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Fターム[2F065FF15]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 測定方法 (22,691) | エンコーダ利用 (505)

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【課題】トレンチ幅が照明光の波長と同程度の高アスペクト比のトレンチの深さを測定できるトレンチ深さ測定装置を実現する。
【解決手段】照明光学系は、ライン状の照明ビームを発生する光源装置1〜4及びライン状の照明ビームを前記試料に向けて投射する対物レンズ6を有し、光源装置と対物レンズとの間の瞳位置にトレンチの長手方向と平行なライン状の瞳パターンを形成する。ライン状の瞳パターンは対物レンズを介してトレンチが形成されている試料表面7にトレンチと交差するようにライン状の照明エリアを形成する。また、照明光として直線偏光した照明光を用い、その電界ベクトルの方向は、トレンチの長手方向に対してほぼ平行に設定する。直線偏光した照明光の電界ベクトルの方向をトレンチの長手方向に設定することにより、トレンチにおける光損失が減少し、トレンチの内部に照明光を進入させることでき、高精度な深さ測定が可能になる。 (もっと読む)


【課題】計測精度を向上する。
【解決手段】形状測定装置は、光源からの光に照らされている被検物を撮像する撮像素子と、撮像素子の受光面(A17)と共役な共役面(A0)を受光面と非平行になるように形成する結像光学系と、撮像素子による撮像の結果から光に照らされている部分の像の位置を検出することにより、被検物の形状に関する情報を取得する形状情報取得部と、を備える。結像光学系は、像を形成する光束が通る範囲において、受光面を含む面と共役面を含む面との交線に直交する直交面上の像面の略中心と物体面の略中心とを直線で結んだときの軸に関して断面形状が非対称であり、かつ交線から最も遠い部分と、交線から最も近い部分とについて、遠い部分から近い部分に向うにつれて直交面上の断面形状の寸法が縮小又は拡大するレンズ要素(52、53)を含むレンズ群(50)を有する。 (もっと読む)


【課題】凹凸マーク上に重なるように凹凸欠陥が存在する場合にも、凹凸マークの高さ分だけを差し引いて凹凸欠陥のみの高さを算出・取得する。
【解決手段】凹凸マークが形成されたサイドウォール面を有するサンプルタイヤの画像を用いて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査するタイヤ形状検査方法において、次の工程を実行する。まず、ティーチング作業工程として、サンプルタイヤのサンプル原画像において、凹凸マークの境界線を検出し、境界線を示すマスク画像を生成し、サンプル原画像からマスク画像に示された境界線に対応する領域を除き、残りの領域の高さを1又は複数のオフセット値で表す高さオフセット画像を生成する。次に、検査作業工程として、検査タイヤの検査画像から、高さオフセット画像を差し引くと共に、マスク画像が表す境界領域を除去し、得られた凹凸除去画像に基づいて、検査タイヤのサイドウォール面の形状欠陥を検査する。 (もっと読む)


【課題】高精度かつ高速に測定対象物の三次元形状を測定する部品実装基板生産装置および三次元形状測定装置を提供する。
【解決手段】部品実装装置であって、撮像部であるカメラ200と、輝度変化光を発する発光部130と、測定対象物の表面における輝度変化光の輝度分布を相対的に第二方向に移動させるヘッド100と、測定対象物との間の距離が維持されるように配置された基準面部113と、基準面部113の基準面部位の少なくとも1点の輝度変化光を撮像した結果である基準面データおよび対象物データを取得するデータ取得部160と、基準面データおよび基準面部113の反射率と基準輝度値とを用いて、基準面部113の第三方向におけるずれ量を算出するずれ量算出部170と、ずれ量を用いて測定部位における光の輝度値を補正する補正部180と、補正された輝度値を用い、位相シフト法に用いられる波形を作成する波形作成部190とを備える。 (もっと読む)


【課題】回転角度を高精度且つ短時間で測定すること。
【解決手段】回転が一定範囲とされた支持基準体であるエンコーダ本体2aと、エンコーダ本体2aに対し全周回転自在に軸支された駆動する回転体である回転軸3とを有し、エンコーダ本体2aに対する回転軸3の相対的な回転角度を検出する相対的角度検出手段としてのロータリエンコーダ2と、エンコーダ本体2a及び回転軸3から切り離されて、エンコーダ本体2aの回転角度を光学式角度検出手段としての非接触角度検出手段20とを備える。これにより、ロータリエンコーダ2が検出した回転角度を、非接触角度検出手段20で検出した回転角度に基づいて補正することができ、回転角度を高精度且つ短時間で測定することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】従来の較正方法と比べてあまり時間がかからない較正を適用するより正確な位置測定システムを提供する。
【解決手段】位置測定システムは、第1部分EGおよび第2部分ESと、計算ユニットと、を備える。第1部分および第2部分は、第2部分に対する第1部分の位置を表す位置信号を提供することによって第2部材に対する第1部材の位置を決定する。計算ユニットは、位置信号を受信するための入力端子を含む。計算ユニットは、使用中、位置信号に変換を適用して第2部材に対する第1部材の位置を表す信号を得るように、および、変換に調整を適用して第1部分または第2部分あるいは両方のドリフトを少なくとも部分的に補償するように、構成される。調整は、第1部分または第2部分あるいは両方のそれぞれの所定のドリフト特性に基づく。所定のドリフト特性は、第1部分および/または第2部分の1つ以上の基本形状を有する。 (もっと読む)


【課題】ランダム柄を正確に計測しやすい柄計測装置を提供する。
【解決手段】凹凸型を用いてプレス成型された基材30の凹凸柄を計測する柄計測装置に関する。前記凹凸型の三次元の加工データを記憶する加工データ記憶手段11。前記加工データから選択された任意の特徴部sのデータを記憶する特徴部データ記憶手段12。前記基材に形成された前記凹凸柄を全面計測して得られる三次元データを記憶する凹凸柄データ記憶手段13。前記特徴部データと前記凹凸柄データとを比較することによって、前記特徴部により前記基材に形成される特徴柄が基材30の一端からどの位置に現れるかを検出すると共に、検出された前記特徴柄の位置を基準にして前記加工データと前記凹凸柄データとを比較することによって、前記加工データと前記凹凸柄データとのズレを算出する算出手段14とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数の視野に分割された対象を高精度に測定することができるマシンビジョン検査システムおよびその位置測定結果の決定方法を提供する。
【解決手段】マシンビジョン検査システムは、第1動作状態においてスケールベースの測定により第1対象FE1の位置を測定する。第2動作状態では、第1対象から第2対象に至る途中で重複画像CIA〜CICを撮影し、画像相関を利用して重複画像CIA〜CICの相互の画像変位を測定し、第1対象の位置と画像変位のセットとを合わせて第2対象FE2の位置を測定する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物の形状を高精度で測定できる形状測定装置、形状測定方法、及び構造物の製造方法を提供すること。
【解決手段】被測定物に所定の光量分布を有するパターン光を形成する照明部と、光が被測定物に照射される照射方向と異なる方向から被測定物に照射されたパターン光の像を撮像する撮像素子を含む撮像部と、像の撮像信号を評価する評価部と、評価部の評価結果に基づき撮像部の撮像結果に対して所定の処理を行うことで被測定物の位置情報を算出する処理部と、を備える形状測定装置に関する。 (もっと読む)


【課題】シリコンなどのウエハー上にレーザー光を用いて露光することで描画を行う描画装置において、ナノミクロンオーダーの高精度な位置決めを行うこと。
【解決手段】レーザー光を一定方向に往復させて所定の間隔でドットパターンの描画を行う光学素子用の描画装置であって、レーザー光を照射する照明光学系と、
基盤を載置するXYステージと前記照明光学系と前記XYステージとの相対位置を測定する前記XYステージ上に設置されたナノスケールと、前記基盤上の描画信号の基準位置とその描画信号波形データ出力と、前記ナノスケールによって測定された往路のドットパターンの描画終了位置から、復路のドットパターンの描画開始位置を抽出する軸制御ユニットと、前記軸制御ユニットによって抽出された描画開始位置から描画を開始するように前記照明光学系の位置を補正する位置補正手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】試料表面の変位量が大きくても、フェーズラッピングの問題が生ずることなく、試料の微細な表面形状を高分解能で測定できる形状測定装置を実現する。
【解決手段】白色光源から出射した照明光は、入射光をシャーリングする第1の光路と入射光に対して可変光路長ないし可変位相量を導入してフリンジスキャンを行う第2の光路とを有する干渉光学系及び対物レンズを経て試料に入射する。試料上には、シャーリングされた参照ビームにより形成される第1の照明領域とフリンジスキャンされた測定ビームにより形成される第2の照明領域が形成される。第1及び第2の照明領域から出射した反射光は、対物レンズ及び干渉光学系を介して2次元撮像装置に入射し、2つの照明領域の画像が合成された干渉画像が形成される。フリンジスキャンにより、2つの画像を構成する反射光間に白色干渉が発生し、干渉信号を検出することで、試料の形状又は孔の深さが測定される。 (もっと読む)


【課題】 すき入れ及び紙端を鮮明に撮像し、すき入れが施された位置をばらつきが生じることなく高い精度で測定する検査方法を提供する。
【解決手段】
あらかじめ紙端撮像ラインカメラの撮像条件を紙端が鮮明に撮れる撮像条件に設定し、すき入れ撮像ラインカメラの撮像条件をすき入れが鮮明に撮れる撮像条件に設定した後、各ラインカメラにおいて紙端画像とすき入れ画像とをそれぞれ取得し、紙端画像から紙端を示す座標を検出し、すき入れ画像からすき入れを示す座標を検出し、紙端の座標からすき入れの座標までの距離を算出した後、算出した各座標間の距離が許容範囲か否かを判定してすき入れが形成された位置の合否判定を行う。 (もっと読む)


【課題】高い回折効率を示し、精度良く位置検出を行える変位検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】台形または矩形のレリーフ形状をした回折格子を用いる。また、可干渉光を出射する光源部と、光源部から出射された光束を二つの光束に分割する光束分割部と、を含み、二つの光束をP偏光として回折格子上に照射させる照射光学系と、二つの光束が回折格子により回折されることによって生じる二つの第1回折光をそれぞれ反射し、回折格子上にP偏光として再入射させる反射光学系を備える。また、回折格子に再入射した二つの第1回折光が回折されて生じる二つの第2回折光を干渉させる干渉光学系と、干渉光学系により干渉した光を受光する受光部と、受光部において取得した干渉信号に基づいて、回折格子の位置情報を検出する位置検出部を備えるものとする。そして、回折格子のレリーフの周期を、回折格子に入射する可干渉光の波長の1.5倍以下とする。 (もっと読む)


【課題】パターンが形成される物体を保持する移動体を安定して位置制御する。
【解決手段】露光装置は、ウエハを保持して所定平面内で移動するウエハステージと、所定平面内でウエハステージとは独立に移動する計測ステージと、計測ステージの位置情報を計測する干渉計システム118と、ウエハステージの位置情報を計測する、干渉計システム118に比べて計測値の短期安定性が優れるエンコーダシステム(70A〜70F)と、を備えている。このため、露光装置によると、干渉計システム118により計測ステージの位置情報が計測され、エンコーダシステム(70A〜70F)によってウエハステージWSTの位置情報が計測される。従って、パターンが形成されるウエハを保持するウエハステージを安定して位置制御することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】穴のある被検物に対して、その穴の内側の形状を効率よく適切に測定することができる形状測定装置を提供する。
【解決手段】中空状の被検物の内面に測定光を照射するとともに、該被検物に照射した測定光を受光して、被検物の形状を測定する形状測定装置は、被検物に照射するライン状の測定光を出力する光出力部と、光出力部と隔てて設けられ、予め定められた方向から受光する測定光の散乱光を検出する受光部と、測定光を検出する位置に応じて受光部の位置が調整され、照射した光の出力位置と、受光部の位置との距離に応じて被検物との距離を算定する制御部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】PTPシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。
【解決手段】錠剤検査装置21は、照明装置22、カメラ23及び画像処理装置24等を備え、まず照明装置22から錠剤に対し照射される光の光量を段階的に変更し、当該錠剤を透過する透過光をカメラ23により撮像することにより、複数通りの輝度画像データを取得する。そして、当該複数通りの輝度画像データにおける各座標毎の輝度値をそれぞれ合算して、錠剤の表面に係る三次元データを作成する。これに基づき、錠剤の外観形状が検査される。 (もっと読む)


【課題】トロリ線以外の構造物の影響を無くしトロリ線の偏位量を正確に測定する。
【解決手段】トロリ線測定装置は、トロリ線に向けて光を投光し、その反射光を受光することによってトロリ線の外形を測定する。このトロリ線の外形を測定する際に、剛体電車線区間では剛体部やイヤー部からのノイズが多く正確に測定することが困難である。そこで、このトロリ線測定装置は、剛体電車線区間でトロリ線及びその近傍の電車線設備(剛体部及びイヤー部)の画像を撮影し、撮影された画像に基づいて電車線設備の偏位を測定し、その測定結果をトロリ線の外形の測定に反映させるようにした。 (もっと読む)


【課題】ショルダ部を含めてタイヤの表面形状を検出することができるようにする。
【解決手段】タイヤ形状検査装置は、タイヤのトレッド部8に対してライン光を照射する第1ライン光照射手段10と、タイヤのサイドウォール部7に対してライン光を照射する第2ライン光照射手段12と、タイヤのショルダ部9から当該ショルダ部9を超えた領域までライン光を照射する第3ライン光照射手段13と、第1ライン光照射手段10、第2照射手段及び第3ライン光照射手段13が照射してタイヤ表面で反射したライン光を撮像する撮像手段16とを備える。 (もっと読む)


【課題】物体に設けられた複数のマークをより短時間に高精度に検出する。
【解決手段】ウエハマークの位置を検出するマーク検出方法であって、複数のアライメント系AL1,AL21〜AL24の検出領域に対してウエハWを移動中に、アライメント系AL1,AL21〜AL24とウエハWの表面とのデフォーカス量を計測し、この計測結果に基づいてウエハWの面位置及び傾斜角の少なくとも一方を制御し、ウエハマークWMC1,WMA1,WMD1がアライメント系AL22,AL1,AL23の検出領域内に達したときに、ウエハWを静止させて、アライメント系AL22,AL23で対応するウエハマークWMC1,WMD1の位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】移動体の曲面からの信号に関してデフォーカスによる信号振幅減少を低減し、移動情報の検出精度の低下を抑制する。
【解決手段】光源と、移動方向に曲面を備える移動体と、前記曲面からの集光された反射光または透過光を受講する受光素子と、を有する移動情報測定装置において、前記曲面が移動方向に複数種の曲率を備える。 (もっと読む)


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