走査光学装置、画像形成装置及び制御方法
【課題】走査位置ごとの光ビームのピントずれを、比較的に簡単でかつコスト的にも有利な手法で補正する。
【解決手段】走査光学装置は、たとえば、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段とを含む。とりわけ、走査光学装置は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段を含むことを特徴とする。
【解決手段】走査光学装置は、たとえば、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段とを含む。とりわけ、走査光学装置は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段を含むことを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、走査光学装置に関し、とりわけ、電子写真方式の画像形成装置に採用可能な走査光学装置に関する。
【背景技術】
【0002】
電子写真方式の画像形成装置は、露光装置により光ビームを走査することで感光ドラム上に静電潜像を形成する。一般に、感光ドラム上に形成される光ビームのスポット径は、感光ドラム上のいずれの位置においても一定となることが望ましい。これが実現されなければ、感光ドラムの主走査方向の走査位置に応じて線の太さが細くなったり太くなったりしてしまうからである。そのため、露光装置は、光源から出力された光ビームを集光するための光学系(f−θレンズなど)を備えている。
【0003】
ところが、f−θレンズで集光しても走査位置に応じて微小なピント(フォーカス)ずれがある。たとえば、感光ドラム上の走査開始側・中央付近・終了側ではそれぞれスポット径が数μm異なっていた。
【0004】
解像度が600dpi(スポット径が42μm)の露光装置であれば、走査位置の中央付近で所望のスポット径が得られるように光学調整することで、走査開始側及び終了側でのスポット径が略46μmとなる。600dpiくらいまでの低解像度であれば、この4μmのスポット径の差は画質的な問題を無視できる程度である。
【0005】
しかし、2400dpi(所望スポット径が10.5μm)のような高解像度では、4μmのスポット径の肥大はもはや無視できない。なぜなら、4μmは、600dpiにとってせいぜいスポット径が10%肥大化することを意味するが、2400dpiにとってはスポット径が約40%も肥大化することを意味するからである。さらに、1つのスポットを形成する際の積分光量は一定であるため、40%肥大化したスポットは40%光量が少ないスポットになってしまう。よって、走査位置の中央付近に対して開始側・終了側の光量が低くなり、画像の濃度が低くなってしまう。このように、高解像度では、光学系のピンとずれにともなうスポット径の肥大が、画像品質の低下を招いてしまう。
【0006】
スポットのピントを合わせる技術として、光軸方向にコリメータレンズやシリンドリカルレンズを移動させる技術(特許文献1)や、光軸方向に光源や光学素子を移動させる技術(特許文献2)が提案されている。
【特許文献1】特開平08-334710号公報
【特許文献2】特開2001-091882号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
ところが、特許文献1や特許文献2に示された方法は、いずれも光学的にピントを合わせる方法にすぎない。すなわち、いずれの走査位置でもピントを合わせるには、走査位置に応じて、光源や光学素子、レンズ等を高速に駆動しなければならない。一走査は極めて短時間であるため、このような高速駆動の実現は困難であり、実現できたとしてもコストアップになってしまう。
【0008】
そこで、本発明は、このような課題および他の課題のうち、少なくとも1つを解決することを目的とする。たとえば、本発明は、走査位置ごとの光ビームのピントずれを、比較的に簡単でかつコスト的にも有利な手法で補正することを目的とする。なお、他の課題については明細書の全体を通して理解できよう。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の走査光学装置は、たとえば、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段とを含む。とりわけ、走査光学装置は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、走査位置ごとの光ビームのピントずれを、比較的に簡単でかつコスト的にも有利な手法で補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
【0012】
図1は、本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す概略断面図である。なお、ここでは、画像形成装置の一例として複写機を採用するが、画像形成装置は、印刷装置、プリンタ、複合機、ファクシミリのいずれであってもよい。
【0013】
画像形成装置100は、画像読取部101と画像形成部102とを備えている。画像読取部101は、原稿の画像を読み取って画像データ(画像信号)を生成し、画像形成部102の露光制御部10へ出力する。露光制御部10は、たとえば、露光器、走査光学装置、光走査装置、光学スキャナ装置と呼ばれることもある。
【0014】
感光体11は、像担持体の一例であり、その形状はドラム(円筒)形状となっている。1次帯電器28は、感光体11の表面を一様に帯電させる。露光制御部10は、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源(例:レーザ)と、ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段(例:回転多面鏡やガルバノミラー)とを備えている。この光ビームが照射光となって、像担持体(感光体11)上に潜像が形成される。現像装置13は、像担持体上に形成された潜像を現像してトナー像を形成する。トナー像の形成と並行して、第1転写部材積載部14または第2転写部材積載部15より記録媒体(用紙、フィルム等)が転写装置16へ搬送される。転写装置16は、トナー像を記録媒体に転写する。定着装置17は、転写されたトナー像記録媒体上に定着させる。
【0015】
図2は、実施形態に係る露光制御部10の一例を示した図である。半導体レーザ駆動部31は、光源として機能する半導体レーザ43を備えており、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを半導体レーザ43に出力させる。半導体レーザ43から出力された光ビームはコリメータレンズ35及び絞り32によりほぼ平行光に変換される。所定のビーム径となった光ビームは、偏向手段として機能する回転多面鏡33に入射する。
【0016】
回転多面鏡33は、ガルバノミラーなど、往復運動を繰り返す振動ミラーであってもよい。回転多面鏡33は、等角速度で回転する。入射した光ビームは、回転する回転多面鏡33によって反射されることで、連続的に角度(出射方向)を変える偏向ビームとなる。偏向ビームとなった光ビームはf−θレンズ34により集光作用を受ける。f−θレンズ34は、走査の時間的な直線性を保証する(歪曲収差の補正を行う)。光ビームは、感光体11上を矢印の方向(主走査方向)に等速で走査される。一走査において、光ビームは、感光体11上の走査開始側から中央を経由して走査終了側へと進む。
【0017】
BDセンサ36は、回転多面鏡33からの反射光を検出し、検出信号S36を出力する。検出信号S36は、回転多面鏡33の回転とデータの書き込みとの同期をとるための同期信号として用いられる。なお、BDは、ビームディテクトの略である。
【0018】
図3は、本発明の基本原理を説明するための図である。とりわけ、Aは、ピントずれの補正を施す前における感光体11の中央付近のスポット301、感光体11の端部付近のスポット302とを示している。中央付近のスポット301は、理想的な形状をしているが、端部付近のスポット302は、ピントずれにより形状が拡大してしまっている。一般に、ピントずれによるスポット肥大化は主走査方向に発生しやすい。スポットの濃淡は、スポットが肥大化したことによる光量の低下を示している。なお、両者の光量については補正が行なわれていない。すなわち、中央付近のスポット301及び端部付近のスポット302とも、点灯時間Tで光量Pが採用されている。
【0019】
ピントずれの影響を緩和するためには、Bが示すように、端部付近のスポット302に、通常よりもパルス幅を狭くし(シャープにし)、通常よりも高い光量を適用すればよい。すなわち、点灯時間T‘(T’<T)かつ光量P‘(P’>P)とすることで、補正されたスポット303が得られる。このように、スポットの形成時間を短くしかつ光量を高くすることで、ピントずれに起因したスポットの肥大化及び光量の低下が緩和される。
【0020】
図4は、実施形態に係る露光制御部10の制御回路200の一例を示した図である。この制御回路200は、入力された画像信号DATAを本発明に従って画像信号S202及び光量補正データS203へと変換して半導体レーザ駆動部31へ出力する。このように、制御回路200は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量(強度)を補正する補正手段の一例である。なお、補正の基本原理は図3を用いて説明した通りである。すなわち、制御回路200は、各走査位置のうち、光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくする。また、制御回路200は、光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される強度を、光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される強度よりも大きくする。
【0021】
なお、本実施形態では、説明の便宜上、感光体11の主走査方向を32ブロックに分割して制御するものとする。ブロック数は、8、16、64、128など他の値であってもよい。ただし、ブロック数が多ければ多いほど精度が向上するものの、信号処理速度やメモリの記憶容量への要求が高くなる。よって、製品(画像形成装置)の仕様に応じて、適切なブロック数を採用すればよいだろう。
【0022】
アドレスカウンタ210は、BDセンサが出力する検出信号S36が入力されるとカウント値をクリアし、画像クロックCLKにしたがってカウントアップする。アドレスカウンタ210は、カウント値をアドレスS200として出力する。検出信号S36は、一走査周期ごとに入力されるため、アドレスS200は、一走査中における現在の走査位置(ブロック)を特定する情報となる。よって、露光制御部10またはアドレスカウンタ210は、現在の走査位置を特定する特定手段の一例といえる。
【0023】
ルックアップテーブル201−1〜201−32は、走査開始側から走査終了側までの各走査位置(各ブロック)に対応したテーブルであり、走査位置に応じたスポット肥大化を補正するためのレーザリニアリティ補正データを格納している。レーザリニアリティ補正データは、走査位置に対応するパルス幅の最大値を示す情報である。ルックアップテーブル201−1〜201−32は、像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応するパルス幅の最大値を格納したテーブルの一例である。また、アドレスカウンタ210が指定するアドレスに応じてルックアップテーブル201−1〜201−32から、現在の走査位置に対応するパルス幅の最大値が読み出されることになる。また、アドレスカウンタ210は、読み出し手段の一例といえよう。
【0024】
メモリ203−1〜203−32は、レジスタやRAM等のであり、各ブロックごとのピントずれ量に応じた光量補正データを格納している。セレクタ202は、アドレスS200に基づいて(走査対象ブロックに応じて)パルス幅や光量を選択する。なお、光量補正データもテーブル化されていてもよい。よって、メモリ203−1〜203−32は、像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する強度を格納したテーブルの一例といえよう。また、セレクタ202は、読み出し手段の一例である。
【0025】
図5は、各ブロックにおけるスポット肥大化の一例を示した図である。第1ブロックや第32ブロックのスポットは、ピントずれによって、40%大きくなっている。第4ブロックや第28ブロックのスポットは、ピントずれによって、30%大きくなっている。第10ブロックや第22ブロックのスポットは、ピントずれによって、20%大きくなっている。なお、第16ブロックのスポットは、ピントが合っているため、肥大化してはいない。
【0026】
図6は、各ブロックにおけるパルス幅の最大値を示した図である。第1ブロックや第32ブロックのスポットは40%大きくなっているため、パルス幅は40%削減されている。よって、基準となるパルス幅に対して、パルス幅の最大値は60%となる。同様に、第4ブロックや第28ブロックのスポットでは、パルス幅が30%削減されている。第10ブロックや第22ブロックのスポットでは、パルス幅が20%削減されている。第16ブロックのスポットについては、パルス幅の削減は適用されない。
【0027】
図7は、実施形態に係るルックアップテーブルの一例を示す図である。このルックアップテーブルには、入力されたデータ(DATA)に対応するブロックごとの出力データ(DATA1〜DATA32)が格納されている。なお、出力データは、パルス幅に対応している。
【0028】
たとえば、走査開始側に位置する第1ブロックについての入力データがFFであれば、出力データは99となる。これは、パルス幅が40%削減されることを意味する。また、中央に位置する第16ブロックについての入力データがFFであれば、出力データはFFとなる。これは、パルス幅が削減されないことを意味する。走査開始側に位置する第32ブロックについての入力データがFFであれば、出力データは99となる。このように、ピントずれの影響が大きな走査位置では大きな補正が適用され、ピントずれの影響が小さな走査位置では小さな補正が適用される。ピントずれの影響がなければ、補正が適用されないことになる。すなわち、スポットの肥大化が大きければ大きいほど、パルス幅の最大値が削減されることになる。
【0029】
図8は、実施形態に係る光量補正データの一例を示す図である。図8によれば、各ブロックごとに、光量の増加量と、増加量を示す設定値とが示されている。たとえば、第1ブロックや第32ブロックのパルス幅の最大値は、40%削減されているため、光量の増加量は40%となる。第4ブロックや第28ブロックのパルス幅の最大値は、30%削減されているため、光量の増加量は30%となる。第10ブロックや第21ブロックのパルス幅の最大値は、20%削減されているため、光量の増加量は20%となる。
【0030】
露光制御部10の制御回路200の動作についてより詳細に説明する。画像読取部101から入力された画像信号(DATA)は、全てのルックアップテーブル201−1〜201−32に入力される。画像信号は、それぞれのブロックに応じたレーザリニアリティに補正されるとともに、走査位置に応じた適切なパルス幅に変換され、DATA1〜DATA32として出力される。
【0031】
ルックアップテーブル201−1〜201−32から出力された補正後のDATA1〜DATA32はセレクタ202に入力される。セレクタ202は、後述するシーケンスコントローラによって各ブロックの終了アドレスが設定される。セレクタ202は、設定された各ブロックの終了アドレスと、アドレスカウンタ210からのアドレスS200とを比較する。そして、セレクタ202は、比較結果に応じて、ルックアップテーブル201−1〜201−32から入力されたDATA1〜DATA32のうちいずれか1つを選択して画像信号S202として出力する。これと並行して、セレクタ202は、比較結果に応じて、メモリ203−1〜203−32から出力された光量補正データPOW1〜POW32のうちいずれか1つを選択し、光量補正データS203として半導体レーザ駆動部31へ出力する。こうして各ブロックに応じた適切なパルス幅の画像信号S202及び適切な光量補正データS203が半導体レーザ駆動部31へ出力される。
【0032】
図9は、半導体レーザ駆動部31の一例を示したブロック図である。半導体レーザ43は、レーザダイオード43A、PDセンサ43Bを備えたレーザチップである。PDは、フォトダイオードの略である。バイアス電流源41は、レーザダイオード43Aのバイアス電流源として機能する。パルス電流源42は、レーザダイオード43Aのパルス電流源である。
【0033】
変調部48は、セレクタ202から入力された画像信号S202にしたがって画素変調を実行して変調信号を生成する。論理素子40は、この変調信号とシーケンスコントローラ47からのフル点灯信号FULLとを論理和演算する。スイッチ49は、論理和演算の結果に応じてオンまたはオフになる。スイッチ49がオンになると、一走査ごとに制御されるバイアス電流源41からの電流と、一走査中に可変制御されるパルス電流源42からの電流との和によって、レーザダイオード43Aは発光制御される。一方、スイッチ49がオフになると、バイアス電流源41からの電流のみによって、レーザダイオード43Aは発光制御される。
【0034】
フル点灯発光時(フル点灯信号FULLがアクティブのとき)の光量をモニターしたPDセンサ43Bの出力信号は、電流/電圧(I/V)変換器44で電圧信号に変換される。この電圧信号は、増幅器45で増幅されて信号VPDとなり、APC回路46へ入力される。APCは、自動光量制御の略である。
【0035】
パルス電流量可変制御部50は、光量補正データS203に応じて一走査中のパルス電流量を制御する信号Vcomを生成してパルス電流源42を制御する。これにより、一走査中のピントずれに応じた光量補正が実行される。
【0036】
図10は、実施形態におけるAPC回路46の一例を示した回路図である。アナログスイッチ38は、シーケンスコントローラ47からのサンプル/ホールド信号S/Hにしたがって増幅されたPDセンサ出力VPDをサンプルする。なお、サンプルした電圧値VSHは、抵抗37とコンデンサ39とで決まる時定数で一走査の間ホールドされる。比較器51は、電圧値VSHと予め設定された基準電圧値VREFとを比較し、比較結果である両者の差信号VAPCを出力する。バイアス電流源41の電流は、この差信号VAPCに応じて制御される。すなわち、基準電圧値VREF(目標のバイアス発光値)となるように、各走査ごとにバイアス電流源41の電流を制御することによって、半導体レーザ43Aのバイアス光量が所望の光量となる。
【0037】
図11は、実施形態に係るパルス電流量可変制御部50の例示的な回路図である。D/A変換器600は、セレクタ202から出力された光量補正データS203をデジタルアナログ変換して電圧S601を出力する。D/A変換器600は、APC回路46から出力された電圧値VSHをレファレンス電圧として変換を実行する。また、D/A変換器600は、画像クロックCLKにしたがって動作する。ローパスフィルタ602は、コンデンサや抵抗等で構成されており、D/A変換器600が出力した電圧S601を平滑化し、平滑化された電圧S603を出力する。加算器604は、APC回路46から出力された電圧値VSHに、ローパスフィルタ602から出力された電圧S603を加算し、和となる電圧S605を出力する。アナログスイッチ606は、加算器604によって電圧値VSHだけオフセットされた電圧S605と、VSHとをBDマスク信号S301に応じて切り換えて(選択して)出力する。
【0038】
図12は、実施形態に係る信号処理の流れを示した図である。図12のAは、セレクタ202が出力する各ブロックごとの光量補正データの一例を示している。Bは、アナログスイッチ606が出力する光量補正信号VCOMの一例を示している。VSHは、D/A変換器600のレファレンス電圧VREFとして入力され、デジタルアナログ変換処理における基準電圧となる。D/A変換器600には、光量補正データS203も入力される。たとえば、D/A変換器600は、光量補正データS203がFFHのときに、VSHを出力するようにデジタルアナログ変換を実行する。アナログ変換された電圧S601は、ローパスフィルタ602を通って電圧S603として出力される。たとえば、第1ブロックに関して、光量の増加量は40%であり、光量補正データは66Hである。よって、電圧S603は、VSHの40%(=66H/FFH)の電圧値となる。電圧S603は、加算器604にて電圧VSH分だけオフセットされた電圧S605となる。電圧S605は、アナログスイッチ606に入力される。
【0039】
アナログスイッチ606は、BDマスク信号S301に応じて出力すべき信号を選択する。アナログスイッチ606は、光ビームが感光体上を走査する区間(画像領域)ではS605を選択して出力する。一方、アナログスイッチ606は、光ビームが感光体上を走査していない区間(非画像領域)ではVSHを選択して出力する。とりわけ、非画像領域のうち、光ビームがBDセンサを走査している区間(BD区間)では、通常のAPC動作を実行できるようにするために、VSHが選択される。
【0040】
パルス電流源42は、アナログスイッチ606から出力されたVCOMに応じて制御される。このパルス電流源42の電流に応じて半導体レーザ43の出射光量は、図12のCが示すように光量制御される。つまり、肥大化して光量が低くなったスポットに対して光量を増加させることが可能となる。
【0041】
本実施形態によれば、走査位置に応じてパルス幅と光量を調整することで、ピントずれによって肥大化及び光量の低下したスポットを適切なパルス幅及び光量に補正することができる。よって、一走査内のスポットの形状と光量とが略均一になり、より高画質な画像形成装置を提供することが可能になる。
【0042】
上述した実施形態では、実験または理論的に求められた各走査位置ごとのパルス幅や光量の補正データをテーブルに格納していた。しかし、これらの補正データは、実験または理論的に求められた算術式を使用して、算出されてもよい。すなわち、露光制御部10の制御回路200は、各走査位置ごとのパルス幅や光量を算出する算出手段として機能することになる。
【図面の簡単な説明】
【0043】
【図1】本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す概略断面図である。
【図2】実施形態に係る露光制御部10の一例を示した図である。
【図3】本発明の基本原理を説明するための図である。
【図4】実施形態に係る露光制御部10の制御回路200の一例を示した図である。
【図5】各ブロックにおけるスポット肥大化の一例を示した図である。
【図6】各ブロックにおけるパルス幅の最大値を示した図である。
【図7】実施形態に係るルックアップテーブルの一例を示す図である。
【図8】実施形態に係る光量補正データの一例を示す図である。
【図9】半導体レーザ駆動部31の一例を示したブロック図である。
【図10】実施形態におけるAPC回路46の一例を示した回路図である。
【図11】実施形態に係るパルス電流量可変制御部50の例示的な回路図である。
【図12】実施形態に係る信号処理の流れを示した図である。
【技術分野】
【0001】
本発明は、走査光学装置に関し、とりわけ、電子写真方式の画像形成装置に採用可能な走査光学装置に関する。
【背景技術】
【0002】
電子写真方式の画像形成装置は、露光装置により光ビームを走査することで感光ドラム上に静電潜像を形成する。一般に、感光ドラム上に形成される光ビームのスポット径は、感光ドラム上のいずれの位置においても一定となることが望ましい。これが実現されなければ、感光ドラムの主走査方向の走査位置に応じて線の太さが細くなったり太くなったりしてしまうからである。そのため、露光装置は、光源から出力された光ビームを集光するための光学系(f−θレンズなど)を備えている。
【0003】
ところが、f−θレンズで集光しても走査位置に応じて微小なピント(フォーカス)ずれがある。たとえば、感光ドラム上の走査開始側・中央付近・終了側ではそれぞれスポット径が数μm異なっていた。
【0004】
解像度が600dpi(スポット径が42μm)の露光装置であれば、走査位置の中央付近で所望のスポット径が得られるように光学調整することで、走査開始側及び終了側でのスポット径が略46μmとなる。600dpiくらいまでの低解像度であれば、この4μmのスポット径の差は画質的な問題を無視できる程度である。
【0005】
しかし、2400dpi(所望スポット径が10.5μm)のような高解像度では、4μmのスポット径の肥大はもはや無視できない。なぜなら、4μmは、600dpiにとってせいぜいスポット径が10%肥大化することを意味するが、2400dpiにとってはスポット径が約40%も肥大化することを意味するからである。さらに、1つのスポットを形成する際の積分光量は一定であるため、40%肥大化したスポットは40%光量が少ないスポットになってしまう。よって、走査位置の中央付近に対して開始側・終了側の光量が低くなり、画像の濃度が低くなってしまう。このように、高解像度では、光学系のピンとずれにともなうスポット径の肥大が、画像品質の低下を招いてしまう。
【0006】
スポットのピントを合わせる技術として、光軸方向にコリメータレンズやシリンドリカルレンズを移動させる技術(特許文献1)や、光軸方向に光源や光学素子を移動させる技術(特許文献2)が提案されている。
【特許文献1】特開平08-334710号公報
【特許文献2】特開2001-091882号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
ところが、特許文献1や特許文献2に示された方法は、いずれも光学的にピントを合わせる方法にすぎない。すなわち、いずれの走査位置でもピントを合わせるには、走査位置に応じて、光源や光学素子、レンズ等を高速に駆動しなければならない。一走査は極めて短時間であるため、このような高速駆動の実現は困難であり、実現できたとしてもコストアップになってしまう。
【0008】
そこで、本発明は、このような課題および他の課題のうち、少なくとも1つを解決することを目的とする。たとえば、本発明は、走査位置ごとの光ビームのピントずれを、比較的に簡単でかつコスト的にも有利な手法で補正することを目的とする。なお、他の課題については明細書の全体を通して理解できよう。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明の走査光学装置は、たとえば、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段とを含む。とりわけ、走査光学装置は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、走査位置ごとの光ビームのピントずれを、比較的に簡単でかつコスト的にも有利な手法で補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【0011】
以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
【0012】
図1は、本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す概略断面図である。なお、ここでは、画像形成装置の一例として複写機を採用するが、画像形成装置は、印刷装置、プリンタ、複合機、ファクシミリのいずれであってもよい。
【0013】
画像形成装置100は、画像読取部101と画像形成部102とを備えている。画像読取部101は、原稿の画像を読み取って画像データ(画像信号)を生成し、画像形成部102の露光制御部10へ出力する。露光制御部10は、たとえば、露光器、走査光学装置、光走査装置、光学スキャナ装置と呼ばれることもある。
【0014】
感光体11は、像担持体の一例であり、その形状はドラム(円筒)形状となっている。1次帯電器28は、感光体11の表面を一様に帯電させる。露光制御部10は、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源(例:レーザ)と、ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、光ビームを偏向する偏向手段(例:回転多面鏡やガルバノミラー)とを備えている。この光ビームが照射光となって、像担持体(感光体11)上に潜像が形成される。現像装置13は、像担持体上に形成された潜像を現像してトナー像を形成する。トナー像の形成と並行して、第1転写部材積載部14または第2転写部材積載部15より記録媒体(用紙、フィルム等)が転写装置16へ搬送される。転写装置16は、トナー像を記録媒体に転写する。定着装置17は、転写されたトナー像記録媒体上に定着させる。
【0015】
図2は、実施形態に係る露光制御部10の一例を示した図である。半導体レーザ駆動部31は、光源として機能する半導体レーザ43を備えており、入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを半導体レーザ43に出力させる。半導体レーザ43から出力された光ビームはコリメータレンズ35及び絞り32によりほぼ平行光に変換される。所定のビーム径となった光ビームは、偏向手段として機能する回転多面鏡33に入射する。
【0016】
回転多面鏡33は、ガルバノミラーなど、往復運動を繰り返す振動ミラーであってもよい。回転多面鏡33は、等角速度で回転する。入射した光ビームは、回転する回転多面鏡33によって反射されることで、連続的に角度(出射方向)を変える偏向ビームとなる。偏向ビームとなった光ビームはf−θレンズ34により集光作用を受ける。f−θレンズ34は、走査の時間的な直線性を保証する(歪曲収差の補正を行う)。光ビームは、感光体11上を矢印の方向(主走査方向)に等速で走査される。一走査において、光ビームは、感光体11上の走査開始側から中央を経由して走査終了側へと進む。
【0017】
BDセンサ36は、回転多面鏡33からの反射光を検出し、検出信号S36を出力する。検出信号S36は、回転多面鏡33の回転とデータの書き込みとの同期をとるための同期信号として用いられる。なお、BDは、ビームディテクトの略である。
【0018】
図3は、本発明の基本原理を説明するための図である。とりわけ、Aは、ピントずれの補正を施す前における感光体11の中央付近のスポット301、感光体11の端部付近のスポット302とを示している。中央付近のスポット301は、理想的な形状をしているが、端部付近のスポット302は、ピントずれにより形状が拡大してしまっている。一般に、ピントずれによるスポット肥大化は主走査方向に発生しやすい。スポットの濃淡は、スポットが肥大化したことによる光量の低下を示している。なお、両者の光量については補正が行なわれていない。すなわち、中央付近のスポット301及び端部付近のスポット302とも、点灯時間Tで光量Pが採用されている。
【0019】
ピントずれの影響を緩和するためには、Bが示すように、端部付近のスポット302に、通常よりもパルス幅を狭くし(シャープにし)、通常よりも高い光量を適用すればよい。すなわち、点灯時間T‘(T’<T)かつ光量P‘(P’>P)とすることで、補正されたスポット303が得られる。このように、スポットの形成時間を短くしかつ光量を高くすることで、ピントずれに起因したスポットの肥大化及び光量の低下が緩和される。
【0020】
図4は、実施形態に係る露光制御部10の制御回路200の一例を示した図である。この制御回路200は、入力された画像信号DATAを本発明に従って画像信号S202及び光量補正データS203へと変換して半導体レーザ駆動部31へ出力する。このように、制御回路200は、像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、光ビームに適用されるパルス幅及び光量(強度)を補正する補正手段の一例である。なお、補正の基本原理は図3を用いて説明した通りである。すなわち、制御回路200は、各走査位置のうち、光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくする。また、制御回路200は、光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される強度を、光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される強度よりも大きくする。
【0021】
なお、本実施形態では、説明の便宜上、感光体11の主走査方向を32ブロックに分割して制御するものとする。ブロック数は、8、16、64、128など他の値であってもよい。ただし、ブロック数が多ければ多いほど精度が向上するものの、信号処理速度やメモリの記憶容量への要求が高くなる。よって、製品(画像形成装置)の仕様に応じて、適切なブロック数を採用すればよいだろう。
【0022】
アドレスカウンタ210は、BDセンサが出力する検出信号S36が入力されるとカウント値をクリアし、画像クロックCLKにしたがってカウントアップする。アドレスカウンタ210は、カウント値をアドレスS200として出力する。検出信号S36は、一走査周期ごとに入力されるため、アドレスS200は、一走査中における現在の走査位置(ブロック)を特定する情報となる。よって、露光制御部10またはアドレスカウンタ210は、現在の走査位置を特定する特定手段の一例といえる。
【0023】
ルックアップテーブル201−1〜201−32は、走査開始側から走査終了側までの各走査位置(各ブロック)に対応したテーブルであり、走査位置に応じたスポット肥大化を補正するためのレーザリニアリティ補正データを格納している。レーザリニアリティ補正データは、走査位置に対応するパルス幅の最大値を示す情報である。ルックアップテーブル201−1〜201−32は、像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応するパルス幅の最大値を格納したテーブルの一例である。また、アドレスカウンタ210が指定するアドレスに応じてルックアップテーブル201−1〜201−32から、現在の走査位置に対応するパルス幅の最大値が読み出されることになる。また、アドレスカウンタ210は、読み出し手段の一例といえよう。
【0024】
メモリ203−1〜203−32は、レジスタやRAM等のであり、各ブロックごとのピントずれ量に応じた光量補正データを格納している。セレクタ202は、アドレスS200に基づいて(走査対象ブロックに応じて)パルス幅や光量を選択する。なお、光量補正データもテーブル化されていてもよい。よって、メモリ203−1〜203−32は、像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する強度を格納したテーブルの一例といえよう。また、セレクタ202は、読み出し手段の一例である。
【0025】
図5は、各ブロックにおけるスポット肥大化の一例を示した図である。第1ブロックや第32ブロックのスポットは、ピントずれによって、40%大きくなっている。第4ブロックや第28ブロックのスポットは、ピントずれによって、30%大きくなっている。第10ブロックや第22ブロックのスポットは、ピントずれによって、20%大きくなっている。なお、第16ブロックのスポットは、ピントが合っているため、肥大化してはいない。
【0026】
図6は、各ブロックにおけるパルス幅の最大値を示した図である。第1ブロックや第32ブロックのスポットは40%大きくなっているため、パルス幅は40%削減されている。よって、基準となるパルス幅に対して、パルス幅の最大値は60%となる。同様に、第4ブロックや第28ブロックのスポットでは、パルス幅が30%削減されている。第10ブロックや第22ブロックのスポットでは、パルス幅が20%削減されている。第16ブロックのスポットについては、パルス幅の削減は適用されない。
【0027】
図7は、実施形態に係るルックアップテーブルの一例を示す図である。このルックアップテーブルには、入力されたデータ(DATA)に対応するブロックごとの出力データ(DATA1〜DATA32)が格納されている。なお、出力データは、パルス幅に対応している。
【0028】
たとえば、走査開始側に位置する第1ブロックについての入力データがFFであれば、出力データは99となる。これは、パルス幅が40%削減されることを意味する。また、中央に位置する第16ブロックについての入力データがFFであれば、出力データはFFとなる。これは、パルス幅が削減されないことを意味する。走査開始側に位置する第32ブロックについての入力データがFFであれば、出力データは99となる。このように、ピントずれの影響が大きな走査位置では大きな補正が適用され、ピントずれの影響が小さな走査位置では小さな補正が適用される。ピントずれの影響がなければ、補正が適用されないことになる。すなわち、スポットの肥大化が大きければ大きいほど、パルス幅の最大値が削減されることになる。
【0029】
図8は、実施形態に係る光量補正データの一例を示す図である。図8によれば、各ブロックごとに、光量の増加量と、増加量を示す設定値とが示されている。たとえば、第1ブロックや第32ブロックのパルス幅の最大値は、40%削減されているため、光量の増加量は40%となる。第4ブロックや第28ブロックのパルス幅の最大値は、30%削減されているため、光量の増加量は30%となる。第10ブロックや第21ブロックのパルス幅の最大値は、20%削減されているため、光量の増加量は20%となる。
【0030】
露光制御部10の制御回路200の動作についてより詳細に説明する。画像読取部101から入力された画像信号(DATA)は、全てのルックアップテーブル201−1〜201−32に入力される。画像信号は、それぞれのブロックに応じたレーザリニアリティに補正されるとともに、走査位置に応じた適切なパルス幅に変換され、DATA1〜DATA32として出力される。
【0031】
ルックアップテーブル201−1〜201−32から出力された補正後のDATA1〜DATA32はセレクタ202に入力される。セレクタ202は、後述するシーケンスコントローラによって各ブロックの終了アドレスが設定される。セレクタ202は、設定された各ブロックの終了アドレスと、アドレスカウンタ210からのアドレスS200とを比較する。そして、セレクタ202は、比較結果に応じて、ルックアップテーブル201−1〜201−32から入力されたDATA1〜DATA32のうちいずれか1つを選択して画像信号S202として出力する。これと並行して、セレクタ202は、比較結果に応じて、メモリ203−1〜203−32から出力された光量補正データPOW1〜POW32のうちいずれか1つを選択し、光量補正データS203として半導体レーザ駆動部31へ出力する。こうして各ブロックに応じた適切なパルス幅の画像信号S202及び適切な光量補正データS203が半導体レーザ駆動部31へ出力される。
【0032】
図9は、半導体レーザ駆動部31の一例を示したブロック図である。半導体レーザ43は、レーザダイオード43A、PDセンサ43Bを備えたレーザチップである。PDは、フォトダイオードの略である。バイアス電流源41は、レーザダイオード43Aのバイアス電流源として機能する。パルス電流源42は、レーザダイオード43Aのパルス電流源である。
【0033】
変調部48は、セレクタ202から入力された画像信号S202にしたがって画素変調を実行して変調信号を生成する。論理素子40は、この変調信号とシーケンスコントローラ47からのフル点灯信号FULLとを論理和演算する。スイッチ49は、論理和演算の結果に応じてオンまたはオフになる。スイッチ49がオンになると、一走査ごとに制御されるバイアス電流源41からの電流と、一走査中に可変制御されるパルス電流源42からの電流との和によって、レーザダイオード43Aは発光制御される。一方、スイッチ49がオフになると、バイアス電流源41からの電流のみによって、レーザダイオード43Aは発光制御される。
【0034】
フル点灯発光時(フル点灯信号FULLがアクティブのとき)の光量をモニターしたPDセンサ43Bの出力信号は、電流/電圧(I/V)変換器44で電圧信号に変換される。この電圧信号は、増幅器45で増幅されて信号VPDとなり、APC回路46へ入力される。APCは、自動光量制御の略である。
【0035】
パルス電流量可変制御部50は、光量補正データS203に応じて一走査中のパルス電流量を制御する信号Vcomを生成してパルス電流源42を制御する。これにより、一走査中のピントずれに応じた光量補正が実行される。
【0036】
図10は、実施形態におけるAPC回路46の一例を示した回路図である。アナログスイッチ38は、シーケンスコントローラ47からのサンプル/ホールド信号S/Hにしたがって増幅されたPDセンサ出力VPDをサンプルする。なお、サンプルした電圧値VSHは、抵抗37とコンデンサ39とで決まる時定数で一走査の間ホールドされる。比較器51は、電圧値VSHと予め設定された基準電圧値VREFとを比較し、比較結果である両者の差信号VAPCを出力する。バイアス電流源41の電流は、この差信号VAPCに応じて制御される。すなわち、基準電圧値VREF(目標のバイアス発光値)となるように、各走査ごとにバイアス電流源41の電流を制御することによって、半導体レーザ43Aのバイアス光量が所望の光量となる。
【0037】
図11は、実施形態に係るパルス電流量可変制御部50の例示的な回路図である。D/A変換器600は、セレクタ202から出力された光量補正データS203をデジタルアナログ変換して電圧S601を出力する。D/A変換器600は、APC回路46から出力された電圧値VSHをレファレンス電圧として変換を実行する。また、D/A変換器600は、画像クロックCLKにしたがって動作する。ローパスフィルタ602は、コンデンサや抵抗等で構成されており、D/A変換器600が出力した電圧S601を平滑化し、平滑化された電圧S603を出力する。加算器604は、APC回路46から出力された電圧値VSHに、ローパスフィルタ602から出力された電圧S603を加算し、和となる電圧S605を出力する。アナログスイッチ606は、加算器604によって電圧値VSHだけオフセットされた電圧S605と、VSHとをBDマスク信号S301に応じて切り換えて(選択して)出力する。
【0038】
図12は、実施形態に係る信号処理の流れを示した図である。図12のAは、セレクタ202が出力する各ブロックごとの光量補正データの一例を示している。Bは、アナログスイッチ606が出力する光量補正信号VCOMの一例を示している。VSHは、D/A変換器600のレファレンス電圧VREFとして入力され、デジタルアナログ変換処理における基準電圧となる。D/A変換器600には、光量補正データS203も入力される。たとえば、D/A変換器600は、光量補正データS203がFFHのときに、VSHを出力するようにデジタルアナログ変換を実行する。アナログ変換された電圧S601は、ローパスフィルタ602を通って電圧S603として出力される。たとえば、第1ブロックに関して、光量の増加量は40%であり、光量補正データは66Hである。よって、電圧S603は、VSHの40%(=66H/FFH)の電圧値となる。電圧S603は、加算器604にて電圧VSH分だけオフセットされた電圧S605となる。電圧S605は、アナログスイッチ606に入力される。
【0039】
アナログスイッチ606は、BDマスク信号S301に応じて出力すべき信号を選択する。アナログスイッチ606は、光ビームが感光体上を走査する区間(画像領域)ではS605を選択して出力する。一方、アナログスイッチ606は、光ビームが感光体上を走査していない区間(非画像領域)ではVSHを選択して出力する。とりわけ、非画像領域のうち、光ビームがBDセンサを走査している区間(BD区間)では、通常のAPC動作を実行できるようにするために、VSHが選択される。
【0040】
パルス電流源42は、アナログスイッチ606から出力されたVCOMに応じて制御される。このパルス電流源42の電流に応じて半導体レーザ43の出射光量は、図12のCが示すように光量制御される。つまり、肥大化して光量が低くなったスポットに対して光量を増加させることが可能となる。
【0041】
本実施形態によれば、走査位置に応じてパルス幅と光量を調整することで、ピントずれによって肥大化及び光量の低下したスポットを適切なパルス幅及び光量に補正することができる。よって、一走査内のスポットの形状と光量とが略均一になり、より高画質な画像形成装置を提供することが可能になる。
【0042】
上述した実施形態では、実験または理論的に求められた各走査位置ごとのパルス幅や光量の補正データをテーブルに格納していた。しかし、これらの補正データは、実験または理論的に求められた算術式を使用して、算出されてもよい。すなわち、露光制御部10の制御回路200は、各走査位置ごとのパルス幅や光量を算出する算出手段として機能することになる。
【図面の簡単な説明】
【0043】
【図1】本発明に係る画像形成装置の全体構成を示す概略断面図である。
【図2】実施形態に係る露光制御部10の一例を示した図である。
【図3】本発明の基本原理を説明するための図である。
【図4】実施形態に係る露光制御部10の制御回路200の一例を示した図である。
【図5】各ブロックにおけるスポット肥大化の一例を示した図である。
【図6】各ブロックにおけるパルス幅の最大値を示した図である。
【図7】実施形態に係るルックアップテーブルの一例を示す図である。
【図8】実施形態に係る光量補正データの一例を示す図である。
【図9】半導体レーザ駆動部31の一例を示したブロック図である。
【図10】実施形態におけるAPC回路46の一例を示した回路図である。
【図11】実施形態に係るパルス電流量可変制御部50の例示的な回路図である。
【図12】実施形態に係る信号処理の流れを示した図である。
【特許請求の範囲】
【請求項1】
走査光学装置であって、
入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、
前記光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、該光ビームを偏向する偏向手段と、
前記像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの前記光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、該光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段と
を含むことを特徴とする走査光学装置。
【請求項2】
前記補正手段は、前記各走査位置のうち、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくするとともに、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される光量を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される光量よりも大きくすることを特徴とする請求項1に記載の走査光学装置。
【請求項3】
前記補正手段は、
前記像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを格納したテーブルと、
現在の走査位置を特定する特定手段と、
特定された前記現在の走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを前記テーブルから読み出す読み出し手段と
をさらに含むことを特徴とする請求項1または2に記載の走査光学装置。
【請求項4】
前記特定手段は、
前記像担持体の端部付近に設けられ、一走査ごとに前記光ビームを検出して検出信号を出力するセンサと、
前記センサから一走査ごとに出力される検出信号が入力されると、現在の走査位置を示すカウント値をクリアするカウンタと
を含むことを特徴とする請求項3に記載の走査光学装置。
【請求項5】
前記補正手段は、
前記各走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを算出する算出手段
を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の走査光学装置。
【請求項6】
画像形成装置であって、
像担持体と、
前記像担持体を露光することで前記像担持体上に潜像を形成する、請求項1ないし5のいずれか1項に記載された走査光学装置と、
前記像担持体上に形成された潜像を現像してトナー像を生成する現像装置と、
前記トナー像を記録媒体上に転写する転写装置と、
前記トナー像を前記記録媒体上に定着させる定着装置と
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項7】
入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、前記光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、該光ビームを偏向する偏向手段とを備えた走査光学装置の制御方法であって、
前記像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの前記光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、該光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正工程
を含むことを特徴とする走査光学装置の制御方法。
【請求項8】
前記補正工程は、前記各走査位置のうち、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくするとともに、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される光量を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される光量よりも大きくする工程を含むことを特徴とする請求項7に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項9】
前記補正工程は、
現在の走査位置を特定する特定工程と、
特定された前記現在の走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを、前記像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを格納したテーブルから読み出す読み出し工程と
をさらに含むことを特徴とする請求項7または8に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項10】
前記特定工程は、
前記像担持体の端部付近に設けられ、一走査ごとに前記光ビームを検出して検出信号を出力するセンサと、
前記センサから一走査ごとに出力される検出信号が入力されると、現在の走査位置を示すカウント値をクリアするカウンタと
を使用して前記現在の走査位置を特定する工程であることを特徴とする請求項9に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項11】
前記補正工程は、
前記各走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを算出する算出工程
を含むことを特徴とする請求項7または8に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項1】
走査光学装置であって、
入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、
前記光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、該光ビームを偏向する偏向手段と、
前記像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの前記光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、該光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正手段と
を含むことを特徴とする走査光学装置。
【請求項2】
前記補正手段は、前記各走査位置のうち、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくするとともに、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される光量を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される光量よりも大きくすることを特徴とする請求項1に記載の走査光学装置。
【請求項3】
前記補正手段は、
前記像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを格納したテーブルと、
現在の走査位置を特定する特定手段と、
特定された前記現在の走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを前記テーブルから読み出す読み出し手段と
をさらに含むことを特徴とする請求項1または2に記載の走査光学装置。
【請求項4】
前記特定手段は、
前記像担持体の端部付近に設けられ、一走査ごとに前記光ビームを検出して検出信号を出力するセンサと、
前記センサから一走査ごとに出力される検出信号が入力されると、現在の走査位置を示すカウント値をクリアするカウンタと
を含むことを特徴とする請求項3に記載の走査光学装置。
【請求項5】
前記補正手段は、
前記各走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを算出する算出手段
を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の走査光学装置。
【請求項6】
画像形成装置であって、
像担持体と、
前記像担持体を露光することで前記像担持体上に潜像を形成する、請求項1ないし5のいずれか1項に記載された走査光学装置と、
前記像担持体上に形成された潜像を現像してトナー像を生成する現像装置と、
前記トナー像を記録媒体上に転写する転写装置と、
前記トナー像を前記記録媒体上に定着させる定着装置と
を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【請求項7】
入力された画像データに応じてパルス幅変調された光ビームを出力する光源と、前記光ビームが像担持体上を主走査方向に走査するよう、該光ビームを偏向する偏向手段とを備えた走査光学装置の制御方法であって、
前記像担持体上の主走査方向における走査位置ごとの前記光ビームのピントずれに応じて、各走査位置ごとに、該光ビームに適用されるパルス幅及び光量を補正する補正工程
を含むことを特徴とする走査光学装置の制御方法。
【請求項8】
前記補正工程は、前記各走査位置のうち、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用されるパルス幅の最大値を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用されるパルス幅の最大値よりも小さくするとともに、前記光ビームのピントずれが大きな走査位置に適用される光量を、前記光ビームのピントずれが小さな走査位置に適用される光量よりも大きくする工程を含むことを特徴とする請求項7に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項9】
前記補正工程は、
現在の走査位置を特定する特定工程と、
特定された前記現在の走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを、前記像担持体上の主走査方向を複数に分割することで確定された各ブロックに対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを格納したテーブルから読み出す読み出し工程と
をさらに含むことを特徴とする請求項7または8に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項10】
前記特定工程は、
前記像担持体の端部付近に設けられ、一走査ごとに前記光ビームを検出して検出信号を出力するセンサと、
前記センサから一走査ごとに出力される検出信号が入力されると、現在の走査位置を示すカウント値をクリアするカウンタと
を使用して前記現在の走査位置を特定する工程であることを特徴とする請求項9に記載の走査光学装置の制御方法。
【請求項11】
前記補正工程は、
前記各走査位置に対応する前記パルス幅の最大値と前記光量とを算出する算出工程
を含むことを特徴とする請求項7または8に記載の走査光学装置の制御方法。
【図1】
【図2】
【図4】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図3】
【図5】
【図2】
【図4】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図3】
【図5】
【公開番号】特開2010−78857(P2010−78857A)
【公開日】平成22年4月8日(2010.4.8)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2008−246597(P2008−246597)
【出願日】平成20年9月25日(2008.9.25)
【出願人】(000001007)キヤノン株式会社 (59,756)
【Fターム(参考)】
【公開日】平成22年4月8日(2010.4.8)
【国際特許分類】
【出願日】平成20年9月25日(2008.9.25)
【出願人】(000001007)キヤノン株式会社 (59,756)
【Fターム(参考)】
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