【課題】簡単な作業で、大型構造物の計測ができる画像計測方法及び画像計測装置を提供する。
【解決手段】計測対象物である圧力容器１００をカメラ２で撮像して撮像画像を取得し、その撮像画像をカメラパラメータに基づいて補正し、補正した計測用画像から計測対象であるボルト孔１０１と同一平面上に存在する基準円１５０を抽出し、その基準円１５０からカメラ２の撮像位置を推定し、上記計測用画像から２つのボルト孔１０１を検出して、この検出した情報と撮像位置の情報に基づいて、２つのボルト孔１０１間の距離を算出する。 （もっと読む）

【課題】 複数のワークについて、輪郭の不一致度合いを容易に識別することができる画像測定装置を提供する。
【解決手段】 ワーク画像Ａ２からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、ワーク画像Ａ２及び予め保持されたマスター画像Ａ１を比較する画像比較手段と、比較結果に基づいて、ワーク画像Ａ２のエッジ位置とこのエッジ位置に対応するマスター画像Ａ１上の位置との変位量を示す誤差を算出する誤差算出手段と、複数のワーク画像Ａ２について算出された誤差の統計情報をエッジ位置ごとに算出する統計情報算出手段と、統計情報を、その値に応じた表示態様でワーク画像Ａ２又はマスター画像Ａ１から抽出されたエッジ位置に沿って表示する統計情報表示手段により構成される。 （もっと読む）

【課題】 ワークのエッジ位置に沿って誤差を識別することができるとともに、ワーク画像との対応関係を容易に把握することができる画像測定装置を提供する。
【解決手段】 ワーク画像からエッジを抽出するエッジ抽出手段と、ワークの輪郭情報及び輪郭位置の公差を含む測定設定データを保持する測定設定データ記憶手段と、ワーク画像及び輪郭情報を位置合わせし、ワーク画像上のエッジ位置とこのエッジ位置に対応する輪郭位置との変位量を示す誤差を算出する誤差算出手段と、算出された誤差を公差と比較し、良否判定を行う誤差判定手段と、抽出されたエッジ及び良否判定の結果をワーク画像上に表示する測定結果表示手段により構成される。測定結果表示手段は、誤差が不良と判定されたエッジ位置について、誤差の大きさが極大となるエッジ位置の誤差を数値表示する。 （もっと読む）

【構成】空調装置Ｄ＿１〜Ｄ＿６は、部屋ＲＭ１の天井ＨＶ１に設けられ、部屋ＲＭ１に向けて出力を発生する。部屋ＲＭ１にはまた、空調装置Ｄ＿１〜Ｄ＿６にそれぞれ対応する複数の分割エリアが割り当てられる。ＣＰＵは、部屋ＲＭ１に存在する１または２以上の人物にそれぞれ対応する１または２以上の代表点を検出し、検出された１または２以上の代表点の各々から分割エリアの境界までの距離を測定し、そして測定結果に基づいて空調装置Ｄ＿１〜Ｄ＿６の出力動作を制御する。
【効果】部屋ＲＭ１に向けた適応的な出力制御の精度が向上する。 （もっと読む）

【課題】 安価で正確に点検することができるシステムを提供する。
【解決手段】
点検システムは、遠隔操作されるロボット１（移動体）と、ロボット１に設置されたビデオカメラ１５と、ロボットから離れて配されるディスプレイ２２とを備えている。ロボット１には、第１、第２のレーザービームＬＢ_Ｌ，ＬＢ_Ｒを同一平面Ｐに沿って平行に発射する第１、第２のレーザーポインタ１８Ｌ、１８Ｒ（レーザー発射器）が設けられている。第１、第２の指標画像Ｚ_Ｌ，Ｚ_Ｒがディスプレイ２２に表示される。ユーザーは、第１、第２のレーザービーム像Ｔ_Ｌ、Ｔ_Ｒが、第１、第２の指標画像Ｚ_Ｌ，Ｚ_Ｒに入るようにロボット１を遠隔操作し、これにより、ビデオカメラ１５の光軸１５ａと第１、第２レーザービームＬＢ_Ｌ，ＬＢ_Ｒを平坦な対象面と直交させる。 （もっと読む）

【課題】半導体処理中のオンザフライ自動検出分類（ＡＤＣ）システムおよび方法を提供する。
【解決手段】このシステムの一実施形態において、光源、例えば、レーザ（２１）が検査を受けるウェーハ（２２）の狭い領域を照明する。４つの均等に配置した暗視野検出器、例えば、光電子増倍管またはＣＣＤ（２６〜２９）が、それぞれの視野が重複して検出ゾーンを形成するようにウェーハの縁に載置される。１以上の検出器（２６〜２９）の方向に散乱された光が集光され、アナライザモジュール（３４）に伝送される電気信号に変換される。アナライザモジュール（３４）は、ウェーハにある欠陥を検出し、それらを異なる欠陥タイプに分類するように作用する。任意に、システムは、暗視野検出器も含む。 （もっと読む）

【課題】塗工パターンの幅方向および搬送方向の測定の同時性を実現し、光軸方向の距離変動の影響も無くすことができる塗工パターンの測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】 シートに塗工された塗工パターンの形状測定方法において、
1）シートの搬送方向に直交して水平ラインの撮影方向に複数のカメラを並べ、前記シートを前記複数のカメラで撮影する工程、
2）撮影した映像の水平走査信号または垂直走査信号の少なくとも一方を水平走査に同期させ前記複数のカメラの水平走査信号を順次切り替えて画像処理手段に取り込む工程を含んでいる。 （もっと読む）

【課題】撮影の動作を増加しない前提で、カラー情報を有する立体的輪郭映像を得ることができ、そしてカラー情報を有し奥行きがより深い平面的明瞭映像を得ることができる撮影装置とその撮影方法を提供する。
【解決手段】測量物に対してスキャンを行い、光源と、第１分光器と、顕微接物レンズ組と、第２分光器と、単色映像センシングデバイスと、映像センシングデバイスと、を含む撮影装置において、光源は、照射光ビームを射出するためのものであり、第１分光器は、照射光ビームを反射するためのものであり、顕微接物レンズ組は、測量物の上方に設けられ、反射基準面を含み、第２分光器は、第１分光器の上方に設けられ、工作光ビームを第１子光ビームと第２子光ビームとに分け、単色映像センシングデバイスは、第１子光ビームの行進経路に設けられ、映像センシングデバイスは、第２子光ビームの行進経路に設けられる。 （もっと読む）

【課題】工具をほとんど回転させる必要なく、短時間で心厚等を測定可能な極めて実用性に秀れた測定装置の提供。
【解決手段】外周に一若しくは複数条の溝１ａ・１ｂが形成された略円筒状の被測定部材２を軸心周りに回転させる回転駆動機構と、前記被測定部材２に照明光を照射する照明部及び該照明光が照射された前記被測定部材２を撮影して画像を取得する撮像部を有し該撮像部で取得した画像から前記被測定部材２の外形を測定する測定機構とを備えた測定装置であって、前記撮像部を、前記被測定部材２の軸心方向における所定位置を異なる複数の方向から同時に撮影し得るように構成する。 （もっと読む）

【課題】外乱光が存在する場合でも正確に被計測部材の表面形状を計測することのできる表面形状計測方法およびその装置を提供する。
【解決手段】スリット光画像の長さ方向に直交する画素列を列番号第１列として、第１列目の第１所定範囲内の画素の輝度値から初期中心位置Ｇ０を求め、初期中心位置Ｇ０を中心とし、第１所定範囲より狭い第２所定範囲（参照光幅）内の画素の輝度値から第１列目の中心位置Ｇ１を求める。第２列以降の第ｉ列〜第ｎ列までは、第（ｉ−１）列目の中心位置Ｇ（ｉ−１）を中心として第２所定範囲内の画素の輝度値を加重平均して第ｉ列目の中心位置Ｇｉを求めて、中心位置Ｇ１〜Ｇｎを求めＧ１〜Ｇｎを接続して表面形状を求める。 （もっと読む）

【課題】被測定物の測定パターンに関わらず、測定誤差を低減させることができる画像機器の校正用パターンの提供。
【解決手段】校正用パターン１は、校正用パターン１の中央に設けられる矩形状の明領域からなる中央部１１と、中央部１１の外側に設けられる枠状パターン１２とを備える。枠状パターン１２は、中央部１１を中心として横方向に沿って両側に延出し、等間隔とは異なる所定の間隔で明領域、及び暗領域を交互に繰り返す横方向パターンと、中央部１１を中心として縦方向に沿って両側に延出し、等間隔とは異なる所定の間隔で明領域、及び暗領域を交互に繰り返す縦方向パターンとを有している。そして、横方向パターン、及び縦方向パターンは、中央部１１における所定の位置から両側に等距離だけ離間した位置にエッジを有し、各エッジにおける濃淡値の変化方向は同一である。 （もっと読む）

【課題】電極パターンまたは配線パターンに安定的に焦点を合わせることができる画像取得装置、欠陥修正装置および画像取得方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、欠陥が生じている基板１１１の一部を拡大した画像を取得する欠陥修正装置１００であって、基板１１１の一部を撮像する撮像部１２１と、基板１１１を載置したステージを移動するステージ移動部１１３と、対物レンズ１２９の基板１１１に対する焦点合わせを行う合焦検出部１２３と、ステージ移動部１１３を制御して、合焦検出部１２３が焦点合わせを行う場合に合焦検出領域から基板１１１の画像取得対象領域内に含まれる欠陥を退避させるステージ制御部１５６と、合焦検出部１２３による焦点合わせ後の焦点条件を固定する合焦制御部１５５と、合焦制御部１５５による焦点条件の固定後に撮像部１２１に基板の一部を撮像させる撮像制御部１５３とを備える。 （もっと読む）

【課題】従来の検査装置の設備をできるだけ利用しつつ、従来に比べて、撮像手段の配置の制約を緩和させ、より自由度の高い設定を可能とし、より汎用性が高く、取り扱いが容易な物品検査装置を低コストで提供する。
【解決手段】物品１１を搬送する搬送手段２と、物品１１を上方側から撮像する第１撮像手段３ｄと、側方側から撮像する第２撮像手段３ａ、３ｂと、制御手段６と、を備え、上面画像１２及び側面画像１３、１４を取得し、実際の物品の長さが略同一となる対応関係を有する部位を基準部位とし、第１の長さＬ１として上面画像における基準部位の長さを測定し、第２の長さＬ２として側面画像における基準部位の長さを測定し、第３の長さＬ３として側面画像における測定部位の長さを測定し、第１の長さＬ１と第２の長さＬ２との対応関係に基づいて、第３の長さＬ３を補正して測定部位の長さＸを算出する。 （もっと読む）

【課題】回転対称な線織面または互いに離間した複数の平面からなる被検面の傾斜角度、形状および径の大きさ等を短時間で測定可能な被検面測定装置を得る。
【解決手段】円錐レンズ３１と回折光学素子３２とからなる光偏向素子３０を配置し、測定光を照射する。光偏向素子３０に入射した測定光の一部は、参照基準面３１ｂにおいて参照光として反射され、その余は光偏向素子３０により放射状に偏向されて被検面７１の各部に垂直に照射される。被検面７１の各部から再帰反射された測定光の一部は、光偏向素子３０を経由し被検光として参照基準面３１ｂに戻る。この被検光と参照光の光路長差が低干渉光源１１からの出力光の可干渉距離以下となるように迂回路部１３における迂回距離の調整がなされ、撮像カメラ２３により撮像された干渉縞画像に基づき、被検面７１の各部の傾斜角度、形状および径の大きさが測定解析される。 （もっと読む）

【課題】装置又は部品の加工誤差又は製作誤差や、流体固有の屈折率の影響等に起因する画像データ取得の困難性を解消し、マイクロスケールの微小流動場の流体速度等を解析するために有効な画像を単一の撮像装置によって取得する。
【解決手段】微小流動場撮影装置は、微小流動場(M)の可視化流体の粒子画像を撮像する撮像装置(11)と、撮像装置に光学的に連結した顕微鏡(12)とを備える。複数の第１反射面(17,17a)と、第１反射面の各々に対面し且つ顕微鏡の光路に配置された複数の第２反射面(16,16a)とが顕微鏡と微小流動場との間に配置される。微小流動場撮影装置は、第１又は第２反射面の角度を調整する角度調整機構と、第１又は第２反射面の位置を調整する位置調整機構とを備える。微小流動場の粒子の反射光が第１及び第２反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 （もっと読む）

【課題】被写体までの正確な距離を検出することができない場合においても被写体の実寸法を測定することができる電子機器を提供する。
【解決手段】被写体の周囲の一部の領域を少なくとも含む領域に対してスケール画像を投影する投影部１４と、前記投影部により前記スケール画像を投影した状態で前記被写体を撮像する撮像部８とを備える。 （もっと読む）

【課題】帯状材料に発生する周期性欠陥の有害度を適正に判定することができる帯状材料の周期性欠陥検査方法および装置を提供する。
【解決手段】搬送中の帯状材料の表面欠陥を検出し、検出した表面欠陥のうち、搬送方向に周期性を有する一群の欠陥を周期性欠陥として抽出し、抽出したそれぞれの周期性欠陥について少なくとも欠陥の発生する幅方向位置と欠陥サイズと搬送方向の欠陥発生ピッチとを含む特徴量を算出し、前記帯状材料のコイル毎にそれぞれの周期性欠陥が発生する搬送方向の起点位置と消滅する終点位置との差である発生長さを算出し、連続する複数のコイル内で抽出された前記周期性欠陥のうち、少なくとも前記幅方向発生位置及び欠陥発生ピッチが略同じものを一つの周期性欠陥と判定し、各コイル内の欠陥発生長さの総和である欠陥発生累積長さを求め、前記特徴量と前記欠陥発生累積長さとに基づいて前記周期性欠陥の有害度を判定する帯状材料の周期性欠陥検査方法である。 （もっと読む）

【課題】
画像処理による等階級の選別は、選別対象の外観を選別規準としているので選別対象の全面を検査する必要があるところ、選別対象は搬送部の一部をなすコンベアの上に乗せられた状態であるので、搬送部と選別対象の接触部の撮像が行えないことが問題となっていた。また、選別対象が山積み状態となっておれば、適切に画像処理を行うことができないので分離されていなければならない。従来は人手で行っていた選別作業を自動化して、省力化の要請があった。
【解決手段】
独立駆動される複数台のＶ型ベルトコンベアと保持機構を組み合わせることにより、多様な形状寸法を有する選別対象において、複数種類の選別対象に対応することができ、山積み状態の選別対象の分離を促して、撮像部までに選別対象を１個に分離して、識別部でのニューロネットワーク等を利用した全面画像処理により、選別作業の自動化を図った。 （もっと読む）

【課題】ズームレンズの変倍動作により移動する入射瞳の位置に対物レンズの射出瞳の位置を略一致させるように構成された結像光学系、及び、この結像光学系を有する形状測定装置を提供する。
【解決手段】形状測定装置１００に用いられる結像光学系３０は、測定物体の像を結像する対物レンズ２５と、この像を変倍するズームレンズ３２と、変倍動作により光軸に沿って移動するズームレンズ３２の入射瞳の位置に、対物レンズ２５の射出瞳の位置を略一致させる瞳移動光学系としてのリレーレンズ３１と、を有する。 （もっと読む）

【課題】回転対称な非球面からなる被検面の形状を、干渉計と被検面との相対位置を変えることなく測定可能な回転対称非球面形状測定装置を得る。
【解決手段】白色光源１１からの低可干渉光からなる測定光を、回折光学素子３２を有する光偏向素子３０を介して被検面７１に照射する。また、被検面７１から再帰反射された被検光と参照光の光路長差が低干渉光の可干渉距離以下となるように迂回路部１３における迂回距離の調整がなされる。被検光と参照光との干渉光は、回折格子板の傾斜角度と干渉光の波長とが所定の関係を満たす場合のみ撮像カメラ２８内に入射し、撮像素子２９上に干渉縞画像が形成される。干渉光の波長別に撮像された各干渉縞画像および該各干渉縞画像の撮像時点における、参照基準面３１ａから被検面７１までの測定光の光路上における光学距離に基づき、被検面７１の形状が測定解析される。 （もっと読む）