【課題】キャリヤガスとして空気等のガスを用いるときにも、異常停止されることのない気相成分分析装置を提供する。
【解決手段】
気相成分供給手段２と、キャリヤガス導入手段３と、気相成分捕捉手段４と、分離手段５と、検出手段６と、異常停止手段７とを備える気相成分分析装置１は、キャリヤガス導入手段３に供給されるキャリヤガスを、窒素の沸点より低い沸点を有する第１のキャリヤガスと、窒素の沸点より高い沸点を有する第２のキャリヤガスとに切り替えるキャリヤガス切替手段２２と、第１のキャリヤガスを供給する第１の供給源１７とキャリヤガス切替手段２２とを接続する第１のガス導管２０と、第２のキャリヤガスを供給する第２の供給源１８とキャリヤガス切替手段２２とを接続する第２のガス導管２１と、第２のガス導管２１の途中に設けられ、第２のキャリヤガスを貯留するガス貯留手段２３とを備える。 （もっと読む）

【課題】観察対象の標本の特徴を取得するために最適なシステム環境を自動的に設定すること。
【解決手段】本発明のある実施の形態において、顕微鏡観察システム１は、顕微鏡を用いて標本を観察する観察部３と、観察部３の動作を制御する観察システム制御部５と、標本の属性を示す属性値に応じて定められた特性データを属性値毎に記憶する特性データ記憶部７とを備える。そして、観察システム制御部５において、特性データ選択部５４２は、特性データ記憶部７に記憶された特性データの中から、染色標本属性指定部５４１によって指定された観察染色標本の属性値に応じた少なくとも１つの特性データを選択する。そして、特性データ解析部５４３は、選択された特性データを解析し、システム環境設定部５４４は、解析結果をもとに観察染色標本を観察する際の観察部３の動作環境を設定するためのシステムパラメータを設定する。 （もっと読む）

【課題】表面に有機物が形成されている試料の断面を精度よく得ることができる断面加工方法及び断面観察試料の製造方法を提供する。
【解決手段】有機物の層又は構造８を表面に有する試料２に、集束イオンビーム装置１００を用いて集束イオンビームを照射し、試料の断面加工位置Ｌに断面加工を行う方法であって、保護膜となる原料ガスの存在下、断面加工位置を含む試料の表面に集束イオンビームを照射し、有機物の層又は構造の表面に保護膜７ａを形成する保護膜形成工程と、保護膜が形成された断面加工位置に、保護膜形成工程における加速電圧より高い電圧で集束イオンビームを照射し、断面加工を行う断面加工工程とを有する試料の断面加工方法である。 （もっと読む）

【課題】少量のサンプルで簡便に短時間で、金型汚れと相関性のある樹脂組成物の揮発成分を定量する方法を提供する。
【解決手段】樹脂組成物を、開口部と該開口部を遮蔽する透光性の蓋部材を有する容器に入れ、該樹脂組成物を加熱し揮発成分を蓋部材に付着させた後、該蓋部材のヘーズ値を測定する樹脂組成物の揮発成分の定量方法であって、
該容器の開口部と蓋部材の間に、該開口部の面積に対し０．１５〜０．４５％の面積の隙間を設ける樹脂組成物の揮発成分の定量方法。 （もっと読む）

【課題】サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。
【解決手段】ウェーハ３１を保持する試料ステージ３３と、イオン源１１で発生したイオンビーム１２をマスク１５によってプロジェクションビームに成形するプロジェクション光学系を有し、イオンビーム１２を試料面に斜めに照射可能な第１イオンビームカラム１０と、第１イオンビームカラム１０よりもイオンビーム２２を細く絞ることが可能なイオンビーム光学系を有し、第１イオンビームカラム１０と同時にイオンビーム２２を試料面に垂直に照射可能な第２イオンビームカラム２０と、イオンビーム１２，２２の照射により加工した試料片５０をウェーハ３１から摘出するマニピュレータ４２と、摘出した試料片５０を保持するカートリッジ５１とを備える。 （もっと読む）

【課題】短繊維を含むコンクリートを型枠に充填した際、短繊維の種類にかかわらず、短繊維の分散状態を簡便に確認することが可能な短繊維の分散性確認方法を提供する。
【解決手段】高流動コンクリート１を充填後、所定の時間が経過したら蓋型枠板３ａを取り外して、コンクリート採取対象箇所にコンクリート採取器１０を差し込む。コンクリート採取器１０は、周囲からコンクリート採取対象箇所へ高流動コンクリート１が流入することを防止するための筒状の枠１０ａと、フランジ１０ｂとを備える。 （もっと読む）

【課題】ＦＩＢにより試料を作製する際に試料の表面に形成されたアモルファス層の厚さを、試料を破壊することなく正確に確認、評価する。そして、その結果に基づいて、多くの時間と手間を掛けることなく、アモルファス層を的確に可能な限り低減、除去して、良好な観察を行うことができるＴＥＭ試料を提供する。
【解決手段】表面にアモルファス層が形成されている試料の表面に電子線を照射し、試料を透過して得られた電子回折図形の輝度に基づいて、アモルファス層の厚さを評価する。電子回折図形内の回折スポットを結ぶ直線における輝度のラインプロファイルの内、最も高い輝度をＹ２とし、最も低い輝度をＹ１としたときの輝度の比率（Ｙ１／Ｙ２）を、アモルファス層の厚さが既知である他の試料における輝度の比率（Ｙ１／Ｙ２）と比較してアモルファス層の厚さを評価して、アモルファス層の厚さが所定の値以下となるまで、アモルファス層を低減、除去する。 （もっと読む）

【課題】イオンビームの照射により断面を露出させた試料を作製するため試料をイオンビームに対する所定位置に保持する試料作製装置において、イオンビームによる試料の加工中にイオンビームを遮断する遮蔽板のイオンビームに接近する方向への移動を防止し、良好な断面が現れた試料を作製する。
【解決手段】基端側を支持され先端側が自由端である第１の支持部材２と、第１の支持部材２の先端側に基端側を支持され先端側が第１の支持部材２の基端側に向けた自由端である第２の支持部材９と、第２の支持部材９に支持された遮蔽板１０と、第２の支持部材９に取り付けられた加熱ヒーター１３を備え、第２の支持部材９は加熱ヒーター１３により加熱せられて前記第１の支持部材の基端側方向に膨張する構造となされ、遮蔽板１０の第１の支持部材２の先端側に向かう一側縁をイオンビームＢの照射位置として保持し、遮蔽板１０によりイオンビームＢが遮蔽される位置に設置された試料１０１の遮蔽板１０の一側縁より露出した箇所への加工を行う。 （もっと読む）

【課題】試料の加工断面に不要な段差やリデポによる不要な付着物が生じることを確実に防ぐことのできる試料加工装置を提供する。
【解決手段】試料１が載置される試料台３ａと、試料台３ａに載置された試料１を間に挟んで試料台３ａと対向するように配置された遮蔽板２と、遮蔽板２の上方に位置するイオンビーム源とを備え、試料台３ａの先端側に位置する試料１の部分で遮蔽板２の側縁部２ａから露出された箇所１ａに、イオンビーム源からのイオンビーム１０を照射して試料１の加工を行う試料加工装置において、試料台３ａが、遮蔽板２よりも熱膨張率の大きな材料により構成されている。 （もっと読む）

【課題】焼成テストピースの抗折強度を正確に測定することができる鋳砂の抗折強度試験方法及びその装置を目的とするものである
【解決手段】鋳砂をシャッタ21により仕切られる定容積筒22に投入し、シャッタ21を開放してその下方に形成された延長筒23内を自由落下させて焼成加熱型30のキャビティ内に充填し、焼成加熱型30を加熱して焼成テストピースPを作成し、この焼成テストピースPを焼成加熱型30から離型し、抗折強度試験機5に移送して抗折強度を測定する鋳砂の抗折強度試験方法及び、筒状体の途中をシャッタ21で区分し、その上方を定容積筒22とし、その下方を延長筒23とし鋳砂を自由落下させて焼成加熱型30のキャビティ内に充填する型込め機構2と、焼成加熱型30で作成された焼成テストピースPを抗折強度試験機5に移送する移送機構4と、焼成テストピースPの抗折強度を測定する抗折強度試験機5とからなる鋳砂の抗折強度試験装置。 （もっと読む）

本発明は、ヒトまたは動物の眼球における内境界膜（ＩＬＭ）および／または網膜上膜（ＥＭＲ）を選択的に着色する、細胞に無害な水性の生体適合性を有する着色調製剤、ならびに本発明による水性の着色調製剤を収容するキットに関する。 （もっと読む）

【課題】エンジンの運転状態や排気の温度によらず安定して濃度を検出できるＰＭセンサを提供すること。
【解決手段】ＰＭセンサは、エンジンの排気管に設けられたセンサ電極部を有し、排気に含まれるＰＭが付着したセンサ電極部の電気的特性に基づいて、排気のＰＭ濃度を検出する。ＰＭセンサは、センサ電極部に付着したＰＭの温度を、その電気物性が安定する安定ＰＭ温度範囲内に制御した上で、センサ電極部の静電容量変化量ΔＣを測定し、測定した静電容量変化量ΔＣに応じて排気のＰＭ濃度を検出する。 （もっと読む）

【課題】変化しやすい内部組織を有する結晶性樹脂成形品等の内部組織の形態を変化させずに、組織の形態を保持させたまま観察するための前処理方法を提供する。
【解決手段】無機充填剤を含む樹脂成形品の内部組織を観察するために、内部組織観察面を研磨する研磨工程を備え、この研磨工程によって、研磨面の表面粗さを１μｍから２０μｍになるように研磨する。特に研磨工程は、上記無機充填剤よりも硬度が低い砥粒を含む研磨剤と、表面に立毛を備えクッション材を有するバフと、を用いてバフ研磨するバフ研磨工程であることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】着磁した永久磁石の磁区構造等を示す観察像が得られる磁性試料の観察方法を提供する。
【解決手段】本発明の磁性試料の観察方法は、磁化された磁性試料に放射光等の入射ビームを照射し、磁性試料から放出された放出電子を検出して、磁性試料の微細状況を示す観察像を形成する磁性試料の観察方法であって、磁性試料の磁化方向の両端が磁性試料の配置される雰囲気の透磁率よりも高い透磁率を有する連結具により磁気的に連結された状態で磁性試料が観察されることを特徴とする。この連結具により、磁性試料の両端には磁気閉回路が形成され、磁性試料からの漏洩磁場が抑制される。その結果、放出電子の軌跡が歪められることが少なくなり、磁性試料の磁区構造等を示す鮮明な観察像を得ることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】金属試料中に存在する析出物等（特に、大きさ1μm以下）を損失させること無く分離し、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う分析方法を提供する。
【解決手段】(1)金属試料を電解する。(2)電解後の金属試料の残部に付着した析出物及び／又は介在物、及び前記電解後電解液中に含まれる析出物及び／又は介在物の両方をろ過捕集する。(3)ろ過捕集された析出物及び／又は介在物を分散性を有する溶液に浸漬し、分散性溶液中に分離する。(4)分散溶液中に分離された析出物及び／又は介在物を分析する。上記(2)においては、電解後の金属試料の残部に付着した析出物及び／又は介在物は捕集用溶液に浸漬して前記捕集用溶液中に分離し、前記捕集用溶液を捕集用フィルタＡでろ過する。前記電解後の電解液は捕集用フィルタＢでろ過する。上記(3)では、捕集用フィルタＡ及び捕集用フィルタＢを分散性を有する溶液に浸漬する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、試料を取り外すことなく、試料を多方向から加工することを可能にする、集束イオンビーム加工装置と透過型電子顕微鏡に用いる共用試料ホルダーを提供することを課題とする。
【解決手段】試料ホルダー本体と、回転操作のための突起を有する円弧状回転台と、試料を搭載する試料台であって前記回転台の突起に嵌合するための穴を有する試料台と、前記試料ホルダー本体に装着された前記試料台を当該試料台の上から押さえる試料台押さえ手段と、前記試料台押さえ手段を試料ホルダーに固定する固定手段と、を少なくとも有すると共に、試料ホルダー本体に、ＦＩＢが入射する側の一部に形成されたＦＩＢ加工用の切り欠き部と、ＴＥＭ観察用の電子線通過穴と、該通過穴に沿った円弧状の溝と、が前記円弧状回転台を嵌合可能に形成されており、試料台押さえ手段によって、前記試料ホルダーに前記試料台を固定する試料ホルダーである。 （もっと読む）

【課題】膜にダメージを与えず、真空系等が必要無く、比較的簡易な方法で、低コストで、ミクロ相分離構造を確認する方法を提供する。
【解決手段】ミクロ相分離構造膜に、常圧プラズマを照射し、ミクロ相分離構造が確認可能な部分まで膜をエッチングした後、表面を原子力間顕微鏡（ＡＦＭ）で観察することによりミクロ相分離構造を確認する方法である。 （もっと読む）

【課題】石英ガラス板状体の表層に含有される金属をエッチング液で溶解して定量分析する際、エッチング液が漏出しないようにする。
【解決手段】板状体分析用治具１の下側シート材２１に分析すべき板状体試料４０を載せ、その板状体試料４０の表面にリング１０を載せ、更に上側シート材２０をリング１０の上に載せる。固定手段３のボルト３０を穴２６に通し、ナット３１によって上下のシート材２０、２１を締め付けて上下シート材２０をリング１０に密着させる。開口２５からエッチング液をリング１０と上側シート材２０で画定された貯留空間に注入し、板状体試料４０の表層部分を溶解させ、溶解液を採取し、採取した溶解液中の金属またはイオンを分析定量する。 （もっと読む）

本発明は、リング６内に部品４’を平らに取り付ける装置１に関し、リング６を固定して保持することができるリング支持体３、２５と、研究及び／又は分析されるべき材料から作られた板４に、下端で穴を開けるために、軸方向に支持する窪み１５の中にはめ込まれ、該窪み１５に対して行程に沿って移動可能なパンチ１１と、前記リング６内に平らに取り付けられる部品４を形成するようにパンチ１１と噛み合い、前記支持体３に対して行程に沿って移動可能なカウンターパンチ２１と、前記パンチ、前記部品４及び前記カウンターパンチ２１を前記行程に沿ってガイドするガイドアセンブリ１７、２７、３７と、を有し、前記パンチ１１の行程及び前記カウンターパンチ２１の行程は、前記部品４’が前記リング６内に平らに取り付けられた時に停止可能であることを特徴とする。
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【課題】シリコンウェーハの外周部の膜を確実に除去し、シリコンウェーハの外周部に含まれる金属不純物を高感度に分析可能なシリコンウェーハの分析方法を提供する。
【解決手段】溶出装置３０を用いて、外周部Ｅまで酸化膜を除去したシリコンウェーハの外周部Ｅに含まれる金属不純物を溶媒３６に溶出（回収）させる際には、まず、溶出用容器３３に所定量の溶媒３６を注入する。溶媒３６は、シリコンウェーハ１０の特性劣化の原因となるＣｕを確実に溶出させることが可能な、フッ化水素酸、過酸化水素水、および塩酸を含む溶媒を用いる。 （もっと読む）