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Fターム[2F065HH04]の内容

光学的手段による測長装置 (194,290) | 入射光 (9,091) | 強度分布 (4,196) | スポット光、ビーム光 (1,478)

Fターム[2F065HH04]に分類される特許

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【課題】画像認識用のカメラの高さを自動的に検出する。
【解決手段】カメラ位置22には、前方斜め下に向けた画像認識装置用の撮像カメラ5が設置されており、その上方の光源位置21には、撮像カメラ5の画面フレーム31の内部に投影像26を投影する光源装置4が設置されている。装着型ロボットに搭載された画像認識装置は、画面フレーム31の下端と投影像26の下端との距離である投影像オフセットx2を画像データで計測し、投影像オフセットx2とカメラ高さy2を対応させた対応データマップや、あるいは計算によりカメラ高さy2を取得する。このようにして得られたカメラ高さy2は、パラメータとして記憶装置に記憶され、画像認識装置で段差などの認識するのに使用される。 (もっと読む)


【課題】移動体の位置を高精度に制御しつつ、物体上の複数のマークの検出時間を短縮する。
【解決手段】 露光装置は、ウエハWを保持してXY平面内で移動するとともに、上面にY軸方向を周期方向とする格子を有する一対のYスケール39Y、39Yが設けられたウエハステージWSTと、X軸方向に関して検出領域の位置が異なる複数のアライメント系AL1、AL2〜AL2と、X軸方向に関して前記複数の検出領域の両外側に1つずつ配置される一対のYヘッド64y、64yを含む複数のYヘッド64を有し、一対のYスケールの少なくとも一方と対向するYヘッドによって、ウエハステージWSTのY軸方向の位置情報を計測するYエンコーダと、を備えている。このため、ウエハステージWSTのY軸方向の移動の際に、ウエハ上の複数のマークを複数のアライメント系で同時に計測可能になる。 (もっと読む)


【課題】変位計と測定対象物との間の相対移動に起因する誤差を適切に補正すること。
【解決手段】測定対象物の一次元形状を測定する変位計と測定対象物との間の相対位置をずらしながら測定対象物の平面度を測定する平面度測定装置は、第1方向の第1測定ラインに沿って被測定面の一次元形状を測る第1測定と、第1測定ラインと第1交差点P2で交差する第2方向の第2測定ラインに沿って被測定面の一次元形状を測る第2測定と、第2測定ラインおよび第1測定ラインとそれぞれ第2交差点P3および第3交差点P1で交差する第3方向の第3測定ラインに沿って被測定面の一次元形状を測る第3測定と、第1測定による第1の一次元形状を示す第1の測定値列DL1、第2測定による第2の一次元形状を示す第2の測定値列DL2、および第3測定による第3の一次元形状を示す第3の測定値列DL3を第1交差点P2乃至第3交差点P1においてそれぞれ一致させるように第1の測定値列DL1乃至第3の測定値列DL3を補正する補正処理と、を行う。 (もっと読む)


【課題】合焦精度を向上させる。
【解決手段】高感度のラインセンサ16Bは、レーザ照明部11により照明された対象物2の光点像の光量から得られる高輝度の受光データを取得し、低感度のラインセンサ16Aは、対象物2の光点像の光量から得られる低輝度の受光データを取得し、データ処理部17は、正常時は、高感度のラインセンサ16Bからの高輝度の受光データを選択し、高輝度の受光データを得るときのレーザ光が飽和した場合、低輝度の受光データを選択する。そして、検出部18は、データ処理部17により選択された受光データに基づいて、対象物2の像の合焦状態を検出することで、対象物2の像の合焦状態が確実に検出されるので、合焦精度を向上させることができる。本発明は、例えば、対象物の断面形状を測定する測定装置に用いられる位置検出装置に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】試料に形成されたパターンに起因する高さ測定誤差を低減して、描画精度の向上を図ることのできる高さ測定方法および荷電粒子ビーム描画装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様によれば、高さ測定方法は、高さの基準となる範囲を決定する工程と、PSDを含むアナログ信号処理回路上でのオフセット値を求める工程と、PSDの出力値からオフセット値を差し引いた値を用いて試料の高さの測定データを求める工程と、試料の高さの測定データの内で基準となる範囲に含まれない値を除き、残った値を用いてフィッティングを行い、試料の高さデータを作成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】複数の測定面領域が互いにオーバーラップ領域を持たない場合などでも、複数の面測定データの相対位置関係を高精度に合わせることができる表面形状測定装置及び表面形状測定方法を提供する。
【解決手段】表面形状測定装置10は、光学的表面形状測定機11と触針式検出器22などの高さ測定機を備え、光学式表面形状測定機11で測定した複数箇所の測定面領域の各面測定データにおける高さ測定点の各測定値の相対的位置関係を、高さ測定機22で測定した前記高さ測定点の各測定値の相対的位置関係に合わせるように前記各面測定データを移動補正する。 (もっと読む)


【課題】開口部の寸法を正確に計測することが可能なスクリーンマスクの計測装置を提供する。
【解決手段】この印刷装置100は、スクリーンマスク90の上面90aを撮像して開口部91の画像を取得するカメラ15と、カメラ15からスクリーンマスク90の上面90aまでの距離Lを測定するために設けられたレーザポインタ16と、カメラ15およびレーザポインタ16を用いて測定された距離Lに基づいて、撮像された画像に基づくデータを実寸法に換算する換算係数Sを調整する制御部85とを備える。 (もっと読む)


【課題】 透光性管状物体の厚さを全域にわたって短時間で精度よく測定する。
【解決手段】 測定用レーザ光をガルバノミラー35で反射させてガラス管Gに照射し、ガラス管Gの外周面で反射する反射光及び内周面で反射する反射光をラインセンサ39で受光し、反射光の受光位置からガラス管Gの厚さを検出する。サーボ用レーザ光源40からのサーボ用レーザ光をガルバノミラー35で反射させて、ガラス管Gにおける測定用レーザ光の照射位置又はその近傍位置にZ軸方向から照射する。フォトディテクタ48でガラス管Gからのサーボ用レーザ光の反射光を受光し、Y軸方向エラー信号生成回路119、Y軸方向サーボ回路120及びY軸方向ドライブ回路121が、モータ36を駆動制御することにより、測定用レーザ光の光軸がガラス管Gの中心軸と交差するようにガルバノミラー35のX軸線周りの回転をサーボ制御する。 (もっと読む)


【課題】多段のガス槽の傾斜状態をリアルタイムで計測することができ、各ガス槽の支持部材の更新時期を的確に判断することできる有水式ガスホルダの傾斜測定装置を提供する。
【解決手段】水槽2内の水面から上昇しているガス槽を特定するガス槽特定手段27と、特定したガス槽に配置されている反射板21a〜23aに光軸が一致するように第1〜第3光波距離計25a〜25cを移動させる第1〜第3駆動部26a〜26cと、第1〜第3光波距離計が測定した反射板との距離に基づいて、特定したガス槽の傾斜情報を算出する算出手段28と、その傾斜情報を表示する表示手段29とを備えている。 (もっと読む)


【課題】例えば部品をチャックで傾いて把持した場合でも、部品の先端位置を正確に認識できる部品位置計測方法を提供する。
【解決手段】部品1をチャック2で把持し、その把持位置を計測基準位置Aとして部品を移動させ、部品に交差する方向の光線3,4を部品で遮断させ、遮断位置B,B’における部品のチャックを支点とした傾き方向の位置ずれを計測手段で計測し、その計測値を登録済みの計測基準位置と比較してずれ量Hを求め、ずれ量を一辺とし、計測基準位置Aを一点とする仮想三角形aと、遮断位置B,B’と部品の先端との二点を通る仮想三角形bとの相似関係より、部品の先端位置Cの計測補正値hを求め、ずれ量Hと計測補正値hとの総和で部品先端位置ずれ量ΔZを求める。 (もっと読む)


【課題】プリント板上の測定しようとするはんだ箇所に対し、高さの基準となる基準面を設定し、その基準面に対するはんだの高さを求めるときに、部品実装後のプリント板を分割するために加工された分割用加工部の影響を受けないようにする技術を提供する。
【解決手段】変位センサがはんだが印刷されたプリント板を光学的に計測し、このプリント板の高さの変位を示す変位情報を出力し、分割ライン決定部がプリント板を分割するための分割用加工部を変位情報に基づき検出し、プリント板の分割ラインを分割ライン情報として出力する。基準面算出領域設定手段は、分割ライン情報を受け分割ラインの内側の領域内に基準面算出領域を設定し、基準面算出手段が基準面算出領域内の変位情報に基づいて、基準面算出領域に形成される平面を基準面として設定する。変位測定部は、はんだ箇所のはんだの高さを、はんだ箇所の変位情報と設定された基準面とから算出する。 (もっと読む)


【課題】パターン付きウェハの表面粗さを高精度で非破壊に測定できる平坦な検査範囲を、目視によらず探索できる表面検査装置を提供する。
【解決手段】照射される照射光により生じる散乱光の散乱光強度を、パターン付きウェハ200上の測定座標に対応付けて測定し、ウェハ200の表面粗さを検査する表面検査装置において、制御部が、下限閾値以上である散乱光強度の測定座標を抽出し、抽出された測定座標の周辺に相当するパターンの全体レイアウト401の一部の部分レイアウト405a内に、表面粗さの検査の検査範囲406を設定し、検査範囲406における表面粗さを求める。 (もっと読む)


【課題】
微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。
【解決手段】
光源から出射した光を、調整する照明光調整工程と、前記照明光調整工程により得られる光束を所望の照明強度分布に形成する照明強度分布制御工程と、前記照明強度分布の長手方向に対して実質的に垂直な方向に試料を変位させる試料走査工程と、照明光が照射される領域内の複数の小領域各々から出射される散乱光の光子数を計数して対応する複数の散乱光検出信号を出力する散乱光検出工程と、複数の散乱光検出信号を処理して欠陥の存在を判定する欠陥判定工程と、欠陥と判定される箇所各々について欠陥の寸法を判定する欠陥寸法判定工程と、前記欠陥と判定される箇所各々について、前記試料表面上における位置および前記欠陥の寸法を表示する表示工程と、を有することを特徴とする欠陥検査方法。 (もっと読む)


【課題】均一で安定性の高い光スポットを発生させる回折光学素子を提供する。
【解決手段】複数の基本ユニットが2次元的に配列されている第1の回折素子と、複数の基本ユニットが2次元的に配列されている第2の回折素子と、を有し、入射する光に対して2次元的な回折光を発生させる回折光学素子であって、前記第1の回折素子において前記基本ユニットの配列方向を第1の方向とし、前記第2の回折素子において前記基本ユニットの配列方向を第2の方向とし、前記光が前記第1の回折素子、前記第2の回折素子の順に入射するとき、前記第1の回折素子で発生する回折光がさらに、前記第2の回折素子に入射して発生する0次光の最近接距離をΔxとし、前記第2の回折素子により発生する回折光及び迷光における最近接距離をαとした場合、前記第1の方向と前記第2の方向のなす角φが、−|φ|<φ<|φ|、かつ、φ≠0、sinφ=−α/Δxであることを特徴とする回折光学素子を提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】 位置決めの正確さおよび/または強健性が改善されたリソグラフィ投影装置のアライメント・システムを提供する。
【解決手段】 リソグラフィ装置の位置決めシステムは、位置決め放射線源1、第1検出器チャネルおよび第2検出器チャネルを有する検出システム、および検出システムと連絡する位置決定ユニットを有する。位置決定ユニットは、第1および第2検出器チャネルからの情報を組み合わせて処理し、組み合わせた情報に基づいて、第2オブジェクト上の基準位置に対する第1オブジェクト上の位置決めマークの位置を決定する。 (もっと読む)


【課題】微小な領域の薄膜の厚さや光学定数の2次元分布を高速かつ高精細に計測することのできる測定機の提供。
【解決手段】入射・受光光学系と偏光測定モジュール105と解析装置とを具えるエリプソメータで、入射光学系は平行光ビームを出射する機構と光ビームの偏光状態を定める偏光子102あるいは波長板を有し、受光光学系は測定試料103から反射された光ビームを受光し、測定試料面の像を前記偏光計測モジュールに含まれるエリアセンサ106に結像させるレンズ系、偏光計測モジュールは波長板アレイ107と、均一偏光子108と、エリアセンサとを含む。波長板アレイは1次又は2次元的に繰り返し配置された複数の単位ユニットを含み、該ユニットは同異方性軸の方向が異なる少なくとも4種類の波長板を含む。均一偏光子は一方向の透過軸を有し、エリアセンサは前記波長板アレイおよび前記均一偏光子の順に通過した光を独立にその強度を測定できる。 (もっと読む)


【課題】ターゲットの位置決め範囲が従来より狭く、かつ、測定光の光軸が固定されたレーザ干渉計であっても、測定光の光軸方向を測定可能な方法を提供すること。
【解決手段】レーザ干渉計104と再帰反射体106とハンドリング装置102を有する測定システム100を用いる。レーザ干渉計104は、測定光を再帰反射体106に照射し、その反射光と参照光との干渉光強度を検出する。ハンドリング装置102は、再帰反射体106を測定位置まで移動して位置座標情報を検出する。まず、レーザ干渉計104が干渉光を検出でき、かつ同一平面上に存在しない少なくとも4つの測定位置pを選ぶ。再帰反射体106を各測定位置pに移動させて、その位置座標情報を検出する。レーザ干渉計104が再帰反射体106までの距離の変化量を測定する。各測定位置の位置座標情報と各距離の変化量に基づき測定光のベクトル情報 a を算出する。 (もっと読む)


【課題】 コークス炉の炭化室の炉壁の肌荒れによる損傷の程度を指標化できるようにする。
【解決手段】 炭化室11の炉壁14の画像データから、炭化室11の奥行方向の各位置における炉壁14の凹凸量を示す凹凸プロフィール900であって、炭化室11の高さ位置が異なる複数の凹凸プロフィール900を生成する。そして、複数の凹凸プロフィール900から基準位置の変位の部分を抽出してこれらの差分をとることにより、基準位置が揃った凹凸プロフィールを得る。そして、当該基準位置が揃った凹凸プロフィールを、炭化室の奥行方向において100mmピッチで分割し、分割した各区間において、当該凹凸プロフィールの値(凹凸量)の最小値を抽出し、その平均値を肌荒れ指数とする。 (もっと読む)


【課題】検出エリア内におけるレーザ光の実際の照射高さを容易に計測し得るレーザ測定装置を提供する。
【解決手段】レーザ測定装置100は、レーザレーダ装置1と検出用基準物体90とを備えている。検出用基準物体90の反射部は、所定の高さ方向における各位置が高さに応じた構造をなし、且つレーザ光L1が入射したときに、当該レーザ光L1が入射する高さに応じた内容の特定反射光を発するように構成されている。一方、レーザレーダ装置1は、回動反射機構40から照射されるレーザ光L1の走査エリア上に検出用基準物体90が配置されたときにこの検出用基準物体90からの特定反射光を検出している。そして、反射光の状態と高さ情報とを対応付ける対応データを参照して特定反射光の状態に対応する高さ情報を求め、検出用基準物体90におけるレーザ光の照射高さを計測している。 (もっと読む)


【課題】同一パターンとなるように形成された2つのパターンの対応する領域の画像を比較して画像の不一致部を欠陥と判定するパターン検査装置において、膜厚の違いなどから生じるパターンの明るさむらの影響を低減して、高感度なパターン検査を実現する。また、多種多様な欠陥を顕在化でき,広範囲な工程への適用が可能なパターン検査装置を実現する。
【解決手段】同一パターンとなるように形成された2つのパターンの対応する領域の画像を比較して画像の不一致部を欠陥と判定するパターン検査装置を、複数の検出系とそれに対応する複数の画像比較処理方式を備えて構成し、又、異なる複数の処理単位で比較画像間の画像信号の階調を変換する手段を備えて構成し、画像間の同一パターンで明るさの違いが生じている場合であっても、正しく欠陥を検出できるようにした。 (もっと読む)


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