第1、第2ラック25,27が前記ピニオン23の中心点対称位置で噛合して互いに平行をなして反対方向に移動可能に設けられる。第1,第2可動部材31,35を第1、第2ラック25,27に沿って摺動自在に設け、第1可動部材31を第1ラック25に固定し、第2可動部材35を第2ラック27に固定する。第1,第2アーム43,45が第1,第2可動部材31,35の移動方向に対して左右方向に延びるように、それぞれ対応して第1,第2可動部材31,35の上面に固定される。第1,第2アーム43,45の左右の先端側の上面には、ウェハ3を載置する載置面を有する載置部15と、前記載置面に突出してウェハ3の外周面に当接してクランプするように設けたピン部17が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 成膜時においてシャドウエリアの少ない基板ホルダーを備える成膜装置を提供すること。
【解決手段】 成膜装置の基板ホルダーは、開口部を有する導電性の基板ホルダー本体と、開口部の内周から開口部内に向けて突出して形成されており、絶縁性基板の一端部を支持するための挟持部材を備える第1の支持部材と、絶縁性基板の他の端部を支持するための狭持部材を備え、開口部内に向けて突出し、または開口部内から退避するように移動可能な第2の支持部材と、を有する。 (もっと読む)


少なくとも1つのウエハ支持体が設けられているウエハ移送アーム(30)と、ウエハの対向する縁部をつかむように構成される2つのリモートリム(18、19)を有するウエハグリッパ(15)であって、前記グリッパ(15)はおおよそ水平方向位置とおおよそ垂直方向位置との間でウエハを回転させるために軸上で回転するように取付けられたグリッパと、前記ウエハの一方側および他方側に、おおよそ垂直方向位置で前記ウエハを通る平面に対して対称的に配置された少なくとも2つの検査システムとを備える半導体ウエハ検査装置(1)。 (もっと読む)


【課題】本発明はウェハ装着装置に関し、一つのホルダ本体で大きいウェハと小さいウェハを装着でき、しかもそれぞれのウェハの面の高さが同じになるようにして焦点合わせを不要にしたウェハ装着装置を提供することを目的としている。
【解決手段】その平面に大きいサイズのウェハの位置決め用ピン4を設けたホルダ本体2と、該ホルダ本体2の中心穴内を上下に移動可能な上下動テーブルであって、その面に小さいサイズのウェハの位置決め用のピンと大きいサイズのウェハを載せるためのピンを設けた上下動テーブル3’と、ウェハを前記2つの位置決めピンに押しつけるための移動式固定ピン5と、該移動式固定ピン5の下部にこれと垂直に取り付けられた部材20と、該部材20の所定の位置に取り付けられた小さいサイズウェハの縦方向の位置決めを行なうためのシャフト10と、を設けて構成される。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、基板サンプルをサンプル保持機構に装着したままの状態で、例えば、2枚の基板サンプルの貼合せ接合のための圧着操作に移行しても、サンプル保持機構の存在がなんら障害にならないサンプル保持機構を提供することにある。
【解決手段】 板状枠体とプッシングユニットとで基板サンプルの保持機構を構成し、板状枠体で囲まれる領域に基板サンプルを保持し、基板サンプルの外周縁部端面のみを保持機構と接触させて保持する。サンプル保持機構の厚みを保持すべき基板サンプルよりも薄くすることにより、基板サンプルをサンプル保持機構に装着したままの状態で圧着操作に移行しても、サンプル保持機構の存在がなんら障害にはならない。 (もっと読む)


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