【課題】ピラーを確実に配置することが可能な半導体装置、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる半導体装置３０は、内部回路領域２０と、内部回路領域２０の外側に設けられたＩ／Ｏ領域１０と、を備える半導体チップ１と、半導体チップ１とフリップチップ接続されたパッケージ基板６と、半導体チップ１とパッケージ基板６との間に配置され、半導体チップ１の最上層配線層１２に含まれる２本以上の接地配線１２ａ上に形成されて、２本以上の接地配線１２ａを接続する導電性のピラー４と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】ウェハ貫通ビア（ＴＷＶ）を使用した相互接続において、ダイ区域の消費を低減し、ダイ区域を利用可能とする、バッチ製作された３Ｄ相互接続を提供する。
【解決手段】１つまたは複数の垂直相互接続を製作する。ウェハ積層体を形成するために複数のウェハをパターニングおよび積層するステップを含む。ウェハ積層体の１つまたは複数の切断刃の通り道内でウェハ積層体に複数の開口を形成し、導電性材料を複数の開口の側壁に堆積させる。ウェハ積層体は、側壁の導電性材料が、結果として得られる積層ダイの縁部部分に露出されるように、１つまたは複数の切断刃の通り道に沿い、複数の開口を通ってダイシングする。 （もっと読む）

【課題】外からの圧力を用いることなく、低温または室温でウエーハーを貼り合わせる。
【解決手段】貼り合わされたデバイス構造であって、デバイスまたは回路に接続された第１の組の金属ボンディングパッドおよび第１の基板１０上の金属ボンディングパッドに隣接する第１の非金属領域を有する第１の基板、デバイスまたは回路に接続された第１の組の金属ボンディングパッドに隣接する第２の組の金属ボンディングパッド、および第２の基板１３上の金属ボンディングパッドに隣接する第２の非金属領域を有する第２の基板、および第２の非金属領域に対して第１の非金属領域を接触ボンディングさせることにより形成される第１と第２の組の金属ボンディングパッドの間の接触ボンディングされた界面を含むボンディングされたデバイス構造。第１と第２の基板の少なくとも一方は弾性的に変形され得る。 （もっと読む）

【課題】絶縁層が積層された導電層に該絶縁層を貫通するカーボンナノチューブが接続される配線構造にて電気的特性を向上することのできる配線形成方法、及び該方法を用いる配線形成装置を提供する。
【解決手段】
下部配線層３２に積層された絶縁層３４を貫通するホール３５に、その内表面の全体が含まれるように触媒層３６，３７を形成した後、ホール３５の内部にシースＳｈが形成され、且つホール３５の内壁面３５ａに対するシースの厚さがホール３５の底壁面３５ｂに対するシースＳｈの厚さよりも小さくなるようにプラズマを生成する。そして、ホール３５の内壁面３５ａに形成された触媒層３６，３７をプラズマ中のスパッタ粒子Ｓｐによって除去した後、ホール３５の底壁面３５ｂに残された触媒層３６，３７を用いて該底壁面３５ｂからカーボンナノチューブ３８を形成する。 （もっと読む）

【課題】ナノ物体を外部電気システムに接続する素子、及びその素子を作る方法を提供する。
【解決手段】特に分子の特性評価に適用される本発明によると、以下を備える素子が作られる：ナノ物体（２）に接続される上部接触パッド（８）を備えた上部層（１６）；外部電気システム（４）に接続される下部接触パッド（１２）を備えた下部層（１８）；前記下部層上にあり、前記下部パッドと接触する電気的貫通ビア（２２）を備えた接着層（２０）；前記接着層と前記上部層の間にあり、前記上部パッドを前記下部パッドに接続するための導電ライン（２５）及び電気的ビア（２６）を備えた少なくとも２つの層（２２、２４）。 （もっと読む）

【課題】バンプを排除した積層構造を備える電子デバイス、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る電子デバイス１は、積層された複数枚の基板１１〜１３を含む。複数枚の基板は、それぞれ、板面を重ね合わせて積層され、１以上の貫通電極２を含んでいる。また、１以上の貫通電極２は、複数枚の基板１１〜１３のうち、２枚以上の基板１１〜１３にわたって延在する連続導体である。本発明に係る電子デバイス１は、このように、各基板の板面同士が重ね合わせられ、２枚以上の基板１１〜１３にわたって延在する連続導体である貫通電極２を備えている。したがって、本発明に係る電子デバイスは、複数枚の基板１１〜１３が、バンプを用いることなく、積層された構造を有している。 （もっと読む）

【課題】凝固点が低く低温溶融作業が可能でありながら、凝固後の融解点が高くなる温度階層（hierarchy）を有する電気伝導体用合金材料、この合金材料による電気伝導体を有する回路基板、この回路基板を用いた電子デバイス及びそれらの製造方法を提供すること。
【解決手段】微細空間を充填する合金材料であって、Ｂｉと、Ｓｎと、Ａｇとを含有し、融解点が２５７℃以上で、凝固点が２４０℃以下である。 （もっと読む）

【課題】導電性ビアおよびそれを形成する方法に関する。
【解決手段】導電性ビアが、導電性接触構造と該導電性接触構造上に配置された誘電体層の突出部との間に配置された部分を含む。１つの実施形態において、突出部は、導電性接触構造上にアンダーカット層を形成し、次に、該導電性接触構造およびアンダーカット層上に誘電体層を形成することによって形成される。誘電体層に空洞を形成し、誘電体層の突出部を形成するようにアンダーカット層の材料が該空洞を通して除去される。導電性ビアの導電性材料は次に、突出部の下および空洞に形成される。 （もっと読む）

【課題】クレバスの面積比が小さく、低抵抗を維持した薄膜の状態で、配線層を構成する銅又はアルミニウム等の拡散を防止できるルテニウムバリア膜とその作製方法及び該ルテニウム膜を有する半導体集積回路装置とその製造方法を提供する。
【解決する手段】ルテニウムバリア膜は、ルテニウムを主成分とする金属からなり、表面上に観測されるクレバス（溝、割れ目又は深く鋭いくぼみ）の占める面積比が、前記バリア膜表面の全面積に対して１５％以下であり、広角Ｘ線回折測定によって得られるＸ線回折プロファイルにおいて、ルテニウムの結晶配向面（００２）及び（１００）に起因するスペクトルのそれぞれのピーク強度比であるＲｕ（００２）／Ｒｕ（１００）が１０以上であり、また、スパッタリング法によって、温度を５００℃以上に加熱した状態の半導体基板の配線溝上に成膜されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】微細なトレンチまたはホール等の凹部にボイドを発生させずに確実にＣｕを埋め込むことができ、かつ低抵抗のＣｕ配線を形成すること。
【解決手段】ウエハＷに形成されたトレンチ２０３を有する層間絶縁膜２０２において、トレンチ２０３の表面にバリア膜２０４を形成する工程と、バリア膜２０４の上にＲｕ膜２０５を形成する工程と、Ｒｕ膜２０５の上に、加熱しつつ、ＰＶＤによりＣｕがマイグレーションするようにＣｕ膜２０６を形成してトレンチ２０３を埋める工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】銅又は銅合金からなる配線との密着性が高いバリアメタル層を備え、信頼性の高い半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置では、半導体基板１００の上方に配置された絶縁膜１０６と、絶縁膜１０６中の溝に配置され、銅又は銅合金からなる配線１１５とを備え、絶縁膜１０６と配線１１５との間に、白金族元素、又は白金族元素の合金からなるバリアメタル層を有しており、バリアメタル層は、非晶質構造を有する第１のバリアメタル層１０９と第１のバリアメタル層１０９の上に配置された多結晶構造を有する第２のバリアメタル層１１０からなる積層構造であり、第２のバリアメタル層１１０には銅が含まれており、第２のバリアメタル層１１０中の金属に占める銅の割合は５０ａｔ％以下である。 （もっと読む）

【課題】貫通電極の形成に時間を要さず、貫通電極内でのボイドの発生を抑制できる半導体装置、およびこの半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体装置１は、孔１１１が形成された絶縁性あるいは半導体の層１１と、層１１の孔１１１内に設けられた貫通電極１２と、を備える。貫通電極１２は、シード層１２１と、めっき層１２２と、を備える。シード層１２１は、孔１１１の底面１１１Ａを覆う。また、シード層１２１は、孔１１１の側面１１１Ｂのうち、孔１１１の開口から、孔１１１の開口と孔１１１の底面１１１Ａとの間の所定の位置までの第１の領域を未被覆とし、この第１の領域（未被覆領域）１１１Ｂ１を除いた第二の領域を被覆している。めっき層１２２は、シード層１２１と、未被覆領域１１１Ｂ１の少なくとも一部を覆う。 （もっと読む）

【課題】従来のルテニウムバリア材と同様に優れた銅拡散の抑制効果を有し、供給性の点で問題がなく、比較的低コストの金属又はその金属を含む金属間化合物からなる新規な半導体集積回路装置用バリア材の探索方法及び当該探索方法によって探索される半導体集積回路用バリア材を提供する。
【解決する手段】バリア膜若しくはバリア膜とシード膜からなる複合膜の上に銅配線層を有する半導体集積回路装置の前記バリア膜を構成するバリア材として、単位結晶格子の最近接原子間距離（Ｄ_Ｍ）がルテニウムの単位結晶格子の最近接原子間距離（Ｄ_Ｒｕ）に近い領域、具体的には、オングストローム（Å）単位で−０．２００Å＜（Ｄ_Ｍ―Ｄ_Ｒｕ）＜０．１２Åの関係にあって、かつ融点若しくは変態点が６５０ケルビン（Ｋ）以上である金属又は金属間化合物を選択することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ヒートシンクに生じる不具合を低減すること。
【解決手段】半導体装置は、第１面及び第２面を有し、第１面と第２面とを貫通するバイアホールを有する半導体基板と、第１面上に、バイアホールの開口と少なくとも部分的に重複するように形成された配線又は電極と、第２面上に形成され、バイアホールの開口と少なくとも部分的に重複する開口を有する応力緩衝層と、応力緩衝層上からバイアホールの内壁面に沿って延在し、配線又は電極と電気的に接続されたヒートシンクと、を備える。バイアホールの第２面における開口の大きさは、第１面における開口の大きさよりも大きい。応力緩衝層の熱膨張係数は、ヒートシンクの熱膨張係数未満である。 （もっと読む）

【課題】配線及び絶縁膜へダメージを与えることなく、絶縁膜上の導電性の不純物によるめっきの異常成長を抑制することができる表面被覆方法、並びに該方法を用いて製造される半導体装置、及び実装回路基板の提供。
【解決手段】水溶性樹脂、有機溶剤、及び水を含有する表面被覆材料を、表面に露出した絶縁膜及び表面に露出したパターニングされた金属配線を有する積層体の少なくとも前記絶縁膜の表面を覆うように塗布し、前記絶縁膜の表面に被膜を形成する表面被覆方法である。 （もっと読む）

【課題】封止される被対象物に段差部を備えているが、封止部を設けた際に該段差部に起因したボイドの発生が抑制され、ひいては優れた耐食性を備える半導体装置と、その製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置１は、導電性を有する剛体からなる基板２と、該基板の少なくとも一方の面に絶縁部３を介して配された導電部５と、該絶縁部及び該導電部を覆うように配された感光性樹脂からなるフィルム６と、を備えている。前記基板２は、一方の面に開口する凹部及び／又は貫通孔２ａを備え、該凹部及び／又は該貫通孔はその内部が略全域にわたって、前記フィルム６により充填されている形態をなす。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の金属配線を高信頼性化する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体装置は、第１の配線材、開口部、及び電極端子部が設けられる。第１の配線材は、半導体基板上の第１の層間絶縁膜上に設けられ、配線層として用いられる。開口部は、第１の配線材上に設けられた第２の層間絶縁膜をエッチングして形成される。電極端子部は、開口部及び開口部周囲の第２の層間絶縁膜上に設けられ、第１の配線材に接するバリアメタル膜、シードメタル膜、及び第２の配線材が開口部を覆うように積層形成され、第２の配線材の上部及び側面に被覆メタル膜が形成される。 （もっと読む）

【課題】容量素子の容量の増大が実現される半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板（半導体基板１）と、半導体基板１上に形成されており、配線および絶縁層により構成された配線層が複数積層された多層配線層と、平面視において、半導体基板１内の記憶回路領域に形成されており、多層配線層内に設けられた凹部４０内に埋め込まれた少なくとも１以上の容量素子１９および周辺回路を有する記憶回路２００と、平面視において、半導体基板１内の記憶回路領域とは異なる領域である論理回路領域に形成された論理回路１００と、当該凹部４０内において、下部電極１４、容量絶縁膜１５、及び上部電極１６から構成される前記容量素子１９上に積層している上部接続配線１８と、容量素子１９が埋め込まれている配線層のうち最上層に設けられた論理回路１００を構成する配線８ｂの上面に接するように設けられたキャップ層６ｃと、を備え、上部接続配線１８の上面３０とキャップ膜６ｃの上面３４とが、同一面を構成している。 （もっと読む）

【課題】改良された付着プロセスを提供すること。
【解決手段】ビームを使用して、自発的反応の開始をサポートする条件を提供するように準備された表面の領域における前駆体ガスの自発的付着によって、材料を、所望のパターンに付着させる。いったん反応が開始されると、ビームが存在しなくなっても、反応が開始された表面の領域において反応は継続する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の小型化、特に、狭ピッチ化に対する技術を提供する。
【解決手段】半導体チップ１Ｃ上に設けられたパッド２と、プローブ領域１０Ａおよび接続領域１０Ｂのパッド２上に開口部１１を有し、半導体チップ１Ｃ上に設けられたパッシベーション膜３と、接続領域１０Ｂのパッド２上に開口部１２を有し、パッド２上およびパッシベーション膜３上に設けられたパッシベーション膜５と、パッド２と電気的に接続され、接続領域１０Ｂ上およびパッシベーション膜５上に設けられた再配線７とを備える。接続領域１０Ｂより半導体チップ１Ｃの外周部側に設けられたプローブ領域１０Ａのパッド２にプローブ痕１００が存在し、接続領域１０Ｂから半導体チップ１Ｃの中央部側に延びて再配線７が存在している。 （もっと読む）