太陽電池パネル製造装置及び太陽電池パネル製造方法並びにレーザ加工装置及びレーザ加工方法
【課題】
本発明は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法において、前記導入されたレーザ光の撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを特徴とする。
本発明は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法において、前記導入されたレーザ光の撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置または及びレーザ加工方法に係わり、効率よくスクライブなどの加工をすることができる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置または及びレーザ加工方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、太陽電池パネルの製造工程の主工程にパネル上に太陽電池膜を形成する工程がある。太陽電池膜は、ガラス基板上に、透明表面電極膜(表面TCO膜:Transparent Conductive Oxide)、不透明の光電変換層(半導体膜)、透明裏面電極膜(裏面TCO膜:TCO+金属(Ag等))などの複数の膜を積層した構造を有する。また、太陽電池膜の形成工程においては、各層を形成後に膜の一部を除去するスクライブ工程がある。
【0003】
昨今の基板の大型化に伴い、その基板上に形成された層に30μm程度の幅を有するスクライブを多数形成する必要がある。従って、スクライブを効率的に形成するためにスクライブを形成するレーザを多数分岐し一度に複数のスクライブを形成することが望まれている。
太陽電池パネルの製造工程ではないが、半導体をスクライブするのに位相格子を用いてレーザ光を分岐してスクライブすることが、特許文献1に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2004−141929号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、太陽電池パネルの製造工程においては、1100mm×1400mmに、例えば、10mm程度の間隔でスクライブを形成する必要があり、300mmφの半導体ウエハのとは異なり、レーザ光を分岐するための分岐光学系は大型化、重量化する。しかも、分岐光学系の光軸の位置合わせ精度が数十μm程度以内と厳しいものがある。
従って、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できることが望まれている。
【0006】
本発明は、上記の課題を鑑みてなされたものであり、その第1の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供すことである。
【0007】
また、本発明の第2の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、上記の目的を達成するために、少なくとも下記の特徴を有する。
本発明は、上記第1の目的を達成するために、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法において、前記導入されたレーザ光を撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを第1の特徴とする。
【0009】
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記複数のレーザ光に分岐は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節することを第2の特徴とする。
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを第3の特徴とする。
【0010】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを第4の特徴とする。
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させて、前記スクライブする前記レーザ光のスクライブ光軸の位置を検出することを第5の特徴とする。
【0011】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを第6の特徴とする。
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを第7の特徴とする。
【0012】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入するレーザ光は前記レーザ光の光源からのレーザ光を平行光に変換したレーザ光であることを第8の特徴とする。
また、本発明は、上記第2の目的を達成するために、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、被処理体にレーザ光を照射して前記被処理体を加工するレーザ加工装置またはレーザ加工方法において、前記導入されたレーザ光を撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを第9の特徴とする。
【0013】
さらに、本発明は、上記第2の目的を達成するために、前記複数のレーザ光に分岐は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節することを第10の特徴とする。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供できる。
また、本発明の第2の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本発明の一実施形態である太陽電池パネル製造装置の概略構成を示す図である。
【図2】本発明の光学系前処理ユニットの第1の実施形態と、レーザ光源を示す図である。
【図3】本発明の分岐光学ユニットの第1の実施形態を示す図である。
【図4】分岐検査光学部の取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。
【図5】分岐検査光学部の取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の検査カメラの撮像結果を示す図である。
【図6A】各光学ヘッドの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。
【図6B】パワーメータを使用することで各光学ヘッドのパワーを測定する状態を示す図である。
【図7】本発明の光学系前処理ユニットの第2の実施形態と、レーザ光源を示す図である。
【図8】本発明の分岐光学ユニットの第2の実施形態を示す図である。
【図9】本発明の分岐光学ユニットの第3の実施形態を示す図である。
【図10】太陽電池膜の一実施形態を模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態を太陽電池パネル製造装置50を例に説明する。
図10は太陽電池膜の一実施形態を模式的に示す図である。太陽電池膜3は、ガラス基板31の上に1層目として表面TCO膜34、2層目として光電変換する半導体膜(a-Si)32及び3層目として裏面TCO膜33の3層の膜を有し、半導体膜(a-Si)32を通過した光を反射させて光電変換を上げるためのアルミニウム膜ALを有する。太陽光Sを下から照射すると半導体膜(a-Si)32で光電変換され、負荷(図示せず)を接続すると波状の矢印Aのように電流が流れる。そのためには、各層にスクライブ34S、32S、33Sを形成する必要がある。そのスクライブ幅は数十μmであり、その間隔は10mm程度である。以下の説明では、太陽電池膜3またはガラス基板31を共に被処理体30と表す。
【0017】
図1は、本発明の一実施形態である太陽電池パネル製造装置50の概略構成を示す図である。
太陽電池パネル製造装置50は、下部基台81、下部基台81上に固定された上部基台82、被処理対体30を浮上させて支持するエア浮上ステージ5、エア浮上ステージ5をX軸方向(矢印B)に移動させるステージ駆動部4と、スクライブ形成するためのレーザ光源6と、レーザ光源6からのレーザ光61をスクライブ位置まで導く光学系前処理ユニット2と、光学系前処理ユニット2の出力光(レーザ光61)を打ち下ろしする打ち下ろしミラー11と、打ち下ろしミラー11を載置し、光学系前処理ユニット2の出力光(レーザ光61)を打ち下ろしミラー11、導入口19を介して受ける分岐光学ユニット1と、分岐光学ユニット1の光軸を調整または光軸ズレを検査する固定カメラ8(図4参照)と、これ等を制御する制御部9とを有する。
【0018】
ステージ駆動部4は、下部基台81上に設けられ、例えば、リニアモータ固定子を有する左右の走行レール41と、エア浮上ステージ5の四隅に設けられ、リニアモータ可動子を有する脚部42と、位置を検出するリニアエンコーダ43とを有する。
上部基台82は、レーザ光源6と光学系前処理ユニット2を載置するともに、分岐光学ユニット1をY軸方向(矢印C)に走査するための分岐光学走査駆動部7と、被処理体30の位置を把握するアライメントカメラ83とを有する。分岐光学走査駆動部7は上部基台82に側部に設けられたリニアモータ固定子を有する走行レール71と分岐光学ユニット1に設けられたリニアモータ可動子(図示せず)とで構成される。
【0019】
これ等の構成により、制御装置9は分岐光学ユニット1の被処理体30に対する位置を把握でき、スクライブすべき位置に分岐光学ユニット1を制御できる。具体的には、レーザ光61は、分岐光学走査駆動部7によりY軸方向に走査され、ステージ駆動部4によりX方向に走査され、エア浮上ステージ5の全面を走査できる。スクライブを矩形上に形成するには、制御装置9は、レーザ光61をY方向の所望の位置に移動させ、その後X方向に走査し、反対側の端面に来たら、再度Y方向の所望の位置に移動させ、そしてX方向に戻るように走査する。この動作を繰返すことによって、太陽電池パネル製造装置10は、エア浮上ステージ5の全面に亘って矩形上のスクライブを形成することができる。
【0020】
図2は、本発明の光学系前処理ユニット2の第1の実施形態と、レーザ光源6を示す図である。
光学系前処理ユニット2は、λ板21aを回転させることにより21bの透過率が変化させ、レーザ光61の光強度を調節するアッテネータ21と、ビームエキスパンダ23に入射するビーム径が最適になるように2つのプリズム22a、22bで光路長を調節する光路長調節部22と、レーザ光61を平行光に変換するビームエキスパンダ23と、ミラー24と、レーザ光61のスクライブにおけるX、Y方向の照射位置をそれぞれ調節するXガルバノミラー25と、Yガルバノミラー26とを有する。
この構成によって、レーザ光61が平行光となって、後述する分岐光学ユニット1に所定の軸を有するように入射することができる。
【0021】
図3は、本発明の分岐光学ユニット1の第1の実施形態を示す図である。分岐光学ユニット1は、大別して、打ち下ろしミラー11と、打ち下ろしされたレーザ光61を導入する導入口19と、それぞれ破線で囲んだ4つの光学ヘッド1A乃至1Dと、中央に一点鎖線で示した分岐検査光学部1Eとを有する。図3の右上に示すλ/2板14aとPBS(偏光ビームスプリッタ)14bとの組合せで構成する光分配部14は、λ/2板の偏光面を調節することによって、右上図に示すように光を2分岐し、その光量を分配する機能を有する。図3中には煩雑さを防ぐために光分配器14として表示し、説明でも光分配器14として説明する。
なお、図3に示す符号のA乃至Dは、それぞれ光学ヘッド1A乃至1Dの構成を、符号Eは分岐検査光学部1Eの構成を示す。また、矢印I、J及びKは、各光学ヘッド1A乃至1D自体または構成要素の動作方向を示し、煩雑を避けるために一箇所に代表して付している。
【0022】
次に、各光学ヘッド1A乃至1Dと分岐検査光学部1Eの構成及び動作を、図3及び図4を用いて説明する。図4は、分岐検査光学部1Eの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。図4において、煩雑さを避ける説明に関係のない符号は一部省略している。
分岐検査光学部1Eは2つの分配器14Ea、14Ebを有する。光分配器14Eaは、第1に、打ち下ろしミラー11及び導入口19を経由して入射してきたレーザ光61を光学ヘッド1A,1B側と、光学ヘッド1C、1D側に光量を等しくなるように調節し、分岐する。
【0023】
一方、光分配器14Ebは2つの役目を持つ。第1に、スクライブ時において、図3に示しように、光分配器14Eaからのレーザ光61を全量、光学ヘッド1C、1D側に分配する。
【0024】
第2に、分岐検査光学部1Eの2つの光分配器14Ea、14Ebの取付け調整時に、或いは分岐検査光学部1Eの光軸の位置ズレの検査時において、図4に示すように、光分配器14Eaからのレーザ光61のうち所定の割合のレーザ光61dを検査カメラ8に分配する導入光分配手段の役目を果たす。検査カメラ8は下部基台81の基準位置に固定されている。そこで、平行光であるレーザ光61dの画像を検査カメラ8に取込む。その画像61aが円形形状になうように、またその画像61aの中心位置、即ちレーザ光の光軸位置61bが、図5(a)に示すように検査カメラ8の撮像範囲の中心位置8aと一致するように光分配器14a、14bの取付けを調整することで、容易に取付け調整を行なうことができる。また、運転後は、定期的にレーザ光61の光軸のズレ及び画像の変形を、調整時又はある時点における画像と比較し、両者の中心位置の差を光軸のズレ量ΔX、ΔY及びビーム径の差ΔDx(=Dx−Dx’)、ΔDy(=Dy−Dy’)(図5(b))で 、又は光軸の傾斜を楕円度(図5(c))で検査する。例えば、そのズレが所定量、例えば数十μmずれた場合、分岐検査光学部1Eのユニット交換を行なうなどの処置をとる。また、レーザ光の画像が楕円になっていれば楕円方向に傾斜していることになる。
【0025】
次に、図3を用いて、各光学ヘッド1A乃至1Dについて説明する。各光学ヘッドは二つの基本的なタイプに分かれる。一つは光学ヘッド1B、1Cである。光学ヘッド1B、1Cは、外側に配置された光学ヘッド1A,1D側と被処理体30側にレーザ光61を等量に分岐する光分配器14Bまたは14Cを有する。他の一つは光学ヘッド1A、1Dである。光学ヘッド1A、1Dは、光学ヘッド1B、1Cで分岐されたレーザ光61を被処理体30側にレーザ光61を反射させる三角プリズム15Aまたは15Dを有する。各光学ヘッド1A乃至1Dはその他の共通の構成要素を有する。その他の共通要素は、被処理体30にレーザ光を集光させる集光レンズ16A乃至16Dと、被処理体30との距離を非接触で測定する、例えば非接触式レーザ変位計17A乃至17Dと、非接触式レーザ変位計17A乃至17Dからの出力に基づき集光レンズ16A乃至16Dを矢印K方向に駆動する駆動手段(図示せず)と、被処理体30以外にレーザ光を照射されるときに矢印J方向に移動し照射を遮断するシャッタ18A乃至18Dとを有する。また、各光学ヘッド1A乃至1Dは、矢印I方向に移動可能手段(図示せず)を有する。
【0026】
上記の構成によって、導入口19から入射するレーザ光61は、平行光であるので、各光学ヘッド1A乃至1Dから出射されるレーザ光61は、同一光量、同一のプロファイルを有し、各光学ヘッド1A乃至1Dで略同一の形状を有するスクライブ溝を形成できる。また、各光学ヘッド1A乃至1Dは、図3に示すように、互いに距離L離れた位置をスクライブするように調節されている。
【0027】
図6Aは、各光学ヘッド1A乃至1Dの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図で、例として光学ヘッド1Bの場合を示す。図6において、煩雑さを避ける説明に関係のない符号は一部省略している。
【0028】
分岐光学ユニット1全体は、図1に示す分岐光学走査駆動部7によって矢印H方向に自動的に移動可能である。そこで、分岐検査光学部1Eで取付け調整が終わった後、分岐光学ユニット1を図1に示す所定の距離であるL/2の距離を移動させて、図6に示すように、光学ヘッド1Bを検査カメラ8の真上に移動させる。このとき検査カメラ8はデフォーカスの位置に固定されている。この結果、分岐検査光学部1Eと同様に、しかも取付け調整時は図5(a)と同様に、レーザ光61eの画像が、所定の大きさで検査カメラ8の撮像範囲の中心位置8aと一致するように、光学ヘッド1Bの構成要素14B、16Bなどの取付け調整を行なう。また、運転時には、図5(b)、図5(c)と同様にして、光学ヘッドの光軸のズレ、ビーム径及び傾斜を検出でき、必要な処置をとることができる。
【0029】
また、図6Bに示すように、パワーメータ84を使用することで各光学ヘッド1A乃至1Dのパワーを随時測定できる。これにより、調整時またはある時点におけるパワー値と比較して、所定の範囲のパワーが得られているかを判断できる。所定の範囲のパワーが得られていなければ、アッテネータ21のλ板21aを調整、または各光分配器14のλ/2板、例えば14aを調整する処置をとることができる。
【0030】
以上の説明では、分岐検査光学部1E及び各光学ヘッド1A乃至1D単独で運転時の検査をする方法を述べた。しかし、光軸のズレ或いは光軸の傾斜が同一傾向であれば、分岐光学ユニット1自体が傾斜したとか、または前段の光学系前処理ユニット2で光軸のズレが発生したとか、の原因が考えられる。
【0031】
以上説明した実施形態によれば、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供できる。
【0032】
図7は、本発明の光学系前処理ユニット2の第2の実施形態と、レーザ光源6を示す図である。図8は本発明の分岐光学ユニット1の第2の実施形態を示す図である。図8において、煩雑さを避けるために、図3と共通な部分の符号を一部省略している。
【0033】
第1の実施形態と異なる点は、光学系前処理ユニット2にレーザ光61を平行光に変換するビームエキスパンダを設けていない点である。その結果、図8の各光学ヘッド1A乃至1Dのスクライブ位置までの光路長が異なると、スクライブ径が異なる。そこで、図8に示す分岐光学ユニット1では、各光学ヘッド1A乃至1Dのスクライブ位置までの光路長が同じになうように、光学ユニット1B、1Cに光路調整用の三角プリズム12Ba、12Bb及び12Ca、12Cbを設けている。図8において、光路上の記号‖、△は同一記号を有する光路長が互いに同じ長さであることを示す。
【0034】
その他の点については、第1の実施形態と同様である。
本発明の第2の実施形態においても、第1の実施形態と同様な効果を奏することができる。
【0035】
図9は本発明の分岐光学ユニット1の第3の実施形態を示す図である。図9において、煩雑さを避けるために、図3と共通な部分の符号を一部省略している、
第3の実施形態の分岐光学ユニット1は、第1の光学系前処理ユニット2と共に用いられる。第3の実施形態の分岐光学ユニット1の第1の実施形態と異なる点は、各光学ヘッド1B、1C及び分岐検査光学部1Eの光分配器の14B,14C及び14Eaの代わりに、無偏光ビームスプリッタ41B、41C及び41Eを用いる点である。その他の点については、第1の実施形態と同様である。
【0036】
本発明の第3の実施形態は、第1の実施形態と異なり、光分配器において光の光量調節はできないが、第1の実施形態と同様に検出カメラ8を用いることによって、分岐光学ヘッド1A乃至1Dや分岐検査光学部1Eの取付け調整を容易に検出できる。また、第3の実施形態は、分岐光学ヘッドや分岐検査光学部の光軸の位置ズレ等を容易に検出できる。
【0037】
また、以上の第1乃至第3実施形態では、太陽電池パネル製造を例に説明したが、太陽電池パネル製造だけでなく、レーザ光を分岐しそれらが被処理体を加工する場合においても本発明を適用できる。
従って、以上説明した実施形態によれば、分岐を有する分岐光学ヘッド或いは分岐検査光学部を有するレーザ加工装置またはレーザ加工方法において、分岐を有する分岐光学ヘッド或いは分岐検査光学部の取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供できる。
【符号の説明】
【0038】
1:分岐光学ユニット 1A、1B、1C、1D:光学ヘッド
1E:分岐検査光学部 2:光学系前処理ユニット
3:太陽電池膜 4:ステージ駆動部
5:エア浮上ステージ 6:レーザ光源
7:分岐光学走査駆動部 8:検査カメラ
9:制御装置 11:打ち下ろしミラー
12Ba、12Bb、12Ca、12Cb:光路長調整用の三角プリズム
14B、14C、14Ea、14Eb:光分配器
14a:λ/2板 14b:PBS(偏光ビームスプリッタ)
15A,15D:三角プリズム 16:集光レンズ
17:非接触式レーザ変位計 18:シャッタ
19:導入口 21:アッテネータ
22:光路長調節部 23:ビームエキスパンダ
24:ミラー 25:Xガルバノミラー
26:Yガルバノミラー 30:被処理体
31:ガラス基板 41:無偏光ビームスプリッタ
50:太陽電池パネル製造装置 61:レーザ光
81:下部基台 82:上部基台
83:アライメントカメラ 84:パワーメータ。
【技術分野】
【0001】
本発明は、太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置または及びレーザ加工方法に係わり、効率よくスクライブなどの加工をすることができる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法或いはレーザ加工装置または及びレーザ加工方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、太陽電池パネルの製造工程の主工程にパネル上に太陽電池膜を形成する工程がある。太陽電池膜は、ガラス基板上に、透明表面電極膜(表面TCO膜:Transparent Conductive Oxide)、不透明の光電変換層(半導体膜)、透明裏面電極膜(裏面TCO膜:TCO+金属(Ag等))などの複数の膜を積層した構造を有する。また、太陽電池膜の形成工程においては、各層を形成後に膜の一部を除去するスクライブ工程がある。
【0003】
昨今の基板の大型化に伴い、その基板上に形成された層に30μm程度の幅を有するスクライブを多数形成する必要がある。従って、スクライブを効率的に形成するためにスクライブを形成するレーザを多数分岐し一度に複数のスクライブを形成することが望まれている。
太陽電池パネルの製造工程ではないが、半導体をスクライブするのに位相格子を用いてレーザ光を分岐してスクライブすることが、特許文献1に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開2004−141929号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、太陽電池パネルの製造工程においては、1100mm×1400mmに、例えば、10mm程度の間隔でスクライブを形成する必要があり、300mmφの半導体ウエハのとは異なり、レーザ光を分岐するための分岐光学系は大型化、重量化する。しかも、分岐光学系の光軸の位置合わせ精度が数十μm程度以内と厳しいものがある。
従って、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できることが望まれている。
【0006】
本発明は、上記の課題を鑑みてなされたものであり、その第1の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供すことである。
【0007】
また、本発明の第2の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明は、上記の目的を達成するために、少なくとも下記の特徴を有する。
本発明は、上記第1の目的を達成するために、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法において、前記導入されたレーザ光を撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを第1の特徴とする。
【0009】
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記複数のレーザ光に分岐は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節することを第2の特徴とする。
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを第3の特徴とする。
【0010】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを第4の特徴とする。
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させて、前記スクライブする前記レーザ光のスクライブ光軸の位置を検出することを第5の特徴とする。
【0011】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを第6の特徴とする。
また、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを第7の特徴とする。
【0012】
さらに、本発明は、上記第1の目的を達成するために、前記導入するレーザ光は前記レーザ光の光源からのレーザ光を平行光に変換したレーザ光であることを第8の特徴とする。
また、本発明は、上記第2の目的を達成するために、複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、被処理体にレーザ光を照射して前記被処理体を加工するレーザ加工装置またはレーザ加工方法において、前記導入されたレーザ光を撮像し、撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを第9の特徴とする。
【0013】
さらに、本発明は、上記第2の目的を達成するために、前記複数のレーザ光に分岐は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節することを第10の特徴とする。
【発明の効果】
【0014】
本発明によれば、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供できる。
また、本発明の第2の目的は、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、または分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0015】
【図1】本発明の一実施形態である太陽電池パネル製造装置の概略構成を示す図である。
【図2】本発明の光学系前処理ユニットの第1の実施形態と、レーザ光源を示す図である。
【図3】本発明の分岐光学ユニットの第1の実施形態を示す図である。
【図4】分岐検査光学部の取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。
【図5】分岐検査光学部の取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の検査カメラの撮像結果を示す図である。
【図6A】各光学ヘッドの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。
【図6B】パワーメータを使用することで各光学ヘッドのパワーを測定する状態を示す図である。
【図7】本発明の光学系前処理ユニットの第2の実施形態と、レーザ光源を示す図である。
【図8】本発明の分岐光学ユニットの第2の実施形態を示す図である。
【図9】本発明の分岐光学ユニットの第3の実施形態を示す図である。
【図10】太陽電池膜の一実施形態を模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下、図面に基づいて本発明の実施形態を太陽電池パネル製造装置50を例に説明する。
図10は太陽電池膜の一実施形態を模式的に示す図である。太陽電池膜3は、ガラス基板31の上に1層目として表面TCO膜34、2層目として光電変換する半導体膜(a-Si)32及び3層目として裏面TCO膜33の3層の膜を有し、半導体膜(a-Si)32を通過した光を反射させて光電変換を上げるためのアルミニウム膜ALを有する。太陽光Sを下から照射すると半導体膜(a-Si)32で光電変換され、負荷(図示せず)を接続すると波状の矢印Aのように電流が流れる。そのためには、各層にスクライブ34S、32S、33Sを形成する必要がある。そのスクライブ幅は数十μmであり、その間隔は10mm程度である。以下の説明では、太陽電池膜3またはガラス基板31を共に被処理体30と表す。
【0017】
図1は、本発明の一実施形態である太陽電池パネル製造装置50の概略構成を示す図である。
太陽電池パネル製造装置50は、下部基台81、下部基台81上に固定された上部基台82、被処理対体30を浮上させて支持するエア浮上ステージ5、エア浮上ステージ5をX軸方向(矢印B)に移動させるステージ駆動部4と、スクライブ形成するためのレーザ光源6と、レーザ光源6からのレーザ光61をスクライブ位置まで導く光学系前処理ユニット2と、光学系前処理ユニット2の出力光(レーザ光61)を打ち下ろしする打ち下ろしミラー11と、打ち下ろしミラー11を載置し、光学系前処理ユニット2の出力光(レーザ光61)を打ち下ろしミラー11、導入口19を介して受ける分岐光学ユニット1と、分岐光学ユニット1の光軸を調整または光軸ズレを検査する固定カメラ8(図4参照)と、これ等を制御する制御部9とを有する。
【0018】
ステージ駆動部4は、下部基台81上に設けられ、例えば、リニアモータ固定子を有する左右の走行レール41と、エア浮上ステージ5の四隅に設けられ、リニアモータ可動子を有する脚部42と、位置を検出するリニアエンコーダ43とを有する。
上部基台82は、レーザ光源6と光学系前処理ユニット2を載置するともに、分岐光学ユニット1をY軸方向(矢印C)に走査するための分岐光学走査駆動部7と、被処理体30の位置を把握するアライメントカメラ83とを有する。分岐光学走査駆動部7は上部基台82に側部に設けられたリニアモータ固定子を有する走行レール71と分岐光学ユニット1に設けられたリニアモータ可動子(図示せず)とで構成される。
【0019】
これ等の構成により、制御装置9は分岐光学ユニット1の被処理体30に対する位置を把握でき、スクライブすべき位置に分岐光学ユニット1を制御できる。具体的には、レーザ光61は、分岐光学走査駆動部7によりY軸方向に走査され、ステージ駆動部4によりX方向に走査され、エア浮上ステージ5の全面を走査できる。スクライブを矩形上に形成するには、制御装置9は、レーザ光61をY方向の所望の位置に移動させ、その後X方向に走査し、反対側の端面に来たら、再度Y方向の所望の位置に移動させ、そしてX方向に戻るように走査する。この動作を繰返すことによって、太陽電池パネル製造装置10は、エア浮上ステージ5の全面に亘って矩形上のスクライブを形成することができる。
【0020】
図2は、本発明の光学系前処理ユニット2の第1の実施形態と、レーザ光源6を示す図である。
光学系前処理ユニット2は、λ板21aを回転させることにより21bの透過率が変化させ、レーザ光61の光強度を調節するアッテネータ21と、ビームエキスパンダ23に入射するビーム径が最適になるように2つのプリズム22a、22bで光路長を調節する光路長調節部22と、レーザ光61を平行光に変換するビームエキスパンダ23と、ミラー24と、レーザ光61のスクライブにおけるX、Y方向の照射位置をそれぞれ調節するXガルバノミラー25と、Yガルバノミラー26とを有する。
この構成によって、レーザ光61が平行光となって、後述する分岐光学ユニット1に所定の軸を有するように入射することができる。
【0021】
図3は、本発明の分岐光学ユニット1の第1の実施形態を示す図である。分岐光学ユニット1は、大別して、打ち下ろしミラー11と、打ち下ろしされたレーザ光61を導入する導入口19と、それぞれ破線で囲んだ4つの光学ヘッド1A乃至1Dと、中央に一点鎖線で示した分岐検査光学部1Eとを有する。図3の右上に示すλ/2板14aとPBS(偏光ビームスプリッタ)14bとの組合せで構成する光分配部14は、λ/2板の偏光面を調節することによって、右上図に示すように光を2分岐し、その光量を分配する機能を有する。図3中には煩雑さを防ぐために光分配器14として表示し、説明でも光分配器14として説明する。
なお、図3に示す符号のA乃至Dは、それぞれ光学ヘッド1A乃至1Dの構成を、符号Eは分岐検査光学部1Eの構成を示す。また、矢印I、J及びKは、各光学ヘッド1A乃至1D自体または構成要素の動作方向を示し、煩雑を避けるために一箇所に代表して付している。
【0022】
次に、各光学ヘッド1A乃至1Dと分岐検査光学部1Eの構成及び動作を、図3及び図4を用いて説明する。図4は、分岐検査光学部1Eの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図である。図4において、煩雑さを避ける説明に関係のない符号は一部省略している。
分岐検査光学部1Eは2つの分配器14Ea、14Ebを有する。光分配器14Eaは、第1に、打ち下ろしミラー11及び導入口19を経由して入射してきたレーザ光61を光学ヘッド1A,1B側と、光学ヘッド1C、1D側に光量を等しくなるように調節し、分岐する。
【0023】
一方、光分配器14Ebは2つの役目を持つ。第1に、スクライブ時において、図3に示しように、光分配器14Eaからのレーザ光61を全量、光学ヘッド1C、1D側に分配する。
【0024】
第2に、分岐検査光学部1Eの2つの光分配器14Ea、14Ebの取付け調整時に、或いは分岐検査光学部1Eの光軸の位置ズレの検査時において、図4に示すように、光分配器14Eaからのレーザ光61のうち所定の割合のレーザ光61dを検査カメラ8に分配する導入光分配手段の役目を果たす。検査カメラ8は下部基台81の基準位置に固定されている。そこで、平行光であるレーザ光61dの画像を検査カメラ8に取込む。その画像61aが円形形状になうように、またその画像61aの中心位置、即ちレーザ光の光軸位置61bが、図5(a)に示すように検査カメラ8の撮像範囲の中心位置8aと一致するように光分配器14a、14bの取付けを調整することで、容易に取付け調整を行なうことができる。また、運転後は、定期的にレーザ光61の光軸のズレ及び画像の変形を、調整時又はある時点における画像と比較し、両者の中心位置の差を光軸のズレ量ΔX、ΔY及びビーム径の差ΔDx(=Dx−Dx’)、ΔDy(=Dy−Dy’)(図5(b))で 、又は光軸の傾斜を楕円度(図5(c))で検査する。例えば、そのズレが所定量、例えば数十μmずれた場合、分岐検査光学部1Eのユニット交換を行なうなどの処置をとる。また、レーザ光の画像が楕円になっていれば楕円方向に傾斜していることになる。
【0025】
次に、図3を用いて、各光学ヘッド1A乃至1Dについて説明する。各光学ヘッドは二つの基本的なタイプに分かれる。一つは光学ヘッド1B、1Cである。光学ヘッド1B、1Cは、外側に配置された光学ヘッド1A,1D側と被処理体30側にレーザ光61を等量に分岐する光分配器14Bまたは14Cを有する。他の一つは光学ヘッド1A、1Dである。光学ヘッド1A、1Dは、光学ヘッド1B、1Cで分岐されたレーザ光61を被処理体30側にレーザ光61を反射させる三角プリズム15Aまたは15Dを有する。各光学ヘッド1A乃至1Dはその他の共通の構成要素を有する。その他の共通要素は、被処理体30にレーザ光を集光させる集光レンズ16A乃至16Dと、被処理体30との距離を非接触で測定する、例えば非接触式レーザ変位計17A乃至17Dと、非接触式レーザ変位計17A乃至17Dからの出力に基づき集光レンズ16A乃至16Dを矢印K方向に駆動する駆動手段(図示せず)と、被処理体30以外にレーザ光を照射されるときに矢印J方向に移動し照射を遮断するシャッタ18A乃至18Dとを有する。また、各光学ヘッド1A乃至1Dは、矢印I方向に移動可能手段(図示せず)を有する。
【0026】
上記の構成によって、導入口19から入射するレーザ光61は、平行光であるので、各光学ヘッド1A乃至1Dから出射されるレーザ光61は、同一光量、同一のプロファイルを有し、各光学ヘッド1A乃至1Dで略同一の形状を有するスクライブ溝を形成できる。また、各光学ヘッド1A乃至1Dは、図3に示すように、互いに距離L離れた位置をスクライブするように調節されている。
【0027】
図6Aは、各光学ヘッド1A乃至1Dの取付け調整の調整時又は光軸の位置ズレ等の検査時の状態を示す図で、例として光学ヘッド1Bの場合を示す。図6において、煩雑さを避ける説明に関係のない符号は一部省略している。
【0028】
分岐光学ユニット1全体は、図1に示す分岐光学走査駆動部7によって矢印H方向に自動的に移動可能である。そこで、分岐検査光学部1Eで取付け調整が終わった後、分岐光学ユニット1を図1に示す所定の距離であるL/2の距離を移動させて、図6に示すように、光学ヘッド1Bを検査カメラ8の真上に移動させる。このとき検査カメラ8はデフォーカスの位置に固定されている。この結果、分岐検査光学部1Eと同様に、しかも取付け調整時は図5(a)と同様に、レーザ光61eの画像が、所定の大きさで検査カメラ8の撮像範囲の中心位置8aと一致するように、光学ヘッド1Bの構成要素14B、16Bなどの取付け調整を行なう。また、運転時には、図5(b)、図5(c)と同様にして、光学ヘッドの光軸のズレ、ビーム径及び傾斜を検出でき、必要な処置をとることができる。
【0029】
また、図6Bに示すように、パワーメータ84を使用することで各光学ヘッド1A乃至1Dのパワーを随時測定できる。これにより、調整時またはある時点におけるパワー値と比較して、所定の範囲のパワーが得られているかを判断できる。所定の範囲のパワーが得られていなければ、アッテネータ21のλ板21aを調整、または各光分配器14のλ/2板、例えば14aを調整する処置をとることができる。
【0030】
以上の説明では、分岐検査光学部1E及び各光学ヘッド1A乃至1D単独で運転時の検査をする方法を述べた。しかし、光軸のズレ或いは光軸の傾斜が同一傾向であれば、分岐光学ユニット1自体が傾斜したとか、または前段の光学系前処理ユニット2で光軸のズレが発生したとか、の原因が考えられる。
【0031】
以上説明した実施形態によれば、分岐光学ヘッドの取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できる太陽電池パネル製造装置または太陽電池パネル製造方法を提供できる。
【0032】
図7は、本発明の光学系前処理ユニット2の第2の実施形態と、レーザ光源6を示す図である。図8は本発明の分岐光学ユニット1の第2の実施形態を示す図である。図8において、煩雑さを避けるために、図3と共通な部分の符号を一部省略している。
【0033】
第1の実施形態と異なる点は、光学系前処理ユニット2にレーザ光61を平行光に変換するビームエキスパンダを設けていない点である。その結果、図8の各光学ヘッド1A乃至1Dのスクライブ位置までの光路長が異なると、スクライブ径が異なる。そこで、図8に示す分岐光学ユニット1では、各光学ヘッド1A乃至1Dのスクライブ位置までの光路長が同じになうように、光学ユニット1B、1Cに光路調整用の三角プリズム12Ba、12Bb及び12Ca、12Cbを設けている。図8において、光路上の記号‖、△は同一記号を有する光路長が互いに同じ長さであることを示す。
【0034】
その他の点については、第1の実施形態と同様である。
本発明の第2の実施形態においても、第1の実施形態と同様な効果を奏することができる。
【0035】
図9は本発明の分岐光学ユニット1の第3の実施形態を示す図である。図9において、煩雑さを避けるために、図3と共通な部分の符号を一部省略している、
第3の実施形態の分岐光学ユニット1は、第1の光学系前処理ユニット2と共に用いられる。第3の実施形態の分岐光学ユニット1の第1の実施形態と異なる点は、各光学ヘッド1B、1C及び分岐検査光学部1Eの光分配器の14B,14C及び14Eaの代わりに、無偏光ビームスプリッタ41B、41C及び41Eを用いる点である。その他の点については、第1の実施形態と同様である。
【0036】
本発明の第3の実施形態は、第1の実施形態と異なり、光分配器において光の光量調節はできないが、第1の実施形態と同様に検出カメラ8を用いることによって、分岐光学ヘッド1A乃至1Dや分岐検査光学部1Eの取付け調整を容易に検出できる。また、第3の実施形態は、分岐光学ヘッドや分岐検査光学部の光軸の位置ズレ等を容易に検出できる。
【0037】
また、以上の第1乃至第3実施形態では、太陽電池パネル製造を例に説明したが、太陽電池パネル製造だけでなく、レーザ光を分岐しそれらが被処理体を加工する場合においても本発明を適用できる。
従って、以上説明した実施形態によれば、分岐を有する分岐光学ヘッド或いは分岐検査光学部を有するレーザ加工装置またはレーザ加工方法において、分岐を有する分岐光学ヘッド或いは分岐検査光学部の取付け調整の容易な、或いは、分岐光学ヘッドの光軸の位置ズレを容易に検出できるレーザ加工装置またはレーザ加工方法を提供できる。
【符号の説明】
【0038】
1:分岐光学ユニット 1A、1B、1C、1D:光学ヘッド
1E:分岐検査光学部 2:光学系前処理ユニット
3:太陽電池膜 4:ステージ駆動部
5:エア浮上ステージ 6:レーザ光源
7:分岐光学走査駆動部 8:検査カメラ
9:制御装置 11:打ち下ろしミラー
12Ba、12Bb、12Ca、12Cb:光路長調整用の三角プリズム
14B、14C、14Ea、14Eb:光分配器
14a:λ/2板 14b:PBS(偏光ビームスプリッタ)
15A,15D:三角プリズム 16:集光レンズ
17:非接触式レーザ変位計 18:シャッタ
19:導入口 21:アッテネータ
22:光路長調節部 23:ビームエキスパンダ
24:ミラー 25:Xガルバノミラー
26:Yガルバノミラー 30:被処理体
31:ガラス基板 41:無偏光ビームスプリッタ
50:太陽電池パネル製造装置 61:レーザ光
81:下部基台 82:上部基台
83:アライメントカメラ 84:パワーメータ。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
レーザ光を導入し、前記レーザ光を複数のレーザ光に分岐する光分配器を具備し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去する分岐光学ユニットと、前記太陽電池膜と前記分岐光学ユニットとを相対的に移動させ移動手段とを有し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置において、
前記導入されたレーザ光の導入光軸上に設けられた撮像手段と、前記撮像手段へ前記導入レーザ光を分配する導入光分配手段を具備する前記分岐光学ユニットと、前記撮像手段の撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出する検出手段とを有することを特徴とする太陽電池パネル製造装置。
【請求項2】
前記移動手段は前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させる分岐光学走査手段を有し、前記スクライブする前記レーザ光のパワーを測定するパワー測定手段を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項3】
前記導入光分配手段は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項4】
前前記検出手段は、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項5】
前記検出手段は、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項6】
前記移動手段は前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させる分岐光学走査手段を有し、前記検出手段はスクライブ光軸の位置を検出することを特徴とする請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項7】
前記検出手段は、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項8】
前記検出手段は、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項9】
前記スクライブ光軸を形成する前記光分配器は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項10】
前記レーザ光の発光源と、前記光分配器のうち前記レーザ光を最初に分配する第1分配器との間に、前記レーザ光を平行光に変換する平行光変換手段を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項11】
前記光分配器のうち前記レーザ光を最初に分配する第1分配器と、前記スクライブする前記レーザ光との間に、前記複数に分光されたレーザ光の光路長を等しくする光学部を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項12】
複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造方法において、
前記導入されたレーザ光を撮像し、前記撮像結果に基づいて前記導入されたレーザ光の導入光軸の位置を検出することを特徴とする太陽電池パネル製造方法。
【請求項13】
前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項14】
前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項15】
前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させて、前記スクライブする前記レーザ光のスクライブ光軸の位置を検出することを特徴とする請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項16】
前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項15に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項17】
前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項15に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項18】
前記導入するレーザ光は前記レーザ光の光源からのレーザ光を平行光に変換したレーザ光であることを特徴とする請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項19】
レーザ光を導入し、前記レーザ光を複数のレーザ光に分岐する光分配器を具備し、被処理体に前記レーザ光を照射して前記被処理体を加工する分岐光学ユニットと、前記被処理体と前記分岐光学ユニットとを相対的に移動させ移動手段とを有し、前記被処理体を加工するレーザ加工装置において、
前記導入レーザ光の導入光軸上に設けられた撮像手段と、前記撮像手段へ前記導入レーザ光を分配する導入光分配手段を具備する前記分岐光学ユニットと、前記撮像手段の撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出する検出手段を有することを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項20】
前記導入光分配手段は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項19に記載のレーザ加工装置。
【請求項21】
複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、被処理体にレーザ光を照射して前記被処理体を加工するレーザ加工方法において、
前記導入されたレーザ光の撮像し、前記撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを特徴とするレーザ加工方法。
【請求項1】
レーザ光を導入し、前記レーザ光を複数のレーザ光に分岐する光分配器を具備し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去する分岐光学ユニットと、前記太陽電池膜と前記分岐光学ユニットとを相対的に移動させ移動手段とを有し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造装置において、
前記導入されたレーザ光の導入光軸上に設けられた撮像手段と、前記撮像手段へ前記導入レーザ光を分配する導入光分配手段を具備する前記分岐光学ユニットと、前記撮像手段の撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出する検出手段とを有することを特徴とする太陽電池パネル製造装置。
【請求項2】
前記移動手段は前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させる分岐光学走査手段を有し、前記スクライブする前記レーザ光のパワーを測定するパワー測定手段を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項3】
前記導入光分配手段は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項4】
前前記検出手段は、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項5】
前記検出手段は、前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項6】
前記移動手段は前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させる分岐光学走査手段を有し、前記検出手段はスクライブ光軸の位置を検出することを特徴とする請求項1又は3に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項7】
前記検出手段は、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項8】
前記検出手段は、前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項9】
前記スクライブ光軸を形成する前記光分配器は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項6に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項10】
前記レーザ光の発光源と、前記光分配器のうち前記レーザ光を最初に分配する第1分配器との間に、前記レーザ光を平行光に変換する平行光変換手段を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項11】
前記光分配器のうち前記レーザ光を最初に分配する第1分配器と、前記スクライブする前記レーザ光との間に、前記複数に分光されたレーザ光の光路長を等しくする光学部を有することを特徴とする請求項1に記載の太陽電池パネル製造装置。
【請求項12】
複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、太陽電池膜を構成する膜に前記分岐されたレーザ光を照射して前記膜の一部を除去し、前記膜にスクライブを形成する太陽電池パネル製造方法において、
前記導入されたレーザ光を撮像し、前記撮像結果に基づいて前記導入されたレーザ光の導入光軸の位置を検出することを特徴とする太陽電池パネル製造方法。
【請求項13】
前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項14】
前記導入光軸の位置の検出結果に基づいて、前記導入光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項15】
前記分岐光学ユニットと前記膜とを相対的に前記スクライブのラインと垂直方向に移動させて、前記スクライブする前記レーザ光のスクライブ光軸の位置を検出することを特徴とする請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項16】
前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を形成する光学構成要素の取付け位置を調整することを特徴する請求項15に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項17】
前記スクライブ光軸の位置の検出結果に基づいて、前記スクライブ光軸を構成する光学構成要素の取付け時からの又は所定の次期からの前記導入レーザ光の光軸の変化を検出することを特徴する請求項15に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項18】
前記導入するレーザ光は前記レーザ光の光源からのレーザ光を平行光に変換したレーザ光であることを特徴とする請求項12に記載の太陽電池パネル製造方法。
【請求項19】
レーザ光を導入し、前記レーザ光を複数のレーザ光に分岐する光分配器を具備し、被処理体に前記レーザ光を照射して前記被処理体を加工する分岐光学ユニットと、前記被処理体と前記分岐光学ユニットとを相対的に移動させ移動手段とを有し、前記被処理体を加工するレーザ加工装置において、
前記導入レーザ光の導入光軸上に設けられた撮像手段と、前記撮像手段へ前記導入レーザ光を分配する導入光分配手段を具備する前記分岐光学ユニットと、前記撮像手段の撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出する検出手段を有することを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項20】
前記導入光分配手段は、λ/2板と偏光ビームスプリッタとを有し、前記λ/2板の偏光面を調節する手段であることを特徴とする請求項19に記載のレーザ加工装置。
【請求項21】
複数のレーザ光に分岐する分岐光学ユニットにレーザ光を導入し、被処理体にレーザ光を照射して前記被処理体を加工するレーザ加工方法において、
前記導入されたレーザ光の撮像し、前記撮像結果に基づいて前記導入光軸の位置を検出することを特徴とするレーザ加工方法。
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6A】
【図6B】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6A】
【図6B】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【公開番号】特開2012−45557(P2012−45557A)
【公開日】平成24年3月8日(2012.3.8)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2010−187483(P2010−187483)
【出願日】平成22年8月24日(2010.8.24)
【出願人】(501387839)株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成24年3月8日(2012.3.8)
【国際特許分類】
【出願日】平成22年8月24日(2010.8.24)
【出願人】(501387839)株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Fターム(参考)】
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