リソグラフィ装置及びデバイス製造方法
【課題】改善されたリソグラフィ装置及び方法を提供する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、基板の目標部分にパターンを生成するよう構成されている光学コラムであって、ビームを与えるよう構成されている制御可能素子906と、目標部分にビームを投影するよう構成されている投影系と、を備える光学コラムと、基板に対して光学コラムの少なくとも一部924、930を移動させるよう構成されているアクチュエータ936と、光学コラムの少なくとも一部の位置を測定するよう構成されている測定システム938、940と、制御可能素子を駆動するよう構成されているコントローラ942と、を備え、コントローラに測定システムの出力信号が与えられる。
【解決手段】リソグラフィ装置は、基板の目標部分にパターンを生成するよう構成されている光学コラムであって、ビームを与えるよう構成されている制御可能素子906と、目標部分にビームを投影するよう構成されている投影系と、を備える光学コラムと、基板に対して光学コラムの少なくとも一部924、930を移動させるよう構成されているアクチュエータ936と、光学コラムの少なくとも一部の位置を測定するよう構成されている測定システム938、940と、制御可能素子を駆動するよう構成されているコントローラ942と、を備え、コントローラに測定システムの出力信号が与えられる。
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【特許請求の範囲】
【請求項1】
基板の目標部分にパターンを生成するための光学コラムであって、
ビームを与える制御可能素子と、
前記目標部分に前記ビームを投影する投影系と、を備える光学コラムと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させるアクチュエータと、
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定する測定システムと、
前記制御可能素子を駆動するコントローラと、を備え、前記コントローラに前記測定システムの出力信号が与えられる、リソグラフィ装置。
【請求項2】
前記測定システムは、
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を表す位置センサ信号を提供する位置センサと、
位置参照信号を提供するための参照データテーブルと、
前記位置センサ信号を用いて前記出力信号を導出する位相ロックループ構造と、を備え、前記参照データテーブルは前記位相ロックループ構造に組み込まれている、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
【請求項3】
前記位相ロックループ構造は、比較器を備え、該比較器の第1入力には前記位置センサ信号が与えられ、該比較器の第2入力には前記参照データテーブルにより提供された前記位置参照信号が与えられる、請求項2に記載のリソグラフィ装置。
【請求項4】
前記位相ロックループ構造は、フィルタ処理された前記比較器の出力信号が入力される電圧制御発振器を備え、該電圧制御発振器の発振器出力信号が前記出力信号として前記コントローラに与えられる、請求項3に記載のリソグラフィ装置。
【請求項5】
前記発振器出力信号はクロック信号として、前記参照データテーブル、または前記位置センサのサンプリング回路、またはそれら両方に与えられる、請求項4に記載のリソグラフィ装置。
【請求項6】
前記発振器出力信号のクロック周波数は、センサ信号周波数の少なくとも10倍、望ましくは少なくとも50倍である、請求項4または5に記載のリソグラフィ装置。
【請求項7】
前記制御可能素子は、自己放射コントラストデバイスである、請求項1から6のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
【請求項8】
光学コラムを用いて基板の目標部分にパターンを生成することであって、
制御可能素子を使用してビームを与えることと、
投影系を用いて前記目標部分に前記ビームを投影することと、を備える、前記生成することと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させることと、
測定システムにより前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することと、
前記測定システムの出力信号に応じて前記制御可能素子を駆動することと、を備える、デバイス製造方法。
【請求項9】
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することは、
位置センサにより、前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を表す位置センサ信号を提供することと、
参照データテーブルにより位置参照信号を提供することと、
位相ロックループ構造により前記位置センサ信号から前記出力信号を導出することと、を備え、前記参照データテーブルは前記位相ロックループ構造に組み込まれている、請求項8に記載の方法。
【請求項10】
前記位相ロックループ構造は、比較器を備え、本方法は、前記比較器によって前記位置センサ信号を、前記参照データテーブルにより提供された前記位置参照信号と比較することを備える、請求項9に記載の方法。
【請求項11】
前記位相ロックループ構造は、電圧制御発振器を備え、本方法は、フィルタ処理された前記比較器の出力信号を前記電圧制御発振器に入力することと、前記電圧制御発振器の発振器出力信号に同期させて前記制御可能素子を駆動することと、を備える、請求項10に記載の方法。
【請求項12】
前記発振器出力信号はクロック信号として、前記参照データテーブル、または前記位置センサのサンプリング回路、またはそれら両方に与えられる、請求項11に記載の方法。
【請求項13】
前記発振器出力信号のクロック周波数は、センサ信号周波数の少なくとも10倍、望ましくは少なくとも50倍である、請求項11または12に記載の方法。
【請求項14】
前記参照データテーブルへの入力は、
移動される前記光学コラムの前記少なくとも一部の複数回の回転にわたって前記位置センサ信号を記録することと、
記録された位置センサ信号から周期性を決定することと、
前記周期性に適合するリサンプリングレートで前記記録された位置センサ信号をリサンプリングすることと、
リサンプリングされた位置センサ信号を前記参照データテーブルに保存することと、によって決定される、請求項9から13のいずれかに記載の方法。
【請求項15】
前記リサンプリングは、複数の周期期間にわたる前記記録されたセンサ信号に実行される、請求項14に記載の方法。
【請求項16】
前記制御可能素子は、自己放射コントラストデバイスである、請求項8から15のいずれかに記載の方法。
【請求項17】
機械で実行可能な命令を有するコンピュータ製品であって、該命令は、
光学コラムを用いて基板の目標部分にパターンを生成することであって、
制御可能素子を使用してビームを与えることと、
投影系を用いて前記目標部分に前記ビームを投影することと、を備える、前記生成することと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させることと、
測定システムにより前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することと、
前記測定システムの位置信号に応じて前記制御可能素子を駆動することと、を備える方法を機械により行わせることを実行可能である、コンピュータ製品。
【請求項1】
基板の目標部分にパターンを生成するための光学コラムであって、
ビームを与える制御可能素子と、
前記目標部分に前記ビームを投影する投影系と、を備える光学コラムと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させるアクチュエータと、
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定する測定システムと、
前記制御可能素子を駆動するコントローラと、を備え、前記コントローラに前記測定システムの出力信号が与えられる、リソグラフィ装置。
【請求項2】
前記測定システムは、
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を表す位置センサ信号を提供する位置センサと、
位置参照信号を提供するための参照データテーブルと、
前記位置センサ信号を用いて前記出力信号を導出する位相ロックループ構造と、を備え、前記参照データテーブルは前記位相ロックループ構造に組み込まれている、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
【請求項3】
前記位相ロックループ構造は、比較器を備え、該比較器の第1入力には前記位置センサ信号が与えられ、該比較器の第2入力には前記参照データテーブルにより提供された前記位置参照信号が与えられる、請求項2に記載のリソグラフィ装置。
【請求項4】
前記位相ロックループ構造は、フィルタ処理された前記比較器の出力信号が入力される電圧制御発振器を備え、該電圧制御発振器の発振器出力信号が前記出力信号として前記コントローラに与えられる、請求項3に記載のリソグラフィ装置。
【請求項5】
前記発振器出力信号はクロック信号として、前記参照データテーブル、または前記位置センサのサンプリング回路、またはそれら両方に与えられる、請求項4に記載のリソグラフィ装置。
【請求項6】
前記発振器出力信号のクロック周波数は、センサ信号周波数の少なくとも10倍、望ましくは少なくとも50倍である、請求項4または5に記載のリソグラフィ装置。
【請求項7】
前記制御可能素子は、自己放射コントラストデバイスである、請求項1から6のいずれかに記載のリソグラフィ装置。
【請求項8】
光学コラムを用いて基板の目標部分にパターンを生成することであって、
制御可能素子を使用してビームを与えることと、
投影系を用いて前記目標部分に前記ビームを投影することと、を備える、前記生成することと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させることと、
測定システムにより前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することと、
前記測定システムの出力信号に応じて前記制御可能素子を駆動することと、を備える、デバイス製造方法。
【請求項9】
前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することは、
位置センサにより、前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を表す位置センサ信号を提供することと、
参照データテーブルにより位置参照信号を提供することと、
位相ロックループ構造により前記位置センサ信号から前記出力信号を導出することと、を備え、前記参照データテーブルは前記位相ロックループ構造に組み込まれている、請求項8に記載の方法。
【請求項10】
前記位相ロックループ構造は、比較器を備え、本方法は、前記比較器によって前記位置センサ信号を、前記参照データテーブルにより提供された前記位置参照信号と比較することを備える、請求項9に記載の方法。
【請求項11】
前記位相ロックループ構造は、電圧制御発振器を備え、本方法は、フィルタ処理された前記比較器の出力信号を前記電圧制御発振器に入力することと、前記電圧制御発振器の発振器出力信号に同期させて前記制御可能素子を駆動することと、を備える、請求項10に記載の方法。
【請求項12】
前記発振器出力信号はクロック信号として、前記参照データテーブル、または前記位置センサのサンプリング回路、またはそれら両方に与えられる、請求項11に記載の方法。
【請求項13】
前記発振器出力信号のクロック周波数は、センサ信号周波数の少なくとも10倍、望ましくは少なくとも50倍である、請求項11または12に記載の方法。
【請求項14】
前記参照データテーブルへの入力は、
移動される前記光学コラムの前記少なくとも一部の複数回の回転にわたって前記位置センサ信号を記録することと、
記録された位置センサ信号から周期性を決定することと、
前記周期性に適合するリサンプリングレートで前記記録された位置センサ信号をリサンプリングすることと、
リサンプリングされた位置センサ信号を前記参照データテーブルに保存することと、によって決定される、請求項9から13のいずれかに記載の方法。
【請求項15】
前記リサンプリングは、複数の周期期間にわたる前記記録されたセンサ信号に実行される、請求項14に記載の方法。
【請求項16】
前記制御可能素子は、自己放射コントラストデバイスである、請求項8から15のいずれかに記載の方法。
【請求項17】
機械で実行可能な命令を有するコンピュータ製品であって、該命令は、
光学コラムを用いて基板の目標部分にパターンを生成することであって、
制御可能素子を使用してビームを与えることと、
投影系を用いて前記目標部分に前記ビームを投影することと、を備える、前記生成することと、
前記基板に対して前記光学コラムの少なくとも一部を移動させることと、
測定システムにより前記光学コラムの前記少なくとも一部の位置を測定することと、
前記測定システムの位置信号に応じて前記制御可能素子を駆動することと、を備える方法を機械により行わせることを実行可能である、コンピュータ製品。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6(A)】
【図6(B)】
【図6(C)】
【図6(D)】
【図7A】
【図7B】
【図7C】
【図7D】
【図7E】
【図7F】
【図7G】
【図7H】
【図7I】
【図7J】
【図7K】
【図7L】
【図7M】
【図7N】
【図7O】
【図7P】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14(A)】
【図14(B)】
【図15】
【図16(A)−16(B)】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6(A)】
【図6(B)】
【図6(C)】
【図6(D)】
【図7A】
【図7B】
【図7C】
【図7D】
【図7E】
【図7F】
【図7G】
【図7H】
【図7I】
【図7J】
【図7K】
【図7L】
【図7M】
【図7N】
【図7O】
【図7P】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14(A)】
【図14(B)】
【図15】
【図16(A)−16(B)】
【図17】
【図18】
【図19】
【図20】
【図21】
【図22】
【図23】
【図24】
【図25】
【図26】
【図27】
【図28】
【図29】
【図30】
【図31】
【図32】
【図33】
【図34】
【図35】
【図36】
【公表番号】特表2013−520820(P2013−520820A)
【公表日】平成25年6月6日(2013.6.6)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−554304(P2012−554304)
【出願日】平成23年2月18日(2011.2.18)
【国際出願番号】PCT/EP2011/052407
【国際公開番号】WO2011/104179
【国際公開日】平成23年9月1日(2011.9.1)
【出願人】(504151804)エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. (1,856)
【Fターム(参考)】
【公表日】平成25年6月6日(2013.6.6)
【国際特許分類】
【出願日】平成23年2月18日(2011.2.18)
【国際出願番号】PCT/EP2011/052407
【国際公開番号】WO2011/104179
【国際公開日】平成23年9月1日(2011.9.1)
【出願人】(504151804)エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. (1,856)
【Fターム(参考)】
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