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Fターム[5F033WW04]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 数値の特定 (5,273) | 濃度 (735)

Fターム[5F033WW04]に分類される特許

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【課題】基板を薄板化しても基板の反りを抑制でき、耐熱性、機械特性に優れた絶縁膜で保護された半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板1の一方の面に第1表面電極2を形成し、第1表面電極2が形成された基板の表面に、芳香族テトラカルボン酸及び芳香族テトラカルボン酸二無水物から選ばれる1種以上のアシル化合物を、前記芳香族ジアミンよりも1モル%以上多く反応して得られるポリアミド酸を含むポリイミド前駆体組成物を塗布し、イミド化して絶縁膜3を形成し、第1表面電極2及び絶縁膜3が少なくとも形成された基板1を、第1表面電極側からダイシングして素子ユニットを分離して半導体素子を製造する。 (もっと読む)



【課題】本発明は半導体素子デバイスなどにおける層間絶縁膜として使用するのに適し、誘電率などの特性に優れた膜を効率よく製造することができる絶縁膜形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】2つ以上の不飽和基を置換基として有するカゴ型シルセスキオキサン化合物を重合させて得られる高分子化合物と、空孔形成剤とを含有する膜を基板上に形成する膜形成工程と、該膜に電子線を照射する電子線照射工程と、電子線照射工程後に膜を加熱して、絶縁膜を形成する加熱工程とを備える、絶縁膜形成方法。 (もっと読む)


【解決手段】ウエハ上の低誘電率材料及び相互接続材料に損傷を与えることなく、ウエハ上のダマシン処理によるサイドウォールポリマーを除去するための水性洗浄溶液及び洗浄溶液を用いる方法を記載する。 (もっと読む)


【課題】経済性を備え、地球環境に対する影響が小さく、かつ必要とされる性能を有するドライエッチング剤を提供する。
【解決手段】(A)3,3,3−トリフルオロプロピンと、(B)O、O、CO、CO、COCl、及びCOFからなる群より選ばれる少なくとも1種のガスを含むドライエッチング剤を用いることにより、酸化物、窒化物、炭化物、フッ化物、オキシフッ化物、シリサイド及びこれらの合金等を好適にエッチングできる。ドライエッチング剤は、大気中での分解性があり、地球温暖化への寄与もCFやCFH等のPFC類やHFC類より格段に低く、環境への負荷が低い。さらに、第二のガスとして、含酸素ガス、含ハロゲンガス、あるいは第三のガスとして不活性ガスと混合することで、飛躍的にプロセスウインドウを広げることができ、特殊な基板の励起操作等なしに高アスペクト比が要求される加工にも対応できる。 (もっと読む)


本発明の実施形態は、超小型電子構造の形成に関する。32nmの次のテクノロジーノード向けの低誘電率誘電体材料は、約2.6未満の誘電率を呈する必要がある。本発明により、全体として超小型電子構造の曲げおよび剪断強度の完全性を向上させながら、そのような低誘電率誘電体材料を使用する半導体デバイスを形成することが可能になる。
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【課題】 少ない無機フィラーの含有量であっても、より熱伝導性が高い充填層を形成することができる層間充填材組成物を提供すること。
【解決手段】 三次元集積回路用の層間充填材組成物が、微粒子状樹脂フィラー、熱伝導度が1W/m・K以上の無機フィラー、及びマトリックス樹脂を含有し、かつ該層間充填材組成物100体積%あたり、微粒子状樹脂フィラーを1体積%以上50体積%以下、無機フィラーを1体積%以上80体積%以下含有する。 (もっと読む)


【課題】ILD材料に対する腐食抑制機能に優れ、かつ、レジスト膜及び下層反射防止膜の除去性能にも優れたリソグラフィー用洗浄液、及びこのリソグラフィー用洗浄液を用いた配線形成方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るリソグラフィー用洗浄液は、4級アンモニウム水酸化物と、水溶性有機溶剤と、水と、無機塩基とを含有する。水溶性有機溶剤は、双極子モーメントが3.0D以上である高極性溶剤と、グリコールエーテル系溶剤と、多価アルコールとを含み、上記高極性溶剤とグリコールエーテル系溶剤との合計含有量が、全量に対して30質量%以上である。 (もっと読む)


【課題】焼結工程および浸漬処理が不要であり、優れた導電性が得られる銀超微粒子含有組成物および導電性パターン作製方法を提供する。
【解決手段】水性媒体中に、平均粒径が0.1μm以下の銀超微粒子、ポリマーラテックス、および水溶性ハロゲン化物を含有することを特徴とする銀超微粒子含有組成物。およびこの銀超微粒子含有組成物を基材表面に塗布・乾燥させることによりパターンを作製し、該パターンに紫外線の照射および/または水分の再付与を行う導電性パターン作製方法。 (もっと読む)


【課題】 タングステンを材料とする半導体集積回路、フラットパネルディスプレイの製造において有用なタングステンのエッチング液を提供する。
【解決手段】 硝酸、フッ化物、鉄塩及び水を含有するタングステンのエッチング液を用いて、タングステンをエッチングする。 (もっと読む)


【課題】配線幅の拡大の阻止を図ることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に層間絶縁膜を形成する工程と、前記層間絶縁膜に配線溝を形成する工程と、前記配線溝に配線を形成する工程とを具備し、前記配線溝を形成する際に、前記配線溝内に酸素ラジカルを吸収する酸素ラジカル吸収物質を形成する(ステップS104)。 (もっと読む)


【課題】配線間のリーク電流が発生することを抑制し、配線間容量の増大を抑制する。
【解決手段】半導体装置100の製造方法は、絶縁膜2にダマシン配線を形成する工程(A)を含む半導体装置100の製造方法であって、基板1上に形成された絶縁膜2の表面にプラズマ処理を行い、絶縁膜2中の水分を脱離する工程(B)と、シリル化ガスを含む雰囲気中でアニール処理を行い、絶縁膜2をシリル化する工程(C)と、を含む。 (もっと読む)


【課題】単電子トンネリングを利用して、低温から室温まで動作可能な良伝導性非晶質合金、弱電用良伝導性非晶質合金および強電用良伝導性非晶質合金を提供する。
【解決手段】伝導島を有する孤立した複数の金属クラスターが、サブナノスケールの絶縁層を介して連続して連なった集積ナノ構造を有している。電子が、伝導島を介して、極低温から500℃の範囲で各金属クラスター間をトンネリングするよう構成されており、直流・交流のバリスティック伝導を示す。また、各金属クラスター間にサブナノスケールの原子空孔が均一に分布している。水素原子が各金属クラスター間に侵入固溶した、Ni-Nb-Zr系非晶質合金またはTi-Ni-Cu系非晶質合金から成っていてもよい。 (もっと読む)


【課題】配線が形成される多孔質絶縁膜がプラズマダメージ等を受けるのを防ぐことにより、高歩留り且つ高信頼性な半導体装置を得られるようにする。
【解決手段】半導体基板の上に、化学気相成長法により、炭素濃度、空孔形成剤濃度及び酸素濃度がそれぞれ異なる複数の領域を有する空孔形成剤含有膜を形成する工程を備えている。この工程は、前駆体、空孔形成剤及び酸化剤を第1の流量で流す第1の期間と、第1の期間の後に、前駆体の流量に対する空孔形成剤の流量を減少させる第2の期間と、第2の期間の後に、前駆体の流量に対する空孔形成剤の流量の減少を停止し、前駆体、空孔形成剤及び酸化剤を第2の流量で流す第3の期間と、第3の期間の後に、前駆体の流量に対する酸化剤の流量を増大させる第4の期間と、第4の期間の後に、前駆体、空孔形成剤及び酸化剤を第3の流量で流す第5の期間とを含む。 (もっと読む)


【課題】薄く、剥がれ難く、異方性が小さい液晶ポリエステル被膜が半導体基板上に形成されてなる液晶ポリエステル被覆半導体基板を製造する。
【解決手段】半導体基板上に、液晶ポリエステルと溶媒とを含み、前記液晶ポリエステルが前記溶媒に溶解している液状組成物の塗膜を形成し、前記塗膜から前記溶媒を除去する。前記塗膜の形成は、前記半導体基板上に前記液状組成物を載せ、前記半導体基板を回転させることにより行うことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】低誘電率で、安定した絶縁性を示し、かつ、強度に優れ、膜厚や特性の不本意なばらつきが抑制された絶縁膜の形成に好適に用いることができる膜形成用組成物を提供すること。
【解決手段】本発明の膜形成用組成物は、分子内に、アダマンタン型のかご型構造を含む部分構造a1と、重合性の官能基とを有する重合性化合物および/または当該重合性化合物が部分的に重合した重合体を含むものであり、分子内に複数個の重合性反応基を備え、当該重合性反応基として少なくとも1個の重合性二重結合を備えた多価反応性オレフィン体を前記重合性化合物として含むとともに、前記多価反応性オレフィン体が有する前記重合性反応基の少なくとも一部が水素原子で置換された水素化体を含み、前記重合性化合物が重合していない状態とした場合における、前記多価反応性オレフィン体と前記水素化体の総モル数に対する、前記水素化体のモル分率が0.01〜10モル%である。 (もっと読む)


【課題】従来例に比べて結合容量が低下し、さらに機械的または電気的特性を向上させた導体トラック間のエアギャップの製造方法を提供する。
【解決手段】基材1、2と、少なくとも2つの導体トラック4と、空洞6と、導体トラック4を覆い、空洞6を塞ぐレジスト層5とを含む、導体トラック配列とする。導体トラック4の幅B1よりも小さい幅B2のキャリアトラックTBを形成することにより、結合容量と信号遅延を低減するためのエアギャップが、導体トラック4の下にその側面に沿ってセルフアライン技術により形成される。 (もっと読む)


【課題】バリアメタル層を省略して透明画素電極と直接接続させた場合に、更に低コンタクト抵抗を確保することができる表示装置用Al合金膜を提供する。
【解決手段】本発明のAl合金膜は、表示装置の基板上で、透明導電膜と直接接続されるAl合金膜であって、Ni:0.2〜1.0原子%、Cu:0.2〜0.8原子%およびTiを0.05〜0.5原子%含有するものであるところに特徴を有する。 (もっと読む)


【課題】銅配線を有する半導体装置において、銅配線の配線抵抗やコンタクトと抵抗を増加することなく信頼性を向上しうる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜に形成された開口部内に、銅に対して拡散防止作用を有する第1金属材料を含む第1の膜と、酸素を含有する銅膜を含む第2の膜と、銅と、酸素と結合することにより銅に対して拡散防止作用を有する第2金属材料とを含む第3の膜と、銅を主材料とする第4の膜とを含む配線層を形成した後、熱処理により、絶縁膜と第4の膜との間に、第1金属材料、第2金属材料及び酸素を含むバリア層を形成する。 (もっと読む)


【課題】ダマシン配線形成時に、シード膜を配線用溝の側壁に確実に形成する。
【解決手段】下地絶縁膜1の上にプラズマシリコン窒化膜2、プラズマTEOS酸化膜3を形成する。プラズマTEOS酸化膜3は、高周波電源および低周波電源を用いる2周波励起プラズマCVD装置により、膜密度が上部に行くほど小さくなるように形成される。配線用溝をRIE法により形成した後、ウェットエッチングで膜密度が小さい部分を速くエッチングすることでテーパ形状の配線用溝3aを形成する。スパッタでバリアメタル膜4を形成する際に配線用溝3aの側壁にも確実に形成でき、銅膜5のメッキをボイドなしに形成できる。 (もっと読む)


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