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Fターム[2G001DA09]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 検出器関連言及 (3,003) | プリセッション(数、種類) (1,477) | 2次元以上 (782)

Fターム[2G001DA09]に分類される特許

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【課題】鉛含有量を簡易かつ正確に測定することのできる蛍光X線分析法および装置を提供する。
【解決手段】鉛含有量が既知の標準試料により得られる鉛含有量と鉛特性X線強度との関係と、鉛特性X線強度とに基づいて鉛含有量を求める蛍光X線分析法において、X線管球電圧を変えながらX線透視像を観察し、X線透視像に投影された鉛含有粒子の影の有無を調べることにより、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有しているか否かを判定基準として、貫通していない鉛含有粒子を有しないグループ1と、貫通していない鉛含有粒子を有するグループ2とに分類し、グループ1の蛍光X線分析については、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有しないものを標準試料として選定し、グループ2の蛍光X線分析については、所定のX線管球電圧でのX線が貫通していない鉛含有粒子を有するものを標準試料として選定する。 (もっと読む)


【課題】X線トポグラフを求めるX線回折装置においてX線トポグラフの平面領域内の位置を明確に特定できるようにする。光学顕微鏡、イメージングデバイス等によって捕えることができない光学的に透明な物質を可視化して測定対象とする。
【解決手段】試料18の平面領域から出たX線を空間的に1対1の幾何学的対応をつけて平面的なX線トポグラフとして検出し、当該X線トポグラフを信号として出力するX線トポグラフィ装置4,22と、試料18の平面領域の光像を受光してその光像を平面位置情報によって特定された信号として出力する2次元イメージングデバイス6と、X線トポグラフの出力信号とイメージングデバイス6の出力信号とに基づいて合成画像データを生成する画像合成用の演算制御装置とを有するX線回折装置である。 (もっと読む)


【課題】画素毎に、検出素子の個体差を考慮した校正を施す。
【解決手段】格子状に等間隔に配列された複数の検出素子61を有し、各検出素子61が検出した被写体としてのプリント基板Wの画像を画素毎に分解して出力する撮像ユニット20、40を備えている装置に適用される。個々の画素の個体差を表す個体差ファクタα、βを記憶し、記憶された個体差ファクタα、βに基づいて、当該検出素子61毎に線形な校正値を出力し、前記検出値校正処理部225が演算した校正値Iχcに基づいて、画素毎に目標物理量としての輝度値Bや材料厚さχを演算する。 (もっと読む)


【課題】測定試料およびX線照射装置の姿勢を制御する駆動機構を有さず、かつ測定可能な試料の大きさや形状に特段の制約のないX線回折装置を提供する。
【解決手段】本発明に係るX線回折装置は、X線照射装置と二次元X線検出器とを有するX線回折装置であって、前記二次元X線検出器は平板状に設置されており、前記X線照射装置は前記二次元X線検出器を貫通するように配設され、前記二次元X線検出器と前記X線照射装置とが一体に固定され、前記X線照射装置の姿勢を規定しかつX線の漏洩を防止するための筒状シールド部材が前記二次元X線検出器の周縁に配設されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】10μm以下の幅を有する極めて微細な観察対象領域を可視化し、そのような観察対象領域の大きさの識別を可能にできる装置および方法を提供する。
【解決手段】装置10は、10μm以下の幅を有する観察対象領域52を可視化する装置であって、観察対象領域52にX線を照射する発光面21を有し、観察対象領域52の幅方向における発光面21の幅が観察対象領域52の幅より大きい光源20と、観察対象領域52に対して光源20とは反対側に配置され、観察対象領域52を通過したX線に応じた二次元データDを生成する二次元X線検出器30と、二次元データDに基づいて、観察対象領域52を可視化するための可視化データを生成する画像処理部40とを備える。 (もっと読む)


【課題】測定対象物を回転させるためのXYテーブル等の回転機構の軸受として、特に高精度のものを用いることなく、低コストのもとに、正確で鮮明な断層像を得ることのできるX線CT装置を提供する。
【解決手段】XYテーブル2に付されたマーカーMを光学カメラ6て撮影し、その撮影出力の画像処理部12での画像処理によりXYテーブル2の位置を求め、あらかじめ演算部13で算出された各投影角度での目標位置に対するずれを誤差算出部14で算出し、その算出結果に基づいて、各投影角度で採取したX線投影データの位置と角度を補正して再構成演算に供することで、回転精度に起因して実際の投影データがずれていても、最終的に得られる3次元情報を正確なものとする。 (もっと読む)


【課題】 ダイナミックレンジが広くかつ密度分解能が高い屈折コントラスト型X線撮像方法を提供する
【解決手段】 被写体の密度分布に応じて、非対称結晶の非対称度を変化させることによって、入射X線と回折X線がほぼ比例する角度領域を広げ、回折X線強度が最大値の半分となる低角および高角の入射角度で測定を行う。 (もっと読む)


【課題】2次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なX線回折装置を提供する。
【解決手段】X線回折装置は、X線源と、試料を保持し、移動可能な保持台と、試料から回折により出射されるX線を検出する2次元検出器と、X線源と保持台と2次元検出器とを制御する制御処理部とを備える。制御処理部は、記憶手段と演算手段(工程(S50))と極点図作成手段(工程(S70))とを含む。記憶部は、2次元検出器により複数の条件下で検出されたX線の複数の強度データを記憶する。演算手段(工程(S50))は、複数の強度データについて、それぞれの強度データに対応するX線の試料における吸収量の差を補正するように、強度データに対する補正演算を行う。極点図作成手段(工程(S70))は、補正演算された補正後の複数の強度データを用いて試料の極点図データを作成する。 (もっと読む)


【課題】感度の低下を抑えつつ鮮鋭度の高い放射線画像を撮影できる放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線が照射されることにより光を発生するシンチレータ8と、光を受光することにより電荷が発生する有機光電変換材料を含んで構成されたセンサ部13が複数設けられたTFT基板30と、が順次積層された放射線検出器20を、被写体Bを透過した放射線がTFT基板30側から入射するように配置する。 (もっと読む)


【課題】X線検査を効率的に実施することができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】対象物に欠陥を意図的に発生させたり、全ての検査位置(観察ポイント)に欠陥を持つ対象物を準備しなくとも、従来では固定であった基準画像に替えて、当該基準画像よりも後に得られるX線画像を新たに基準画像としてステップS10で置き換えることで、必要最小限の構成により、基準画像としてより適切なX線画像が得られた段階で基準画像のデータを改善して、X線検査を効率的に実施することができる。さらに、好ましくは、評価値として欠陥度合い(気泡の面積比率等)を採用し、ステップS4,S7で画像を当該評価値として数値化することによりX線画像を評価し、評価値に最も近い画像を基準画像として置き換えることで、基準画像を自動的に置き換えることができる。 (もっと読む)


【課題】 回転軸方向に複数のX線発生点が配置されたX線管装置の冷却効率を向上させ、X線管内の過熱を防止できる構造のX線管装置を提供すること、及びそのX線管装置を搭載するX線CT装置を提供することである。
【解決手段】 電子線を発生する陰極と、前記電子線が照射された点であるX線発生点からX線を放射する陽極と、前記陰極と前記陽極を真空雰囲気内に保持する外囲器と、を備えたX線管装置であって、前記陰極と前記陽極からなる対を2つ有し、2つの陽極はX線発生点を有する面の裏側が対向するように配置されており、2つの陽極の間に冷却媒体を流すための冷媒流路をさらに備えたことを特徴とするX線管装置である。 (もっと読む)


【課題】従来は測定し難かった測定対象物であっても容易に測定できるX線回折装置及びX線回折の測定方法を提供する。
【解決手段】X線を照射するX線照射源1と、X線が測定対象物9に照射されて回折したX線を検出する検出器2と、X線照射源1と検出器2とを移動可能に支持する支持部材10と、を備えているX線回折装置100であって、支持部材10は、直交する二軸のそれぞれの軸方向に、それぞれ独立して移動可能な第1の位置決め手段13及び第2の位置決め手段14と、二軸に垂直な軸の軸方向に移動可能な第3の位置決め手段15とを備え、X線照射源1及び検出器2が固定された第1の位置決め手段13、第2の位置決め手段14及び第3の位置決め手段15が所定の位置に移動することにより、X線の照射位置及び回折したX線の検出位置が決定されるように構成されているX線回折装置。 (もっと読む)


【課題】 2次元トールボット干渉法を用いた撮像装置において、キャリア周波数の強度を大きくすること。
【解決手段】 撮像装置は電磁波源と、電磁波源から出射した電磁波を回折する回折格子と、回折格子からの電磁波を遮る遮蔽部151(151a,151b,151c)と透過させる複数の透過部152(152a,152b,152b)とを有する遮蔽格子と、遮蔽格子を経た電磁波を検出する検出器と、を備える。回折格子は電磁波を回折することによって、井桁状の干渉パターンを形成する。また、遮蔽格子には、複数の透過部が2次元的に配列しており、遮蔽部の一部と複数の透過部のうち1つの透過部とからなる単位パターン153(153a,153b,153c)において、単位パターンの面積に対して透過部の面積が占める面積比は、0.25より大きい。 (もっと読む)


【課題】高時間分解能、欠落データ及び長手方向打ち切りによる画像アーティファクトの低減、並びに放射線量を低減する。
【解決手段】撮像データはX線源の単一の回転から取得され、単一の回転は第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンに分割される。制御器は、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの一方にわたりX線源によって放出されるX線ビームの中央部分を遮断するように、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの一方からの画像データを取得した後に、第一のハーフ・スキャン及び第二のハーフ・スキャンの他方からの画像データの取得の開始と同時に、動的コリメータを配置するように構成されている。CTスキャナはさらに、第一の撮像データ集合及び第二の撮像データ集合を用いてCT画像を再構成するように構成されている。 (もっと読む)


【課題】簡易な方法で接触子の表面の状態を測定することができる碍子型ガス絶縁開閉装置の電気的接続部材の表面検査方法を提供する。
【解決手段】 碍子型ガス絶縁開閉装置10の電気的接続部材の表面検査方法では、可動接触子23の先端から突出部材26を突出させ、突出部材26の先端と、固定側接触部25の先端との間を所定の距離とし、突出部材26と固定側接触部25との間に電圧を印加して、突出部材26の先端部から部分放電50を生じさせる。部分放電50により発生したX線の、可動接触子23の先端部および固定側接触部25の先端部からの反射波を、容器21の外部に設けたX線検知部40で検知する。検知結果に基づいて、可動接触子23の先端部および固定側接触部25の先端部の表面の状態を評価する。 (もっと読む)


【課題】宇宙線ミュオン用いて、操業条件毎の反応炉内部の密度分布を推定する方法を提供する。
【解決手段】反応炉内部を通過してミュオン計測器で検出されるミュオンの飛来方向毎の累積強度情報を一定時間毎に繰り返し記録するステップ1と、ステップ1を実施している最中の反応炉の操業条件の時間変化を記録するステップ2と、ステップ1及びステップ2で記録された情報に基づいて、一定時間毎のミュオンの飛来方向毎の累積強度情報を操業条件と関連づけるステップ3と、ステップ3で得られた情報に基づいて、特定の操業条件のときにミュオン計測器で検出された飛来方向毎の累積強度情報の合計値を生成するステップ4とを含む操業条件と関連づけられた反応炉内密度分布推定方法。 (もっと読む)


【課題】円筒面変換処理と時間遅延積分処理との両方を同じ演算制御過程内で行うことを可能にすることにより、極めて分解能が高く、しかも強度の高い回折X線像を得ることができるX線回折装置を提供する。
【解決手段】CPU17、メモリ20等から成るコンピュータの外部にDSP(デジタルシグナルプロセッサ)から成る信号処理部21を設置して成るX線回折装置1である。測定装置2はX線回折測定を行う。2次元ピクセル型検出器12は複数のピクセルから出力されるデータ量の大きな2次元回折線データを高速通信線であるカメラリンクケーブル24を通して信号処理部21へ伝送する。信号処理部21は送られてきた大量の回折線データに対して円筒面変換処理26及び時間遅延積分処理27を行い、処理結果の画像データを1ラインの行データごとにバス23へ伝送する。 (もっと読む)


【課題】産業用X線CT装置の空間分解能を向上するためのX線検出器と、それを用いたX線CT装置及びX線CT撮像方法を提供する。
【解決手段】X線を照射するX線源と、撮像対象被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、X線源とX線検出器の間に配置された撮像対象被検体を回転・並進させる駆動機構と、X線検出器で計測されたX線透過量を数値化する信号処理回路と、これらの信号を元に画像を再構成するための演算装置からなるX線CT装置において、前記X線検出器は、前記透過したX線を検出する複数個の半導体部材12が既知の間隔を開けて配置されることによりリニアアレイの配列状態でFRP製の補強基板16に埋設され、且つ支持されていることにより、前記半導体部材12間の間隔が狭められて検出不感帯域の少ない稠密配置を成す構成を有する。 (もっと読む)


【課題】 多結晶材料中の結晶粒の配向と弾性歪を測定する方法を提供する。
【解決手段】 本発明は、一組の結晶粒(G,...G,...,G)を含む多結晶材料の試料中に含まれる結晶粒の結晶格子の配向と偏差弾性歪を測定する方法であって、一系列のラウエパターンを記録する工程と、前記ラウエパターンをインターレース解除する演算であって、結晶粒の空間的広がりをさらに特定するようにトモグラフィ演算と組み合わせられると有利であるインターレース解除演算と、を含む方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】視差の影響を最小にする。
【解決手段】システム(10)は、焦点スポット(15)から対象(22)へ向けてX線のコーン・ビーム(16)を投射するように配置されたX線投射線源(14)と、回転式ガントリ(12)に配置されて、対象(22)によって減弱されたX線を受光する検出器モジュール(20)とを含んでいる。検出器モジュール(22)の各々が、焦点スポット(15)に対して変化する角度に配向されるように構築された複数の面(58)を形成されて含む上面(56)を有するモジュール・フレーム(52)と、複数の面(58)に配置されて、対象(23)によって減弱されたX線を受光してX線(16)を電気信号へ変換する複数のサブモジュール(60)とを含んでおり、各々のサブモジュール(60)は、当該サブモジュール(60)が装着されているそれぞれの面(58)に基づいて焦点スポット(15)に対して一つの角度で配向されている。 (もっと読む)


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