説明

Fターム[5F043AA02]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 被エッチング体 (2,299) | 半導体基板 (704) | Si (473)

Fターム[5F043AA02]に分類される特許

81 - 100 / 473


【課題】被処理膜(特に、被処理膜における除去すべき部分)を、残存させることなく除去する。
【解決手段】ウェットエッチングにより、基板の上に形成された被処理膜における第1の部分を除去し、被処理膜における第2の部分を除去せずに残存させる。次に、ウェットエッチングにより、被処理膜における第2の部分を除去する。被処理膜における第2の部分の面積は、60mm2以上である。 (もっと読む)


【目的】シリコンウェハに形成する溝の深さを高精度に制御できる半導体装置の製造方法およびその製造装置を提供する。
【解決手段】シリコンウェハ21に形成する溝の深さをモニタウェハ22の貫通時間と追加エッチング時間により制御する。まず、所望の深さの溝をシリコンウェハ21に形成する時間より短い時間で貫通するモニタウェハ22を準備し、このモニタウェハ22をシリコンウェハ21と同時にエッチングする。続いて、モニタウェハ22が貫通する時間(貫通時間)からエッチングレートを算出する。続いて、このエッチングレートから追加エッチング時間を割り出す。さらに、この追加エッチング時間でシリコンウェハ21をエッチングすることで、実験によるエッチングレートに関する事前データに頼ることなく、リアルエッチングでシリコンウェハ21に所望の深さの溝を正確に形成することができる。 (もっと読む)


【課題】光起電力素子などの入射光を低減させるのに適したテクスチャ構造を形成するための、改善された製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基体をケイ素エッチングアルカリもしくは酸溶液で清浄化し、清浄化された半導体基体の表面を、1種以上の酸化剤を含み、7を超えるpHを有する酸化性組成物で酸化し、酸化された半導体基体をテクスチャ化組成物でテクスチャ化する。 (もっと読む)


【課題】デバイスプロセス中にかかる応力によって割れることがないシリコンウェーハの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明によるシリコンウェーハの製造方法は、シリコン単結晶インゴットから切り出されたウェーハをラッピングする工程と、ラッピングされたウェーハの裏面に深さ10μm以上のレーザマークを印字する工程と、レーザマークが印字された前記ウェーハをエッチングする工程を有している。エッチング工程では、レーザマークの深さx(μm)がx≦60のときy≧4を満たし、x>60のときy≧0.001x−0.1186x+8.0643を満たすようにそのエッチング量y(μm)が制御される。 (もっと読む)


【課題】薬液の溶存酸素を低減して基板の処理効率を向上させるとともに信頼性を向上させることができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明による基板処理装置1は、基板Wを処理する処理部10と、薬液を貯留する薬液貯留容器20と、薬液貯留容器20から処理部10に薬液を供給する薬液供給駆動部23と、薬液貯留容器20に貯留され薬液を循環する循環ライン30と、循環ライン30に設けられた混合体生成部31とを備えている。混合体生成部31には、不活性ガス供給源40により不活性ガスが供給されるようになっている。混合体生成部31は、薬液貯留容器20から供給される薬液と、不活性ガス供給源40から供給される不活性ガスとを混合して気液混合体を生成するようになっている。 (もっと読む)


【課題】ポリシリコンゲート電極の意図しないフルシリサイド化を防止する。
【解決手段】基板17上に、ゲート絶縁膜12およびシリコン層10をこの順に積層した積層体(10、12)を形成する工程と、積層体(10、12)の側壁沿いにSiN膜を有するオフセットスペーサ13を形成する工程と、その後、シリコン層10の上面を、薬液を用いて洗浄する工程と、その後、少なくともシリコン層10の上面を覆う金属膜19を形成する工程と、その後、加熱する工程と、を有し、オフセットスペーサ13が有するSiN膜は、ALD法を用いて450℃以上で成膜されたSiN膜、または、1Gpa以上の引張/圧縮応力を有するSiN膜であり、前記薬液は、重量比率で、HF/HO=1/100以上であるDHF、または、バッファードフッ酸である半導体装置の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板の結晶異方性エッチング時間の短縮出来るエチング組成物、及びエチング方法を提供する。
【解決手段】シリコンの酸化膜4をエッチングマスクとして、シリコン基板1を結晶異方性エッチングするにあたり,アルカリ性有機化合物と、水酸化セシウムと、水と、を含有するエッチング液体組成物を用いる。このとき、アルカリ性有機化合物が水酸化テトラメチルアンモニウムであり、水酸化テトラメチルアンモニウムを5重量%以上25重量%以下、水酸化セシウムを1重量%以上40重量%以下、の割合で含有するエッチング液体組成物を用いる。 (もっと読む)


【課題】基板の所定の位置に安価な方法で且つ高い位置精度でエッチングを施す。
【解決手段】テンプレート62の表面62aには、ウェハWの所定のパターンに対応する位置に開口部65が複数形成されている。テンプレート62は、開口部65に連通するエッチング液の流通路66を備えている。このテンプレート62とウェハWを密着させた後、この状態のまま、エッチング液供給口72から流通路66を介して開口部65からウェハWに対してエッチング液を供給することで、ウェハWに貫通孔を形成する。 (もっと読む)


【課題】テクスチャの密度や大きさを制御してより光反射率の低い半導体ウェハや半導体薄膜を得ることができる太陽光発電装置の製造方法を得ること。
【解決手段】有機物とハロゲン酸塩とを含むエッチング液を用いて、第1導電型の半導体ウェハの第1の主面をエッチングしてテクスチャを形成する工程と、テクスチャを形成した半導体ウェハの表面に第2導電型の拡散層を形成する工程と、半導体ウェハの端面に形成された拡散層を除去する工程と、半導体ウェハの第1の主面上に反射防止膜を形成する工程と、半導体ウェハの第1の主面および第1の主面に対向する第2の主面上に、所定の形状の電極を印刷し、焼成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】特殊な酸化剤を用いることなく微細突起の発生を抑制できる異方性ウェットエッチング方法およびMEMSデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】MEMSデバイスを構成する赤外線センサAは、シリコン基板1aを用いて形成されており、シリコン基板1aの一表面側において熱型赤外線検出部3の一部の直下に空洞部11が形成されている。MEMSデバイスの製造方法において、シリコン基板1の一部を異方性エッチングして空洞部11を形成する異方性エッチング工程では、アルカリ系溶液としてSiを溶解させたTMAH水溶液を用いるようにし、シリコン基板1aを所定深さdpまで異方性エッチングする途中で、シリコン基板1aを乾燥させることなく少なくとも1回の洗浄工程を行う。 (もっと読む)


【課題】シリコンウエハエッチング排水に酸を添加して析出したシリカ(SiO)を固液分離する方法において、凝集剤の必要添加量の低減、発生汚泥の減溶化、汚泥含水率の低減と脱水性の向上、処理水質の安定化を図る。
【解決手段】酸を、固液分離汚泥の一部と混合してシリコンウエハエッチング排水に添加する。汚泥に酸を添加混合して汚泥表面を酸で改質することにより、シリカ(SiO)が汚泥表面で析出するようになり、この結果、汚泥に取り込まれる水の量を最小限に抑えることができる。このため、含水率が低く、また、脱水性に優れた汚泥が得られ、凝集剤の必要添加量が低減されることにより汚泥発生量も低減され、汚泥の固液分離性が向上することにより、処理水質も安定する。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板、特に固定砥粒ワイヤーソーによりスライスしたシリコン基板を、加工変質層を除去しながら、ステイン層の形成を抑制し、その表面に好適なテクスチャー構造を形成する方法及び処理液を提供する。
【解決手段】表面の反射率を低減させるための表面テクスチャー構造を有するシリコン基板の製造方法であって、少なくともフッ酸、硝酸、及び酸化剤を含み、該フッ酸と硝酸の混合比率が、50%フッ酸及び69%硝酸として0.7:1から3:1の容積比である処理液に、シリコン基板を浸漬する工程を含む。 (もっと読む)


本明細書において、固体照明デバイスおよび関連する製造方法を開示する。一実施形態において、固体照明デバイスは、N型窒化ガリウム(GaN)材料、N型GaN材料から離間したP型GaN材料、ならびに直接N型GaN材料およびP型GaN材料の直接間にある窒化インジウムガリウム(InGaN)材料を備える発光ダイオードを含む。N型GaN材料、InGaN材料、およびP型GaN材料のうちの少なくとも1つは、非平面を有する。 (もっと読む)


【課題】フォトリソグラフィを用いたエッチング方法は、スパッタリングまたは蒸着などの方法により、クロム(Cr)および金(Au)などからなる膜を成膜し、レジストの塗布、硬化処理、露光、さらに現像およびレジスト膜の除去などの工程を必要とし、そして現像液や膜を除去するための溶液などを必要とし工程が複雑である。簡略なエッチング方法を実現する。
【解決手段】転写体10は、基材1と、基材1上にパターン形成された剥離層2と、剥離層2上に形成された接合膜3とを備える。このような転写体10を用いることで、フォトリソグラフィを用いることなく、被転写体20の表面25に、レジストからなるエッチングマスクを形成するので、従来のようにクロム(Cr)および金(Au)などからなる膜を成膜することなく、現像液などを用いることもなく、エッチングすることができ、被転写体20の表面25に、凹部21を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体基体のテクスチャ化方法において、改良されたテクスチャ化均一性、再現性、成分の蒸発の低減および改良された反射率性能を伴うテクスチャ化溶液を提供する。
【解決手段】170以上の分子量を有し、75度以上の引火点を有する不揮発性アルコキシ化グリコール、そのエーテルおよびエーテルアセタート誘導体を含む水溶液で半導体がテクスチャ化される。このテクスチャ化された半導体は、光起電力素子の製造に使用されうる。 (もっと読む)


【課題】基板表面の周縁部の処理幅を正確に制御することができる基板周縁処理装置および基板周縁処理方法を提供する。
【解決手段】この装置は、ウエハWを保持して回転するスピンチャック1と、スピンチャック1の上方に配置された遮断板10とを備えている。遮断板10は、ウエハWの上面の周縁部に対向する位置に、環状部材32を有している。環状部材32は、ウエハWの上面の周縁部に対向するウエハ対向面45を有する。中心軸ノズル5から、ウエハWの下面中央に向けてエッチング液が供給されると、このエッチング液は、ウエハWの周端面を回り込んで、その上面に至り、ウエハ対向面45に接触する液膜を形成する。この液膜は、環状部材32の内周縁付近から内方へ入りこむことができない。 (もっと読む)


【課題】簡単な装置構成で、ウェーハの表面全体において良好な平坦度が得られるようにした、枚葉式エッチング装置及び方法を提供する。
【解決手段】回転しているウェーハ2の表面にノズル21からエッチング液を供給してウェーハ2の表面を1枚ずつエッチングする枚葉式エッチング装置において、ノズル21をウェーハ2の回転中心Oを通る揺動軌跡Lでウェーハ2の表面に沿って揺動させるノズル揺動装置24を備えるとともに、ノズル21が揺動方向に対して直交する方向に延びたスリット形状の吐出口21aを有するように構成する。 (もっと読む)


電子素子の金属電極と真性半導体層との間に配置されたドーピングされた半導体層を、該真性半導体層に対して選択的にエッチングするエッチング液であり、遷移金属及び/または遷移金属塩;及びフッ酸及び/またはフッ素を含む無機塩;を含むエッチング液が提示される。
(もっと読む)


単結晶シリコン基板を加工する方法において、シリコン基板は水平方向の搬送経路に沿って平坦にして搬送され、表面を微細加工するエッチング溶液はノズルなどの手段によって上から供給される。エッチング溶液は、シリコン基板の上面に連続的に数回にわたって上から供給され、基板の上面に残り、シリコン基板と反応する。
(もっと読む)


【課題】より安価に超微細な加工が可能な微細加工方法を提供する。
【解決手段】
基板の微細加工方法は、薄膜形成過程と、V字溝形成過程と、薄膜エッチング過程と、基板エッチング過程と、薄膜除去過程と、からなる。薄膜形成過程は、基板1よりも軟性を有し、基板1に対して選択エッチングが可能であり、且つ可塑性を有する薄膜2を基板1上に形成する。V字溝形成過程は、薄膜2よりも硬性を有する少なくとも断面がV字形状のV字工具4を薄膜に押圧させ、基板1まで達さない少なくとも断面がV字形状のV字溝3を薄膜2に形成する。薄膜エッチング過程は、V字溝3の先端が開孔して基板1が露出するように薄膜2をエッチングする。基板エッチング過程は、薄膜2をマスクとして基板1をエッチングする。薄膜除去過程は、基板1上から薄膜2を除去する。 (もっと読む)


81 - 100 / 473