【課題】広範囲で且つ空間的に連続的な水素濃度分布を計測するのに適した水素検知用光ファイバ及びその製造方法を提供する。併せて従来技術よりも量産性及び信頼性の点で優れた効果を発揮し、更にはこの水素検知用光ファイバの特徴を最も有効に活用できる水素検知システムを提供する。
【解決手段】コア１１とクラッド１２とを有する石英系光ファイバ１０と、石英系光ファイバ１０のクラッド１２表面の外周を囲むように、パラジウム微粒子を溶媒に分散してなるペーストを塗布、焼結して形成された水素感応膜としてのパラジウム含有被覆層１３と、を備えた水素検知用光ファイバ１及びその製造方法、並びにこれを用いた水素検知システムである。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより測定対象物から生じる散乱光を、精度良く検出する。
【解決手段】測定対象物を支持する支持部と、支持部に支持された測定対象物に複数の測定光をそれぞれ照射可能な、互いに異なる位置に配置された複数の光源と、複数の測定光により照射された測定対象物からそれぞれ生じる散乱光を検出する検出器と、測定光の測定対象物への光路を含まない領域であって、散乱光を検出可能な領域である測定領域内に検出器を移動可能な移動機構とを備える。 （もっと読む）

【課題】広範囲なエリアに対して水素センシングが可能であり、かつ高温化で水蒸気が発生する様な環境下でも、これらに影響を受けることなく水素を計測できる水素センサを提供する。
【解決手段】図１は本発明の光ファイバー式水素センサの一例を示す図である。光ファイバーのクラッド２の外周にパラジウムをコーティングしてパラジウム層３を形成し、その外周に第１樹脂層４及び第２樹脂層５をコーティングして、該両樹脂層を紫外線照射処理により硬化させた光ファイバー式水素センサである。 （もっと読む）

【課題】 アライメントから測定終了までの間に画像を劣化させる要因が発生した場合でも良好な被検眼の断層像を得る。
【解決手段】 被検眼の第１の断層像を取得する第１取得手段と、第１の断層像が取得された後に被検眼の３次元像を取得する３次元像取得手段と、３次元像が取得された後に第１の断層画像に対応する被検眼の第２の断層像を取得する第２取得手段と、第１の断層像の階調に基づいて第２の断層像の階調を補正する補正手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより測定対象物から生じる散乱光を精度良く検出する。
【解決手段】測定対象物を支持する支持部と、支持部に支持された測定対象物に複数の測定光をそれぞれ照射可能な、互いに異なる位置に配置された複数の光源と、測定光により照射された測定対象物から生じる散乱光を検出する複数の検出器と、複数の検出器のうち、測定光の測定対象物への光路を含まない領域であって、散乱光を検出可能な領域である測定領域に配置されている検出器のみにより散乱光を検出するように検出器を制御する制御部とを備える。 （もっと読む）

【課題】 被検物の断層画像をスムーズに取得することができる。
【解決手段】 光源と、光源からの光を測定光路と参照光路とに分割するためのスプリッタと、測定光路に配置され，被検物上において光を走査するための光スキャナと、被検物で反射された測定光路からの光と，参照光路からの光と，が合成された光を検出するための検出器と、を備え、検出器からの出力信号に基づいて被検物の断層画像を撮像する光断層像撮影装置において、測定光路又は参照光路の少なくともいずれかに配置されたポラライザと、装置内部に配置された模型物で反射された測定光路からの光と参照光路からの光とが合成された光によって得られる検出器からの出力信号に基づいてポラライザを制御し、測定光と参照光の偏光方向を調整する制御手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光散乱光度計を組み込んだ自動分析装置において、外光の影響を低減して分析精度を上げると共に、安全で使い勝手のよい自動分析装置を提供する。
【解決手段】本体筐体の内部に散乱光測定部を有し、本体筺体の上面４１０を覆う開閉可能な保護カバー６１０〜６３０を有する。中央の保護カバー６１０には、外光を遮蔽する遮光部が形成されている。また、保護カバーには内部を透視できる透視部６２１，６３１が設けられている。遮光部は、少なくとも散乱光測定部の上方に当たる反応ディスクの領域を覆うことで散乱光測定部に漏れ入る外光を低減し、散乱光測定が外光の影響を受けないようにする。保護カバーは、３分割構造以外に、２分割構造あるいは１枚構造としてもよい。 （もっと読む）

【課題】一粒の玄米に含まれるトリアシルグリセロールの非破壊分析法を提供すること。
【解決手段】以下の（１）〜（３）の工程を含む方法によって玄米に含まれるトリアシルグリセロールを定量するための回帰式を得、得られた回帰式と、当該回帰式の作成に使用した波長領域における被験玄米の近赤外光スペクトルデータとを用いて玄米に含まれるトリアシルグリセロールを定量する。
（１）玄米の近赤外光スペクトルを測定する工程
（２）当該玄米のトリアシルグリセロール含量を定量する工程
（３）近赤外光スペクトルを測定した波長範囲の全部または一部の波長領域で得られたスペクトルデータと、定量したトリアシルグリセロール含量とをＰＬＳ（partial least squares）回帰分析により解析し、トリアシルグリセロール含量と関係する因子を決定する工程 （もっと読む）

【課題】複雑な装置構造や可動部を必要とせず、粉粒体粒子物性値の高精度な測定が行え、且つ収率の低下を抑制できる流動層装置を提供する。
【解決手段】処理容器の側壁に設けられた透光窓と、該透光窓の内面に臨み、且つ前記処理容器内で浮遊流動する粉粒体粒子の一部を堆積させる、所定の容積を有する粒子捕捉部とを設け、前記透光窓の外面側から光センサを用いて前記粒子捕捉部に堆積した静止状態の粉粒体粒子の物性値を測定することで、高精度な測定を可能とし、且つ収率の低下を抑制した。 （もっと読む）

【課題】
表面プラズモン共鳴センサシステムを提供する。
【解決手段】
本発明は表面プラズモン共鳴（Ｓｕｒｆａｃｅ Ｐｌａｓｍｏｎ Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ：ＳＰＲ）センサシステムに関し、第一光を発生する光源部、前記第一光を偏光させる偏光部、前記偏光された第一光を反射してディスク状の第二光として発散させる回転ミラー、前記回転ミラーに隣接するように配置されて前記第二光の一部を通過させる遮蔽膜、前記遮蔽膜を通過した第二光の一部を集束する複数個のシリンダレンズ、前記集束された第二光を第三光として反射するセンサチップ、及び前記第三光を感知する受光部を含む。前記回転ミラーは平板型で形成され、中心軸を基準として回転し、平板型基板及び前記基板の少なくとも一面に蒸着された金属層を含む。前記センサチップは、プリズム及び前記プリズムの一面に形成される金属薄膜を含む。 （もっと読む）

【課題】対象物を特定した上で当該対象物の種別にあった測定を行うことができる。
【解決手段】対象商品を撮像した撮像結果に基づいて当該対象商品の状態を測定する測定装置であって、商品を特定する商品情報を入力するコードリーダー１１と、商品を測定するハイパースペクトルカメラ１２と、ハイパースペクトルカメラ１２の測定結果である分光情報を分析し、分析結果および商品情報に応じて、商品の状態を表す情報を含む特性情報を生成する特性情報生成部３２、３４、３５と、特性情報を表示する表示部１５と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】発光素子と受光素子を用いた雨滴検出装置において、その経年劣化を適切に識別してキャリブレーションを行えるようにする。
【解決手段】ウインドシールドの清浄状態における所期の目標受光レベルに対して、受光信号が当該レベル以下になると運転者にワイパの作動に違和感を持ち、経年劣化を認識させてしまうおそれのある下方正常レベルと、経年劣化では発生し得ないさらに低いＣａｌｉｂ下限レベルとを設定して、下方正常レベルとＣａｌｉｂ下限レベルの間を劣化判定ゾーンＺとする。ワイパが駆動されないままで車両発進したときはイグニションオンから、あるいは、ワイパが駆動されたときには該ワイパの駆動終了から、それぞれ受光信号が所定時間Ｔ０継続して劣化判定ゾーン内にあるとき経年劣化であると判定して、受光信号が目標受光レベルになるように発光素子駆動電流値を増してキャリブレーションを行う。 （もっと読む）

【課題】目的の層以外の層によるノイズの影響を軽減する濃度定量装置を提供する。
【解決手段】照射手段１０１と、第１受光手段１０２と、第２受光手段１０３と、第１光強度取得手段１０４と、第２光強度取得手段１０５と、第１等価散乱係数算出手段１０６と、光路長分布記憶手段１０８と、時間分解波形記憶手段１０９と、光路長取得手段１１０と、光強度モデル取得手段１１１と、第１光強度取得手段１０４または第２光強度取得手段１０５、若しくは第３光強度取得手段が取得した光強度と、光路長取得手段１１０が取得した複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長と、光強度モデル取得手段１１１が取得した光強度モデルと、に基づいて、任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段１１２と、光吸収係数算出手段１１２が算出した光吸収係数に基づいて、任意の層における目的成分の濃度を算出する濃度算出手段１１４と、を含む。 （もっと読む）

【課題】容易かつ高精度に測定対象物の屈折率を測定することができる屈折率測定装置を提供する。
【解決手段】入射させた照明光を内面反射させて端面まで導く導光ロッド１０と、導光ロッド１０の端面から所定位置における導光ロッド１０からの光の光束径を測定するラインセンサー２０と、ラインセンサー２０により測定された光束径から導光ロッド１０からの光の拡がり角を算出し、該拡がり角に基づいて導光ロッド１０の側面に接触する試料Ｓの屈折率を算出するＣＰＵ３０とを備える屈折率測定装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】装置の大型化および複雑化を伴うことなく、装置分析部の自動校正を行い、また装置の状態を保証できる自動分析装置を提供する。
【解決手段】測光位置に配置されるとともに試料と試薬との混合液を収容する反応容器に光を照射する光源と、前記混合液からの透過光または散乱光を検出する光度計を備えた自動分析装置であって、前記反応容器が配置される反応ディスクに、前記光度計の校正および状態チェックに用いる校正部材を備えており、前記校正部材により、光度計の校正が定期的に自動で実施され、光度計の光量変動や、反応容器の汚れ、恒温槽循環水の異物による汚れなど装置分析部の状態チェックが定期的に自動で実施される。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室２００においては、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材２０３によって固定される。固定部材２０３は、凹型固定部材２０４と、凸型固定部材２０５とを含む。凹型固定部材２０４が有する凹面と、凸型固定部材２０５が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１を所望の位置及び向きに調整することができる。 （もっと読む）

【課題】有害物質の発生を低減しながら、最終処分に付する量を少なくでき、しかも、低コストで廃棄物と汚泥とを複合的に処理して固形燃料を製造できるプラントを提供すること。
【解決手段】汚泥の固形燃料化プラント１は、廃棄物から廃プラスチックを含む可燃物を抽出する混合廃棄物処理ライン２と、汚泥を発酵及び乾燥して発酵乾燥汚泥とする汚泥処理ライン３と、木質廃棄物から木屑及び木質チップを生成する木質廃棄物処理ライン４と、混合廃棄物処理ライン２からの可燃物と汚泥処理ライン３からの発酵乾燥汚泥とを用いてＲＰＦを製造する固形燃料製造ライン５と、汚泥処理ライン３に蒸気を供給するボイラ６を備える。混合廃棄物処理ライン２は、廃棄物から選別した軽量物を、洗浄脱水機３０で洗浄及び脱水した後、光学式選別装置３５で塩化ビニルの廃プラスチックを除去する。 （もっと読む）

【課題】環境変化による、テラヘルツ波発生用光パルスおよびテラヘルツ波検出用光パルス間の相対的な時間差の変動を低減し、かつ光パルスの時間波形および／またはスペクトル波形の変形を低減することが可能なテラヘルツ波発生検出装置を提供すること。
【解決手段】ビームコンバイナ１０７にて直交偏光の、第１の経路からのテラヘルツ波発生用光パルスと、第２の経路からのテラヘルツ波検出用光パルスとを合波し、ファイバ伝送部１０８の複屈折軸にそれぞれ入射させる。第２の経路には、ファイバ伝送部１０８にて、発生用光パルスと検出用光パルスとが時間的に重ならないようにするパルス時間間隔調整部１０５が設けられている。偏光ビームスプリッタ１０９とＴＨｚ波発生部１１１との間に、時間的に重ならない発生用光パルスとテラヘルツ波検出用光パルスとを時間的に重なるようにするパルス時間間隔補正部１１０が設けられている。 （もっと読む）

【課題】ＯＣＴ計測により、有益な情報が得られる領域に限定して処理することで処理負担、処理時間をできるだけ低減するようにした光干渉断層画像処理方法及びその装置を提供する。
【解決手段】次の一連の手順により内壁部表面の凹凸度合いに関する情報を生成し表示する。ＯＣＴ計測により得られた管腔の内壁部の断層画像を取得する（Ｓ１０）。断層画像においてプローブの領域を検出する（Ｓ１２）。断層画像において内壁部表面（管腔組織領域の表面）を検出する（Ｓ１４）。ステップＳ１２、Ｓ１４により検出したプローブ領域と内壁部表面の位置からプローブが内壁部表面に接触している接触領域を検出する（Ｓ１８）。内壁部表面のうちプローブの接触領域を除いた非接触領域に対して凹凸度合いや層の厚みの情報を生成するための処理を行い、その情報をモニタに表示する（Ｓ２０） （もっと読む）